镀层测厚仪专场,镀层测厚仪商家多、资料全面第15组

MP10涡流法涂镀层测厚仪

价格便宜的ISOSCOPE® MP10仪器适合于使用在不需要全部测量数据存储，评估和输出，但又需要在各种几何外形和镀层厚度范围的测试工件上测量的情况下。配有不同种类的探头以适应各种应用情况。探头自动识别。应用程式特定的校准参数储存在测量探头中，因此仪器一旦连接了任何探头都能立即进行测量。 ISOSCOPE® MP10配备有一个独特的和便于读取的60 x 30 mm (2.4" x 1.2")液晶显示器。大量显示的信息使得操作异常简便，包括单个测量读数，测量次数，以及显示操作模式和设置的图标和符号， 2行文本各16个字母或可自由选择的符号以用于显示数据和操作员提示。 ISOSCOPE® MP10 采用根据DIN EN ISO 2360, ASTM B244标准的电涡流方法，适用于测量：l 非导电涂层在非铁金属基材上，例如：油漆、腊克和合成涂层在铝、铜、黄铜、锌和不锈钢上 l 铝的阳极氧化层（非铁基材）

韩国Micro Pioneer XRF-2000 系列荧光金属镀层测厚仪

Micro Pioneer XRF-2000 系列荧光金属镀层测厚仪能提供金属镀层厚度的测量,同时可对电镀液进行分析,不单性能,而且价钱超值.只需数秒钟,便能非破坏性地得到的测量结果,甚至是多层镀层的样品也一样能胜任.

可测元素范围：

钛(Ti) – 铀(U)

可测量厚度范围：

原子序22-25，0.1-0.8μm

26-40，0.05-35μm

43-52，0.1-100μm

72-82，0.05-5μm

X-射线管：油冷,超微细对焦

高压：0-50KV(程控)

准直器：

固定种类大小:可选0.1,0.2,0.3,0.4,1X0.4mm

自动种类大小:可选0.1,0.2,0.3,0.4,0.05X0.4mm

电脑系统：IBM相容,17”显示器

综合性能:镀层分析定性分析定量分析镀液分析

镀层分析:可分析单层镀层,双层镀层,三层镀层, 合金镀层.

镀液分析:可分析镀液的主成份浓度(如镀镍药水的镍离子浓度,镀铜药水的铜离子浓度等),简单的核对方式,无需购买标准药液.

定性定量分析:可定性分析20多种金属元素,并可定量分析成分含量.

光谱对比功能:可将样品的光谱和标准件的光谱进行对比,可确定样品与标准件的差别,从而控制来料的纯度.

统计功能:能够将测量结果进行系统分析统计,方便的控制品质.

多年来，我们一直于为PCB 厂商，电镀行业，科研机构，半导体生产等电子行业提供高性能的仪器和的售后服务。让客户满意，为客户创造最大的价值是我们始终追求的目标，因为我们坚信，客户的需要就是我们前进的动力。愿我们成为真诚的合作伙伴、共同描绘双方的发展蓝图！欲了解产品详情，请与我们联系或访问http://eastco.18show.com.cn

Thick 800A镀层测厚仪

仪器介绍

Thick800A是天瑞集多年的经验，专门研发用于镀层行业的一款仪器，可全自动软件操作，可多点测试，由软件控制仪器的测试点，以及移动平台。是一款功能强大的仪器，配上专门为其开发的软件，在镀层行业中可谓大展身手。

性能特点

满足各种不同厚度样品以及不规则表面样品的测试需求φ0.1mm的小孔准直器可以满足微小测试点的需求高精度移动平台可精确定位测试点，重复定位精度小于0.005mm采用高度定位激光，可自动定位测试高度定位激光确定定位光斑，确保测试点与光斑对齐鼠标可控制移动平台，鼠标点击的位置就是被测点高分辨率探头使分析结果更加良好的射线屏蔽作用测试口高度敏感性传感器保护

