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STF-110X射线荧光镀层厚度测量仪STF-110

品名	X射线荧光镀层厚度测量仪STF-110

型号

SFT-110

概要	1.即放即测！2.10秒钟完成50nm的极薄金镀层测量！3.可无标样测量！4.通过样品整体图像更方便选择测量位置！

特长

［SFT-110的主要特征］ 1. 通过自动定位功能提高操作性测量样品时，以往需花费约10秒的样品对焦，现在3秒内即可完成，大大提高样品定位的操作性。 2. 微区膜厚测量精度提高通过缩小与样品间的距离等，致使在微小准直器（0.1、0.2mm）下，也能够大幅度提高膜厚测量的精度。 3. 多达5层的多镀层测量使用薄膜FP法软件，即使没有厚度标准片也可进行多达5层10元素的多镀层测量。 4. 广域观察系统（选配）可从最大250×200mm的样品整体图像指定测量位置。 5. 对应大型印刷线路板（选配）可对600×600mm的大型印刷线路板进行测量。 6. 低价位与以往机型相比，既提高了功能性又降低20%以上的价格。

［主要产品规格］
检测器	比例计数管
X射线源	空冷式小型X射线管
准直器	0.1、0.2mmφ2种
样品观察	CCD摄像头
样品台移动量	250（X）×200（Y）mm
样品最大高度	150mm

该公司产品分类：手持式荧光分析仪镀层测厚仪荧光分析仪

镀层厚度测量仪

1.电动的X/Y 桌可以在测量门打开时变速移动X/Y 桌出来给操作员放置样品及关闭测量门时移动X/Y 桌变速返回到测量位置。

2.高解像彩色摄影机配合强大的放大倍数功能使样品的对位十分容易及在测量中也可以监视测量的位置。如型号配备了可编测量位置的仪器更有雷射对位装置来更快速及準确对準样品的位置测量。

3.开槽式的测量室设计，这可使大块及平坦的样品，比测量室还大的，例如：电路板，也可以测量。

4.在整体操作上，在简易操作及强大功能的电脑WinFTM?软件下，所有的测量数据的统计可以十分清楚地表达出来。

5.符合美国的出口规定，软件是仪器的基本操作.此软件可以同时间测量最多至四层镀层、或是进行多至5元素的合金分析、又或是最多测量两个正离子的药水浓度测量分析。

6.在不使用标準片做校正的情况下，可以达至一个相当不错的测量结果。

7.测量的準确度是可以用标準片校正来提高，程式是可以接受多至64个标準片来做校正，标準片校正也可以保证测量可以有追溯性。

镀层厚度测量仪由于X光测厚仪是在线测量仪表，检测的厚度是钢板热态时的厚度，这样会和冷态时的厚度有一定的偏差，所以就增加了温度补偿系数。使在线测量的数据与冷态时保持一致。同样如果轧制材质有变化时，也会给测量带来误差。这时只需将不同材质的样板进行检测，计算出合金补偿系数，也可以使测量数据和实际材质厚度保持一致。

镀层厚度测量仪精密度测试，精密度表示对同一个对象进行多次测量，表征测试结果分散程度的物理量，它是一个与多次测试数据的标准偏差有关的物理量。目前，对一组具有嵌套性或不具有嵌套性的数据的标准偏差求解问题的研究已经相当成熟，对测量设备精密度的研究可以转化为对测量设备测试数据标准偏差的求解。使用成熟的数据处理方法研究比较新的高精度设备的精密度是一种简单可行而又科学的方法。

联系人: 舒翠

手机: 13602568074

电话:

传真:

邮箱: sc@kinglinhk.net

地址: 宝安区沙井北环大道110号新桥综合大楼502

该公司产品分类：膜厚仪

天津MTSY-8型陶瓷砖厚度测量仪技术参数

MTSY-8型陶瓷砖厚度测量仪

陶瓷砖厚度测量仪用于测量普通量具无法测量的大尺寸陶瓷砖厚度的仪器，也可用于测量其它材料（如大理石板材、石膏板材等）产品厚度的测量。该测厚仪采用百分表进行测量，具有精度高、读数、操作简便、携带方便等优点，是有关生产厂家与质检单位的良好仪器。

