光学测角比较仪
一、主要用途:光学测角仪结构简单,使用广泛,它是用比较的方法测定角度的良好仪器,它与标准件或角度块规比较可测量金属与光学零件的角度;测量导轨的直线性;测量零件部件的平行度;测量两个平面的垂直度。此外,还可以与多面体或角度块组合使用进行分度测量等工作。光学比较测角仪是在C60的基础上增加了测微器装置。视场中直读一小格为1ˊ=60秒,而理论上测微器需转8.33小格,合到测微器上的一小格=7.2秒。即测微器每转动一周(50小格)=视场中移动6小格=360秒。本仪器之特点为解决了测量范围大与精度高之间的一对矛盾。
二、结构原理:本仪器有如下几个部分组成:1、带有标尺分划板的自准平行光管;2、具有精密平面性的工作台;3、支架;4、照明设备;三、技术数据:测微器最小分读值: 7.2秒/格标尺读数范围: 60´仪器示值误差: ±6"放大倍数: 14×平台工作面积: 200×200mm仪器外形尺寸: 200×250×400mm重量: 15kg灯泡: 6.3v,3w
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产品型号:165*48
日本三丰PJ-A3000系列投影测量仪
特点:1.追求高效率、高操作性的泛用投影机。2.数位式方字表示,容易读取数值(RS-232数位式文字表C输出:X,Y轴角度计数器)。3.重视操作性的上一个下动对焦大型把手。4.采用浮动载物强机构,量测更为轻松、快速。5.投影幕布为实线十字线。6.搭配2D数据处理系统QM-DATA200使用,尺寸量测更简易。技术参数:
测量仪 内置光栅尺D微分头 内置光栅尺分辨率 0.001mm投影屏幕 有效直径:315mm 数显角度:±370°功能:方向转换,SPC输出,调零(PJ-A3010F-200E,-100E,A3005F-150)投影镜头 10×镜头套装(172-202)放大精度 轮廓照明:±0.1%以下表面照明:±0.15%以下轮廓照明 光源:卤素灯泡(24V,150W)光学系统:远心系统功能:高/低亮度转换,吸热光片表面照明 光源:卤素灯泡(24V,150W)光学系统:半反射垂直照明电源 100/110/120/220/240V AC(可转换),50/60Hz
技术规格:
型号 | PJ-A3005D-50 | PJ-A3010F-100 | PJ-A3005F-150 | PJ-A3010F-200 | |
测量范围(X x Y轴) | 50 x 50mm | 100 x 100mm | 150 x 50mm | 200 x 100mm | |
读数装置 | 数显微分头 | 内装光栅尺 | |||
可快速移动 | — | X.Y两轴 | |||
分辨率 | 0.001mm | ||||
投影屏 | 有效直径:315mm 回转角度:±360° 角度读数:0.01°或1′(可换) | ||||
投影镜头 | 10X镜头组(标准配置),可选配20X、50X、100X镜头 | ||||
放大精度 | 轮廓照明:±0.1%或更小 表面照明:±0.15%或更小 | ||||
轮廓照明 | 光源:卤素灯(24V 150W) 高低亮度转换 | ||||
表面照明 | 光源:卤素灯(24V 150W) 半反射镜垂直照明 | ||||
数据输出 | 仅XY坐标数据输出 |
产品包含产品资料testo 465转速仪包括塑料仪器箱,SoftCase保护套,反射贴和电池。
RPM (光学) | |
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测量范围 | 1 ~ 99999 rpm |
测量精度 | ±0.02 %测量值 |
分辨率 | 0.01 rpm (1 ~ 99.99 rpm) 0.1 rpm (100 ~ 999.9 rpm) 1 rpm (1000 ~ 99999 rpm) |
技术参数 | |
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保修 | 1年 |
电池类型 | 2节AA电池 |
电池寿命 | 40小时 |
显示屏类型 | LCD |
显示屏尺寸 | 单行 |
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通过分析薄膜表面的反射光和薄膜与基底界面的反射光相干形成的反射谱,用相应的软件来拟合运算,得到单层或多层膜系各层的厚度d,折射率n,消光系数k。该设备关键部件均为国外进口,也可根据客户需要整机进口。
仪器特点
1 非接触式测量,用光纤探头来接收反射光,不会破坏和污染薄膜;
2 测量速度快,测量时间为秒的量级;
3 可用来测薄膜厚度,也可用来测量薄膜的折射率n和消光吸收k;
4 可测单层薄膜,还可测多层膜系;
5 可广泛应用于各种介质,半导体,液晶等透明半透明薄膜材料;
6 软件的材料库中整合了大量材料的折射率和消光系数,可供用户参考;
7 内嵌微型光纤光谱仪,结构紧凑, 光纤光谱仪也可单独使用。
参数和性能指标
厚度范围: 20nm-50um(只测膜厚),100nm-25um(同时测量膜厚和光学常数n,k)
度: <1nm或<0.5%
重复性: 0.1nm
波长范围: 380nm-1000nm
可测层数: 1-4层
样品尺寸: 样品镀膜区直径>1.2mm
测量速度: 5s-60s
光斑直径: 1.2mm-10mm可调
仪器成套性
测厚仪主体(内含光源和光纤光谱仪),光纤跳线,光纤探头,标准硅片,支撑部件,配套软件
可扩展性
通过光纤连接带有C口的显微镜,就可以使本测量仪适用于微区(>10um)薄膜厚度的测量。
强大的软件功能
界面友好,操作简便;
可保存测量得到的反射谱;
可读取保存的反射率数据;
可选择是否测量折射率n,消光系数k;
可选择光谱范围;
可猜测薄膜厚度以节省测量时间;
可从大量的材料库中选择薄膜和基底的材料;
用户可自己扩充材料库。
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