膜厚仪

分析0.1-50微米的单层或多层膜厚 可分析CVD、PVD等离子溅射镀膜等样品 采用球形磨损测试方法 可伸缩的测量臂用于大样品测试 采用磁力样品固定装置 符合VDI 3198方法

XRF-2000韩国Micro Pioneer金属镀层测厚仪,膜厚仪

韩国Micro Pioneer XRF-2000 系列荧光金属镀层测厚仪能提供金属镀层厚度的测量,同时可对电镀液进行分析,不单性能,而且价钱超值.只需数秒钟,便能非破坏性地得到的测量结果,甚至是多层镀层的样品也一样能胜任.全自动XYZ样品台,镭射自动对焦系统,十字线自动调整.超大/开放式的样品台,可测量较大的产品.是线路板,五金电镀,首饰,端子等行业的.可测量各类金属层、合金层厚度.

可测元素范围：

钛(Ti) – 铀(U)

可测量厚度范围：

原子序 22-25，0.1-0.8μm

26-40，0.05-35μm

43-52，0.1-100μm

72-82，0.05-5μm

X-射线管：油冷,超微细对焦

高压：0-50KV(程控)

准直器：

固定种类大小:可选0.1,0.2,0.3,0.4,1X0.4mm

自动种类大小:可选0.1,0.2,0.3,0.4,0.05X0.4mm

电脑系统：IBM相容,17”显示器

 

综合性能:镀层分析 定性分析 定量分析 镀液分析

镀层分析:可分析单层镀层,双层镀层,三层镀层, 合金镀层.

镀液分析:可分析镀液的主成份浓度(如镀镍药水的镍离子浓度,镀铜药水的铜离子浓度等),简单的核对方式,无需购买标准药液.

定性定量分析:可定性分析20多种金属元素,并可定量分析成分含量.

光谱对比功能:可将样品的光谱和标准件的光谱进行对比,可确定样品与标准件的差别,从而控制来料的纯度.

统计功能:能够将测量结果进行系统分析统计,方便的控制品质.

 

我们的经营理念是:

1．我们以公平的价格提供质量的仪器。

2．对顾客提供的服务和极好的最适合的设备。

3．顾客提出的建议和新想法，将被我们采纳并作为我们未来的事务。

4．我们的目标和战略是与企业建立并且连续性的合作伙伴。

 

 

 

ETA-083F/NF/2膜厚仪

主要技术参数

型号    ETA-083F/NF/2

工作原理      电磁感应/电涡流

测量范围    0~1250um

测量精度    ±（3%H±1.5）

显示精度    0~99.9um：0.1um/100um以上：1um

最小基体    10*10 mm

最小曲率    凸5mm；凹25mm

最薄基体    0.5mm

环境温度    0℃~40℃

相对湿度    不超过85%

电源    5号电池2节

机身尺寸    91*55*23mm

自动关机

附件： 标准片 5片

基体 2块（ETA-0832  2块基体） 电池2块 清洁布1块 说明书1份 保修卡1张

该公司产品分类： 电子天平 无铅数显焊锡炉 洛氏硬度计 白度计 透光率仪，光电雾度计 热变形维卡软化点测试仪 Q-LAB紫外光耐气候试验机 标准光源箱 涂层/镀层测厚仪 光泽度计 色差仪 塑料水份仪 影像量测仪 二次元 破裂强度试验机 跌落试验机 包装压缩试验机 盐雾试验机/盐水喷雾试验机 精密烘/箱干燥箱 恒温恒湿试验机 高温灰化炉/马弗炉/电阻炉

一体磁性金属涂层测厚仪/镀层测厚仪/膜厚仪GT810F

 GT810F是具有广泛使用范围的磁性仪器。其技术参数完全符合国家标准。

本仪器是磁性便携式一体磁性金属涂层测厚仪，它能快速、无损伤、精密地进行涂、镀层厚度的测量。既可用于实验室，也可用于工程现场。本仪器能广泛地应用在制造业、金属加工业、化工业、商检等检测领域。是材料保护专业必备的仪器。Fe质探针可检测所有非磁性涂层厚度，例如涂在钢、铁上的漆、粉末涂层、塑料、瓷、铬、铜、锌等。功能： 

采用了磁感应测厚方法，即可测量磁性金属基体上非磁性覆盖层的厚度；可采用两种方法对仪器进行校准,并可用基本校准法对测头的系统误差进行修正； 操作过程有蜂鸣声提示；

电池电压指示：低电压提示

自动关机测量方法：F 磁感应 

技术参数：测量范围：0~1250um （其他量程可定制） 

分辨率：0.1/1

最小曲率半径: 凸 5mm/ 凹 5mm

最小测量面积：10X10mm

最薄基底：0.4mm

使用环境：温度：0-40℃ 湿度：10-85%RH

准确度：±（1.5~3%h）或±2um

公制/英制：可转换

机身尺寸：102mmx66mmx24mm

电源：2节5号电池

重量：99g（含电池）

 