陶瓷砖厚度测量仪技术参数

1.测厚仪的精度：±0.1mm

2.测厚仪的测量范围：

规格	最大测量范围（长×宽）	最大测量厚度
CHD-1000	1000×1000mm	25 mm
CHD-600	600×600 mm	18 mm

该公司产品分类：沥青仪器类沥青乳化沥青类沥青集料类沥青混合料乳化沥青类沥青混合料类沥青混凝土检测系列陶瓷砖测试仪器系列水电水利粗粒土系列岩石检测仪器系列波纹管及管材系列建筑防水材料系列建筑保温材料系列土工布系列

SFT-110X射线荧光镀层厚度测量仪

概述：

即放即测；10秒钟完成50nm的极薄金镀层测量；

可无标样测量；通过样品整体图像更方便选择测量位置！

主要特点：

1.通过自动定位功能提高操作性测量样品时，以往需花费约10秒的样品对焦，现在3秒内即可完成，大大

提高样品定位的操作性。 2.微区膜厚测量精度提高通过缩小与样品间的距离等，致使在微小准直器（0.1、0.2mm）下，也能够大幅

度提高膜厚测量的精度。 3.多达5层的多镀层测量使用薄膜FP法软件，即使没有厚度标准片也可进行多达5层10元素的多镀层测量。 4.广域观察系统（选配）可从最大250×200mm的样品整体图像指定测量位置。 5.对应大型印刷线路板（选配）可对600×600mm的大型印刷线路板进行测量。 6.低价位与以往机型相比，既提高了功能性又降低20%以上的价格。

产品规格：

该公司产品分类：尼康卡规、角度尺、水平仪步距规、量块、测厚规测长仪数码工程打印机其他各种常用量具数显表、百分表、杠杆表卡尺、千分尺、微分头材料试验机除锈油美国施泰力东京精密三坐标测量机涂层测厚仪镀层测厚仪测量投影仪、影像测量仪电子天平、水分测试仪色差、光泽计齿轮测量仪显微镜、内窥镜

CHD陶瓷砖厚度测量仪

型号：CHD－600 CHD－1000测量厚度：0～25mm测量精度：±0.02mm测量最大尺寸：CHD－600 600＊600mm CHD－1000 1000＊1000mm用途：主要用于测量普通量具无法测量的大尺寸陶瓷砖的厚度，也可用于其他材料（如马赛克、水泥砖等）产品厚度的测量。本机采用螺旋微头进行测量，具有精度高，使用方便等优点。

电话：0732-8534226.13973204170

传真：0732-8566381

网扯：http://www.hnhryq.com/

快速在线厚度测量仪

产品特性：1，非接触式测量，对样品要求不苛刻，象一些水性涂料和胶水均可测试2，精确测试每层厚度3，可以得到透明样品的总膜厚度4，测试反馈速率最大4KHz5，重复性：100---300nm，因表面结构应用而异6，光斑尺寸小，在高难度入射角度下实现测量。产品规格： hspace=0 1，最大反馈获取速率：4kHz2，工作距离（fix）：2--44mm3，光斑尺寸（model 80/300）：5--20um4，每层最小厚度：8—10um5，重复性（在1kHz获取速率下）：+/-0.3um 6，静态精度（在0.1kHz获取速率下）：+/-0.05um7，最大测试厚度（平均折射率：1.5）：300um 8，测试波长（model 80/300）：830/1300nm

橡胶密封件厚度测量仪

汽车密封件镀涂层测量仪是上海长方仪器厂将传统的光学显微镜与计算机（数码相机）通过光电转换器有机地结合在一起，不仅可以通过目镜进行观察，还能在电脑显示屏上观察实时动态图像，并能将所需要的图片进行编辑、测量分析、保存和打印。http://www.shchfang.com/MFJ.htm

橡胶密封件是密封装置中的一类通用基础元件, 在泄漏和密封这一对矛盾中扮演十分重要的角色,其应用十分广泛,.在橡胶密封件表面进行电镀,可以增强橡胶密封件很多性能,比如:可以使密封件表面光泽, 改善密封性能,摩擦性能,耐压性能,增加密封件的工作的性和使用寿命! 因些在橡胶密封件表面进行电镀的技术越来越重要! http://www.shchfang.com/mfj.htm

上海长方光学仪器厂针对橡胶密封件表面的镀层的测量专门开发一套镀层测厚仪. 整套测量系统仪由显微观察、测量分析系统等单元组成。检测人员不仅可以十分方便地在计算机上测量橡胶密封件表面的厚度,还能将测量的数据与图片一起进行保存,形成图文并茂的报告!

