Ux-720新一代国产专业镀层厚度检测仪,采用高分辨率的Si-PIN(或者SDD硅漂移探测器),测量精度和测量结果业界领先。
采用了FlexFP-Multi技术,无论是生产过程中的质量控制,还是来料检验和材料性能检验中的随机抽检和全检,我们都会提供友好的体验和满足检测的需求。
Ux-720微移动平台和高清CCD搭配,旋钮调节设计在壳体外部,观察移动位置简单方便。
X射线荧光技术测试镀层厚度的应用,提高了大批量生产电镀产品的检验条件,无损、快速和更准确的特点,对在电子和半导体工业中品质的提升有了检验的保障。
Ux-720镀层测厚仪采用了华唯最新专利技术FlexFp -Multi,不在受标准样品的限制,在无镀层标样的情况下直接可以测试样品的镀层厚度,测试结果经得起科学验证。
样品移动设计为样品腔外部调节,多点测试时移动样品方便快捷,有助于提升效率。
设计更科学,软硬件配合,机电联动,辐射安全高于国标GBZ115-2002要求。
软件操作具有操作人员分级管理权限,一般操作员、主管使用不同的用户名和密码登陆,测试的记录报告同时自动添加测试人的登录名称。
X荧光镀层测厚仪产品指标:
测厚技术:X射线荧光测厚技术
测试样品种类:金属镀层,合金镀层
测量下限:0.003um
测量上限:30-50um(以材料元素判定)
测量层数:10层
测量用时:30-120秒
探测器类型:Si-PIN电制冷
探测器分辨率:145eV
高压范围:0-50Kv,50W
X光管参数:0-50Kv,50W,侧窗类;
光管靶材:Mo靶;
滤光片:专用3种自动切换;
CCD观察:260万像素
微移动范围:XY15mm
输入电压:AC220V,50/60Hz
测试环境:非真空条件
数据通讯:USB2.0模式
准直器:Ø1mm,Ø2mm,Ø4mm
软件方法:FlexFP-Mult
工作区:开放工作区 自定义
样品腔:330×360×100mm
X荧光镀层测厚仪标准配件
样品固定支架1支
窗口支撑薄膜:100张
保险管:3支
计算机主机:品牌+双核
显示屏:19吋液晶
打印机:喷墨打印机
X荧光镀层测厚仪
完全满足客户铜镀锡、铜镀镍、铜镀银、铜镀金、铜镀镍镀金、镍镀金、铁镀锌、铁镀铬等常用金属镀层测厚分析,并具有开放性工作曲线功能,能根据具体需求添加适合现场使用的镀层测试工作曲线,能够满足所有金属镀层测厚分析。
Ux系列仪器完全符合国际电工委员会IEC62321标准及中国环保标准所规定的技术要求和技术规范。
可以实现全自动一键操作功能,准直器自动切换,滤光片自动切换,开盖随意自动停,样品测试照片自动拍照、自动保存,测试报告自动弹出,供应商信息自动筛选和保存
用 途:主要用于测量普通量具无法测量的大尺寸陶瓷砖的厚度,也可用于其他材料(如马赛克、水泥砖等)产品厚度的测量。本机采用螺旋微头进行测量,具有精度高,使用方便等优点。主要技术参数:测量厚度:0~25mm测量精度:±0.02mm测量最大尺寸:600*600mm,800*800mm,1000*1000mm
CHD陶瓷砖厚度测量仪用 途:主要用于测量普通量具无法测量的大尺寸陶瓷砖的厚度,也可用于其他材料(如马赛克、水泥砖等)产品厚度的测量。本机采用螺旋微头进行测量,具有精度高,使用方便等优点。主要技术参数:测量厚度:0~25mm测量精度:±0.02mm测量最大尺寸:600*600mm,800*800mm,1000*1000mm
CHD陶瓷砖厚度测量仪用 途:主要用于测量普通量具无法测量的大尺寸陶瓷砖的厚度,也可用于其他材料(如马赛克、水泥砖等)产品厚度的测量。本机采用螺旋微头进行测量,具有精度高,使用方便等优点。主要技术参数:测量厚度:0~25mm测量精度:±0.02mm测量最大尺寸:600*600mm,800*800mm,1000*1000mm
CHD陶瓷砖厚度测量仪用 途:主要用于测量普通量具无法测量的大尺寸陶瓷砖的厚度,也可用于其他材料(如马赛克、水泥砖等)产品厚度的测量。本机采用螺旋微头进行测量,具有精度高,使用方便等优点。主要技术参数:测量厚度:0~25mm测量精度:±0.02mm测量最大尺寸:600*600mm,800*800mm,1000*1000mm
CHD陶瓷砖厚度测量仪用 途:主要用于测量普通量具无法测量的大尺寸陶瓷砖的厚度,也可用于其他材料(如马赛克、水泥砖等)产品厚度的测量。本机采用螺旋微头进行测量,具有精度高,使用方便等优点。主要技术参数:测量厚度:0~25mm测量精度:±0.02mm测量最大尺寸:600*600mm,800*800mm,1000*1000mm
CHD陶瓷砖厚度测量仪用 途:主要用于测量普通量具无法测量的大尺寸陶瓷砖的厚度,也可用于其他材料(如马赛克、水泥砖等)产品厚度的测量。本机采用螺旋微头进行测量,具有精度高,使用方便等优点。主要技术参数:测量厚度:0~25mm测量精度:±0.02mm测量最大尺寸:600*600mm,800*800mm,1000*1000mm
