XQ15-GⅡ数字式激光平面干涉仪

可广泛适用于计量实验室对高精度平面的平面度检测和鉴定。能根据不同的要求打印出各种平面度测试的彩色等高图以及三维立体透视图。并给出波峰波谷值(PV),最大面形误差(Em),均方根值(Rms),光圈数等面形评价参数。人体温度对测量性的影响为最小。

SIS 2000自动白光干涉仪

SIS 2000基本信息
品牌: SNU 型号 SIS 2000 操作方式: 自动
功能: 检测、观察、分析 精度 : 1nm    
其它型号:
SIS 1200  
 
SIS 2000产品特点
1、非接触式测量:避免物件受损。2、三维表面测量:表面高度测量范围为1nm-200μm。3、多重视野镜片:方便物镜的快速切换。4、纳米级分辨率:垂直分辨率可以达到0.1nm。5、高速数字信号处理器:实现测量仅需要几秒钟。6、扫描仪:采用闭环控制系统。7、工作台:气动装置、抗震、抗压。8、测量软件:基于windows 操作系统的用户界面,强大而快速的运算。
SIS 2000技术参数
机型

SIS 2000

工作台

尺寸

350mm×350mm

倾斜度

±3 °

测量行程

X:200mm   Y:200mm

Z轴行程

100mm

运动方式

自动,马达驱动

扫描速度

30μm/sec

垂直分辨率

0.1nm

CCD

黑白CCD 640×480 像素

物镜安装架

手动 5个位移的可定位夹具

镜头选配

镜头:5×、10×、20×、50×

SIS 2000应用领域
1、TFT产业2、半导体3、MEMS4、高校科研5、精密加工

WLIRing德国BMT WLIRing 白光干涉仪

德国BMT WLIRing 干涉仪
 
德国BMT WLIRing 干涉仪 该测量系统用于快速准确测量圆柱形工件的表面形貌,计算粗糙度参数,微型结构,及内外部表面特征。 

特点

l   对内外层都可进行测量

l   光滑粗糙表面都可进行测量

l   测量结果不受工件的颜色和材料影响

l   数秒内进行快速测量

l   用于在线测量的OEM测量头

技术参数

测量头

l   光源:LED

l   垂直分辨率(nm):<1

l   水平分辨率(μm):≥1  

l   焦距,大约(mm)1

l   测量区域的尺寸:由物体决定

l   图像尺寸(Pixel):1000×1000 

移动平台 

l    Z轴(mm):1050

l    步进速度(μm/min):1

该公司产品分类: 白光干涉测厚仪 硬度计 拉力试验机 片剂硬度仪 反应釜、反应器 润滑油检测仪 光学计量仪器 在线流量计 火焰蔓延性能测定仪 热防护(辐射)性能测定仪 抗融仪 热传导性能测定仪 燃烧试验箱 在线粘度计 导热仪、热导仪 粘度计 金属检测机 其它行业专用 介电常数测定仪 光学表面分析仪

sis智泰白光干涉仪

 

产品特点:
1 、非接触式测量:避免对象受损。
2 、三维表面测量:表面高度测量范围为  1nm ---200μm
3 、多重视野镜片:方便物镜的快速切换。
4 、纳米级分辨率:垂直分辨率可以达到0.1nm
5、高速数字讯号处理器:实现测量仅需要几秒钟。
6 、扫描仪:采用死循环控制系统。
7、工作台:气动装置、抗震、抗压。
8 、测量软件:基于windows 操作系统的使用者接口,强大而快速的运算。
 
应用领域:
1、半导体芯片
2、液晶产品(CS,LGP,BIU
3、微机电系统
4、光纤产品
5、资料存储盘(HDD,DVD,CD
6、材料研究
7、精密加工表面
8、生物医学工程
    机型
      SIS 1200
      SIS 2000
工作台
尺寸
  250 mm×174 mm
    350mm×350mm
倾斜度
                        ±3 °
测量行程
  X:150mm     Y:100mm
   X:200mm   Y:200mm
Z轴行程
      50mm
       100mm
运动方式
        手动
    自动,马达驱动
扫描速度
                    30μm/sec
垂直分辨率
                      0.1 nm
CCD
             黑白CCD, 640×480 像素
物镜安装架
手动导引五孔式
手动 5个位移的可定位夹具
镜头选配
           镜头:5×、10×、20×、50×
系统参数:
测量技术
增强相位扫描干涉    相位移动干涉
放大率
2.5X
5X
10X
20X
50X
视场 (mm)
3.62×2.72
1.81×1.36
0.90×0.68
0.45×0.34
0.18×0.13
横向分辨率
4.72μm
2.72μm
1.18μm
0.88μm
0.64μm
控制器
计算机
软件
i2000SNU Map
Windows 2000环境下运行
扫描仪
死循环控制
抗震工作台
气动装置
 