橡胶密件件涂度测量仪主要参数: http://www.shchfang.com/MFJ.htm

仪器型号: 普通型:MFM-400 型: MFM-600

1.目镜:10X 2.物镜: 5X 10X 20X 40X http://www.shchfang.com/mfj.htm

3.光学放大倍数：50X 100X 200X400X,,4.系统参考放大倍数：50X-2600X

5.落射照明器：6V/20W卤素灯，220V（50Hz）亮度可调

6.滤色片组：转盘式、黄色、蓝色、绿色、磨砂玻璃

7.偏光装置：可插入式起偏振片和三目头内置检偏振片

8.载物台移动范围：纵向50mm；横向75mm

9.调焦系统：带限位和调节松紧装置的同轴粗微动，微动格值 0.002mm

10.镀层鉴别系统http://www.shchfang.com/mfj.htm

11.测量范围: 0.5um—1000um; 测量精度:1um

上海长方光学仪器厂 http://www.shchfang.com/MFJ.htm

该公司产品分类：显微镜 1

厂源仪器电镀层厚度测量仪镀层膜厚测厚仪_测厚仪

产品说明、技术参数及配置

仪器介绍Thick800A是天瑞集多年的经验，专门研发用于镀层行业的一款仪器，可全自动软件操作，可多点测试，由软件控制仪器的测试点，以及移动平台。是一款功能强大的仪器，配上专门为其开发的软件，在镀层行业中可谓大展身手。性能特点满足各种不同厚度样品以及不规则表面样品的测试需求φ0.1mm的小孔准直器可以满足微小测试点的需求高精度移动平台可精确定位测试点，重复定位精度小于0.005mm采用高度定位激光，可自动定位测试高度定位激光确定定位光斑，确保测试点与光斑对齐鼠标可控制移动平台，鼠标点击的位置就是被测点高分辨率探头使分析结果更加良好的射线屏蔽作用测试口高度敏感性传感器保护技术指标型号：Thick 800A元素分析范围从硫(S)到铀（U）。同时可以分析30种以上元素，五层镀层。分析含量一般为ppm到99.9% 。镀层厚度一般在50μm以内（每种材料有所不同）任意多个可选择的分析和识别模型。相互独立的基体效应校正模型。多变量非线性回收程序度适应范围为15℃至30℃。电源: 交流220V±5V, 建议配置交流净化稳压电源。外观尺寸： 576(W)×495(D)×545(H) mm样品室尺寸：500(W)×350(D)×140(H) mm重量：90kg标准配置开放式样品腔。精密二维移动样品平台，探测器和X光管上下可动，实现三维移动。双激光定位装置。铅玻璃屏蔽罩。Si-Pin探测器。信号检测电子电路。高低压电源。X光管。高度传感器保护传感器计算机及喷墨打印机应用领域黄金，铂，银等贵金属和各种首饰的含量检测.金属镀层的厚度测量, 电镀液和镀层含量的测定。主要用于贵金属加工和首饰加工行业；银行，首饰销售和检测机构；电镀行业。

天瑞仪器优势

一、品牌

天瑞在1992年研发出了中国台能量色散X射线荧光光谱仪，至今已经有25年以上经验积累，目前是国内一家真正有实力自主研发光谱仪及上市的公司，目前公司市值已超百亿，在全国拥有多家子公司，团队规模达3000人，成为中国乃至世界检测分析行业的引领者和知名品牌。

二、软硬件

1天瑞每年耗巨资研发软件，对所有客户软件终身免费升级，做到时时跟进欧盟环保指令，让客户买的仪器终生不过时。

2天瑞仪器的主要三大核心配件均来自美国进口，天瑞严格杜绝利用翻新配件和国产劣质配件，在业内树立了诚信经营的企业形象。

三、客户

天瑞仪器在环保测试领域占据80%以上的市场份额，得到了绝大客户的，是三星，华为，创维，格力，美的，富士康等大型企业的测试仪。

四、仪器精度

天瑞仪器创始人是原清华大学核物理研究院刘博士，他掌握了世界的光谱、质谱、色谱三大核心技术，对产品要求精益求精，把仪器的度管制在99.99%，检出限可达1ppm，重复稳定性达到0.1%以内，在同行相比天瑞技术。