技术指标

型号：Thick 800A元素分析范围从硫(S)到铀（U）。同时可以分析30种以上元素，五层镀层。分析含量一般为ppm到99.9% 。镀层厚度一般在50μm以内（每种材料有所不同）任意多个可选择的分析和识别模型。相互独立的基体效应校正模型。多变量非线性回收程序度适应范围为15℃至30℃。电源: 交流220V±5V, 建议配置交流净化稳压电源。外观尺寸： 576(W)×495(D)×545(H) mm 样品室尺寸：500(W)×350(D)×140(H) mm重量：90kg

标准配置

开放式样品腔。精密二维移动样品平台，探测器和X光管上下可动，实现三维移动。双激光定位装置。铅玻璃屏蔽罩。 Si-Pin探测器。信号检测电子电路。高低压电源。X光管。高度传感器保护传感器计算机及喷墨打印机

应用领域

黄金，铂，银等贵金属和各种首饰的含量检测.金属镀层的厚度测量, 电镀液和镀层含量的测定。主要用于贵金属加工和首饰加工行业；银行，首饰销售和检测机构；电镀行业。

该公司产品分类： ROHS2.0测试仪等离子体发射光谱仪ICP 手持式光谱仪光电直读光谱仪波长色散X荧光光谱仪能量色散X荧光光谱仪

涂层镀层测厚仪

一、德国Elwktro physik涂层镀层测厚仪1、 MIKROTEST自动型覆层测厚仪适用于钢、铁上点镀层、漆、搪瓷、塑料、橡胶层自动测量不会发生误操作不用校准，设定，检阅简便不需要电池或其他电源抗机械冲击，耐酸及溶剂腐蚀平衡装置消除地心引力影响，可在任意方向和管内测量型号测量范围（um）读数精度最小测量区直径（mm）最小半径（mm）基体最小厚度（mm）凸凹 MIKROTEST 6G 0-100 1um或5%度数 20 5 25 0.5 MIKROTEST 6F 0-1000 3um或5%读数 30 8 25 0.5 2、 Minitest 电子型涂镀层测厚仪小巧、实用，用于无损、快速、精确地测量涂层、镀层厚度 F型用于钢铁上的所有非磁性涂层镀层 N型用于有色金属上的所有绝缘涂层读数和统计数据可以打印（选配）尤其适用于防腐工业及建筑型材料，制造工业的防腐涂镀层测量Minitest 600,600B电子型涂层测厚仪技术规格：测量范围：F型 0-3000um N型 0-2000um FN型 0-3000um（F）,0-2000um（N）允许误差：±2um或±2-4%最小曲率半径：5mm（凸），25mm（凹）最小测量面积：φ20mm最小基本厚度：0.5mm（F型），50mm（N型）显示：4位数字校准方式：标准校准，一点校准，二点校准接口：RS-232（不适用于B型）二、德国BYK多用途干膜检验仪（PIG）在各种底材上（铁，非磁性金属，塑料，木材）测量涂层厚度测量范围：0-2000um/2um 用十字划格刀进行附着力的测试符合ASTM D3359，DIN53 151 通过显微镜可观察针孔、陷坑、裂痕、气泡、鳞片层间附着力以及底材预处理的质量控制加硬刀头可进行布氏压痕硬度试验三、德国BYK湿膜测厚仪具有多种规格可供选择：测量范围外径尺寸1、25-2000um 90mm2、5-150um 58mm3、1-80mils 90mm4、0-6mis 58mm

DT-156涂镀层测厚仪

产品系列DT-156涂镀层测厚仪探头可以工作在电磁感应和涡流两种原理下。在自动模式（AUTO）下，两种原理可视测量的基体自动转换，或可通过菜单进行自动模式和非自动模式转换。特性 1、可测量涂镀层：①磁性物质表面的非磁性涂镀层厚度②非磁性金属表面的绝缘涂镀层厚度2、丰富的操作菜单3、连续和单次测量方式4、直接工作模式和组工作模式5、可统计并显示：平均值、最大值、最小值、标准方差、统计数6、可进行一点或两点校准7、可保存400个测量数据8、USB连接并将数据传输至电脑9、实时删除测量数据和组数据10、红宝石探头11、低电和错误提示12、可设置的自动关机功能技术指标