 

PG15-J激光平面干涉仪

仪器配有激光光源(波长为6328A)。对于干涉条纹可目视、测量读数、照相留存记录。工作时对防震要求一般。该仪器可应用于光学车间、实验室、计量室。如配购相关的必要附件,可精密测量光学平板的微小楔角、光学材料折射率n的均匀性,光学镀膜面或金属块规表面的平面度,90o棱角的直角误差及角锥棱镜单角和综合误差。

SJ6000激光干涉仪

一、产品简介

SJ6000采用高稳频氦氖激光器、激光双纵模热稳频技术、高精度环境补偿模块、 几何参量干涉光路设计、高精度激光干涉信号处理系统、高性能计算机控制系统技术,实现各种参数的高精度测量。通过激光热稳频控制技术,实现快速(5~10 分钟)、高精度(0.05ppm)、抗干扰能力强、长期稳定性好的激光频率输出,采用不同的光学镜组与激光配合,得到不同的干涉信号,然后通过高精度激光 干涉信号处理系统得到干涉数据,将数据通过计算机进行显示和动态分析。

使用时,操作者先按照设计的几何光路安装相配合的镜组,几何光路是以迈克尔逊型激光干涉仪原理为基础设计的,下图是迈克尔逊干涉仪的基本原理图:

迈克尔逊干涉仪的原理是一束入射光分为两束后各自被对应的平面镜反射回来,这两束光从而能 够发生干涉。干涉中两束光的不同光程可以通过调整干涉臂长度以及改变介质的折射率来实现,从而形成不同的干涉图样。干涉条纹是等光程差点的轨迹,因此,要 分析某种干涉产生的图样,必求出相干光的光程差位置分布函数。

搭建好几何光路后,在检定软件上设定测量的开始、结束位置,点击“开始”按钮,软件界面会实时显示测量所得动态数据;扫描结束后,操作者可通过对测量所得 数据曲线进行分析,得到如长度、角度、直线度、垂直度、平面度等参数。并根据系统内置的检测标准对被测件的各项参数进行合格判定,检测结束后自动生成检定 结果。

二、特点优势三、技术参数
1       线性测长距离 40m          
2 线性测长精度 ±(0.02+0.5L)um
3 激光稳频精度 0.05ppm
4 分辨率 0.001um
5 *大测量速度 4.0m/S
6 动态采集频率 50KHZ
7 预热时间 5~10分钟
8 环境补偿精度

空气压力:±1.0mBar,

空气湿度:±6%,

材料温度:±0.1℃

9 基本重量(含三脚架,包装) 15Kg
该公司产品分类: 粗糙度轮廓仪 晶圆形貌测量系统 测长机 台阶仪 图像尺寸测量仪 晶圆形貌测量系统 半导体业检测设备 显微尺寸测量仪 测长机 一键闪测仪 光学影像测量仪 二次元影像测量仪 机床测头 在机测量系统 激光测长机 光栅测长机 三坐标测量机 激光干涉仪 激光跟踪仪 激光测量仪

F-DGS1160多光束的干涉(F-P扫描干涉仪)

 

实验内容:

1、调整两个反射镜之间的相对位置,使之平行,形成F-P干涉仪。

2、观察激光在F-P干涉仪中的多光束干涉现象,了解F-P干涉仪的工作原理和理论。

3、改变腔长,测量计算干涉仪的特征参数。用压电陶瓷微调两个反射镜的间距,观察其对透射光波长的扫描特性,了解F-P扫描干涉仪的工作原理。观察激光器的频率特性,测量激光器的特征参数。

 

 

该公司产品分类: 法拉第效应 光学仪器 光电与光伏技术 激光全息技术 激光测量与干涉仪 近代光学 光纤光学与信号传输 激光原理及应用 傅立叶光学 基础光学

供应曲率半径测量干涉仪︱干涉仪

 
 光学精密机械 >> 干涉仪 >> 曲率半径测量干涉仪︱干涉仪
 
产品编号:
111410303416
产品名称:
曲率半径测量干涉仪︱干涉仪
规  格:
 
产品备注:
 
产品类别:
光学精密机械
 
   产 品 说 明
 

产品说明:

使用干涉仪,可以评估曲率半径较小的凹面镜的曲率半径值。

 

特点: ● 可以观测到凹面镜反射干涉条纹的镜面位置有个。 ● 一个是在图中所示双胶合透镜的焦点处,另一个是被测凹面的曲率中心和其焦点重合的

位置。       ● 读取移动此样品平台的微分头的刻度值,便可得到凹面样品的曲率半径。

产品 >> 光学精密机械 >> 干涉仪   共有 18 个产品
 
 
 
 
 
名称: 相干长度测量仪︱干涉仪
编号: 111410325916
 
 
 
 
 
名称: 曲率半径测量干涉仪︱干涉仪
编号: 111410303416
 
 
 
 
 
名称: 微小样品观测用干涉仪︱干涉仪(DTM-MMHI型)
编号: 111410291616
 
 
 
 
 
名称: MICROR Series 微型系列
编号: 11816153316
 
 
 
 
 
名称: IFS-SR-25 施利伦法 / 纹影法装置
编号: 11816142516
 
 
 
 
 
名称: 斐索干涉仪
编号: 11816132416
 
 
 
 
 
名称: IFS-MZ-25 马赫-曾德干涉仪
编号: 11816111216
 
 
 
 
 
名称: IFC-TG 目标靶组件
编号: 11816101616
 
 
 
 
 
名称: 准直检验组件
编号: 118169116
该公司产品分类: 光学仪器

Agilent 5529A双频激光干涉仪

产品简介

随着精密机械零件的要求在继续增加,Agilent 5529A动态校准系统能帮助机床用户获得成功。Agilent 5529A为机床制造商和用户提供测量机床定位和精度的基本部件;用经补偿的数据校准机床的定位误差;诊断几何形状问题;以及符合7种国际标准的机床性能文档。

您可用Agilent 5529A选择全套校准部件,包括激光源、校准器和材料补偿板、材料和空气传感器、光纤套件、电缆和附件。您也可选择3种预配置系统(不包括光纤)。

Agilent 5529B基本系统:包括激光源、校准器和材料补偿板、材料和空气传感器、电缆和附件。

Agilent 5529V Vectra系统:包括校准器和材料补偿板、HP Vectra PC和super VGA显示。

Agilent 5529U升级系统:包括校准器和材料补偿板、适配器电缆,您能从Agilent 5528A升级到Agilent 5529A。

特性:

l    专利Agilent激光管设计,性MTBF大于 50,000 小时

l    用户友好的Windows软件

l    文档使用8种语言:英语、法语、德语、意大利语、日语、西班牙语,以及简体和繁体汉语

l    符合7种国际标准: NMTBA, BDI/DGQ 3441, ANSI B5.54, BSI 3800, ESO 230-2, JIS, 和 GB 10931-89

l    在线帮助

如果需要详细的资料请发Email:xie_feng79@163.com

ML10 Gold激光干涉仪

仪器介绍     ML10 Gold 高性能激光干涉仪是机床、三坐标测量机及其它定位装置精度校准 用的高性能仪器。由于采用了独特的专利设计及的光电子技术,使ML10 Gold 激光干涉仪比市场上其它型号的激光干涉仪具有更高的性能和更的任选功能。 ML10 Gold 激光干涉仪提供有进行机器位置、几何精度测量的全套光学器件。 ML10 Gold 激光测量系统所有功能都设计与Laser 10 软件配合使用。除了测 量和分析诊断功能外,此软件包的标准配置还包括动态测量、旋转轴测量、双轴测 量和电子水平仪及千分表程序接口模块。 该激光干涉仪系统由激光头ML10 Gold、环境监测补偿器EC10,计算机接口卡 PC10* 或PCM20* 及高精度的光学器件组成。全部器件放在一个配小车的提箱内, 一人便可携带全部系统赴异地进行机器精度检定,大大改善了激光干涉仪的便携 性。 该激光干涉仪系统通过接口与IBM 兼容的PC 机(包括笔记本计算机)连接, 在灵活、直观的软件控制下进行自动测量,既节省了测量时间,又避免了人为误 差,并能按国际上通行的标准进行数据分析处理,如ISO230-2、JIS-B6330、 VDI3441、VDI2617、ASME B89等并适用中国国家标准GB17421-2000等,以便于按 不同标准进行机床精度的评定和比较。 技术参数     1.线性测量分辨率: 0.001μm2.线性测量范围: 40m(或任选80m)3.线性测量精度: ±0.7ppm4.测量速度: 60m/min5.稳频精度: ±0.05ppm  
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