CHD陶瓷砖厚度测量仪用 途:主要用于测量普通量具无法测量的大尺寸陶瓷砖的厚度,也可用于其他材料(如马赛克、水泥砖等)产品厚度的测量。本机采用螺旋微头进行测量,具有精度高,使用方便等优点。主要技术参数:测量厚度:0~25mm测量精度:±0.02mm测量最大尺寸:600*600mm,800*800mm,1000*1000mm
MTSY-8型陶瓷砖厚度测量仪
用于测量普通量具无法测量的大尺寸陶瓷砖厚度的仪器,也可用于测量其它材料(如大理石板材、石膏板材等)产品厚度的测量。该测厚仪采用百分表进行测量,具有精度高、读数、操作简便、携带方便等优点,是有关生产与质检单位的良好仪器。
技术参数
1.测厚仪的精度:±0.1mm
2.测厚仪的测量范围:
规 格 | 最大测量范围(长×宽) | 最大测量厚度 |
CHD-1000 | 1000×1000mm | 25 mm |
CHD-600 | 600×600 mm | 18 mm |
GB/T 6672台式薄膜测厚仪 包装薄膜厚度测定仪LabthinkPARAM博每 CHY-C2A测厚仪产地:济南兰光机电技术有限公司品牌:Labthink兰光咨询热线:0531-85068566、15764121171
CMI 900/950型 X-射线膜厚测量仪
CMI900/950系列X射线荧光测厚仪是一种功能强大的材料涂/镀层测量仪器,可应用于材料的涂/镀层厚度、材料组成、贵金属含量检测等领域,为产品质量控制提供、快速的分析。基于Windows2000中文视窗系统的中文版SmartLink FP应用软件包,实现了对CMI900/950主机的自动化控制,分析中不需要任何手动调整或手动参数设定。可同时测定最多5层、15种元素。数据统计报告功能允许用户自定义多媒体分析报告格式,以满足您特定的分析报告格式要求;如在分析报告中插入数据图表、测定位置的图象、CAD文件等。统计功能提供数据平均值、误差分析、最大值、最小值、数据变动范围、相对偏差、UCL(控制上限)、LCL(控制下限)、CpK图、直方图、X-bar/R图等多种数据分析模式。
CMI900/950系列X射线荧光测厚仪能够测量多种几何形状、各种尺寸的样品;并且测量点最小可达0.025 x 0.051毫米。
陶瓷砖厚度测量仪用于测量普通量具无法测量的大尺寸陶瓷砖厚度的仪器,也可用于测量其它材料(如大理石板材、石膏板材等)产品厚度的测量。该测厚仪采用百分表进行测量,具有精度高、读数准确、操作简便、携带方便等优点,是有关生产厂家与质检单位的良好仪器。
陶瓷砖厚度测量仪技术参数
1.测厚仪的精度:±0.1mm
2.测厚仪的测量范围:
规 格 | 最大测量范围(长×宽) | 最大测量厚度 |
CHD-1000 | 1000×1000mm | 25 mm |
CHD-600 | 600×600 mm | 18 mm |
概述:
DUAL SCOPE MPOR不只是最小的涂镀层测厚仪之一,它亦是部具备:双面背光LCD显示,大型显示面板及机顶上显示板,可以安全及方便地从任何角度看到测量镀层厚度的读数;内置标准的无线电发射器可以在在线或离线时把读数直接输送到电脑,无线距离为10-20m(33-66feet)
特性: |
单手操作,容易使用:将仪器简单地放在工件上,便可看到测量读数 |
人体工学设计的双面背光显示板,可从任何测量位置看到读数 |
内置双功能测量探头,悬浮式弹簧,保持恒压及低接触压力 |
自动开关功能 |
不用校正,便可进行测量 |
通过易用菜单可快速选择功能 |
可设定上下限 |
如测量结果超出或符合上下限设定,仪器会发出不同的声音和闪灯提示 |
自动选择测量方法,电磁场感应或电涡流感应 |
当没有电池,仍可储存1000个数据 |
无线电传送读数(须RS232接收器)直接到EXCEL表单(须配合软件PC-DATEX),如果要更好的接受能力,接收器可通过RS232电线外置于电脑 |
统计评估 |
自由选择偏差补偿数值 |
校正:可用标准片或底材校正 |
技术规格:
测量范围 | NF,Iso/Fe:0-2000μm(80mils) |
Iso/NF:0-2000μm(80mils) | |
测量精度 (以Fischer标准片为准则) | 0-50μm(0-2mils),±1μm(0.04mils) |
50-1000μm(2-40mils),±2% | |
1000-2000μm(40-80mils),3% | |
通讯界面 | 无线电频宽传送868MHz(欧洲)/915MHz(美国) |
重量 | 60g(2.1安士)不包含电池 |
体积 | W×D×H = 64mm × 30mm × 85mm |
电池 | 2×LR6.AA |
防护标准 | IP 52 |