萤光X-Ray膜厚仪

荧光X-Ray膜厚仪

萤光X-Ray膜厚仪说明:1. 测量主机精巧,不占空间2. 厚度测量极限:0.001um3. 可测试单层膜厚、多层膜厚、化学镍层膜厚、锡铅合金层膜厚及组成比、元素分析4. 准直器最小孔径仅0.05φmm,可测量微小部品5. 采用中文窗口软件,测定报告的撷取,非常简便

数显膜厚仪

数显膜厚仪 技术参数:

执行标准:GB/T1764-79       GB/T134522-92       ISO2808-74 测量范围:0-200μm 测量精度:+/-(0.7μm+3%H) *H为标准厚度 

数显膜厚仪 详细介绍:

用途:测定铁磁性材料表面上非磁性涂镀层的厚度 试验技术特征:专用于铁磁性材料表面上非磁性涂镀层厚度测定;机内备有充电电池便于涂装施工现场应用

900L系列膜厚仪,膜厚计

型号:LE-900J                            型号:LE-300J                             型号:LE-200J 特点:经济型膜厚计, 一体化探头设计.      特点:稳定性高,重复性好.                   特点:精度高,内置打印机. 测量范围:0-1500um                     测量范围:0-1500um                       测量范围:0-150 型号: TT220                           型号:TT240                         型号:TT260   测量范围:0-1250um                    测量范围:0-1250um              测量范围:0-1250um               测量精度:±(3%H+1)um                测量精度:±(3%H+1)um         测量精度:±(3%H+1)um    存贮功能:可存贮15个测量值           型号贮功能:可存贮300个测量值   型号存贮功能:可存贮495 特点:经济型膜厚计, 探头机身一体化.    特点:精度高,功能齐备,可配打印机.  特点:精度高,功能齐备内置打印机.         

CMI 243膜厚仪

●ECP-M探头:锌、镍均可以测量

●度:±1%

●测量范围:0.08-1.50mils(2-38μm)

●分辨率:0.01mils (0.1μm)

●适用标准:符合ASTM B244—b259, DIN 50984,ISO 2360,ISO 29168(DRAFT), 以及BS 5411 part 3

●单位:英制和公制单位自动转换

●统计数据显示:读取次数,平均值,标准差,值,值,最终值

●记忆储存:12,400个数据储存

●接口:RS-232串行端口,波特率可调,可接打印机或计算机

●显示:液晶显示(LCD),字符高度1/2” (1.27cm)

●电池:9V干电池或可充电电池。

●尺寸:57/8” (L) ×31/8” (W)×13/16” (D) (14.9×7.94×3.02 cm)

●重量:9盎司/0.26kg, (包括电池重量在内)

●品牌及产地:英国牛津仪器;产地:美国

牛津仪器常驻中国机构提供售后服务和技术支持

涂层测厚仪Surfix easy FN膜厚仪

德国涂层测厚仪Surfix easy FN膜厚仪

世界上进的无损测厚“手机”(德国测厚仪Surfix)

  • 用测厚仪Surfix精确无损测量钢铁及有色金属上的涂层厚度,使用方便、操作简单、测量精确。可选型号:
  • Surfix  (B/P)FN 型适合测量金属基体上的涂镀层氧化膜等。 
  • Surfix F 型适合钢铁基体上的涂镀层厚度测量。 
  • Surfix N 型适合有色金属材上的膜厚测量 
  • Surfix easy FN  型适合测量所有金属基体上的涂层。
  • Surfix easy F  型适合测量钢铁基体上的涂层。

德国涂层测厚仪Surfix BFN膜厚仪标准配置:

  • 主机及指定型号的探头
  • 零板-----------------
  • 标准箔两个-----------
  • 电池两节-------------
  • 便携软包-------------
  • 操作手册-------------

    可选配置:

  • PC计算机用的红外线接收器
  • 便携式打印机(带红外接收器 RS232接口)
  • 不同厚度的标准箔
德国涂层测厚仪Surfix BFN膜厚仪技术参数:
  测量范围0--1500µm
  误差1µm+3%的读数
  分辨率1µm或小于读数的2%
  显示背景照明,四位读数显示,两行统计数字显示,英文操作指南
  基体最小面积5mm*5mm
  基体最小曲率凸面:3mm 凹面:50mm
  基体最小厚度F型:0.5mm,N型50µm
  校准厂家校准,零校准,校准箔校准
  数据统计读数个数(最多9999个),平均值,标准偏差。最大值和最小值
  数据存储最多80个读数值及9999个读数的统计数字
  极限值上下限可调,声音报警
  数据接口红外通讯
  环境温度/表面温度0--50°C/150°C
  电源