附件： 

标准片4片： 50um 、100um、 250um 、500um（选配：12um、25um）

该公司产品分类： 真空度计 日本理音 日本小野 欣锐仪器 德国Novi 德国百瑞高 台湾泰仕TES 德国德图testo 美国雷泰Raytek 日本加野KANOMAX 日本日置HIOKI 日本共立KYORITSU 香港希玛SMART 德国QBL 意大利哈纳HANNA 美国联合系统 美国ESC 美国斯德克 韩国卡利安株式会社 德国喜利得HILTI

XRF-2000韩国Micro Pioneer金属镀层测厚仪,膜厚仪

韩国Micro Pioneer XRF-2000 系列荧光金属镀层测厚仪能提供金属镀层厚度的测量,同时可对电镀液进行分析,不单性能,而且价钱超值.只需数秒钟,便能非破坏性地得到的测量结果,甚至是多层镀层的样品也一样能胜任.全自动XYZ样品台,镭射自动对焦系统,十字线自动调整.超大/开放式的样品台,可测量较大的产品.是线路板,五金电镀,首饰,端子等行业的.可测量各类金属层、合金层厚度.

可测元素范围：

钛(Ti) – 铀(U)

可测量厚度范围：

原子序 22-25，0.1-0.8μm

26-40，0.05-35μm

43-52，0.1-100μm

72-82，0.05-5μm

X-射线管：油冷,超微细对焦

高压：0-50KV(程控)

准直器：

固定种类大小:可选0.1,0.2,0.3,0.4,1X0.4mm

自动种类大小:可选0.1,0.2,0.3,0.4,0.05X0.4mm

电脑系统：IBM相容,17”显示器

 

综合性能:镀层分析 定性分析 定量分析 镀液分析

镀层分析:可分析单层镀层,双层镀层,三层镀层, 合金镀层.

镀液分析:可分析镀液的主成份浓度(如镀镍药水的镍离子浓度,镀铜药水的铜离子浓度等),简单的核对方式,无需购买标准药液.

定性定量分析:可定性分析20多种金属元素,并可定量分析成分含量.

光谱对比功能:可将样品的光谱和标准件的光谱进行对比,可确定样品与标准件的差别,从而控制来料的纯度.

统计功能:能够将测量结果进行系统分析统计,方便的控制品质.

 

我们的经营理念是:

1．我们以公平的价格提供质量的仪器。

2．对顾客提供的服务和极好的最适合的设备。

3．顾客提出的建议和新想法，将被我们采纳并作为我们未来的事务。

4．我们的目标和战略是与企业建立并且连续性的合作伙伴。

 

 

 

膜厚仪

分析0.1-50微米的单层或多层膜厚 可分析CVD、PVD等离子溅射镀膜等样品 采用球形磨损测试方法 可伸缩的测量臂用于大样品测试 采用磁力样品固定装置 符合VDI 3198方法

DCF-900测可赖膜厚仪900系列

测可赖Check-line测厚仪900系列：

概　　述：　　测可赖 Check.line 涂层、镀层测厚仪可精确快速测量所有金属底材的涂层、镀层的厚度。其吸收了的科技为相关的领域提供了一致、高精度的测量结果。

经济型900系列： 　　为快速测定金属底材上的涂层、镀层的经济型测厚仪。900系列分DCF-900（铁基）和DCN-900（非铁基）二种型号。

主要特点：　　＊ 持久、不漂移的校正结果；设定的校正结果可延续很长时间，不受工件的改变而影响测定结果。　　＊ 的测量结果：具有高度的一致性和重复性。　　＊ 公英制单位转换。　　＊ 可应付薄的底材：最薄的底材可达127μm。　　＊ 操作不受外磁场的干扰。　　＊ 测定软涂层时，连续的读数可弥补因探头陷入涂层所产生的误差。　　＊ 分辨率为1μm。当数值为小数点的后一位数时，仪器会自动取最接近的整数。　　＊ 标准板符合NIST标准。　　探头的技术参数：探头的直径Φ10mm。样板最小直径Φ17.8mm（0.7”）量    程：0-999μm精    度：±1μm （0-250μm）；±1% （250-999μm）            分 辨 率：1μm           最薄基材（铁）： 375μm  最薄基材（非铁）： 127μm 样板温度：-10~60℃ 环境温度： 0~50℃  电    池： 9伏碱性电池 电池寿命： 半年（90秒自动关机，每天平均取数80个） 接    口： 无 外型尺寸： 145×79×38mm重    量： 250g保 修 期： 一年

CMI100测厚仪/膜厚仪/涂层测厚

牛津CMI100测厚仪

深圳：0755-27195123  手机：13902929627

关键字：测厚仪，膜厚仪，涂层厚度，CMI 233测厚仪，电镀测厚，CMI150测厚仪,X射线荧光测厚仪

产品系列：· CMI120磁性测厚仪(膜厚仪)          · CMI140涡流测厚仪 (膜厚仪)   · CMI150两用测厚仪 (膜厚仪)          · CMI233双探头测厚仪(膜厚仪)          · CMI243测厚仪(测铁上镀锌、镍可达到700测厚仪精度)          · CMI700测厚仪(膜厚仪)          · X射线荧光测厚仪(膜厚仪)

