厚测试仪专场,厚测试仪商家多、资料全面第3组

CMI760 PCB专用铜厚测试仪CMI760

CMI760

CMI760测厚仪专为满足印刷电路板行业铜厚测量和质量控制的需求而设计。

CMI760测厚仪可用于测量表面铜和穿孔内铜厚度。这款高扩展性的台式测厚仪系统采用微电阻和电涡流两种方法来达到对表面铜和穿孔内铜厚度和精确的测量。CMI760台式测厚仪具有非常高的多功能性和可扩展性，对多种探头的兼容使这款测厚仪满足了包括表面铜、穿孔内铜和微孔内铜厚度的测量、以及孔内铜质量测试的多种应用需求。

同时CMI760测厚仪具有的统计功能用于测试数据的整理分析。

CMI760测厚仪配置包括：

CMI760测厚仪主机
SRP-4探头
SRP-4探头替换用探针模块（1个）
NIST认证的校验用标准片

CMI760测厚仪选配配件：

ETP探头
TRP探头
SRG软件

技术参数

SRP-4面铜探头测试技术参数：

铜厚测量范围：

化学铜：10 μin – 500 μin （0.25 μm – 12.7 μm）

电镀铜：0.1 mil – 6 mil （2.5 μm – 152 μm）

线形铜可测试线宽范围：8 mil – 250 mil （203 μm – 6350 μm）

度：±1% （±0.1 μm）参考标准片

精确度：化学铜：标准差0.2 %；电镀铜：标准差0.5 %

分辨率：0.01 mils ≥ 1 mil, 0.001 mils <1 mil,

0.1 μm ≥ 10 μm, 0.01 μm < 10 μm, 0.001 μm < 1 μm

ETP孔铜探头测试技术参数：

可测试最小孔直径：35 mils （899 μm）

测量厚度范围：0.08 – 4.0 mils （2 – 102 μm）

电涡流原理：遵守ASTM-E376-96标准的相关规定

度：±0.01 mil （0.25 μm） < 1 mil （25 μm）

精确度：1.2 mil（30μm）时，达到1.0% （实验室情况下）

分辨率：0.01 mils （0.1μm）

TRP-M（微孔）探头测试技术参数：

最小可测试孔直径范围：10 – 40 mils （254 – 1016 μm）

孔内铜厚测试范围：0.5-2.5mils（12.7-63.5μm）

最大可测试板厚：175mil （4445 μm）

最小可测试板厚：板厚的最小值必须比所对应测试线路板的最小孔孔径值高3mils（76.2μm）

度（对比金相检测法）：±0.01 mil （0.25 μm） < 1 mil （25 μm）

±10%≥1mil（25 μm）

精确度：不建议对同一孔进行多次测试

分辨率：0.01 mil（0.1 μm）

该公司产品分类：纺织仪器工具记录仪变送器仪器配件电源供应器温度热电偶空调检测仪器农业检测仪器表面测试仪器家居系列产品安规检测仪器测绘检测仪器建筑检测仪器计量标定仪器通用检测仪器电子电力工具水质分析仪器电力电工仪器警用安检设备

CMI700PCBCMI700铜厚测试仪

CMI-700PCB面铜及孔铜厚度测量仪

--铜厚测量范围：

－－化学铜：10 μin – 500 μin （0.25 μm – 12.7 μm）

－－电镀铜：0.1 mil – 6 mil （2.5 μm – 152 μm）

－－线形铜可测试线宽范围：8 mil – 250 mil （203 μm – 6350 μm）

－－度：±1% （±0.1 μm）参考标准片

－－精确度：化学铜：标准差0.2 %；电镀铜：标准差0.5 %

－－分辨率：0.01 mils ≥ 1 mil, 0.001 mils <1 mil,

0.1 μm ≥ 10 μm, 0.01 μm < 10 μm, 0.001 μm < 1 μm

牛津仪器测厚仪器CMI760专为满足印刷电路板行业铜厚测量和质量控制的需求而设计。 CMI760可用于测量表面铜和穿孔内铜厚度。这款高扩展性的台式测厚仪系统能采用微电阻和电涡流两种方法来达到对表面铜和穿孔内铜厚度和精确的测量。CMI 760台式测量系统具有非常高的多功能性和可扩展性，对多种探头的兼容使其满足了包括表面铜、穿孔内铜和微孔内铜厚度的测量、以及孔内铜质量测试的多种应用需求。同时CMI760具有的统计功能用于测试数据的整理分析。