五、售后服务

天瑞仪器在全国各省市建立了完善的服务网点，为所有的客户服务做到及时周到，售后服务2小时内响应，并上门快速解决问题，提供仪器终身维护保养。（与天瑞大公司，大品牌合作没有后顾之忧，我们让客户买的放心、用的安心。天瑞为您的企业发展之路保驾护航！）

该公司产品分类：原子吸收分光光度计 AAS 原子荧光光谱仪 AFS 光电直读光谱仪 OES 等离子体发射光谱仪 ICP 飞行时间质谱联用仪 iTOFMS 电感耦合等离子体质谱仪 ICP-MS 液相色谱质谱联用仪 LC-MS 气相色谱质谱联用仪 GC-MS 波长色散X荧光光谱仪 WDX 能量色散X荧光光谱仪 XRF 电子电器玩具检测仪器金属合金钢铁汽车检测铜合金检测仪器 ROHS环保检测仪高效液相色谱仪镀层测厚仪器液相色谱仪

2016款南充薄膜厚度测量仪|YG141数字式织物测厚仪|多少钱

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型号:RL046081YG141数字式织物测厚仪

主要用于各类纺织品和纺织制品厚度测定，亦可用于其他均匀薄料的厚度测定。

主要技术指标：

1.测定厚度范围：

YG141L型 0.01～10mm

YG141LA型0.01～20mm

2．小分度值：0.01mm

3．压脚直径及面积：11.28mm 50.48mm 56.42mm 112.84mm

100mm2 2000mm2 2500mm2 10000mm2

4．压重砝码：20cN、100cN、200cN、500cN、2000cN（共5只）

5．压重时间：10s、30s重要提醒：GB/T3820新标准已经实施，敬请选型注意，老标准指标如下：

主要技术指标：（请比较）

1.测定厚度范围：0.01～10mm

2．小分度值：0.01mm

3．压脚直径：7.98mm、11.28mm 、25.22mm、35.68.mm、56.43mm

4．压重砝码：20cN、50cN、100cN、200cN（共4只）

5．压重时间：10s、30s

栏目页面:http://www.runlian365.com/chanpin/5767.html纺织品厚度仪来源网址:http://www.runlian365.com/chanpin/did-46081-pid-5767.htmlYG141数字式织物测厚仪型号:RL046082YG141数字式织物测厚仪

主要用于各类纺织品和纺织制品厚度测定，亦可用于其他均匀薄料的厚度测定。主要技术指标： 1.测定厚度范围： YG141L型 0.01～10mm YG141LA型0.01～25mm 2．小分度值：0.01mm 3．压脚直径及面积：11.28mm 50.48mm 56.42mm 112.84mm 100mm2 2000mm2 2500mm2 10000mm2 4．压重砝码：20cN、100cN、200cN、500cN、2000cN（共5只） 5．压重时间：10s、30s重要提醒：GB/T3820新标准已经实施，敬请选型注意，老标准指标如下：主要技术指标：（请比较） 1.测定厚度范围：0.01～10mm 2．小分度值：0.01mm 3．压脚直径：7.98mm、11.28mm 、25.22mm、35.68.mm、56.43mm 4．压重砝码：20cN、50cN、100cN、200cN（共4只） 5．压重时间：10s、30s

栏目页面:http://www.runlian365.com/chanpin/5767.html纺织品厚度仪来源网址:http://www.runlian365.com/chanpin/did-46082-pid-5767.htmlYG141数字式织物测厚仪型号:RL046111Tellus型纺织品压缩回复性能测试仪

【适用范围】：

Tellus型纺织品压缩回复性能测试仪可对纺织品厚度及压缩回复性能测试。本机具有通用的测试平台，配置了多种系列的压脚，满足多指标（厚度、压缩回复性能）、多标准、多产品的测试，真正实现了一机多用。