传感器探头	铁磁性	非铁磁性
工作原理	磁感应	涡流
测量范围	0~1250μm	0~1250μm
精确度	±3%+1μm	±3%+1.5μm
分辨率	0.1μm	0.1μm
最小曲率半径	1.5mm	3mm
最小测量面积（直径）	7mm	5mm
可测量基体最小厚度	0.5mm	0.3mm

尺寸：113.5*54*27mm重量：110g

该公司产品分类：数据记录仪数字万用表电力测试仪环境测试仪汽车类仪表工业红外热像仪涂层测厚仪红外线测温仪数字钳形表

QNix4500镀层测厚仪

4500镀层测厚仪

品牌：德国尼克斯

型号：QNix4500

QNix4500涂镀层测厚仪，我公司大量现货供应，提供送货上门服务，可开具增值税专用发票；产品保证为原厂原装，假一罚十万现金；欢迎来电咨询我们，谢谢。

一、4500镀层测厚仪简介

QNix4200和QNix4500这两种型号一体化设计，只需调零，无需校准，使用极其简单。其中QNix4200为磁性测厚仪，可以用来测量钢、铁等磁性基体上的非磁性涂层、镀层；QNix4500为磁性和涡流两用测厚仪，不仅可以用来测量钢铁等磁性基体上的非磁性涂镀层，还可以用来测量铝、铜、不锈钢等非磁性金属表面的非导电涂层，如油漆层、氧化膜、磷化膜等覆层。这两个型号操作简单，携带方便，精度高，为广大用户所喜爱。

二、测量

将仪器探头垂直接触被测物的表面，仪器将自动开机并测得数据。注意：测量时务必要使探头垂直接触被测物表面、并压实，每测量一次后将仪器拿起，离开被测物10cm以上，再进行下一点测量。

三、调零

仪器在测量前，为减少测量误差，应在基体上取零位作基准。建议用未喷涂的同一种工件表面调零，因为材料之间磁性和导电性不同，会造成一定误差。若没有未喷涂的工件可以用附送的调零板调零。用仪器测量基体，如显示0，表明已是零位，不需要再调零。如不显示0，则需要调零。将仪器探头压在调零板或未喷涂的工件表面上，不要抬起，按一下仪器上的红键松开，听到响声液晶显示一组数后，拿开仪器，再次听到响声后，液晶显示0，调零完毕。注意：由于工件表面粗糙度的原因，调零后，再测时不一定是绝对的零位，这是正常现象。

四、Fe/NFe探头转换

QNix4500为两用探头，当测量不同的基体时，需要对磁性模式（Fe）与非磁性模式（NFe）进行转换。在开机状态下，按红键进入菜单选项，继续按红键选择Fe或者Nfe；选项短暂停留后，就已选择相应的测量模式，也可以选择Fe/Nfe选项，短暂停留后就进入自动识别基体模式（推荐使用）！

菜单中Averaging为平均值选项，在Averaging选项短暂停留后出现ON和OFF两个选项，在ON选项下短暂停留后进入平均值测量模式，测量时所显示读数为最后三次读数的平均值（包括本次测量），在OFF选项下短暂停留后退出平均值测量模式。

五、显示

Fe：测量铁磁性基体模式

NFe：测量非磁性基体模式

Err：操作失误

INFI：探头模式与被测基体不符（见第八项，第二点）

BAT：电量不足，需换电池

六、4500镀层测厚仪维护和维修

QNix4200/4500测厚仪采用最先进的电子技术,能满足各种不同的测量要求。高精度的设备,坚固的结构和便于使用等特点使得该仪器具有广泛的应用。只要正确使用和维护,它的寿命会很长。仪器需要保持清洁, 不要摔落, 避免与潮气,具有化学腐蚀性的物质或气体接触。使用完毕,仪器应被放回具有保护性和便于挪动的盒子中。温度的剧烈变化将影响测量结果,所以不要直接把仪器暴露在强烈的阳光下或能引起温度聚变的能量中。仪器对大多数溶剂具有抵抗性,但不能保证极少数化学物质的腐蚀,这时处理的方法仅仅是用一块潮湿,柔软的布擦洗仪器。只有探针保持清洁,才能获得准确的数据,所以要定期检查探针,清理探针上残留的污物诸如漆等。仪器长期不被使用时, 为避免因漏电而损坏,要取出电池。出现故障时,请不要自行修理,我们的维修部门随时竭诚为您服务。