适合范围:

CMI 120所有的非磁性涂镀层，例如锌、铬、镉、锡、铜、聚四氟乙烯、环氧树脂、油漆、粉末涂料和亚铁基底的搪瓷上的珐琅。 CMI 140

所有的非导电性涂镀层，例如阳极电镀、油漆、珐琅/瓷釉、粉末涂料或在非亚铁基底上的环氧化物例如铜、黄铜或铝。

品牌：OXFORD CMI(英国牛津)

简介：

□性价比优势：同类进口产品中具有的价格性能比

□服务优势：具有最多的服务网点和强大的技术支持

□探头：配备有世界上秀的检测探头

□测量精度：1%或±0.1μm，分辨率：0.01mils(0.25μm)

□测量范围：磁感应0-120mils(0-3.05mm)；涡流0-40mils(0-1.02mm)

用途：广泛应用于喷涂电镀等表层厚度及各种薄膜厚度的测量   产品介绍  订购编号：20701 CMI120 / 20702 CMI140

●应用范围：广泛应用于所有非磁性涂镀层和所有非导电性涂镀层的厚度测定

●测量方法：磁感应或涡流式(CMI 120或CMI 140)

●测量精度：1%或±0.1μm

●测量范围：磁感应0-120mils(0-3.05mm)；涡流0-40mils(0-1.02mm)

●分辨率：在10mils(254μm)以下，分辨率为0.01mils(0.25μm)；在10mils(254μm)及以上，分辨率为0.1mils(2.5μm)

●适用标准：磁感应式遵守ASTM B499&B530,DIN 50981,ISO 2178 AND BS 5411 part 9&11；涡流式遵守ASTM B244 & B529,DIN 50984,ISO 2360 AND BS 5411 part3

●尺寸及重量：12.7X3.8X2.54 CM；重量：65克（不含电池）

●单位：英制和公制，可转换

●统计数据显示：读取次数，平均值，标准差，值，值，最终值

●接口：红外线接口，可传送至打印机（打印机为选配件，推荐使用HP82204B）

●显示：背光液晶显示屏

●品牌及产地：英国牛津品牌，美国制造  涂层测厚仪/涂镀层测厚仪是本公司主打销售产品之一，我们是牛津测厚仪中国一级代理，专业提供涂层测厚仪品牌、涂层测 厚仪行情、涂层测厚仪参数、涂层测厚仪应用、涂层测厚仪维修、涂层测厚仪保养、涂层测 厚仪报价、涂层测厚仪售后服务等涂层测厚仪各种问题 ========================================天友利标准光源有限公司国际网站:http://www.tayole.com在线销售:http://www.toyok.cn深圳：0755-27195123  手机：13902929627上海：021-64601150   北京：010-69291666苏州：0512-82155192  杭州：0571-86726516

数显膜厚仪

数显膜厚仪 技术参数：

执行标准：GB/T1764-79 　　　　  GB/T134522-92 　　　　  ISO2808-74 测量范围：0-200μm 测量精度：+/-（0.7μm+3％H） ＊H为标准厚度 

数显膜厚仪 详细介绍：

用途：测定铁磁性材料表面上非磁性涂镀层的厚度 试验技术特征：专用于铁磁性材料表面上非磁性涂镀层厚度测定;机内备有充电电池便于涂装施工现场应用

7500膜厚仪

QuaNix技术参数

型 号

4200

4500

120015007500keyless
基 体FeFe/NFeFeFe/NFeFe、NFe、Fe/NFe

Fe/NFe

探头形式一体一体、分体

无线分体

显 示LCD数字显示
测量范围0－3000μmFe:0-3000μm

NFe：0－2000μm

0－2000μm0－5000μm0－2000μm

0－5000μm

0－5000μm
测量精度0－50μm：≤±1μm，50－1000μm：≤±1.5%，1000－2000μm：≤±2%，

2000－5000μm≤±3%

显示精度1μm0－999μm：0.1μm，1000μm以上，0.01mm
工作温度－10 － ＋60℃
温度补偿0－50℃
存 储－1500M型7500M型

keylessM型

　3900个测量值，999个数据组
数据传输－RS232打印、电脑
统计功能－平均值、最大值、最小值、标准偏差
超限报警－

上下限

最小基体10mm×10mm
最小曲率凸、凹半径：3mm/25mm凸半径：5mm，凹半径：25mm
最薄基体Fe：0.2mm，NFe：0.05mm
电 源5号电池2节9V碱性电池1节

5号电池2节

重 量110g130g150g

130g

尺 寸110×60×27mm166×64×34mm110×60×24mm110×62×22mm
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