* 具有自动识别被测基体的材质。
* 有单次和连续两种测量方式可选。
* 操作过程中有蜂鸣器提示音,连续测量时蜂鸣器不发声。
* 采用USB数据线输出与PC通讯。
* 提供蓝牙Bluetooth数据输出选择。
主要内容:
防腐层测厚仪是一种便携式测量仪,它能快速、无损伤、精密地进行涂、镀层厚度的测量;既可用于实验室,也可用于工程现场;广泛地应用在制造业、金属加工业、化工业、商检等检测域;是材料保护专业德杜的仪器。
技术参数:
分辨率 | 0.01mm / 0.1mm |
准确度 | ±(1~3%n)或±0.2mm |
测试范围 | 0~12mm(测量范围可定制) |
测量方法 | F磁感应 |
操作条件 | 温度-5~50°C 湿度<95%RH |
电源 | 4x1.5AAA 7号电池 |
主机尺寸 | 140x70x30mm |
主机重量 | 130g (不含电池) |
产品配件
标准配件 |
主机 |
铁基(1块) | |
校准膜片(1套) | |
测量传感器 | |
手提便携箱 | |
操作说明书 | |
可选配件 | USB数据线输出 |
蓝牙Bluetooth数据输出 |
规 格 | 最大测量范围(长×宽) | 最大测量厚度 |
CHD-1000 | 1000×1000mm | 25 mm |
CHD-600 | 600×600 mm | 18 mm |
产品简介: | |||||||||
CHD型陶瓷砖厚度测量仪(以下简称测厚仪)是用于测量普通量具无法测量的大尺寸陶瓷砖厚度的仪器,也可用于测量其它材料(如大理石板材、石膏板材等)产品厚度的测量。该测厚仪采用百分表进行测量,具有精度高、读数、操作简便、携带方便等优点,是有关生产厂家与质检单位的良好仪器。 主要技术参数 1.测厚仪的精度:±0.1mm 2.测厚仪的测量范围:
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晶圆测厚仪,晶圆厚度测试仪,硅片测厚仪,硅片厚度测量仪采用非接触式测量方法,对晶圆的厚度和表面形貌进行测量,可广泛用于:MEMS, 晶圆,电子器件,膜厚,激光打标雕刻等工序或器件的测量。更多表面残留检测仪器请浏览:http://www.f-lab.cn/surface-residue.html中国领先的进口精密仪器供应商!
Email: info@felles.cn 或 felleschina@outlook.comWeb: www.felles.cn (激光光学精密仪器网) www.felles.cc (综合性尖端测试仪器网) www.f-lab.cn (综合性实验室仪器网)该晶圆测厚仪,晶圆厚度测量仪,硅片测厚仪,硅片厚度测量仪专业为掩膜,划线的晶圆,粘到蓝宝石或玻璃衬底上的晶圆等各种晶圆的厚度测量而设计,同时,还适合50-300mm 直径的晶圆的表面形貌测量。
该晶圆测厚仪,晶圆厚度测量仪,硅片测厚仪,硅片厚度测量仪采用红外干涉技术,能够精确给出衬底厚度和厚度变化 (TTV),也能实时给出超薄晶圆的厚度(掩膜过程中的晶圆),非常适合晶圆的研磨、蚀刻、沉淀等应用。这种红外干涉技术具有独特优势,诸多材料例 如,Si, GaAs, InP, SiC, 玻璃,石英以及其他聚合物在红外光束下都是透明的,非常容易测量,标准的测量空间分辨率可达50微米,更小的测量点也可以做到。
该晶圆测厚仪,晶圆厚度测量仪,硅片测厚仪,硅片厚度测量仪具有探针系统配件,使用该探针系统后,可以高精度地测量图案化晶圆,带 保护膜的晶圆, 键合晶圆和带凸点晶圆(植球晶圆),wafers with patterns, wafer tapes,wafer bump or bonded wafers 。
该晶圆测厚仪,晶圆厚度测量仪,硅片测厚仪,硅片厚度测量仪直接而精确地测量晶圆衬底厚度和厚度变化TTV,同时该晶圆测厚仪能够测量晶圆薄膜厚度,硅膜厚度(membrane thickness) 和凸点厚度(wafer pump height).,沟槽深度 (trench depth).详情浏览:http://www.f-lab.cn/surface-residue.html孚光精仪是全球领先的进口科学仪器和实验室仪器领导品牌服务商,产品技术和性能保持全球领先,拥有包括表面残留检测仪器在内的全球最为齐全的实验室和科学仪器品类,世界一流的生产工厂和极为苛刻严谨的质量控制体系,确保每个一产品是用户满意的完美产品。我们海外工厂拥有超过3000种仪器的大型现代化仓库,可在下单后12小时内从国外直接空运发货,我们位于天津保税区的进口公司众邦企业(天津)国际贸易公司为客户提供全球零延误的进口通关服务。
1)磁性测厚法:适用导磁材料上的非导磁层厚度测量.导磁材料般为:钢\\铁\\银\\镍.此种方法测量精度高,FT220涂层测厚仪
2)涡流测厚法:适用导电金属上的非导电层厚度测量.此种方法较磁性测厚法精度高,NT230涂层测厚仪。
3)超声波测厚法:目前内还没有用此种方法测量涂镀层厚度的,外个别厂家有这样的仪器,适用多层涂镀层厚度的测量或则是以上两种方法都无法测量的场合.但般价格昂贵,测量精度也不高.
4)电解测厚法:此方法有别于以上三种,不属于无损检测,需要破坏涂镀层.般精度也不高.测量起来较其他几种麻烦
5)X射线测厚法:此种仪器价格非常昂贵(般在十几万RMB以上),适用于些特殊场合.
性能特点
1、上照式
2、测试组件可升降
3、高精度移动平台
4、小准直器
5、高分辨率探头
6、可视化操作
7、自动定位高度
8、自动寻找光斑
9、鼠标定位测试点
10、良好的射线屏蔽
11、超大样品腔设计
12、测试口安防护
性能特点
满足各种不同厚度样品以及不规则表面样品的测试需求
φ0.1mm的小孔准直器可以满足微小测试点的需求
高精度移动平台可定位测试点,重复定位精度小于0.005mm
采用高度定位激光,可自动定位测试高度
定位激光确定定位光斑,确保测试点与光斑对齐
鼠标可控制移动平台,鼠标点击的位置就是被测点
高分辨率探头使分析结果更加
良好的射线屏蔽作用
测试口高度敏感性传感器保护
技术指标
型号:Thick 800A
元素分析范围从硫(S)到铀(U)。
同时可以分析30种以上元素,五层镀层。
分析含量般为ppm到99.9% 。
镀层厚度般在50μm以内(每种材料有所不同)
任意多个可选择的分析和识别模型。
相互独立的基体效应校正模型。
多变量非线性回收程序
度适应范围为15℃至30℃。
电源: 交流220V±5V, 建议配置交流净化稳压电源。
外观尺寸: 576(W)×495(D)×545(H) mm
样品室尺寸:500(W)×350(D)×140(H) mm
重量:90kg
标准配置
开放式样品腔。
精密二维移动样品平台,探测器和X光管上下可动,实现三维移动。
双激光定位装置。
铅玻璃屏蔽罩。
Si-Pin探测器。
信号检测电子电路。
高低压电源。
X光管。
高度传感器
保护传感器
计算机及喷墨打印机
应用领域
黄金,铂,银等贵金属和各种首饰的含量检测.
金属镀层的厚度测量, 电镀液和镀层含量的测定。
主要用于贵金属加工和首饰加工行业;银行,首饰销售和检测机构;电镀行业。
商品描述:
一、设备名称:塑料薄膜厚度测量仪(千分或百分测量) 型号:CHY-10
二、设备用途: 本仪器是采用高精度数显千分表测量塑料薄膜及薄片的专用仪器。具有测量精度高、数据稳定等特点,同时还可进行英吋和毫米之间变换。
三、主要技术指标: 1测量精度 : 0.001mm/0.0005″ 2测量范围 : 0―10mm/0.2″
四、安装方法: 1将底座从包装中拿出,放于平稳平面上. 2调整调整螺钉,使其处于水平位置. 3将千分表取出安装在千分表支架上,并调整好上下测量块,使其间隙为零. 4将千分表支架安装在底座上的固定槽内,并用锁紧手柄锁紧.