两节1.5伏五号电池

  仪器尺寸140mm*62mm*30mm
  探头尺寸U14mm83mm
  重量200g主机及探头
  保护级别IP52(防灰尘,防漏水)
  符合标准DIN,ISO,ASTM,BS

 

PosiTector 200 膜厚仪

PosiTector 200 膜厚仪-美国狄夫斯高(DeFelsko)的详细介绍
美国狄夫斯高 (DeFelsko) 检测仪器--PosiTector 200型测厚仪 功能简介:
PosiTector 200型漆膜测厚仪 用于测量木材、混凝土、塑料等基材上涂层厚度。
PosiTector 200型膜厚仪型:最多测量3层并带有图形显示
PosiTector 200型漆膜测厚仪应用成熟的超声波技术在许多行业无损测量涂层厚度,如混凝土、木材、复合材料等
价格低廉
使用简单
非破坏性
PosiTector 200 漆膜测厚仪使用简单,价格低廉而且是非破坏性。可用于测量木材,混凝土及其它基材上涂层厚度。
简单
直接测量,测量大多数涂层时无需调校
菜单操作
双色指示灯,适于嘈杂环境
重置功能可以即时恢复出厂设置
耐用
耐溶剂、酸、油、水和灰尘,防护等级满足或超出IP5X
显示屏耐划伤/溶剂,适用于恶劣环境
防震保护橡胶皮套,带皮带夹
主机与探头两年保修
精确
灵敏传感器,使测量迅速且(最多40个读数/分钟)
成熟的无损超声波技术,符合ASTM D6132与ISO 2808标准
校准证书可追溯NIST
多种功能
连续显示/更新平均值、标准偏差和测量次数
内部存储最多10000个数据,最多可分1000组
内置时钟可对存储的结果标注时间、日期
输出提供USB、红外和串行接口,可与打印机和电脑进行简单通讯
背光显示,可用于阴暗环境
英制/公制两种单位,可相互转换
多种显示语文选择
可选配件
- 标准片——符合 ISO 和其它质量标准
- PosiSoft 分析软件:
可以输入注释
可以打印和显示基本的数据分布图和直方图
可以输出到一个文件或试算表中
提供连接打印机和计算机的数据线
红外打印机 - 使用电池和红外线接收数据
PosiTector 200型涂层测厚仪整套包括
耐用的携带,3节AAA电池、说明书、具有NIST可追朔性的校准证书,保修一年。
1. 阅读容易,防划花,液晶显示
2. 指示灯在噪音环境中,方便确认读数
3. 红外线接口用于无线打印
4. RS232 接口用于下载
5. 坚固外壳,耐溶剂、酸、油、水和灰尘
6. 压力恒定,探头测量面为塑料,不会划伤测量面
7. 舒适把手,减少操作人员的疲劳
8. 柔软连接线
PosiTector 200型涂层测厚仪 技术参数
    B/标准 B/ C/标准 C/
    13-1000um 0.5-40mils   25-1000um
分 辨 率     0.1mils 2um
        ± 0.1mils + 3% 读数 ± 2um +3% 读数
测量速度      45 读数 / 分钟
    146 x 64 x 31mm
    105g(不含电池)

