ContourGT
光学轮廓仪系统
ContourGT™集合领先的64-bit,多核操作和分析软件,专利的白光干涉(WLI)硬件以及史无前例的简易操作性于一身,是目前最先进的三维光学轮廓仪。这款第十代的光学轮廓仪在大视场上提供快速、埃级到毫米级的垂直测量范围,并有灵活的样品设置和行业领先的重现性。ContourGT是现今生产、研究和质量控制领域中最具综合性及直观性的三维轮廓测量系统。
无与伦比的测量性能,行业最大视场上的最高垂直分辨率
放大倍率0.5×到200×,实现各种不同的表面形状及材质的
在任何放大倍率下都有亚埃级到毫米级的垂直测量范围,实现空前的测量灵活性
可选的高分辨率照相机提升横向分辨率,改善测量的重复性和再现性
优秀的测量硬件增强了在工业环境下的测量可靠性和重复性
专利的高亮度双光源照明LED提供卓越的测量质量和放大倍率灵活性
优化的硬件设计提高了仪器防震能力和测量重复性及再现性。
精选模式中的拥有专利的自校准技术确保工具间的关联性和测量准确度及重复性
内置Vision64™的64位多核处理器促进了三维轮廓的测量和分析
新的架构使应用程序数据处理能力获得了数量级增长
运用多核优化和其它技术的并行数据处理方式,使得关键计量分析的生产效率提高10倍
无可匹敌的拼接功能可将数以万计的数据集拼接成一个连续的图像
用户界面直观性强,自动化程度最高,分析能力最强
简洁的用户界面简化了操作和数据采集,提高系统和操作者的工作效率
独特的可视化工作流程工具提供各种过滤器及分析菜单的直观使用途径
可按用户特殊需求定制报告的精炼分析数据
适用范围广,满足各种特殊需求
ContourGT具有行业领先的测量范围及适应性,能完成从粗糙界面到光滑界面,硬到软,粘性的、可挠曲或其它难以测量表面的三维形貌精确测量。利用其独一无二的直观用户界面和广泛的自动功能,ContourGT测量仪能通过自定义来满足几乎所有的测量应用。
仪器总放大倍数: 1650× 投影物镜放大倍数: 18.75× 分划板分划值: 0.001mm 零件调节范围: ±0.01mm 测量范围: 外尺寸: 0~500mm 内尺寸: 13.5~300mm 使用大测勾: 26.5~200mm 使用小测勾: 13.5~26.5mm 工作台横向移动范围: 不小于25mm 工作台测微鼓分度值: 0.01mm
主要附件: 1. 内测装置: 大测沟 一付 小测沟 一付 量块架(挡块) 一付 环规 一付 2. φ8平测帽: 二件 3. R20球面测帽: 二件 4. 中刃形测帽: 二件 (φ2平测帽,小刃形测帽,φ14平测帽选购件)
我们可为您加工订做红外窗口,石英窗口,氟化钙(CaF2)窗口,硒化锌(ZnSe)窗口,硅片等各种光学窗口
描述:8156A光学衰减器适用于快速的通信系统测量。可把它部署在研发和生产过程,适合应用单模和50m多模。用户可选择不同的回损性能、内置监测路径及整体精度,使8156A轻松满足您的测量需求。
特性
60dB衰减,分辨率为0.001dB,无需测距
1200nm到1650nm的波长范围
60dB回损
<±0.05dB典型线性
<±0.005dB典型重复性
<0.02dBpp典型从属极化损耗
+23dBm最大输入功率
v 瑞普高电子除了上述8156A 以外还能为客户提供以下衰减器:
HA9
v 在提供有质量的二手测试仪器同时, 瑞普高电子还可以为贵公司提供测试仪器的维修,计量校准,租赁和回收服务等一系列的服务。更多咨询请进:http:www.ruipugao.com
Features:
亚测(上海)仪器科技有限公司是德国KK/美国GE中国区域一级代理商,德国KK TIV光学硬度计为亚测(上海)仪器科技有限公司无损检测事业部UT二级人员经常多次实验测试,现场勘查,精心为您推荐的一款原装进口光学硬度计,主要是对工件进行光学硬度分析。此款仪器精度高,易操作,读数准确等特点。为广大硬度测量使用者所青睐
德国KK公司便携式TIV光学硬度计(Through Indenter Viewing通过压痕观察)通过一个特殊的光学系统和CCD镜头,将压痕显示在显示屏上来测定测量的维氏硬度。虽然便携式光学硬度计TIV并没有同样来自德国KK的超声波硬度计MIC10DL功能强大,但作为硬度计来说,已经能够出色地完成项目的检测任务。
Through Indenter Viewing-通过压痕观察法:按照维氏硬度的光学测试方法,通过CCD镜头及光学系统,自动或手动压痕的对角线长度。可测量不同的材料,无需额外的校准。材料包括:钢、非磁性金属塑料、硬质合金、玻璃、陶瓷。
便携式光学硬度计TIV光学硬度计产品特性:
便携式光学硬度计TIV光学硬度计主要应用:
由于TIV不仅不受测试位置和测试角度的影响,也不受被测物的材料、大小和形状的影响,因此可应用于在一些传统的便携式硬度计不能胜任的场合。常规的应用如下:- 热处理行业。可方便快速地测量表面硬度,无需通过校准- 航空行业。可测量薄件和合金地硬度,无需额外地校准- 造币厂。可测量硬币地硬度- 测试单位。TIV是一款通用地便携式硬度计- 实验室和研究所。可观察到压痕的形成过程
德国KK TIV光学硬度计技术参数
探头 测量范围 显示屏 操作语言 硬度制换算和分辨率 评估 自动关机 电池 操作系统 接口 操作温度 存储温度 尺寸重量 | TIV105探头,负载5kgf(50N),220x52mm TIV101探头,负载1kg(10N),220x52mm 100HV~1000HV(配TIV105探头) 30HV~500HV(配TIV101探头) 1/4 VGA彩色TFT显示屏,5.7"可视范围,115.2x76.8mm,240x320象素,带背光 德语、英语、法语 HV(1.0);HB(1.0);HS(1.0/0.5/0.1);HRC(1.0/0.5/0.1);HRB(1.0/0.5/0.1);N/mm2(5.0)。按照DIN 50150和ASTM E140自动换算 测试数据的曲线、直方图和表格。计算统计值如平均值、标准偏差 可选择自动关机时间。关机时回自动存储测试数据和仪器设置 充电电池,可连续测试1000次。有低电压指示 WinCE RS232 0~50℃ -20~70℃ 78x215x180mm,包括电池1.4kg |
亚测(上海)仪器科技有限公司是德国KK/美国GE中国区域一级代理商,现货供应USN60超声波探伤仪、USM35XS超声波探伤仪、USM36超声波探伤仪、USM GO超声波探伤仪、USM88超声波探伤仪、USM86超声波探伤仪、Phasor XS相控阵探伤仪、USLT2000汽车点焊探伤仪、USLT USB汽车点焊探伤仪、MIC10超声波硬度计、MIC20超声波硬度计、TIV光学硬度计、DynaPOCKET袖珍型里氏硬度计,以及DMS GO超声波测厚仪、CL5超声波测厚仪、DM5E超声波测厚仪等系列产品,欢迎广大新老客户前来咨询选购!18001735070
通过分析薄膜表面的反射光和薄膜与基底界面的反射光相干形成的反射谱,用相应的软件来拟合运算,得到单层或多层膜系各层的厚度d,折射率n,消光系数k。该设备关键部件均为国外进口,也可根据客户需要整机进口。
仪器特点
1 非接触式测量,用光纤探头来接收反射光,不会破坏和污染薄膜;
2 测量速度快,测量时间为秒的量级;
3 可用来测薄膜厚度,也可用来测量薄膜的折射率n和消光吸收k;
4 可测单层薄膜,还可测多层膜系;
5 可广泛应用于各种介质,半导体,液晶等透明半透明薄膜材料;
6 软件的材料库中整合了大量材料的折射率和消光系数,可供用户参考;
7 内嵌微型光纤光谱仪,结构紧凑, 光纤光谱仪也可单独使用。
参数和性能指标
厚度范围: 20nm-50um(只测膜厚),100nm-25um(同时测量膜厚和光学常数n,k)
度: <1nm或<0.5%
重复性: 0.1nm
波长范围: 380nm-1000nm
可测层数: 1-4层
样品尺寸: 样品镀膜区直径>1.2mm
测量速度: 5s-60s
光斑直径: 1.2mm-10mm可调
仪器成套性
测厚仪主体(内含光源和光纤光谱仪),光纤跳线,光纤探头,标准硅片,支撑部件,配套软件
可扩展性
通过光纤连接带有C口的显微镜,就可以使本测量仪适用于微区(>10um)薄膜厚度的测量。
强大的软件功能
界面友好,操作简便;
可保存测量得到的反射谱;
可读取保存的反射率数据;
可选择是否测量折射率n,消光系数k;
可选择光谱范围;
可猜测薄膜厚度以节省测量时间;
可从大量的材料库中选择薄膜和基底的材料;
用户可自己扩充材料库。
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■特点:远距离大表面检测 检测范围1000mm LED指示器显示检测稳定性 利用狭缝板可调节表面宽度 16位高精度大功率模式■说明:远距离大面积检测
表面光点检测更为使用传统的传感器,当远离目标或使用细微光点时检测区焦点不能对准因而模糊不清。LV - H42解决了这些问题。 即使当传感器离目标很远,传感器也能产生清晰的线状光点。这样即使检测位置和目标形状发生变化,检测结果也能。
超紧凑型传感器头适用于任何地方虽然LV系列传感器头是半导体激光反射型的,但尺寸只有我们普通型的一半。
传感器探头安装有LED指示器标明检测稳定性"LED指示器"是所有型号传感器的标准部件,被用来标明检测的稳定性,操作状态与稳定性不用通过放大器就可以很容易地察看到。
半导体激光被用作光源利用半导体作为光源可使LV系列产品远距离生成强烈的聚束光点。甚至当远离目标时,LV系列产品也能精确地检测和辨别,而利用发光二极管作为光源的传感器不可能做到这一点。 ■应用: