DR86型超声波测厚仪 库号:RL023676 | DR86型超声波测厚仪采用超声波测量原理,适用于能使用超声波以一恒定速度在其内部传播,并能从其背面得到反射的各种材料厚度的测量DR86高精度超声波测厚仪(高温型),适用于各种材料的高精度厚度测量需求,可应用于钢、铸铁、铝、铜、锌、石英、玻璃、聚、PVC,灰口铸铁、球墨铸铁等材质的被测物体厚度测量。 只需要将探头放置于被测物体一侧的接触面上,既可以迅速准确测量出被测物体厚度。这款高温型适用于,生产用品是的高温材料,耐用无损,高温金属超声波测厚仪 高温塑料厚度测量仪 高温玻璃测厚仪技 |
TT110超声波测厚仪 库号:RL023677 | 原理:超声波测量厚仪根据超声波脉冲反射原理来进行厚度测量的,当探头发射的超声波脉冲通过被测物体到达材料分界面时,脉冲被反射回探头,通过精确测量超声波在材料中传播的时间来确定被测材料的厚度。时代超声波测量厚仪系列是集当代科技电子技术和测量技术于一体的、先进的无损检测仪器,采用微电脑对数据时行分析、处理、显示,采用高度优化的测量电路,具有测量精度高、范围宽、操作简便、工作稳定可靠等特点。广泛应用于石油、化工、冶金、造船、航空、航天等各个领域。 TT110超声波测厚仪声速固定为5900m/ |
HCH-2000D型超声波测厚仪 库号:RL023678 | HCH-2000D型超声波测厚仪的0.65-350mm,显示精度:0.01mm,内部电路均采用最新数字电子技术,具有体积小、功耗低、穿透力强、抗摔打、抗振动、示值稳定、触摸按键、检测精度高、可存储测量值、带公英制转换、全汉显中文菜单、液晶显示、可连接微机、打印机等特点,是您在实际应用中首选的仪器。超声波测厚仪是根据超声波脉冲反射原理来进行厚度测量的,当探头发射的超声波脉冲通过被测物体到达材料分界面时,脉冲被反射回探头,通过精确测量超声波在材料中传播的时间来确定被测材料的厚度。它可以对各种材料的板 |
高精度超声波测厚仪 库号:RL023680 | 产品简介应用:石油、造船、电站、机器制造业及压力容器、化工设备锅炉、储油罐等厚度测量和腐蚀测量。型号:LH-8812测量范围(公/英制):1.2-220 0.05-8inch可测量的材料:可测任何硬材料,如:钢,铸钢,铝,紫铜,黄铜,锌,石英玻璃,聚,聚氯,灰铸铁,球墨铸铁,陶瓷,塑料及其他任何超声波的良导体厚度。传感器: 超声波管材测量下限:由传感器确定电池电压指示:低电压提示声速范围:500-9000m/s管材测量下限:Ф15X2.0mm,Ф20X3.0mm由探头确定使用环境:温度: |
产品简介
CMI 900/950型 X-射线膜厚测量仪
CMI900/950系列X射线荧光测厚仪是一种功能强大的材料涂/镀层测量仪器,可应用于材料的涂/镀层厚度、材料组成、贵金属含量检测等领域,为产品质量控制提供、快速的分析。基于Windows2000中文视窗系统的中文版SmartLink FP应用软件包,实现了对CMI900/950主机的自动化控制,分析中不需要任何手动调整或手动参数设定。可同时测定最多5层、15种元素。数据统计报告功能允许用户自定义多媒体分析报告格式,以满足您特定的分析报告格式要求;如在分析报告中插入数据图表、测定位置的图象、CAD文件等。统计功能提供数据平均值、误差分析、最大值、最小值、数据变动范围、相对偏差、UCL(控制上限)、LCL(控制下限)、CpK图、直方图、X-bar/R图等多种数据分析模式。
CMI900/950系列X射线荧光测厚仪能够测量多种几何形状、各种尺寸的样品;并且测量点最小可达0.025 x 0.051毫米。
陶瓷砖厚度测量仪用于测量普通量具无法测量的大尺寸陶瓷砖厚度的仪器,也可用于测量其它材料(如大理石板材、石膏板材等)产品厚度的测量。该测厚仪采用百分表进行测量,具有精度高、读数准确、操作简便、携带方便等优点,是有关生产厂家与质检单位的良好仪器。
陶瓷砖厚度测量仪技术参数
1.测厚仪的精度:±0.1mm
2.测厚仪的测量范围:
规 格 | 最大测量范围(长×宽) | 最大测量厚度 |
CHD-1000 | 1000×1000mm | 25 mm |
CHD-600 | 600×600 mm | 18 mm |
概述:
DUAL SCOPE MPOR不只是最小的涂镀层测厚仪之一,它亦是部具备:双面背光LCD显示,大型显示面板及机顶上显示板,可以安全及方便地从任何角度看到测量镀层厚度的读数;内置标准的无线电发射器可以在在线或离线时把读数直接输送到电脑,无线距离为10-20m(33-66feet)
特性: |
单手操作,容易使用:将仪器简单地放在工件上,便可看到测量读数 |
人体工学设计的双面背光显示板,可从任何测量位置看到读数 |
内置双功能测量探头,悬浮式弹簧,保持恒压及低接触压力 |
自动开关功能 |
不用校正,便可进行测量 |
通过易用菜单可快速选择功能 |
可设定上下限 |
如测量结果超出或符合上下限设定,仪器会发出不同的声音和闪灯提示 |
自动选择测量方法,电磁场感应或电涡流感应 |
当没有电池,仍可储存1000个数据 |
无线电传送读数(须RS232接收器)直接到EXCEL表单(须配合软件PC-DATEX),如果要更好的接受能力,接收器可通过RS232电线外置于电脑 |
统计评估 |
自由选择偏差补偿数值 |
校正:可用标准片或底材校正 |
技术规格:
测量范围 | NF,Iso/Fe:0-2000μm(80mils) |
Iso/NF:0-2000μm(80mils) | |
测量精度 (以Fischer标准片为准则) | 0-50μm(0-2mils),±1μm(0.04mils) |
50-1000μm(2-40mils),±2% | |
1000-2000μm(40-80mils),3% | |
通讯界面 | 无线电频宽传送868MHz(欧洲)/915MHz(美国) |
重量 | 60g(2.1安士)不包含电池 |
体积 | W×D×H = 64mm × 30mm × 85mm |
电池 | 2×LR6.AA |
防护标准 | IP 52 |
用于测量普通量具无法测量的大尺寸陶瓷砖厚度的仪器,也可用于测量其它材料(如大理石板材、石膏板材等)产品厚度的测量。该测厚仪采用百分表进行测量,具有精度高、读数、操作简便、携带方便等优点,是有关生产厂家与质检单位的良好仪器。
技术参数
1.测厚仪的精度:±0.1mm
2.测厚仪的测量范围:
规 格 | 最大测量范围(长×宽) | 最大测量厚度 |
CHD-1000 | 1000×1000mm | 25 mm |
CHD-600 | 600×600 mm | 18 mm |
MTSY-8型陶瓷砖厚度测量仪
用于测量普通量具无法测量的大尺寸陶瓷砖厚度的仪器,也可用于测量其它材料(如大理石板材、石膏板材等)产品厚度的测量。该测厚仪采用百分表进行测量,具有精度高、读数、操作简便、携带方便等优点,是有关生产厂家与质检单位的良好仪器。
技术参数
1.测厚仪的精度:±0.1mm
2.测厚仪的测量范围:
规 格 | 最大测量范围(长×宽) | 最大测量厚度 |
CHD-1000 | 1000×1000mm | 25 mm |
CHD-600 | 600×600 mm | 18 mm |
MTSY-8型 陶瓷砖厚度测量仪
陶瓷砖厚度测量仪由本单位根据用户需要研制,用于测量普通量具无法测量的大尺寸陶瓷砖厚度的仪器,也可用于测量其它材料(如大理石板材、石膏板材等)产品厚度的测量。采用数显百分表进行测量,读数准确、操作简便。
●陶瓷砖厚度测量仪主要特点
1、龙门台式结构设计,龙门测量架可后移动
2、采用数显百分表,测量准确
3、读数测量装置装配有导轨,可左右移动
4、可测量对角线、4条直线的多点准确读数
●陶瓷砖厚度测量仪技术参数
1、测厚仪的精度:±0.1mm
2、测头直径:10mm
3、测量范围:800x800mm
4、zui大测量厚度:20mm
5、外形尺寸:850x880x500mm
6、整机重量:80Kg
由本单位根据用户需要研制,用于测量普通量具无法测量的大尺寸陶瓷砖厚度的仪器,也可用于测量其它材料(如大理石板材、石膏板材等)产品厚度的测量。采用数显百分表进行测量,读数准确、操作简便。
●主要特点
1、龙门台式结构设计,龙门测量架可后移动
2、采用数显百分表,测量准确
3、读数测量装置装配有导轨,可左右移动
4、可测量对角线、4条直线的多点准确读数
●技术参数
1、测厚仪的精度:±0.1mm
2、测头直径:10mm
3、测量范围:800x800mm
4、zui大测量厚度:20mm
5、外形尺寸:850x880x500mm
6、整机重量:80Kg
由本单位根据用户需要研制,用于测量普通量具无法测量的大尺寸陶瓷砖厚度的仪器,也可用于测量其它材料(如大理石板材、石膏板材等)产品厚度的测量。采用数显百分表进行测量,读数准确、操作简便。
●主要特点
1、龙门台式结构设计,龙门测量架可后移动
2、采用数显百分表,测量准确
3、读数测量装置装配有导轨,可左右移动
4、可测量对角线、4条直线的多点准确读数
●技术参数
1、测厚仪的精度:±0.1mm
2、测头直径:10mm
3、测量范围:800x800mm
4、zui大测量厚度:20mm
5、外形尺寸:850x880x500mm
6、整机重量:80Kg
【产品说明】 |
ISOSCPOPE MP30 Road道路混凝土厚度测量仪 耐用的ISOSCPOPE® MP30 Road道路测量仪操作简便。通过涡流探头,以及埋在路面里的测量反射块测量路面的厚度。ISOSCOPE® MP30 Road 可以被放置在一个带书写控制台的小推车上的便携箱内。以及可以连接一个头戴式耳机以便在嘈杂的使用环境中听清测量数据被记录下的确认声。
ISOSCOPE® MP30 Road仪器可以存储100个测量应用中的多达1,000数据组的10,000个测量数据。配备有一个独特的和便于读取的60 x 30 mm (2.4" x 1.2")液晶显示器。大量显示的信息使得操作异常简便,包括单个测量读数,测量次数,应用程式号,组号,统计数据,Cp和 Cpk,产品规格限制超出,日期,时间,以及显示操作模式和设置的图标和符号,2行文本各16个字母或可自由选择的符号以用于显示数据和操作员提示。ISOSCOPE®MP30可以打印矩阵图,正态分布图,以及Cp和Cpk指标。 应用程式特定的校准参数储存在测量探头中,因此仪器一旦连接了任何探头都能立即进行测量。 延伸版本 ISOSCOPE® MP30-BIT ISOSCOPE® MP30 Road仪器不带手推车。
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高精度超声波测厚仪 库号:RL023680 | 产品简介应用:石油、造船、电站、机器制造业及压力容器、化工设备锅炉、储油罐等厚度测量和腐蚀测量。型号:LH-8812测量范围(公/英制):1.2-220 0.05-8inch可测量的材料:可测任何硬材料,如:钢,铸钢,铝,紫铜,黄铜,锌,石英玻璃,聚,聚氯,灰铸铁,球墨铸铁,陶瓷,塑料及其他任何超声波的良导体厚度。传感器: 超声波管材测量下限:由传感器确定电池电压指示:低电压提示声速范围:500-9000m/s管材测量下限:Ф15X2.0mm,Ф20X3.0mm由探头确定使用环境:温度: |
HCH-2000D型超声波测厚仪的0.65-350mm,显示精度:0.01mm,内部电路均采用最新数字电子技术,具有体积小、功耗低、穿透力强、抗摔打、抗振动、示值稳定、触摸按键、检测精度高、可存储测量值、带公英制转换、全汉显中文菜单、液晶显示、可连接微机、打印机等特点,是您在实际应用中首选的仪器。超声波测厚仪是根据超声波脉冲反射原理来进行厚度测量的,当探头发射的超声波脉冲通过被测物体到达材料分界面时,脉冲被反射回探头,通过精确测量超声波在材料中传播的时间来确定被测材料的厚度。它可以对各种材料的板材和加工零件作精确测量;可以对生产设备中各种管道和压力容器进行监测,检测它们在使用过程中受腐蚀后的减薄程度。也可以在不去除所涂油漆层的情况下,准确的测量板材厚度。
应用范围:用于测量硬质材料的厚度,如:钢铁、不锈钢、铝、铜、铬合金等金属材料,及塑料、橡胶、陶瓷、玻璃等非金属。该仪器广泛应用于石油、化工、电力、锅炉、冶金、造船、航空、航天等各个领域。
二、产品性能
1、测量范围:0.65-350mm(45#钢)
2、显示精度:0.01mm
3、测量误差:1% x厚度值0.05mm
4、测量方式:手动存储测量
5、存储容量:600个测量点
6、探头频率:5MHz
7、声速范围:1000-9990M/S
8、电源范围:1.2-1.5V碱性电池或充电电池
9、外型尺寸:50mmx124mmx24mm
10、使用环境:温度-10C ~ 60C 相对湿度小于90%
11、自动断电:本仪器待机五分钟将自动关机
三、HCH-2000D型超声波测厚仪配置单
1、HCH-2000D型主机 1台
2、探头( 8 ) 1支
3、耦合剂 1瓶
4、七号电池 2节
5、使用说明书 1份
6、保修卡、合格证 1份
7、手提箱 1只
选配件1、打印机及通讯打印连线 1套
2、微机通讯软件 1盘
3、高温、铸铁、小管径探头
FT150(FT150/FT150h/FT150L)日本日立X射线荧光镀层厚度测量仪
日立(主营EA1000AIII、EA1000VX、EA1200VX、EA1300VX、EA6000VX、FT110A、FT9300、FT9500、FT9500X、FT9550X、FT150、FT150h、FT150L),FT110A系列产品,搭载了性能X射线管,实现了高精度的测定。FT110A极微小准直管和可变焦距光学系统的组合,实现了对极微小部分的测定。对有段差的样品也适用。1. 高速测量:通过X射线检测机的改良,对于极具代表性的Au/Pd/Ni/Cu(金/钯/镍/铜)多镀层测量,相比以前机型,效率提高了2倍以上。2. 对应超小型的芯片零部件的厚度测量(FT150h:FT150h通过最新开发的聚光导管,可以测量超小型芯片零部件(电容、电阻等)的电极部的镀层厚度测量。3. 兼顾安全性和简便性:采用防止X射线泄露的密集型框架和大开口且可以方便开启和关闭的样品门,兼顾安全性和简便性。「FT150L」可以对应最大600×600mm的大型线路板。
X射线荧光镀层厚度仪「FT150系列」(FT150/FT150h/FT150L)是采用聚光X射线的聚光导管,可对微小部的镀层厚度进行高速测量的高性能仪器。通过X射线检测仪器的改良,在线路板和连接器等使用的Au/Pd/Ni/Cu(金/钯/镍/铜)多镀层检测中,其测量速度与本公司以往机型(FT9500X,以下相同)相比,提高了2倍以上。在「FT150h」里通过新开发的聚光导管也可以测量超小型芯片零部件的端子镀层厚度。而且跟以往机型相同,为操作员的安全和安心考虑,采用X射线泄露的可能性极小的密集型框架。新设计的样品室门采用大开口,同时保证了开启和关闭的便捷性。并且通过大型观察窗口,可以方便地取放和定位样品。另外,操作软件通过图标和便捷画面在提高了操作性的同时,可通过数据自动保存功能减轻操作员的业务。通过这些改进,「FT150系列」实现了高精度?迅速的镀层厚度测量,为测量工作的效率化和成本削减做出了贡献。