五、使用方法: 用钢丝轴将千分表测量头抬起几次后,将千分表值清零(按千分表上的”0”钮).然后将测量头抬起,把被测试样放在下测量面上,将测量头放下,这时千分表上的值即为被测试样厚度值.(如果没有试样时,表上仍有读数,则看测量面上是否有脏东西,如有则用柔软干净的布将其擦掉,如果没有则直接按千分表”0”钮清零即可。
*精确度:±(1%H+0.1)毫米
*分辨率:0.01mm
*声速范围:1000~9999m/s
*工作频率:5MHz
*管材测量下限:
Φ10mm探头:Φ20*3mm(钢)
Φ6mm探头:Φ12*2mm(钢)
*自动校对零点,可对系统误差进行修正
*线性自动补偿,在全范围内利用计算机软件对探头非线性误差进行修正,以提高准确度
*数据储存/数据查询/数据删除功能
*测量声速:根据样块厚度直接测出其声速
*公英制转换
*低电指示功能
*自动关机功能
*LCD背光灯功能
*保修期:12个月
*包装方式:彩盒+PP工具盒
*电源:3节1.5V AAA电池
*产品净重:230克
*产品尺寸:70*145*28毫米
本测厚仪采用脉冲反射超声波测量原理,适用于超声波能以一恒定速度在其内部传播,并能从其背面得到反射的各种材料厚度的测量。此仪器可对各种板材和各种加工零件作精确测量。可广泛应用于石油、化工、冶金、造船、航空、航天等各个领域。
济南兴拓检测仪器有限公司(www.xingtuo1718.com)是“科电”产品驻山东办事处。借鉴国内外仪器行业的先进经验和技术,追求人有我优、人无我有的市场竞争理念;经过多年的发展已陆续推广多种仪器。检测仪器产品包含:里氏硬度计、洛氏硬度计、地下管道寻线仪,埋地管道防腐层探测检漏仪、粗糙度仪、涂层测厚仪、超声波测厚仪、测振仪、红外测温仪、超声波探伤仪等近百种产品;公司代理英国易高、英国雷迪、美国华瑞等十多余大类三百多种国内外知名品牌仪器仪表产品。
我司主营经营:地下管线探测仪,防腐层探测检漏仪、里氏硬度计、洛氏硬度计、粗糙度仪、涂层测厚仪、超声波测厚仪、测振仪、红外测温仪、超声波探伤仪等近百种产品;公司代理英国易高、英国雷迪、美国华瑞等十多余大类三百多种国内外知名品牌仪器仪表产品。
销售区域:
北京,天津,重庆,四川,成都,山西,太原,辽宁,沈阳,吉林,长春,黑龙江,哈尔滨,江苏,南京,浙江,杭州,安徽,合肥,福建,福州,江西,南昌,山东,河南,郑州,湖北,武汉,十堰,湖南,长沙,广东,广州,深圳,广西,南宁,海南,海口,贵州,贵阳,云南,昆明,西藏,拉萨,陕西,西安,甘肃,兰州,青海,西宁,宁夏,银川,新疆,乌鲁木齐,济南,青岛,淄博,枣庄,东营,烟台,潍坊,济宁,泰安,威海,日照,莱芜,临沂,德州,聊城,滨州,菏泽
MTSY-8型陶瓷砖厚度测量仪
用于测量普通量具无法测量的大尺寸陶瓷砖厚度的仪器,也可用于测量其它材料(如大理石板材、石膏板材等)产品厚度的测量。该测厚仪采用百分表进行测量,具有度高、读数、操作简便、携带方便等优点,是有关生产厂家与质检单位的良好仪器。
技术参数
1.测厚仪的度:±0.1mm
2.测厚仪的测量范围:
规 格 | 测量范围(长×宽) | 测量厚度 |
CHD-1000 | 1000×1000mm | 25 mm |
CHD-600 | 600×600 mm | 18 mm |
MTSY-8型陶瓷砖厚度测量仪
用于测量普通量具无法测量的大尺寸陶瓷砖厚度的仪器,也可用于测量其它材料(如大理石板材、石膏板材等)产品厚度的测量。该测厚仪采用百分表进行测量,具有度高、读数、操作简便、携带方便等优点,是有关生产厂家与质检单位的良好仪器。
技术参数
1.测厚仪的度:±0.1mm
2.测厚仪的测量范围:
规 格 | 测量范围(长×宽) | 测量厚度 |
CHD-1000 | 1000×1000mm | 25 mm |
CHD-600 | 600×600 mm | 18 mm |
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