镀层测厚仪专场,镀层测厚仪商家多、资料全面第6组

TC210TC210涂镀层测厚仪

一．产品概述：

TC210涂镀层测厚仪测量范围：0~1200um，是高新技术的结晶,它采用单片机技术，精度高、数字显示、示值稳定、功耗低、操作简单方便、无校正旋钮、单探头全量程测量、体积小、重量轻；且具有存储、读出、统计、低电压指示、零点校准、两点校准及系统校准，其性能达到当代国际同类仪器的水平。

二．功能特点：

TC210涂层测厚仪采用磁性测厚法，可以方便无损地测量铁磁材料上非磁性涂层的厚度，如钢铁表面上的锌、铜、铬等镀层或油漆、搪瓷、玻璃钢、橡胶、喷塑、沥青等涂层的厚度。该仪器广泛应用于机械、汽车、造船、石油、化工、电镀、喷塑、搪瓷、塑料等行业。

TC210涂层测厚仪采用电磁感应法测量涂镀层的厚度。位于部件表面的探头产生一个闭合的磁回路，随着探头与铁磁性材料间的距离的改变，该磁回路将不同程度的改变，引起磁阻及探头线圈电感的变化。利用这一原理可以精确地测量探头与铁磁性材料间的距离，即涂镀层厚度。

三．技术参数：

1、测量范围：　　0~1200um

2、测量误差：　　<3%±1um

3、最小示值：　　1um

4、显示方式： 4位液晶数字显示

5、主要功能：

（1）.测量：　单探头全量程测厚

（2）.存储、删除：可存入测量数据254个，对测量中的单个可疑数据进行删除，也可以删除存储区内的所有数据。

（3）.读：　读出已存入的测量数据

（4）.统计：设有三个统计量，平均值最大值最小值

（5）.校准：可进行零点校准、两点校准及系统校准

（6）.电量：具有欠压显示功能

（7）.蜂鸣提示：操作过程中有蜂鸣提示

（8）.打印：可打印测量值，选配微型打印机

（9）.关机：具有自动关机和手动关机两种方法

6、电源：　　　两节1.5v电池

7、功耗：　　　最大功耗100mw

8、外形尽寸：　50mm*121mm*24mm

9、重量：　　　　　 90g

10、使用环境温度：　0℃~+40℃ 相对湿度：不大于90%

11、基体最小厚度： 0.2mm

12、基体最小平面： 7mm

13、最小曲率半径：凸:1.5mm 凹:6mm

14、欠电压指示：左下角显示＂欠＂

*临界厚度小：工件铁基厚度大于1mm时,其涂（镀）层厚度的测量不受铁基厚度影响。

四．基本配置：

1、TC210涂层测厚仪

2、七号电池

3、探头

4、标准样片

5、钢锉

6、仪器箱

7、说明书、合格证

五可选配件：

1、打印机及通讯打印连线

2、微机通讯软件

3、内防腐探头

该公司产品分类：光化学反应釜/光解仪单色仪高强氙灯光源 IPCE IPCE 光源电化学工作站微弱信号处理光纤等光学配件带通滤光片紫外分光光度计汞氙灯

涂镀层测厚仪

产品名称：涂镀层测厚仪

品牌：德国QuaNix （尼克斯）

功能： Δ 磁性（Fe）探针测量钢、铁等基体上的非磁性涂镀层的厚度;

如油漆层、塑料、橡胶、合成材料、瓷、磷化层、铬、锌、铝、

锡等;