七、技术参数

磁性基体：Fe探头（4200/4500）

非磁性基体：NFe探头（4500）

测量范围：Fe:0-3000μm/NFe:0-3000μm

精度：

0-50μm:≤±1μm；50-1000μm:≤±1.5%读数；1000-3000μm:≤±3%读数

最小接触面：10×10mm

最小曲率半径：凸面：3mm 凹面：25mm

最小机体厚度：Fe:0.2mm/NFe:0.05μm

温度补偿范围：-10℃-60℃

测量范围：0℃-50℃

显示：LCD液晶

探头：红宝石固定式

电源：2×1.5V干电池

尺寸：100×60×27mm

重量：105g

八、4500镀层测厚仪注意事项和常见问题

1.测量应为点接触，严禁将探头置于被测物表面滑动。

2.出现INFI时，有可能是由于测量基体选择错误造成的，请按照第四项选择测量基体FE、NFE或自动识别FE/NFE，如未能解决，请执行第三项调零过程即可。

3.因国家地区所用厚度单位不同，在中国销售的Qnix4500/4200型使用的是μm，因此屏蔽了英制单位mil，有时因操作不当激活mil单位，此时用户只需复位即可，复位过程为先把电池取下，然后按住红键装上电池，复位完成后松开红键即可。

4500镀层测厚仪的任何有关信息，都可以咨询我们；还可以获得更多的图片，技术参数，规格型号，用途说明，使用操作说明书，使用注意事项；具体操作方法等；欢迎致电我们，我们将提供优质的产品和完善的服务。

该公司产品分类：雾度仪美能达光泽度仪维修 BYK光泽度仪维修光泽度仪维修日本孔雀日本得乐量具量仪 BYK色差仪维修综合测试卡色彩还原测试卡精密色差仪其它测试卡畸变测试卡灰阶测试卡肤色卡分辨率测试卡动态范围测试卡白平衡测试卡 SFR/MTF测试卡图像分析软件

CMI900CMI900镀层测厚仪及X射线荧光测厚仪

X射线荧光测厚仪CMI900

CMI900镀层测厚仪及X射线荧光测厚仪CMI900介绍

CMI900X射线荧光镀层测厚仪，有着非破坏，非接触，多层合金测量，高生产力，高再现性等优点，在质量管理到不良品分析有着广泛的应用。用于电子元器件，半导体，PCB，汽车零部件，功能性电镀，装饰件，连接器等多个行业。

CMI900镀层测厚仪及X射线荧光测厚仪CMI900主要特点

样品种类：镀层、涂层、薄膜、液体(镀液中的元素含量) 可检测元素范围：Ti22 – U92 可同时测定5层/15种元素精度高、稳定性好强大的数据统计、处理功能测量范围宽 NIST认证的标准片全球服务及支持