【符合标准】：

GB/T 24442.1-2009 纺织品压缩性能测定第1部分：恒定法

GB/T 24442.2-2009 纺织品压缩性能测定第2部分：等速法

FZ/T 64017-2011、FZ/T 64020-2011、FZ/T 64003-2011、GB/T 22796-2009、GB/T 24252-2009

FZ/T 81005-2006、GB/T 3820-1997、GB/T 13761.1-2009、QB/T 1089-2001、QB/T 1092-2001

GB/T 24218.2、GB/T 8168-2008

【仪器特性】：

1、仪器采用等速伸长（CRE）测试原理，双立柱龙门结构，铝合金外壳外形美观整洁。

2、传动机构采用进口滚珠丝杆组、同步带、同步轮、交流伺服系统，运行稳定，噪音小。

3、采用进口高精度测力传感器，高速精密24 bits A/D，仪器采样频率为1000HZ，能及时准确扑捉试验的受力变化。

4、位移采用高精度位移光栅尺测量，精度高并排除了传动机构和保护装置产生的误差。

5、采用32位cortex-m3微处理器，操控性强，数据处理速度快，仪器反应灵敏，运行稳定可靠。

6、全计算机专业软件操控，软件系统：操作简单、易懂、功能强大。

【技术参数】：

1、速度调节范围：0.1～200mm/ min

2、位移：250mm

3、位移误差：0.01mm

4、测力范围：满量程的1%～100%

5、测力精度：0.2%FS

6、压脚平行度：0.1%

7、工作电源：AC220V 50HZ 450W

8、外形尺寸：7252175cm

栏目页面:http://www.runlian365.com/chanpin/5767.html纺织品厚度仪来源网址:http://www.runlian365.com/chanpin/did-46111-pid-5767.htmlTellus型纺织品压缩回复性能测试仪联系方式:0319-8277762温馨提示：润联网为您提供产品的详细产品价格、产品图片等产品介绍信息，您可以直接联系厂家获取产品的具体资料，联系时请说明是在润联网看到的，并告知型号

该公司产品分类：商业机械实验室仪器农业机械探测仪器勘探仪器工程机械仪器仪表

ST4080-osp osp厚度测量仪

ST4080-OSP（有机可焊性保护膜）专用于测量PCB/PWB上铜铂厚度。它属于使用分光反射法的非破坏性光学测量仪，它可提供平均厚度和详细的3D平面轮廓资料，使得实时检测无需任何的样品制备。由于ST4080-OSP具有测量很小面积与自动聚焦功能，适用于PCB基板表面的实模式。ST4080-OSP基于科美公司的厚度测量技术，而它在半导体，平板显示与其他电子材料行业方面的性得到了证实。 为什么要选择 ST4080-OSP? ST4080-OSP使用反射测量法提供PCB/PWB表面OSP涂层厚度的非接触和非破坏性实时测量。 ST4080-OSP 无需样品制备，可确保快速和简便操作。 ST4080-OSP测量的光斑尺寸可减小到0.135，这使得它可测量表面粗糙的铜的OSP涂层厚度. ST4080-OSP 与紫外可见分光计，受迫离子束方法，时序电化学还原分析还有其他的测量方法相比较，它基于更的测量技术。 ST4080-OSP 可获取420nm~640nm范围内的多波长光谱。 ST4080-OSP可提供各点和它们的平均厚度的详细数据，这样可帮助人们更好地控制OSP质量。 ST4080-OSP 通过3D表面形态学将测量程序化。

在电路行业，有机可焊性保护膜（OSP）涂层的使用对保护铜表面防止氧化是必需的。关于RoHS指令，该保护膜涂层要求无铅适用，易加工和低成本。它的标准厚度测量范围是0.1~0.5μm。ST4080-OSP 通过分析基板上薄膜表面的反射光和基板表面的反射光之间的光谱干涉来测量薄膜厚度。ST4080-OSP 同时测量多个光斑，并以轮廓形式显示厚度测量结果。ST4080-OSP有两种光学透镜。用户可使用5倍的光学透镜方便地进入详细模式的自选区域，再通过使用50倍的光学透镜获取详细厚度轮廓。

技术参数：

波长范围	420nm-640nm
测量范围	0.035-3um
最小光斑尺寸	1.35 , 0.135
测试面积	864X648 /86.4X64.8
放大倍数	5X，50X
测量层	1
Z轴再现性	± 1