膜厚仪专场,膜厚仪商家多、资料全面第5组

荧光X-Ray膜厚仪

产品型号:	EX-3000
产品名称:	萤光X线膜厚计 EX-3000
相关说明:
荧光X-Ray膜厚仪特性： 1. 采用中文窗口操作系统，操作性简便。 2. 厚度测量极限:分辨率0.001um。 3. 可测试项目:单层膜厚、双层膜厚、三层膜厚、化学镍膜厚、铅合金膜厚及组成、压铸锌上镀铜、二层同时测定、元素光谱分析。 4. 油浸式微小焦点X线管，50KV管电压，由上而下垂直照射方式。 5. 采用多频分析器，可快速处理能谱分析，可执行测定物之能谱分析表示，操作简单。 6. 滤波器:采用Co、Ni金属及数字式滤波器，可单一或同时使用。 7. 准直器：采用5种孔径一体式之Collimator可设定任意切换方式。 8. 彩色样品观察系统，附有＋字刻度线，清楚显示测定位置。 9. 客户、各部品番号、批号，可登录在频道内，共有300个测量频道数。 10.自动测定测量台，可使利用鼠标或摇杆来输入及调整测定位置，可登录储存100组自动测定频道，可作坐标补正及频道连结。 11.采用中文窗口作业软件，设计及打印测量报告，插入测量位置的彩色图片、非常容易。 12.可作数据统计处理及三次元之分布图案。 13.自动诊断机能，故障排除对策迅速。附有X线管的使用时间及寿命表示机能，加强保养的安全性。 14.测定资料可保存在频道内，在统计项目设定后可做统计处理。

PIG 455破坏式膜厚仪

破坏式膜厚仪设计与功能：

PIG 455由1个黑色的氧化铝部件构成，它包含以下功能元件：

—可更换的碳化物刀头，具有精确的角度切割刀。

—一个50倍的测量显微镜和一个刻度（2mm 分为100格），它也适用于检查任务。

—两对支脚用于支持测量显微镜和导向碳化物刀头。

—电池槽可9V 电池

—LED可更好的照明样品

—开关设置（点亮）

破坏式膜厚仪技术数据：

测量范围：0－200µm（标准配置）

尺寸：110×85×25mm

重量：0.4kg

显微镜放大倍数：50倍

刻度：2µm（1/100 格）

QuaNix 4500德国QuaNix 4500测厚仪，膜厚仪

德国QuaNix 4500测厚仪，膜厚仪品牌: 德国QuaNix （尼克斯）双功能:Δ 测量钢、铁等磁性（Fe）基体上的非磁性涂镀层的厚度;如油漆层、各种防腐涂层、涂料、粉末喷涂、塑料、橡胶、合成材料、磷化层、铬、锌、铝、锡、铅、镉等;Δ 测量铜、铝、不锈钢等非铁磁性（NFe）基体上非导电层的厚度，如油漆层、各种防腐涂层、涂料、粉末喷涂、塑料、橡胶、合成材料、氧化层等。特　　点：1、只需调零、无需校准 2、Fe/NFe两用探头 3、一体化设计 4、自动开关机技术参数：基　　体： Fe/NFe探头形式：一体化显　　示： LCD数字显示测量范围： Fe:0-3000μm 　　NFe：0－2000μm 测量精度： 0－50μm：≤±1μm 50－1000μm：≤±1.5%， 1000－2000μm：≤±2% 2000－5000μm≤±3%显示精度： 1μm工作温度：－10 －＋60℃温度补偿： 0－50℃最小基体： 10mm×10mm最小曲率：凸、凹半径：3mm/25mm最薄基体： Fe：0.2mm NFe：0.05mm电　　源： 5号电池2节重　　量： 110g尺　　寸： 110×60×27mm

该公司产品分类：光泽度测量仪 UV能量计测厚仪水分仪臭氧消毒机干手机手消毒器

CMI900膜厚仪CMI900膜厚仪测量仪

CMI900x射线荧光测厚仪

CMI做为品牌在PCB及电镀行业已形成一个行业标准，南华地区90%以上的大型企业都在使用CMI900系列做为检测镀层厚度的行业工具，广泛应用于PCB，五金端子连接器，电子元气件，等贵金属电镀测量行业