CMI760铜厚测试仪技术参数

SRP-4面铜探头测试技术参数：

铜厚测量范围：化学铜：10 μin – 500 μin (0.25 μm – 12.7 μm) 电镀铜：0.1 mil – 6 mil (2.5 μm – 152 μm) 线形铜可测试线宽范围：8 mil – 250 mil (203 μm – 6350 μm) 度：±1% (±0.1 μm)参考标准片精确度：化学铜：标准差0.2 %；电镀铜：标准差0.5 % 分辨率：0.01 mils ≥ 1 mil, 0.001 mils <1 mil, 0.1 μm ≥ 10 μm, 0.01 μm < 10 μm, 0.001 μm < 1 μm

ETP孔铜探头测试技术参数：

可测试最小孔直径：35 mils (899 μm) 测量厚度范围：0.08 – 4.0 mils (2 – 102 μm) 电涡流原理：遵守ASTM-E376-96标准的相关规定度：±0.01 mil (0.25 μm) < 1 mil (25 μm) 精确度：1.2 mil（30μm）时，达到1.0% （实验室情况下）分辨率：0.01 mils (0.1μm)

TRP-M（微孔）探头测试技术参数：

最小可测试孔直径范围：10 – 40 mils (254 – 1016 μm) 孔内铜厚测试范围：0.5-2.5mils（12.7-63.5μm）最大可测试板厚：175mil （4445 μm）最小可测试板厚：板厚的最小值必须比所对应测试线路板的最小孔孔径值高3mils(76.2μm) 度（对比金相检测法）：±0.01 mil (0.25 μm) < 1 mil (25 μm) ±10%≥1mil(25 μm) 精确度：不建议对同一孔进行多次测试分辨率：0.01 mil(0.1 μm)

美国THERMO/CalMetrics X-RAY镀层膜厚测试仪标准片

测厚仪标准片一般分为单镀层片，双镀层片,多镀层片,合金镀层片,化学镀层片。如:

单镀层：Ag/xx, 双镀层：Au/Ni/xx , 三镀层：Au/Pd/Ni/xx, 合金镀层：Sn-Pb/xx, 化学镀层：Ni-P/xx.

我们可以根据客户不同的金属元素,镀层结构,镀层厚度等要求向美国工厂定做标准片,并可出据标准片厚度值证书.

我公司是一精密测试仪器代理商，为香港仪高集团附属成员. 我集团在中国和香港地区代理韩国MICRO PIONEER XRF-2000系列X-射线测厚仪及德国ROENTGENANALYTIK Compact eco系列X-射线测厚仪。此两种仪器主要用于镀层或涂层厚度的测量，而且特别适合于对微细表面积或超薄镀层的测量。欢迎随时来电咨询或亲临我司测试及参观!!!

多年来，我们一直于为PCB 厂商，电镀行业，科研机构，半导体生产等电子行业提供高性能的仪器和的售后服务。让客户满意，为客户创造最大的价值是我们始终追求的目标，因为我们坚信，客户的需要就是我们前进的动力。愿我们成为真诚的合作伙伴、共同描绘双方的发展蓝图！欲了解产品详情，请与我们联系或访问http://eastco.18show.com.cn

xrf-2000H特价膜厚测试仪

韩国Micro Pioneer XRF-2000 系列荧光金属镀层测厚仪

Micro Pioneer XRF-2000 系列荧光金属镀层测厚仪能提供金属镀层厚度的测量,同时可对电镀液进行分析,不单性能,而且价钱超值.只需数秒钟,便能非破坏性地得到的测量结果,甚至是多层镀层的样品也一样能胜任.全自动XYZ样品台,镭射自动对焦系统,十字线自动调整.超大/开放式的样品台,可测量较大的产品.是线路板,五金电镀,首饰,端子等行业的.可测量各类金属层、合金层厚度.