CMI900镀层测厚仪及X射线荧光测厚仪CMI900技术参数

主要规格规格描述 X射线激发系统垂直上照式X射线光学系统空冷式微聚焦型X射线管，Be窗标准靶材：Rh靶；任选靶材：W、Mo、Ag等功率：50W(4-50kV，0-1.0mA)－标准 75W(4-50kV，0-1.5mA)－任选装备有安全防射线光闸二次X射线滤光片：3个位置程控交换，多种材质、多种厚度的二次滤光片任选准直器程控交换系统最多可同时装配6种规格的准直器多种规格尺寸准直器任选：－圆形，如4、6、8、12、20 mil等－矩形，如1x2、2x2、0.5x10、1x10、2x10、4x16等测量斑点尺寸在12.7mm聚焦距离时，最小测量斑点尺寸为：0.078 x 0.055 mm(使用0.025 x 0.05 mm准直器) 在12.7mm聚焦距离时，最大测量斑点尺寸为：0.38 x 0.42 mm(使用0.3mm准直器) 样品室 CMI900 CMI950 －样品室结构开槽式样品室开闭式样品室－最大样品台尺寸 610mm x 610mm 300mm x 300mm －XY轴程控移动范围标准：152.4 x 177.8mm 还有5种规格任选 300mm x 300mm －Z轴程控移动高度 43.18mm XYZ程控时，152.4mm XY轴手动时，269.2mm －XYZ三轴控制方式多种控制方式任选：XYZ三轴程序控制、XY轴手动控制和Z轴程序控制、XYZ三轴手动控制－样品观察系统高分辨彩色CCD观察系统，标准放大倍数为30倍。50倍和100倍观察系统任选。激光自动对焦功能可变焦距控制功能和固定焦距控制功能计算机系统配置 IBM计算机惠普或爱普生彩色喷墨打印机分析应用软件操作系统：Windows2000中文平台分析软件包：SmartLink FP软件包－测厚范围可测定厚度范围：取决于您的具体应用。－基本分析功能采用基本参数法校正。牛津仪器将根据您的应用提供必要的校正用标准样品。样品种类：镀层、涂层、薄膜、液体(镀液中的元素含量) 可检测元素范围：Ti22 – U92 可同时测定5层/15种元素/共存元素校正贵金属检测，如Au karat评价材料和合金元素分析，材料鉴别和分类检测液体样品分析，如镀液中的金属元素含量多达4个样品的光谱同时显示和比较元素光谱定性分析－调整和校正功能系统自动调整和校正功能，自动消除系统漂移－测量自动化功能鼠标激活测量模式：“PointShoot” 多点自动测量模式：随机模式、线性模式、梯度模式、扫描模式、和重复测量模式测量位置预览功能激光对焦和自动对焦功能－样品台程控功能设定测量点连续多点测量测量位置预览(图表显示) －统计计算功能平均值、标准偏差、相对标准偏差、最大值、最小值、数据变动范围、数据编号、CP、CPK、控制上限图、控制下限图数据分组、X-bar/R图表、直方图数据库存储功能任选软件：统计报告编辑器允许用户自定义多媒体报告书－系统安全监测功能 Z轴保护传感器样品室门开闭传感器操作系统多级密码操作系统：操作员、分析员、工程师

CMI900CMI900涂镀层测厚仪

CMI900/950系列X射线荧光测厚仪 Advanced Materials Analysis Instrument

CMI900/950系列X射线荧光测厚仪是一种功能强大的材料涂/镀层测量仪器，可应用于材料的涂/镀层厚度、材料组成、贵金属含量检测等领域，为产品质量控制提供、快速的分析。基于Windows2000中文视窗系统的中文版SmartLink FP应用软件包，实现了对CMI900/950主机的自动化控制，分析中不需要任何手动调整或手动参数设定。可同时测定最多5层、15种元素。数据统计报告功能允许用户自定义多媒体分析报告格式，以满足您特定的分析报告格式要求；如在分析报告中插入数据图表、测定位置的图象、CAD文件等。统计功能提供数据平均值、误差分析、最大值、最小值、数据变动范围、相对偏差、UCL(控制上限)、LCL(控制下限)、CpK图、直方图、X-bar/R图等多种数据分析模式。

CMI900/950系列X射线荧光测厚仪能够测量多种几何形状、各种尺寸的样品；并且测量点最小可达0.025 x 0.051毫米。

COMPACT ECOX射线镀层测厚仪

COMPACT ECO测厚仪能提供一般镀层厚度和元素分析功能。不单性能、而且价钱超值。分析镀层厚度和元素成色同时进行，只需几秒钟，便能非破坏性地得到的测量结果甚至是多层镀层的样品也一样能胜任。