X-荧光镀层测厚仪CMI900 金属镀层厚度的精确测量

CMI 900 系列X射线荧光测厚仪是一种功能强大的材料涂/镀层测量仪器，可应用于材料的涂/镀层厚度、材料组成、贵金属含量检测等领域，为产品质量控制提供、快速的分析.基于Windows2000中文视窗系统的中文版 SmartLink FP 应用软件包，实现了对CMI900/950主机的自动化控制，

x射线荧光测厚仪技术参数：

CMI 900 X-射线荧光镀层厚度测量仪,在技术上一直以来都领先于全世界的测厚行业

A CMI 900 能够测量包含原子序号22至92的典型元素的电镀层、镀层、表膜和液体,极薄的浸液镀层

（银、金、钯、锡等）和其它薄镀层。区别材料并定性或定量测量合金材料的成份百分含量可同时测定最多5层、15 种元素。

B ：精确度领先于世界，精确到0。025um 相对与标准片

C ：数据统计报告功能允许用户自定义多媒体分析报告格式，以满足您特定的分析报告格式要求；

如在分析报告中插入数据图表、测定位置的图象、CAD文件等。

D ：统计功能提供数据平均值、误差分析、最大值、最小值、数据变动范围、相对偏差、UCL控制上限、LCL控制下限、CpK图、直方图、X-bar/R图等多种数据分析模式。CMI900系列X射线荧光测厚仪能够测量多种几何形状各种尺寸的样品；

E ：可测量任一测量点，最小可达0.025 x 0.051毫米x射线荧光测厚仪样品台选择：CMI900系列采用开槽式样品室，以方便对大面积线路板样品的测量。它可提供五种规格的样品台供用户选用，分别为：一：手动样品台1 标准样品台：XY轴手动控制、Z轴自动控制。 2 扩展型标准样品台：XY轴手动控制、Z轴自动控制。 3 可调高度型标准样品台：XY轴手动控制、Z轴自动控制。

二：x射线荧光测厚仪自动样品台

1 程控样品台：XYZ轴自动控制。 2 超宽程控样品台：XYZ轴自动控制。

CMI900x射线荧光测厚仪主要技术规格如下：

No.	主要规格	规格描述
1	X射线激发系统	垂直上照式X射线光学系统
		空冷式微聚焦型X射线管，Be窗
		标准靶材：Rh靶；任选靶材：W、Mo、Ag等
		功率：50W4-50kV，0-1.0mA－标准 75W4-50kV，0-1.5mA－任选 X射线管功率可编程控制
		装备有安全防射线光闸
2	滤光片程控交换系统	根据靶材，标准装备有相应的一次X射线滤光片系统
		二次X射线滤光片：3个位置程控交换，Co、Ni、Fe、V等多种材质、多种厚度的二次滤光片任选
		位置传感器保护装置，防止样品碰创探测器窗口
3	准直器程控交换系统	最多可同时装配6种规格的准直器，程序交换控制
		多种规格尺寸准直器任选：－圆形，如4、6、8、12、20 mil等－矩形，如1x2、2x2、0.5x10、1x10、2x10、4x16等
4	测量斑点尺寸	在12.7mm聚焦距离时，最小测量斑点尺寸为：0.078 x 0.055 mm使用0.025 x 0.05 mm准直器
		在12.7mm聚焦距离时，最大测量斑点尺寸为：0.38 x 0.42 mm使用0.3mm准直器
5	X射线探测系统	封气正比计数器
		装备有峰漂移自动校正功能的高速信号处理电路
6	样品室	CMI900	CMI950
	－样品室结构	开槽式样品室	开闭式样品室
	－最大样品台尺寸	610mm x 610mm	300mm x 300mm
	－XY轴程控移动范围	标准：152.4 x 177.8mm 任选：50.8mm x 152.4mm 50.4mm x 177.8mm 101.6 x 177.8mm 177.8 x 177.8mm 610mm x 610mm	300mm x 300mm
	－Z轴程控移动高度	43.18mm	XYZ程控时，152.4mm XY轴手动时，269.2mm
	－XYZ三轴控制方式	多种控制方式任选：XYZ三轴程序控制、XY轴手动控制和Z轴程序控制、XYZ三轴手动控制

CM8829SFN精密膜厚仪|漆膜测厚仪价格

CM8829SFN精密膜厚仪

CM8829SFN精密膜厚仪产品应用：用磁性传感器测量钢、铁等铁磁质金属基体上的非铁磁性涂层、镀层，例如：漆、粉末、塑料、橡胶、合成材料、磷化层、铬、锌、铅、铝、锡、镉、瓷、珐琅、氧化层等。用涡流传感器测量铜、铝、锌、锡等基体上的珐琅、橡胶、油漆、塑料层等。广泛用于制造业、金属加工业、化工业、商检等检测领域。

CM8829SFN精密膜厚仪产品功能：测量导磁物体上的非导磁涂层和非磁性金属基体上的非导电覆盖层的厚度。

CM8829SFN精密膜厚仪技术指标：产品型号：CM-8829S（分体传感器涂层测厚仪）测量方法：F 磁感应 NF 涡流测量范围：0～200um/500um/1000um/～15000um分辨率：0.1/1最小测量面积：6mm最薄基底：0.3mm 自动关机使用环境：温度：0-40℃ 湿度：10-90%RH度：±（1～3%n）或±2um公制/英制：可选择电源：4节7号电池电池电压指示：低电压提示外形尺寸：126X65X27mm重量：81g（不含电池）测量范围可选：0-200um to15000um