可测元素范围：

钛（Ti） – 铀（U）

可测量厚度范围：

原子序22-25，0.1-0.8μm

26-40，0.05-35μm

43-52，0.1-100μm

72-82，0.05-5μm

X-射线管：油冷,超微细对焦

高压：0-50KV（程控）

准直器：

固定种类大小:可选0.1,0.2,0.3,0.4,1X0.4mm

自动种类大小:可选0.1,0.2,0.3,0.4,0.05X0.4mm

电脑系统：IBM相容,17”显示器

综合性能:镀层分析定性分析定量分析镀液分析

镀层分析:可分析单层镀层,双层镀层,三层镀层, 合金镀层.

镀液分析:可分析镀液的主成份浓度（如镀镍药水的镍离子浓度,镀铜药水的铜离子浓度等）,简单的核对方式,无需购买标准药液.

定性定量分析:可定性分析20多种金属元素,并可定量分析成分含量.

光谱对比功能:可将样品的光谱和标准件的光谱进行对比,可确定样品与标准件的差别,从而控制来料的纯度.

统计功能:能够将测量结果进行系统分析统计,方便的控制品质.

该公司产品分类：精密仪器

偏光片反射率测试，ITO薄膜反射率测试，TouchPannel反射率测试，导光板镀膜膜厚测试，Low-e玻璃反射率测试，汽车车灯镀膜膜厚测试,涂层膜厚测试仪

仪器简介

AS-300反射率测试仪器是一款高精度反射率测试仪器，可测量整体反射率值，反射率光谱。操作方便快捷，适用与偏光片反射率测试，ITO薄膜反射率测试，TouchPannel反射率测试，导光板镀膜膜厚测试，Low-e玻璃反射率测试，汽车车灯镀膜膜厚测试等。

仪器功能：

·光谱测量在波长范围内进行反射度能量的图谱扫描,并可进行各种数据处理如峰谷检测、导数运算、谱图运算等.·数据输出可进行数据文件和参数文件的存取,测量结果以标准通用的数据文件格式输出

关键字：偏光片反射率测试，ITO薄膜反射率测试，TouchPannel反射率测试，导光板镀膜膜厚测试，Low-e玻璃反射率测试，汽车车灯镀膜膜厚测试

AS-300 反射率测试仪器

技术参数

波长精度：0.2nm

校正线性度：99.8%

测量误差：1%以下

单次测量时间：最小100ms

功耗：200W

电源：210~245V，60Hz

信号接口：USB2.0

操作系统：windows

波长范围：200-1100 nm

数据传输速率：每4ms 一个全扫描入存储器（USB2.0 接口），18ms（USB1.1）

每300ms 一个全扫描入存储器（串行口）

探测器：3648 像素的线型硅CCD 阵列 8um × 20um

光栅：14 种光栅，波长从紫外到近红外

积分时间：10um～65min

入射孔径：宽5, 10, 25, 50, 100 或200um 的狭缝或光纤（无狭缝）

光纤连接：SMA905 接口，与0.22NA 的单股光纤相连

各类滤波片：长波通或带通滤波片，安装在光谱仪内

电子控制：8 个数字GPIO 接口电子快门控制（最短10um）

焦距：42 mm（输入）， 68 mm（输出）

光学分辨率：0.3 nm FWHM（与光栅和狭缝宽度的选择有关）

动态范围：2×108（系统），1300:1（单个扫描信号）

主要特点：

·设计的优良的光学系统,高性能的全息闪耀光栅,确保了仪器的低杂散光.

·双光束测光系统,配合设计的电路测控系统.使仪器具有高度的稳定性和

极低的噪声.

全自动的控制系统,的设计理念,确保仪器具有高性和高稳定性.

·可拆卸结构的样品室设计,易于更换不同的附件.以满足不同的分析需求.

·宽敞型开放式光源室设计,使灯源更换更加方便.

·所有部件均选用进口器件.了仪器性能的高性.

·windows 环境下开发的中英文操作软件,具有多项专利技术.提供了丰富的

独具特色的分析功能.