Δ 非铁磁性（NFe）探针测量铜、铝、不锈钢等基体上非导电层的

厚度，如油漆层、涂料、粉末喷涂、塑料、橡胶、氧化层等。

探头使用：探针可选择:a.一体探针；b.连线探针；c.无线探针（≤10米）

显示方式： LCD数字显示

测量范围： 0-2000μm 0－5000μm （选择不同的探头）

特点：零点不漂移，具有稳定的测量基准点；

机内自动校准，无需使用标准片,避免标准片造成的误差；

温度自动补偿，不同温度下测量值的一致性；

直流采样技术，提高测量的重复性；

自动开、关机；无任何按键；具有超限报警功能；

可以选配各种探头；

QuaNix 8500获得多项国际专利和质量认证。

测量精度： 0－2000μm:≤±2％ 2000－5000μm:≤±3％

显示精度： 0-999μm: 0.1μm 1000μm以上: 0.01μm

最小基体： Fe: 20mm×20mm NFe: 20mm×20mm

最薄基体： Fe: 0.2mm NFe: 0.05mm

最小曲率：凸半径:5mm 凹半径:30mm

存储功能： 100个读数，1个数据组统计:平均值，最大值，最小值，

标准偏差

储存温度：－10℃ －60℃

菜单语言：可预置3种语言

单位显示： μm/mil（公/英制）

温度补偿： 0℃ －60℃

电源： 2节1.5V干电池

机器尺寸： 124mm×67mm×33mm

重量： 120g

售后服务：一年保修

网址：www.hf9958.com

邮箱：hhf995858@163.com

该公司产品分类：设备类消毒类仪器类

DT-156 便携式涂镀层测厚仪

DT-156 便携式涂镀层测厚仪价格北京美特迩环保仪器批发零售

DT-156 便携式涂镀层测厚仪价格北京美特迩环保仪器批发零售DT-156涂镀层测厚仪探头可以工作在电磁感应和涡流两种原理下。在自动模式（AUTO）下，两种原理可视测量的基体自动转换，或可通过菜单进行自动模式和非自动模式转换。

特性

1、可测量涂镀层： ①磁性物质表面的非磁性涂镀层厚度 ②非磁性金属表面的绝缘涂镀层厚度

2、丰富的操作菜单

3、连续和单次测量方式

4、直接工作模式和组工作模式

5、可统计并显示：平均值、大小值、标准方差、统计数

6、可进行一点或两点校准

7、可保存400个测量数据

8、USB连接并将数据传输至电脑

9、实时删除测量数据和组数据

10、红宝石探头

11、低电和错误提示

12、可设置的自动关机功能

尺寸：113.5*54*27mm 重量：110g

配件使用说明书×1 保修卡×1 AAA 7号电池×2 铁磁基底×1 铝块基底×1 校准薄片×3 USB连接线×1 软件CD×1 便携工具盒×1

DT-156 便携式涂镀层测厚仪价格北京美特迩环保仪器批发零售

该公司产品分类：水准仪张力仪测堵仪漏电开关测试仪金属探测器 SF6检测仪磁场测试仪电能质量分析仪功率计电阻计台式万用表阻抗分析仪 LCR测试仪数据采集仪卤素检漏仪电流传感器数字压力表 PH计溶氧仪 TDS水质分析仪

MiniTest1100涂镀层测厚仪

德国EPK（Elektrophysik）公司

涂镀层测厚仪MiniTest1100/2100/3100/4100特点：MiniTest1100/2100/3100/4100包括四种不同的主机，各自具有不同的数据处理功能；所有型号均可配所有探头；可通过RS232接口连接MiniPrint打印机和计算机；可使用一片或二片标准箔校准。

技术特征

型号	1100	2100	3100	4100
MINITEST 存储的数据量
应用行数（根据不同探头或测试条件而记忆的校准基础数据数）	1	1	10	99
每个应用行下的组（BATCH）数（对组内数据自动统计计算，并可设宽容度极限值）		1	10	99
可用各自的日期和时间标识特性的组数		1	500	500
数据总量	1	10000	10000	10000
MINITEST统计计算功能
读数的六种统计值x,s,n,max,min,kvar		√	√	√
读数的八种统计值x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk			√	√
组统计值六种x,s,n,max,min,kvar			√	√
组统计值八种x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk			√	√
存储显示每一个应用行下的所有组内数据				√
分组打印以上显示和存储的数据和统计值			√	√
显示并打印测量值、打印的日期和时间		√	√	√
其他功能
设置极限值			√	√
连续测量模式快速测量，通过模拟柱识别最大最小值			√	√
连续测量模式中测量稳定后显示读数			√	√
连续测量模式中显示最小值			√	√

可选探头参数（探头图示）所有探头都可配合任一主机使用。在选择最适用的探头时需要考虑覆层厚度，基体材料以及基体的形状、厚度、大小、几何尺寸等因素。 F型探头：测量钢铁基体上的非磁性覆层 N型探头：测量有色金属基体上的绝缘覆层 FN两用探头：同时具备F型和N性探头的功能