售后：

产品保修：一年保修（消耗品、配件除外）,终身服务（过保后只收取工本费）。货物配送：货物小于5KG，一般采用快递发货；大于5KG一般是公路、铁路发货。到货期：江浙沪一般2-3天到货; 国内其它地区，一般3-4天。发票类型：开17%增值税发票,普通发票。

该公司产品分类：熔喷布喷头残胶气化炉实验室常用仪器工业冷水机冷冻干燥机样品前处理恒温箱体恒温平台、消解仪恒温摇床低温、恒温槽体

膜厚仪

采用机械磨损的方法，结合光学显微镜和专业软件，可快速、简单地测量涂层和薄膜的厚度，并且适合多层膜的测量；

电镀膜厚仪

电镀膜厚仪特点：中文视窗操作测量系统解析度0．001um，最小测量面积0．1mmΦ可测量合金层之厚度和组成比例可测量两层以上镀层之个别厚度藉由光谱分析可判定被测物之元素适用对象：1C导线架，封装业、PCB业、精密零件业、电镀业、电子业。

放置型膜厚仪

放置型膜厚仪适用于没有磁引力的uv涂层和一些金属表面的非uv的涂层(如涂料，瓷釉，塑胶，镀锌层，金属表面的氧化层等等)。bd-d5-25型的测量范围为0-0.08英寸;；公差为+/-0.0002英寸，最大公差0.004英寸；典型运用为涂料，瓷釉，塑胶，热镀锌层，金属表面的硬化层。bd-d5-26型的测量范围为0-0.008英寸；公差为+/-0.00004英寸,最大公差0.0008英寸；典型运用为涂料薄膜，电镀层和磷化层。特殊测量范围可以定做

手提式镀层测厚仪手提式膜厚仪便携式膜厚仪

全球款手提式 X-射线镀层测厚仪

这一款手提式测厚仪，在大型材料及各种形状配件镀层厚度的无损检测上有着明显的优势。

具备“批量测试”模式，即一次可以测量出一批小样品的总镀层厚度及平均镀层厚度

可广泛应用于建筑材料，电子，镀金行业及公证/检测机构的镀层检测。

配置说明：

微型银或钨X-射线管，5个准直器。

检测器：半导体高分辩率的检测器。

电源供应：包含两块可充电锂电池和充电器。

操作温度：-10 ~50摄氏度

FP软件测试包：测镀层薄膜厚度及金属元素分析

多年来，我们一直于为PCB 厂商，电镀行业，科研机构，半导体生产等电子行业提供高性能的仪器和的售后服务。让客户满意，为客户创造最大的价值是我们始终追求的目标，因为我们坚信，客户的需要就是我们前进的动力。愿我们成为真诚的合作伙伴、共同描绘双方的发展蓝图！

欢迎咨询洽谈:13424255969

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Micro Pioneer XRF-2000 系列荧光金属镀层测厚仪能提供金属镀层厚度的测量,同时可对电镀液进行分析,不单性能,而且价钱超值.只需数秒钟,便能非破坏性地得到的测量结果,甚至是多层镀层的样品也一样能胜任.全自动XYZ样品台,镭射自动对焦系统,十字线自动调整.超大/开放式的样品台,可测量较大的产品.是线路板,五金电镀,首饰,端子等行业的.可测量各类金属层、合金层厚度.

可测元素范围：

钛(Ti) – 铀(U)

可测量厚度范围：

原子序22-25，0.1-0.8μm

26-40，0.05-35μm

43-52，0.1-100μm

72-82，0.05-5μm

X-射线管：油冷,超微细对焦

高压：0-50KV(程控)

准直器：

固定种类大小:可选0.1,0.2,0.3,0.4,1X0.4mm

自动种类大小:可选0.1,0.2,0.3,0.4,0.05X0.4mm

电脑系统：IBM相容,17”显示器

综合性能:镀层分析定性分析定量分析镀液分析

镀层分析:可分析单层镀层,双层镀层,三层镀层, 合金镀层.

镀液分析:可分析镀液的主成份浓度(如镀镍药水的镍离子浓度,镀铜药水的铜离子浓度等),简单的核对方式,无需购买标准药液.

定性定量分析:可定性分析20多种金属元素,并可定量分析成分含量.

光谱对比功能:可将样品的光谱和标准件的光谱进行对比,可确定样品与标准件的差别,从而控制来料的纯度.

统计功能:能够将测量结果进行系统分析统计,方便的控制品质.

该公司产品分类：日本笠原微生物菌类测试管水质快速检测试纸水质中离子含量测试纸共立WAK水质试剂盒镀层测厚仪 MICROPioneer测厚仪 MicopXRF-2020测厚仪德国罗威邦水质分析仪共立理化学研究所水质重金属离子检测 RO-103微量氧气分析仪韩国微先锋XRF-2020测厚仪 XRF-2000测厚仪标准片 X-RAY膜厚仪 X射线镀层测厚仪水质分析仪/多参数水质分析仪