该公司产品分类：其实电子测试仪器电子测试仪系统仪器仪表

OU3100镀层膜厚测试仪厂家,镀层膜厚测试仪价格

一、应用：

OU3100F型膜厚仪测量钢、铁等铁磁质金属基体上的非铁磁性涂层、镀层，例如：漆、粉末、塑料、橡胶、合成材料、磷化层、铬、锌、铅、铝、锡、镉、瓷、珐琅、氧化层等。OU3100N型膜厚仪测量铜、铝、锌、锡等基体上的珐琅、橡胶、油漆、塑料层等。广泛用于制造业、金属加工业、化工业、商检等检测领域。OU3100FN型膜厚仪采用磁感应与电涡流两种原理集一体式，可以测量钢、铁等铁磁质金属基体上的非铁磁性涂层、镀层，例如：漆、粉末、塑料、橡胶、合成材料、磷化层、铬、锌、铅、铝、锡、镉、瓷、珐琅、氧化层与测量铜、铝、锌、锡等基体上的珐琅、橡胶、油漆、塑料层等。广泛用于制造业、金属加工业、化工业、商检等检测领域。

二、技术参数-OU3100型膜厚仪

型号	OU3100F	OU3100N	OU3100FN
测定对象	磁性金属上非磁性涂镀层	非磁性金属上绝缘层	磁性金属上非磁性涂镀层及非磁性金属上绝缘层
测量方法	F 磁感应	NF 涡流	F 磁感应/NF 涡流
测量范围	0-1250um（更厚涂层请选用OU3500型）
分辨率	1um
准确度	一点校准：±：（3%H+1um）二点校准：±：（1%H+1um）
最小曲面	F: 凸1.5mm/凹25mm N: 凸3mm/凹50mm
最小测量面积	7mm
最薄基底	0.5mm
自动关机	自动关机
使用环境	温度：0-40℃ 湿度：10-90%RH
电源	2节7号电池
电池电压指示	低电压提示
外形尺寸	115×70×30mm
重量	80g（不含电池）

资料来源：沧州欧谱膜厚仪 http://www.mohouyi.com

该公司产品分类：检测仪器

美国bowm博曼膜厚测试仪

美国博曼膜厚测试仪是一款低成本高效率、快速可靠的镀层厚度测量及材料分析设备。在工业领域如电子行业、五金电镀行业、金属合金行业及贵金属分析行业表现出卓越的分析能力，可进行多镀层厚度的测量。高分辨硅-PIN-探测器，配合快速信号处理系统能达到极高的精确度和非常低的检测限。只需短短数秒钟，所有从17号元素氯到92号元素镭的所有元素都能准确测定.可测量：单一镀层：Zn， Ni，Cr，Cu，Ag，Au，Sn等.二元合金层：例如Fe上的SnPb，ZnNi和NiP合金.三元合金层：例如Ni上的AuCdCu合金.双镀层：例如Au/Ni/Cu，Cr/Ni/Cu，Au/Ag/Ni，Sn/Cu/Brass，等等.双镀层，其中一个镀层为合金层：例如Cr/NiCu/Plastic；Fe。此仪器特别适合于小的镀层测量，如端子，连接器，细小的金线，在五金，汽车配件．线路板．卫浴，等行业．也有杰出的表现．可测量．单层．双层，合金层等多种镀层.如果您有什么问题或要求，请您随时联系我们。您的任何回复我们都会高度重视。金东霖祝您工作愉快！联系人：舒翠 136 0256 8074 QQ:2735820760

该公司产品分类：膜厚仪

CMI760 PCB专用铜厚测试仪

供应CMI760 PCB专用铜厚测试仪

深圳市奔蓝科技有限公司专业代理销售牛津仪器测厚仪器。集销售、安装、维护、维修及培训一体化服务！

牛津仪器测厚仪器CMI760专为满足印刷电路板行业铜厚测量和质量控制的需求而设计。

CMI760可用于测量表面铜和穿孔内铜厚度。这款高扩展性的台式测厚仪系统能采用微电阻和电涡流两种方法来达到对表面铜和穿孔内铜厚度准确和精确的测量。CMI 760台式测量系统具有非常高的多功能性和可扩展性，对多种探头的兼容使其满足了包括表面铜、穿孔内铜和微孔内铜厚度的测量、以及孔内铜质量测试的多种应用需求。

同时CMI760具有先进的统计功能用于测试数据的整理分析。

技术参数

SRP-4面铜探头测试技术参数：－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－- 铜厚测量范围：化学铜：10 μin – 500 μin （0.25 μm – 12.7 μm）电镀铜：0.1 mil – 6 mil （2.5 μm – 152 μm）线形铜可测试线宽范围：8 mil – 250 mil （203 μm – 6350 μm）准确度：±1% （±0.1 μm）参考标准片精确度：化学铜：标准差0.2 %；电镀铜：标准差0.5 % 分辨率：0.01 mils ≥ 1 mil, 0.001 mils <1 mil, 0.1 μm ≥ 10 μm, 0.01 μm < 10 μm, 0.001 μm < 1 μm ETP孔铜探头测试技术参数：－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－- 可测试最小孔直径：35 mils （899 μm）测量厚度范围：0.08 – 4.0 mils （2 – 102 μm）电涡流原理：遵守ASTM-E376-96标准的相关规定准确度：±0.01 mil （0.25 μm） < 1 mil （25 μm）精确度：1.2 mil（30μm）时，达到1.0% （实验室情况下）分辨率：0.01 mils （0.1μm） TRP-M（微孔）探头测试技术参数：－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－- 最小可测试孔直径范围：10 – 40 mils （254 – 1016 μm）孔内铜厚测试范围：0.5-2.5mils（12.7-63.5μm）最大可测试板厚：175mil （4445 μm）最小可测试板厚：板厚的最小值必须比所对应测试线路板的最小孔孔径值高3mils（76.2μm）准确度（对比金相检测法）：±0.01 mil （0.25 μm） < 1 mil （25 μm） ±10%≥1mil（25 μm）精确度：不建议对同一孔进行多次测试分辨率：0.01 mil（0.1 μm）

十多年来，深圳奔蓝科技一直服务于PCB 厂商、五金电镀、连接器、LCD、科研机构、高校、质量检测中心、半导体、微电子、光电子、光通讯等领域。我们提供高质量的产品和最优质的服务都得到客户最高的奖励，在未来,我们将继续履行客户的期望、要求和需要。

深圳市奔蓝科技有限公司 Shenzhen BenLion Technologies Co., Ltd.

电话：0755-2307 6745 传真：0755-2307 6746

刘先生13640948714 QQ : 1017646692

邮件：1017646692@qq.com 网站：http://www.benlion.com

地址：深圳市宝安区西乡街道凤凰岗水库路香雅阁1607

该公司产品分类：供应CMI760 PCB专用铜厚测试仪 CMI760 PCB专用铜厚测试仪

无损膜厚测试仪

仪器介绍

天瑞仪器92年就开始做光谱仪，经过多年的积累，在镀层厚度检测方面，我们直保持内：主要原因是我们的性价比与售后服务具有很强的竞争力，这个优势不仅仅体现在购买价格上，也体现在产品生命周期花费的总体成本上。Thick600是天瑞仪器价格优的镀层测厚仪；仪器采用下照式结构，适合平面样品的检测，配置的软件界面简洁，测试样品用时40S，售后服务及时。

镀层厚度测试方法般有以下几种方法：

1 光学显微镜法。适用标准为：GB/T6462-2005

2 X-ray法（X射线法）。适用标准为：GB/T16921-2005

3 库仑法，此法般为仲裁方法。适用标准为：GB/T4955-2005

测量标准

1标GB/T 16921-2005/ISO 3497：2000

金属覆盖层覆盖层厚度测量X射线光谱方法

2.美标准A754/A754M-08

Coating Weight（mass）of Metallic Coatings on steel by X-Ray Fluorescence

应用领域

镀层厚度分析；

RoHS指令中Cd/Pb/Cr/Hg/Br/Cl检测；

合金成分分析；

样品测试步骤

1.每天开机预热30分钟后打开测试软件“FpThick”：

用户使用“Administrator”，密码：skyray

2.进入测试软件后，选择“测试条件”

点击“确定”，即测试条件确定（仪器已设置好）

3.选择“工作曲线”

如待测样品是铁镀镍，则选择Ni-Fe；其他依次类推

4.放入“Ag片”对仪器进行初始化

初始化完成后，（峰通道为1105，计数率达到定的数，如300以上）。

5.待测样品测试

放入待测的样品，通过摄像头画面观察当前放入的样品的表面情况，以及仪器的X射线的聚焦点。可以通过软件提供的十字坐标（也称十字光标）来定位该聚焦点，将样品放在聚焦点位置。点击“开始”，输入样品名称后“确定”。