探头		量程	低端分辨率	误差	最小曲率半径（凸/凹）	最小测量区域直径	最小基体厚度	探头尺寸
磁感应法	F05	0-500μm	0.1μm	±（1%±0.7μm）	1/5mm	3mm	0.2mm	φ15x62mm
	F1.6	0-1600μm	0.1μm	±（1%±1μm）	1.5/10mm	5mm	0.5mm	φ15x62mm
	F1.6/90	0-1600μm	0.1μm	±（1%±1μm）	平面/6mm	5mm	0.5mm	φ8x8x170mm
	F2/90	0-2000μm	0.2μm	±（1%±1μm）	平面/6mm	5mm	0.5mm	φ8x8x170mm
	F3	0-3000μm	0.2μm	±（1%±1μm）	1.5/10mm	5mm	0.5mm	φ15x62mm
	F10	0-10mm	5μm	±（1%±10μm）	5/16mm	20mm	1mm	φ25x46mm
	F20	0-20mm	10μm	±（1%±10μm）	10/30mm	40mm	2mm	φ40x66mm
	F50	0-50mm	10μm	±（3%±50μm）	50/200mm	300mm	2mm	φ45x70mm
两用	FN1.6	0-1600μm	0.1μm	±（1%±1μm）	1.5/10mm	5mm	F0.5mm/N50μm	φ15x62mm
	FN1.6P	0-1600μm	0.1μm	±（1%±1μm）	平面	30mm	F0.5mm/N50μm	φ21x89mm
	FN2	0-2000μm	0.2μm	±（1%±1μm）	1.5/10mm	5mm	F0.5mm/N50μm	φ15x62mm
电涡流法	N02	0-200μm	0.1μm	±（1%±0.5μm）	1/10mm	2mm	50μm	φ16x70mm
	N.08Cr	0-80μm	0.1μm	±（1%±1μm）	2.5mm	2mm	100μm	φ15x62mm
	N1.6	0-1600μm	0.1μm	±（1%±1μm）	1.5/10mm	2mm	50μm	φ15x62mm
	N1.6/90	0-1600μm	0.1μm	±（1%±1μm）	平面/10mm	5mm	50μm	φ13x13x170mm
	N2	0-2000μm	0.2μm	±（1%±1μm）	1.5/10mm	5mm	50μm	φ15x62mm
	N2/90	0-2000μm	0.2μm	±（1%±1μm）	平面/10mm	5mm	50μm	φ13x13x170mm
	N10	0-10mm	10μm	±（1%±25μm）	25/100mm	50mm	50μm	φ60x50mm
	N20	0-20mm	10μm	±（1%±50μm）	25/100mm	70mm	50μm	φ65x75mm
	N100	0-100mm	100μm	±（1%±0.3mm）	100mm/平面	200mm	50μm	φ126x155mm
	CN02	10-200μm	0.2μm	±（1%±1μm）	平面	7mm	无限制	φ17x80mm

F1.6/90、F2/90、N1.6/90、N2/90为直角探头，用于管内测量。 N.08Cr适合铜上铬，FN2也适合铜上铬。 CN02用于绝缘体上的有色金属覆层。

该公司产品分类：其他光电子科技产品金属探测器劳保产品工具地质仪器其它物位计液位计流量仪表转速表内窥镜检测仪/校准仪汽车检测及外围产品多功能测试仪验电器天平钳形表示波器电缆故障测试仪

GALVANOTEST电解破坏式库仑镀层测厚仪

GALVANOTEST库仑镀层测厚仪的介绍：

1. 可测实际应用的所有镀层

2. 利用库仑电量分析原理，测量镀层、多层镀层

3. 符合国际标准：DIN EN ISO 2177

GALVANOTEST 可以测量

70种以上镀层/基体组合

预置9种金属的测量参数：Cr铬、Ni镍、Cu铜、黄铜、Zn锌、Ag银、Sn 锡、Pb铅、Cd镉。

从单镀层，例如锌在钢上，直至三镀层，例如铬层在镍层再在铜层或塑料上。

该公司产品分类：液相色谱仪气相色谱仪色谱仪防腐蚀隔膜真空泵过滤支架过滤器真空泵测厚仪意大利倍尔电子天平质谱仪色谱仪红外光谱仪紫外可见分光光度计 ICP光谱仪原子吸收光谱仪美国perkinelmer X射线荧光光谱仪火花直读光谱仪光谱仪