PosiTector 200PosiTector 200 膜厚仪-美国狄夫斯高

PosiTector 200 膜厚仪-美国狄夫斯高(DeFelsko)的详细介绍
美国狄夫斯高 (DeFelsko) 检测仪器--PosiTector 200型测厚仪 功能简介:
PosiTector 200型漆膜测厚仪 用于测量木材、混凝土、塑料等基材上涂层厚度。
PosiTector 200型膜厚仪型:最多测量3层并带有图形显示
PosiTector 200型漆膜测厚仪应用成熟的超声波技术在许多行业无损测量涂层厚度,如混凝土、木材、复合材料等
价格低廉
使用简单
非破坏性
PosiTector 200 漆膜测厚仪使用简单,价格低廉而且是非破坏性。可用于测量木材,混凝土及其它基材上涂层厚度。
简单
直接测量,测量大多数涂层时无需调校
菜单操作
双色指示灯,适于嘈杂环境
重置功能可以即时恢复出厂设置
耐用
耐溶剂、酸、油、水和灰尘,防护等级满足或超出IP5X
显示屏耐划伤/溶剂,适用于恶劣环境
防震保护橡胶皮套,带皮带夹
主机与探头两年保修
精确
灵敏传感器,使测量迅速且(最多40个读数/分钟)
成熟的无损超声波技术,符合ASTM D6132与ISO 2808标准
校准证书可追溯NIST
多种功能
连续显示/更新平均值、标准偏差和测量次数
内部存储最多10000个数据,最多可分1000组
内置时钟可对存储的结果标注时间、日期
输出提供USB、红外和串行接口,可与打印机和电脑进行简单通讯
背光显示,可用于阴暗环境
英制/公制两种单位,可相互转换
多种显示语文选择
可选配件
- 标准片——符合 ISO 和其它质量标准
- PosiSoft 分析软件:
可以输入注释
可以打印和显示基本的数据分布图和直方图
可以输出到一个文件或试算表中
提供连接打印机和计算机的数据线
红外打印机 - 使用电池和红外线接收数据
PosiTector 200型涂层测厚仪整套包括
耐用的携带,3节AAA电池、说明书、具有NIST可追朔性的校准证书,保修一年。
1. 阅读容易,防划花,液晶显示
2. 指示灯在噪音环境中,方便确认读数
3. 红外线接口用于无线打印
4. RS232 接口用于下载
5. 坚固外壳,耐溶剂、酸、油、水和灰尘
6. 压力恒定,探头测量面为塑料,不会划伤测量面
7. 舒适把手,减少操作人员的疲劳
8. 柔软连接线
PosiTector 200型涂层测厚仪 技术参数
   
B/标准
B/
C/标准
C/
   
13-1000um
0.5-40mils
 
25-1000um
分 辨 率
 
 
0.1mils
2um
   
 
 
± 0.1mils + 3% 读数
± 2um +3% 读数
测量速度
 
 
45 读数 / 分钟
   
146 x 64 x 31mm
   
105g(不含电池)

 

XRF-2000X射线测厚仪 镀层测厚仪 测金机 膜厚仪

 

XRF-2000 X射线测厚仪 镀层测厚仪 测金机 膜厚仪
X-射线镀层测厚仪的特征:
1.可测量电镀、蒸镀、离子镀等各种金属镀层的厚度。
2.可通过CCD摄像机来观察及选择微小面积以进行镀层厚度的测量,避免直接接触或破坏被测物。
3.备有250个以上的镀层厚度测量和成分分析时所需的标准样品。
 
一.韩国Micro Pioneer XRF-2000 系列X射线测厚仪(原装进口)
XRF2000能提供金属镀层厚度的测量,同时可对电镀液进行分析,不单性能,而且价钱超值,同比其他牌子相同配置的机器,XRF2000为您大大节省成本。只需数秒钟,便能非破坏性地得到的测量结果,甚至是多层镀层的样品也一样能胜任。全自动XYZ样品台,镭射自动对焦系统,十字线自动调整。超大/开放式的样品台,可测量较大的产品。是线路板、五金电镀、首饰、端子等行业的。可测量各类金属层、合金层厚度等。
可测元素范围:钛(Ti) – 铀(U) 原子序 22 – 92 。
准直器:固定种类大小:可选圆形0.1 0.2 0.3 0.4mm 方型1×0.4mm
自动种类大小:可选圆形0.1 0.2 0.3 0.4mm 方型0.05×0.4mm
电脑系统:DELL品牌电脑,17寸液晶显示器,惠普彩色打印机
综合性能:镀层分析 定性分析 定量分析 镀液分析 统计功能
 