6.测试完成后即可保持报告，报告的位置可以在桌面的“分析报告”快捷方式中的“镀层报告”中找到。

注意：测试镀层样品时，必须先要确定是什么镀层、选择好对应的工作曲线测试。

技术参数

1 分析元素范围：S-U

2 可分析多达3层以上镀层

3 分析厚度检出限高达0.02μm

4 多次测量重复性高可达0.05μm

5 定位精度：0.5mm

5 测量时间：30s-300s

6 计数率：1000-8000cps

7 仪器适合测试平面。以单层Fe镀Ni的标样为例，分析的范围是0.02—30um，在这个范围内，才能检测。0.5-10um的，偏差是5%，就是说真值是1um，用仪器测试的值是0.95-1.05um。

性能优势

下照式：可满足各种形状样品的测试需求

准直器和滤光片手动切换：不同样品材质用不同的准直器

移动平台：精细的手动移动平台，方便定位测试点

高分辨率探测器：提高分析的性

新代的高压电源和X光管：性能稳定，高达50W的功率实现更高的测试效率

仪器硬件配置

1. 探测器

2. 高、低压电源

3. X光管

4. MCA多道分析器

5. 高精密摄像头

6. 移动平台（自动）

7. 准直器

8. 标准样品

质量、技术服务

1.仪器进行终身维修；

2.软件免费升级：如有软件升级，乙方将免费提供软件升级，不再收取升级费用；

3.保修条款

3.1乙方对本合同销售仪器设备自验收合格之日起免费保修1年；

3.2保修期结束后，乙方为甲方提供维修服务的资费标准如下：

交通费、住宿费由甲方承担；

资费标准：硬件成本费用——按乙方时价计算

硬件运输费——实报实销

服务费——300元 / 人 / 天

人员交通费——实报实销

人员住宿费用——￥300元/天

4.技术服务的响应期限：提供的技术服务，在接到用户故障信息后，4小时内响应；如有

必要，12～72个小时内派人上门维修和排除故障。

厂家优势

天瑞公司有完善的质量管理体系，从进口核心零部件的检测开始，到仪器的组装，数据的标定及考核，均严格把关，能够很好的控制产品的质量。公司严格按ISO9001质量体系的要求，进行产品质量的管理，每道工序进行严格的检验，绝不允许不合格的流到下到工序；不合格的产品不出厂，坚决做到“三不”和“三不放过”，确保产品质量，用户使用放心。

厂家介绍

天瑞仪器是内大的分析仪器厂家，公司主营产品X荧光检测仪具有快速、、无损的特点。X荧光分析仪可以应用于任何需要分析Na以上到U的元素或化合物成分分析的领域，如：电子电器（RoHS检测）、珠宝首饰（贵金属及镀层检测）、玩具安（EN71-3）、建材(水泥、玻璃、陶瓷)、冶金(钢铁、有色金属)、石油（微量元素S、Pb等）、化工、地质采矿、商品检验、质量检验甚至人体微量元素的检验等等。

该公司产品分类：波长色散X射线荧光光谱仪WDX4000 气质联用仪GC-MS6800 手持式RoHS检测仪膜厚仪Thick800A RoHS检测仪EDX1800B 镀层测厚仪Thick800A ICP3000电感耦合等离子体发射光谱仪大气重金属在线监测仪电感耦合等离子体质谱仪ICP-MS 液相色谱质谱联用仪原子荧光光谱仪 AAS原子吸收光谱仪水质在线分析仪 X荧光测硫仪食品重金属检测仪高频红外碳硫分析仪碳硫分析仪矿石分析仪粮食重金属快速检测仪铜合金分析仪

CMI760 PCB专用铜厚测试仪CMI760

CMI700PCBCMI700铜厚测试仪

CMI760 CMI760 PCB专用铜厚测试仪

美国THERMO/CalMetrics X-RAY镀层膜厚测试仪标准片

xrf-2000H特价膜厚测试仪

偏光片反射率测试，ITO薄膜反射率测试，TouchPannel反射率测试，导光板镀膜膜厚测试，Low-e玻璃反射率测试，汽车车灯镀膜膜厚测试,涂层膜厚测试仪

OU3100镀层膜厚测试仪厂家,镀层膜厚测试仪价格

美国bowm博曼膜厚测试仪

CMI760 PCB专用铜厚测试仪

无损膜厚测试仪

最新产品