X-strata960涂镀层测厚仪

X-strata960X射线荧光镀层厚度测量仪

基于25年涂镀层测量经验，在CMI900系列测厚仪的坚实基础上，引进的设计：

&#8226；新100瓦X射线管 - 市场上所能提供的的X射线管。提高30%测量精度，同时减少50%测量时间

&#8226；更小的X射线光斑尺寸 - 新增15mil直径准直器，可测量电子器件上更小的部位。提供改进的CCD摄像头及缩放装置，同时提供更高精度的Y轴控制。

&#8226；距离独立测量（DIM） - 更灵活地特殊形状样品，可在DIM范围内12.5-90mm（0.5-3.5inch）对样品表面进行测量，Z轴可控制范围为230mm（9inch）。可通过手动调整也可以通过自动镭射聚焦来实现对样品的精确对准。

&#8226；自动镭射聚焦 - 自动寻找振决的聚焦距离，改善DIM的聚焦过程并提高系统测量再现性。也可选择标准的镭射聚焦模式。

&#8226；的大型样品室 - 更大的开槽式样品室（580x510x230mm : 23x20x9inch）,开槽式设计可容纳超大尺寸的样品。可从各个方向简便的装载和观察样品。

&#8226；3种样品台选项 - XY程控控制(200x200mm或8x8inch移动范围)/XY手动控制（250x250mm或10x10英寸）/固定样品台；标准配置Z轴程控控制(230mm或9inch移动范围)。

&#8226；内置PC用户界面　

X-Strata 960测厚仪

主要应用领域：

用于高精度要求的别测厚仪

电路板/半导体/连接器端子/五金贵金属电镀

（如1.0uinch Au，Ag…）

主要特点:

X-Strata 960 X荧光射线测厚仪，可快速测定各种材料构成

的多层镀层厚度和元素组成。长寿命100瓦微焦点X射线管

（其它测厚仪为50瓦）。提高30%分析精度和减少50%的分

析时间三种样品台可供选择:程控XYZ轴:300 x 200 x 230mm；

手动XY轴：250 x 250mm＋230mm程控Z轴；固定位置样品台，

最大高度230 mm更小准直器,测量更小区域:最小直径15um

圆形准直器，20x/80xCCD图像放大倍数自由距离测量DIM：

更灵活地测量不规则样品（凹凸）,在12.5~102mm自由聚

焦范围内可聚焦样品表面任意测量点。并有自动雷射

聚焦功能一体机工作站式设计，简化设备安装，减少占用

空间。

仪器介绍:

960系列 X射线荧光测厚仪样品台采用箱体式设计‘能

测量多种几何形体、各种尺寸的样品’，测定方法满足

ISO3497、 ASTM B568和DIN 50987

技术参数:

元素范围: Ti22 – U92 同时分析层数和元素定量:5层

(4层+基体)；最多同时15种元素定量

X射线激发:100瓦(50kV-2.0mA)微焦点钨靶X射线管

（可选钼靶X射线管）

X射线检测: Xe封气正比计数器，可最多装备3种二次

滤光片

准直器: 最多4种，多种规格备选样品形态: 电镀、

涂镀、薄膜、合金、液体、等等

数字脉冲处理器:4096通道数字多道分析器,包含自动

波谱校正和Pulse Pile Rejection功能

CCD: 1/3” CCD 640 x 512 Pixel array, 500 line/inch

电源: 85-130V或者215-265V、频率47-63Hz

工作环境: 10－40℃、相对湿度小于98%，无冷凝水

样品台移动量: 程控XYZ轴：300 x 200 x 230mm；手

动XY轴：250 x 250mm＋230mm程控Z轴

仪器尺寸:H744 x W686 x D813

重量: 160公斤

TT210TT210镀层测厚仪

涂层测厚仪功能特点

采用了磁性和涡流两种测厚方法，可无损地测量
1. 磁性金属基体（如钢、铁、合金等）上非磁性覆层厚度（如锌、铝、铬、铜、橡胶、油漆等）
2. 非磁性金属基体（如铜、铝、锌、锡等）上非导电覆层厚度（如:橡胶、油漆、阳极氧化膜等）
具有两种测量方式：连续测量方式（CONTINUE）和单次测量方式（SINGLE）
具有两种工作方式：直接方式（DIRECT）和成组方式（Appl）
设有五个统计量：平均值、最大值（MAX）、最小值（MIN）、测试次数（NO．）、标准偏差
可采用两种方法对仪器进行校准,并可用基本校准法对测头的系统误差进行修正
具有存贮功能：可存贮500 个测量值
具有删除功能：对测量中出现的单个可疑数据进行删除，也可删除存贮区内的所有数据
可设置限界：对限界外的测量值能自动报警；并可用直方图对一批测量值进行分析
具有打印功能：可打印测量值、统计值、限界、直方图
具有与PC 机通讯的功能：可将测量值、统计值传输至PC 机，以便对数据进行进一步处理
具有电源欠压指示功能
操作过程有蜂鸣声提示
具有错误提示功能，通过屏显或蜂鸣声进行错误提示
设有两种关机方式：手动关机方式和自动关机方式

涂层测厚仪技术参数

测头类型：F | N
测量原理：磁感应 | 电涡流
测量范围：0-1250um | 0-1250um 0-40um（铜上镀铬）
低限分辨力：0.1um
探头连接方式：一体化
示值误差：F | N
1. 一点校准（um）：±[3%H+1]
2. 两点校准（um）：±[（1%~3%）H+1]
1. 一点校准（um）：±[3%H+1.5]
2. 两点校准（um）：±[（1%~3%）H+1.5]
测量条件：F | N
1. 最小曲率半径（mm）：凸1.5 | 凹9
2. 基体最小面积的直径（mm）：ф7
3. 最小临界厚度（mm）：0.5
1. 最小曲率半径（mm）：凸3 | 凹10
2. 基体最小面积的直径（mm）：ф5
3. 最小临界厚度（mm）：0.3
温湿度：0~40℃ | 20%RH～90%RH
统计功能：平均值、最大值（MAX）、最小值（MIN）、测试次数（NO．）、标准偏差
工作方式：直接方式（DIRECT）和成组方式（Appl）
测量方式：连续测量方式（CONTINUE）和单次测量方式（SINGLE）
上下限设置：有
存储能力：500个测量值
打印/连接计算机：可选配打印机/不能连接电脑
关机方式：手动和自动
电源：二节AAA型（7号）1.5V电池
外形尺寸：110×50×23mm
重量：100g

涂层测厚仪基本配置

主机
铁基体和铝基体
标准片一套|五片
二节AA型（5号）1.5V电池
仪器保护套
使用说明书

该公司产品分类：臭氧检测仪转速表测振仪激光测距仪超声波测距仪超声波测厚仪涂层测厚仪超声波流量计粗糙度仪超声波探伤仪线缆测高仪金属探测器耐压绝缘测试仪 LCR测试仪静电检测仪绝缘电阻测试仪静电电压表接地电阻测试表面探头液体探头

详细介绍： BSK-05-TT220数字式涂层测厚仪采用磁性测厚法，它能快速、无损伤、精颏地进行铁磁性金属基体上的覆层厚度的测量。可广泛用于制造业、金属加工业、化工业、商检等检测领域。由于该仪器体积小，测头与仪器一体化，特别适用于工程现场测量。主要功能: 可对测头进行基本校准；可进行零点校准及二点校准；设有五个统计量：平均值(MEAN)、最大值(MAX)、最小值(MIN)、测试次数(NO)、标准偏差(S.DEV)。可存贮和统计计算15个测量值。具有两种测量方式：连续测量方式(CONTINUE)和单次测量方式(SINGLE)。自动关机功能。删除功能：对测量中出现的单次可疑数据进行删除，也可删除存贮区内的所有数据，以便进行新的测量。操作过程有蜂鸣声提示。有欠压指示功能。有错误提示功能。技术参数：测量范围（µm）待测基体最小曲率半径（mm）基体最小面积的直径（mm）基体最小面积的直径（mm）低限分辨力（µm）示值误差（µm）零点校准二点校准 0~1250 凸1.5 凹9 Æ7 1 ±（3%H+1） ±[（1%~ 3%）H+1] 基本配置 TT220主机 1台标准样片 5片标准基体 1块充电器 1个选购件 TA230打印机 1台 TA510线缆 1根

镀层测厚仪

CMI900 无损电镀膜厚测试仪，镀层测厚仪专业测量金、银钯銠镍铜锡等贵金属多镀层膜厚测量，快速无损，业内广受好评，客户应

用广泛在五金连接器 PCB LED支架等行业以形成行业测量的标准。欢迎广大五金连接器客户联系测量量样品洽谈往来本公司经营多年工程师经验丰富，商业合作个方式灵活。

金属镀层厚度测量，例如Zn；Cr； Cu； Ag； Au；Sn等合金（两样金属元素）镀层厚度测量，例如： SnPb； ZnNi；及NiP（无电浸镍）在Fe上等合金（三檬金属元素）镀层厚度测量，例如： AuCuCd在Ni上等双镀层厚度测量，例如：Au／Ni在Cu 上； Cr／Ni在Cu上；Au／Ag在Ni上；Sn／Cu在黄铜上等双镀层厚度测量（其中一层是合金层），例如： SnPb／Ni或Au／PdNi在青铜上等三镀层，例如： Cr／Ni／Cu在塑胶或在铁上

PCB LED 连接器等行业 gold flash/ Nip / Cu 或 Au / Pdni / Cu ~~ Ag / Ni / Cu / Ni / Cu 等常见应用

仪器介绍CMI 900 系列X射线荧光测厚仪是一种功能强大的材料涂/镀层测量仪器，可应用于材料的涂/镀层厚度、材料组成、贵金属含量检测等领域

，为产品质量控制提供、快速的分析.基于WindowsXP中文视窗系统的中文版 SmartLink FP 应用软件包，实现了对CMI900主机的自动化控制， PCB 五金 LED 连接器表面处理等行业技术参数：CMI 900 X-射线荧光镀层厚度测量仪,在技术上一直以来都领先于全世界的测厚行业A CMI 900 能够测量包含原子序号22至92的典型元素的电镀层、镀层、表膜和液体,极薄的浸液镀层（银、金、钯、锡等）和其它薄镀层。区别材料并定性或定量测量合金材料的成份百分含量可同时测定最多5层、15 种元素。B ：精确度领先于世界，精确到0。025um （相对与标准片）C ：数据统计报告功能允许用户自定义多媒体分析报告格式，以满足您特定的分析报告格式要求；如在分析报告中插入数据图表、测定位置的图象、CAD文件等。D ：统计功能提供数据平均值、误差分析、最大值、最小值、数据变动范围、相对偏差、UCL（控制上限）、LCL（控制下限）、CpK图、直方图、X

-bar/R图等多种数据分析模式。CMI900系列X射线荧光测厚仪能够测量多种几何形状各种尺寸的样品；E ：可测量任一测量点，最小可达0.025 x 0.051毫米牛津仪器CMI900电镀膜厚测量仪

该公司产品分类：光谱仪膜厚测试仪

XDL,XDLM菲希尔金属镀层测厚仪

FISCHER 菲希尔金属镀层测厚仪只需数秒钟,便能非破坏性地得到准确的测量结果,甚至是多层镀层的样品也一样能胜任.全自动XYZ样品台,镭射自动对焦系统,十字线自动调整.超大/开放式的样品台,可测量较大的产品.是线路板,五金电镀,首饰,端子等行业的首选.可测量各类金属层、合金层厚度. 可测元素范围：钛（Ti） – 铀（U），可测量厚度范围：原子序22-25，0.1-0.8μm 26-40，0.05-35μm 43-52，0.1-100μm 72-82，0.05-5μm X-射线管：油冷,超微细对焦高压：0-50KV（程控）电脑系统：IBM相容,17”显示器综合性能:镀层分析定性分析定量分析镀液分析；镀层分析:可分析单层镀层,双层镀层,三层镀层, 合金镀层；镀液分析:可分析镀液的主成份浓度（如镀镍药水的镍离子浓度,镀铜药水的铜离子浓度等）,简单的核对方式,无需购买标准药液；定性定量分析:可定性分析20多种金属元素,并可定量分析成分含量. 金属镀层测厚仪对比功能:可将样品的光谱和标准件的光谱进行对比,可确定样品与标准件的差别,从而控制来料的纯度. 统计功能:能够将测量结果进行系统分析统计,方便有效的控制品质.

该公司产品分类：涂层测厚仪镀层测厚仪膜厚仪菲希尔