二.美国Thermo 第二代X射线荧光测量仪器(型测厚仪)
实现了快速、精密、的X-射线测量仪器。
MicronX可以同时测量多至6层的金属镀层的厚度和成分,测量厚度可以从埃(?)至微米(μm),它也能测量多至20个元素的块状合金成分。其度、精密度和稳定性是的。
世界首创光学准直器0.025mm;集中X-射线光束,强度加强5-8;适合较薄镀层测量,测量时间为正常的1/5;配有ZOOM功能,图象可放大至200倍;更新FP方法,适合多层厚度测量。,光束最少可达
ZXR/LXR系统:用于小样品的经济型。机械准直器,气体正比探测器。
GXR系统:斑点小,样品量大。GXR能精确测量小至25μm的Sn、Pd和Ag层及小至35μm的Au和Ni层。应用于微电子器件、数据偶合器、光通讯和数据贮存等。
VXR系统:真空测量环境(真空导管技术专利),增加灵敏度和测定范围(Al-UVXR利用真空技术和尖端的焦耳—汤母逊制冷半导体探测器(140eV,FWHM)。
MXR系统:高性能、高精密、高分辨。利用光学准直器透过元件发出超强的40μm光束,将得到100—1000倍于相同大小光束的机械准直器X-射线荧光的精度。电制冷半导体探测器提供增强的灵敏度和分辨率(220eV,FWHM)。最适合用于半导体、光通讯、微电子、光子学、无源器件和薄层磁头金属化分析。
 
三.供应二手金属镀层X射线测厚仪
适用于五金、电镀、精品首饰、电子、手表、电路板等镀层测量,如镀金、银、镍等微小部位的高精度测量。
二手测厚仪还可以低价出租,租费实惠,按年计算。可以提供美国VEECO、美国热电、韩国XRF2000及日本精工X射线镀层测厚仪的维修和保养服务供应以下二手设备:
1.美国VEECO X-射线镀层厚度测量仪 型号XRF-4000  XRF-5000
2.日本精工X-射线镀层厚度测量仪 型号SFT-157  SFT-3000  SFT-7000  SFT-9000等
   
四.贵重金属珠宝测量仪(X射线原理)
快速、非破坏性和高精度的贵金属珠宝成品测量仪,可直接得出开金(Karat)值。短期内便能赚回成本的聪明投资。无论你的业务是批发、零售、制造或是提炼回收,都能帮您省回时间和金钱。
 
十多年来,我们一直服务于PCB 厂商、电镀行业、科研机构、半导体生产、微电子、光电子、光通讯等电子行业。我们提供高质量的产品和质的服务都得到顾客的奖励,在未来,我们将继续履行顾客的期望、要求和需要,愿我们成为真诚的合作伙伴、共同描绘双方的发展蓝图!

面议放置型膜厚仪

放置型膜厚仪

放置型膜厚仪适用于没有磁引力的UV涂层和一些金属表面的非UV的涂层(如涂料,瓷釉,塑胶,镀锌层,金属表面的氧化层等等)。

BD-D5-25型的测量范围为0-0.08英寸;;公差为+/-0.0002英寸,最大公差0.004英寸;典型运用为涂料,瓷釉,塑胶,热镀锌层,金属表面的硬化层。

BD-D5-26型的测量范围为0-0.008英寸;公差为+/-0.00004英寸,最大公差0.0008英寸;典型运用为涂料薄膜,电镀层和磷化层。

特殊测量范围可以定做

QUANIX4500德国尼克斯涂镀层测厚仪4500,膜厚仪,漆膜仪,测膜仪

详细信息:产品名称: 德国尼克斯涂镀层测厚仪 规格型号: QuaNix4500 产品类别: 涂镀层测厚仪 产品描述: QuaNix4500 涂镀层测厚仪 型号:QuaNix4500 产地:德国1.测量钢铁等磁性金属基体上的非磁性涂层、镀层、氧化层,如油漆、粉末、塑料、橡胶、锌、铬、铝、锡等;2.测量铝、铜、锌、不锈钢等非磁性金属基体上的绝缘涂镀层,如油漆、瓷、塑料、珐琅氧化层等。详细描述:磁性/非磁性金属基体:用于4500测量范围: 0-2000um测量精度: 0-50um≤±1um,50-1000um≤±1.5/100,1000-2000um≤±2/100,2000-5000um≤±3/100.最小测量面积: 10x10mm最小曲率: 凸半径 5mm凹半径 25mm最小基材厚度:铁0.2mm 非铁0.05mm温度范围: 0-60度显示: LCD供电形式: 2个1.5V电池体积: 100X60X27mm重量: 约110克

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