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ST2000薄膜厚度测量仪

ST2000薄膜厚度测量仪特点1）因为是利用光的方式，所以是非接触式，非破坏式，不会影响实验样品。

2）可获得厚度和 n,k 数据。

3）测量迅速正确，且不必为测量而破坏或加工实验样品。

4）可测量3层以内的多层膜。

5）根据用途可自由选择手动型或自动型。

6）产品款式多样，而且也可以根据顾客的要求设计产品

7）可测量 PDP 上的膜厚度（Stage size 6“ 8”, 12“ ...）

8）超大型Stage （PDP专用）

ST2000薄膜厚度测量仪产品规格/型号

Stage Size	~1700mm x 1200mm Automation Thickness Measurement
Measurement Range	100?~ 50μ m（Depends on Film Type）
Spot size	40μ m/20μ m/10μ m,μ光m
Measurement Speed	1~2sec/site Typically
Application Areas	Polymers : PVA, PET, PP, PR ... Dielectrics : SiO2, TiO2, ITO, ZrO2, Si3N4 semiconductors: Poly-Si, GaAs, GaN, inP,ZnS... PR,ITO,SIO2 on the Glass Intended for Large Size PDP Dlelectric Material, MgO, ITO on the Glass Intended for Large size PDP
Option	Programmable Auto X-Y Stage Auto Focusing CCD Camera
Function	Pattern Identification by Pattern Maching Entry-level CD Measurement

该公司产品分类：水质分析仪/多参数水质分析仪其它基础仪表其它测量/计量仪器生物显微镜激光拉曼光谱(RAMAN) 表面阻抗蠕动泵电化学工作站、恒电位仪液体处理工作站(移液工作站) 在线测厚仪生物芯片、芯片扫描仪、芯片点样仪、芯片检测仪微波、电、磁学量的测量仪表微流控芯片等离子体表面处理仪椭偏仪锁相放大器其它动物实验仪器白光干涉测厚仪扫描探针显微镜SPM（原子力显微镜AFM、扫描隧道显微镜STM）紫外、紫外分光光度计、紫外可见分光光度计、UV

凌海多角度成像光谱仪|塑料薄膜厚度测量仪|的详细介绍

产品简介: ES01是针对科研和工业环境中薄膜测量推出的高精度全自动光谱椭偏仪，系列仪器的波长范围覆盖紫外、可见到红外。ES01系列光谱椭偏仪用于测量单层和多层纳米薄膜的层构参数（如，厚度）和物理参数（如，折射率n、消光系数k），也可用于测量块状材料的折射率n和消光系数k。ES01系列光谱椭偏仪适合于对样品进行实时和非实时检测。特点：原子层量级的检测灵敏度国际先进的采样方法、高稳定的核心器件、高质量的设计和制造工艺实现并保证了能够测量原子层量级的纳米薄膜，膜厚精度达到0.05nm。秒级的快速测量快速椭偏采样方法、高信噪比的信号探测、自动化的测量软件，在保证高精度和准确度的同时，10秒内快速完成一次全光谱椭偏测量。一键式仪器操作对于常规操作，只需鼠标点击一个按钮即可完成复杂的测量、建模、拟合和分析过程，丰富的模型库和材料库也同时方便了用户的高级操作需求。应用：ES01系列尤其适合于科研和工业产品环境中的新品研发。ES01系列多种光谱范围可满足不同应用场合。比如： ES01V适合于测量电介质材料、无定形半导体、聚合物等的实时和非实时检测。 ES01U适合于很大范围的材料种类，包括对介质材料、聚合物、半导体、金属等的实时和非实时检测，光谱范围覆盖半导体的临界点，这对于测量和控制合成的半导体合金成分非常有用。并且适合于较大的膜厚范围（从次纳米量级到10微米左右）。 ES01系列可用于测量光面基底上的单层和多层纳米薄膜的厚度、折射率n及消光系数k。应用领域包括：微电子、半导体、集成电路、显示技术、太阳电池、光学薄膜、生命科学、化学、电化学、磁介质存储、平板显示、聚合物及金属表面处理等。典型应用如：半导体：如：介电薄膜、金属薄膜、高分子、光刻胶、硅、PZT膜，激光二极管GaN和AlGaN、透明的电子器件等）；平板显示：TFT、OLED、等离子显示板、柔性显示板等；功能性涂料：增透型、自清洁型、电致变色型、镜面性光学涂层，以及高分子、油类、Al2O3表面镀层和处理等；生物和化学工程：有机薄膜、LB膜、SAM膜、蛋白子分子层、薄膜吸附、表面改性处理、液体等。凌海多角度成像光谱仪|塑料薄膜厚度测量仪|的详细介绍多种型号图片


型号:JX200096EM13 LD系列多入射角激光椭偏仪	型号:JX200090EX2自动椭圆偏振测厚仪	型号:JX200087ES01 快速摄谱式自动变角度光谱椭偏仪

【温馨提示】本公司产品因产品种类繁多，详细配置价格请致电咨询！[河北润联机械公司]——是集科研、开发、制造、经营于一体，的工程试验仪器专业制造实体。公司主要经营砼混凝土仪器,水泥试验仪器,砂浆试验仪器,泥浆试验仪器,土工试验仪器,沥青试验仪器,公路集料仪器,防水材料仪器,公路岩石仪器,路面试验仪器,压力试验机养护室仪器及实验室耗材等上百种产品。在以雄厚的技术底蕴在强化自主开发的同时，积极采用国内外先进技术标准，寻求推进与大专院校，科研单位的协作互补，以实现新产品开发的高起点，在交通部、建设部及科研所专家们的指导下，产品不断完善，不断更新。已广泛用于建材，建筑施工，道桥建设，水电工程和机械，交通、石油、化工等领域的质量检测。并同国内外各试验仪器厂建立了长期合作关系，严把质量关，价格更优惠！公司拥有现代化钢构仓库4000多平方米，并配备业内的装备设施，车辆出入方便，仓库管理实现标准化、高效化管理，确保仪器设备不断货。全球众多众多知名试验仪器及测量、测绘电子厂家直供，国内外一线知名仪器品牌汇聚于此，更是众多新品上线网购平台的之地。全国服务队伍专业快捷服务，完善的呼叫中心服务体系，咨询热线：[孙经理0319-8738881]迅速解决客户问题，专业提供优质高效的售后服务。润联为您提供详细的产品价格、产品图片等产品介绍信息，您可以直接联系厂家获取产品的具体资料，联系时请说明是在润联看到的，并告知型号【关于合作】我们本着精益求精、经销诚实守信、服务热情周到的服务宗旨和协助伙伴成就事业从而成就自己的事业的立业精神，为客戶提供卓越的品质和服务。因产品种类多没有一一上传,如有需要,请联系我们。【关于发货】我们会在确认合作方式以及合作达成时为您发货考虑到成本的因素，我们一般采用物流发货，不过请您放心，因为我们的外地客户非常之多，基本上我们业务已经覆盖全国，所以物流公司都是我们精心筛选的，不管是发货时间，还是价格都是满意的，同时我们在交付物流公司后将在时间告知客户，并且我们会将物流费用一并告知发货打包我们都有专人严格检查商品的质量的，请放心购买。热门搜索:EMPro 型多入射角激光椭偏仪 EM13 LD系列多入射角激光椭偏仪 EX2自动椭圆偏振测厚仪 EMPro-PV 型多入射角激光椭偏仪（光伏专用） EM01-RD 多入射角激光椭偏仪 ES01 快速摄谱式自动变角度光谱椭偏仪【凌海多角度成像光谱仪|塑料薄膜厚度测量仪|的详细介绍一共有★★30★★多种型号以上只显示1-3种型号，如没有合适您的产品请咨询河北润联机械公司】凌海多角度成像光谱仪|塑料薄膜厚度测量仪|的详细介绍多种型号内容型号:JX200096EM13 LD系列多入射角激光椭偏仪

EM13LD 系列是采用量拓科技先进的测量技术，针对普通精度需求的研发和质量控制领域推出的多入射角激光椭偏仪。 EM13LD系列采用半导体激光器作为光源，可在单入射角度或多入射角度下对样品进行准确测量。可用于测量单层或多层纳米薄膜样品的膜层厚度、折射率n和消光系数k；也可用于同时测量块状材料的折射率n和消光系数k；亦可用于实时测量纳米薄膜动态生长中膜层的厚度、折射率n和消光系数k。多入射角度设计实现了纳米薄膜的厚度测量。 EM13LD系列采用了量拓科技多项专利技术。特点：次纳米的高灵敏度国际先进的采样方法、稳定的核心器件、高质量的制造工艺实现并保证了能够测量极薄纳米薄膜，膜厚精度可达到0.5nm。3秒的快速测量国际水准的仪器设计，在保证精度和准确度的同时，可在3秒内快速完成一次测量，可对纳米膜层生长过程进行测量。简单方便的仪器操作用户只需一个按钮即可完成复杂的材料测量和分析过程，数据一键导出。丰富的模型库、材料库方便用户进行高级测量设置。应用：EM13LD系列适合于普通精度要求的科研和工业环境中的新品研发或质量控制。EM13LD系列可用于测量单层或多层纳米薄膜层构样品的薄膜厚度、折射率n及消光系数k；可用于同时测量块状材料的折射率n和消光系数k；可用于实时测量快速变化的纳米薄膜的厚度、折射率n和消光系数k。EM13LD可应用的纳米薄膜领域包括：微电子、半导体、集成电路、显示技术、太阳电池、光学薄膜、生命科学、化学、电化学、磁质存储、平板显示、聚合物及金属表面处理等。可应用的块状材料领域包括：固体（金属、半导体、介质等），或液体（纯净物或混合物）。技术指标:

项目	技术指标
仪器型号	EM13 LD/635 (或其它选定波长)
激光波长	635 nm (或其它选定波长，高稳定半导体激光器)
膜厚测量重复性（1）	0.5nm (对于平面Si基底上100nm的SiO2膜层)
折射率测量重复性（1）	5x10-3 (对于平面Si基底上100nm的SiO2膜层)
单次测量时间	与测量设置相关，典型3s
的膜层范围	透明薄膜可达1000nm 吸收薄膜则与材料性质相关
光学结构	PSCA（Δ在0°或180°附近时也具有极高的准确度）
激光光束直径	2mm
入射角度	40°-90°可手动调节，步进5°
样品方位调整	Z轴高度调节：±6.5mm 二维俯仰调节：±4° 样品对准：光学自准直和显微对准系统
样品台尺寸	平面样品直径可达Φ170mm
外形尺寸	887 x 332 x 552mm (入射角为90º时)
仪器重量（净重）	25Kg
选配件	水平XY轴调节平移台，真空吸附泵
软件(ETEM)	* 中英文界面可选 * 多个预设项目供快捷操作使用 * 单角度测量/多角度测量操作和数据拟合 * 方便的数据显示、编辑和输出 * 丰富的模型和材料数据库支持

注：(1)测量重复性：是指对标准样品上同一点、同一条件下连续测量30次所计算的标准差。性能保证:稳定性的半导体激光光源、先进的采样方法，保证了稳定性和准确度高精度的光学自准直系统，保证了快速、高精度的样品方位对准稳定的结构设计、可靠的样品方位对准，结合先进的采样技术，保证了快速、稳定测量分立式的多入射角选择，可应用于复杂样品的折射率和厚度的测量一体化集成式的仪器结构设计，使得系统操作简单、整体稳定性提高，并节省空间一键式软件设计以及丰富的物理模型库和材料数据库，方便用户使用可选配件： NFS-SiO2/Si二氧化硅纳米薄膜标片 NFS-Si3N4/Si氮化硅纳米薄膜标片 VP01真空吸附泵 VP02真空吸附泵样品池

栏目页面:http://www.runlian365.com/product/4516.html光谱椭偏仪来源网址:http://www.runlian365.com/chanpin/xx-200096.htmlEM13 LD系列多入射角激光椭偏仪型号:JX200090EX2自动椭圆偏振测厚仪

EX2自动椭圆偏振测厚仪是基于消光法（或称“零椭偏”）椭偏测量原理，针对纳米薄膜厚度测量领域推出的一款自动测量型教学仪器。EX2仪器适用于纳米薄膜的厚度测量，以及纳米薄膜的厚度和折射率同时测量。EX2仪器还可用于同时测量块状材料（如，金属、半导体、介质）的折射率n和消光系数k。特点经典消光法椭偏测量原理仪器采用消光法椭偏测量原理，易于理解和掌握椭偏测量基本原理和过程。方便安全的样品水平放置方式采用水平放置样品的方式，方便样品的取放。紧凑的一体化结构集成一体化设计，简洁的仪器外形通过USB接口与计算机相连，方便使用。高准确性的激光光源采用激光作为探测光波，测量波长准确度高。丰富实用的样品测量功能可测量纳米薄膜的膜厚和折射率；块状材料的复折射率、样品反射率、样品透过率。便捷的自动化操作仪器软件可自动完成样品测量，并可进行方便的测量数据分析、仪器校准等操作。安全的用户使用权限管理软件中设置了用户使用权限（包括：管理员、等模式），便于仪器管理和使用。可扩展的仪器功能利用本仪器，可通过适当扩展，完成多项偏振测量实验，如马吕斯定律实验、旋光测量实、旋光等。应用EX2适合于教学中单层纳米薄膜的薄膜厚度测量，也可用于测量块状材料的折射率n和消光系数k。EX2可测量的样品涉及微电子、半导体、集成电路、显示技术、太阳电池、光学薄膜、生命科学、化学、电化学、磁质存储、平板显示、聚合物及金属表面处理等领域。技术指标

项目	技术指标
仪器型号	EX2
测量方式	自动测量
样品放置方式	水平放置
光源	He-Ne激光器，波长632.8nm
膜厚测量重复性*	0.5nm (对于Si基底上100nm的SiO2膜层)
膜厚范围	透明薄膜：1-4000nm 吸收薄膜则与材料性质相关
折射率范围	1.3 – 10
探测光束直径	Φ2-3mm
入射角度	30°-90°，精度0.05°
偏振器方位角读数范围	0-360°
偏振器步进角	0.014°
样品方位调整	Z轴高度调节：16mm 二维俯仰调节：±4°
允许样品尺寸	样品直径可达Φ160mm
配套软件	* 用户权限设置 * 多种测量模式选择 * 多个测量项目选择 * 方便的数据分析、计算、输入输出
外形尺寸	约400400250mm
仪器重量（净重）	约20Kg
选配件	* 半导体激光器

注：(1)测量重复性：是指对标准样品上同一点、同一条件下连续测量30次所计算的标准差。性能保证ISO9001国际质量体系下的仪器质量保证专业的椭偏测量原理课程专业的仪器使用培训

栏目页面:http://www.runlian365.com/product/4516.html光谱椭偏仪来源网址:http://www.runlian365.com/chanpin/xx-200090.htmlEX2自动椭圆偏振测厚仪型号:JX200087ES01 快速摄谱式自动变角度光谱椭偏仪

ES01是针对科研和工业环境中薄膜测量推出的高精度全自动光谱椭偏仪，系列仪器的波长范围覆盖紫外、可见到红外。

ES01系列光谱椭偏仪用于测量单层和多层纳米薄膜的层构参数（如，厚度）和物理参数（如，折射率n、消光系数k），也可用于测量块状材料的折射率n和消光系数k。

ES01系列光谱椭偏仪适合于对样品进行实时和非实时检测。

特点：

原子层量级的检测灵敏度
国际先进的采样方法、高稳定的核心器件、高质量的设计和制造工艺实现并保证了能够测量原子层量级的纳米薄膜，膜厚精度达到0.05nm。
秒级的快速测量
快速椭偏采样方法、高信噪比的信号探测、自动化的测量软件，在保证高精度和准确度的同时，10秒内快速完成一次全光谱椭偏测量。
一键式仪器操作
对于常规操作，只需鼠标点击一个按钮即可完成复杂的测量、建模、拟合和分析过程，丰富的模型库和材料库也同时方便了用户的高级操作需求。

应用：

ES01系列尤其适合于科研和工业产品环境中的新品研发。

ES01系列多种光谱范围可满足不同应用场合。比如：

ES01V适合于测量电介质材料、无定形半导体、聚合物等的实时和非实时检测。
ES01U适合于很大范围的材料种类，包括对介质材料、聚合物、半导体、金属等的实时和非实时检测，光谱范围覆盖半导体的临界点，这对于测量和控制合成的半导体合金成分非常有用。并且适合于较大的膜厚范围（从次纳米量级到10微米左右）。

ES01系列可用于测量光面基底上的单层和多层纳米薄膜的厚度、折射率n及消光系数k。应用领域包括：微电子、半导体、集成电路、显示技术、太阳电池、光学薄膜、生命科学、化学、电化学、磁介质存储、平板显示、聚合物及金属表面处理等。典型应用如：

半导体：如：介电薄膜、金属薄膜、高分子、光刻胶、硅、PZT膜，激光二极管GaN和AlGaN、透明的电子器件等）；
平板显示：TFT、OLED、等离子显示板、柔性显示板等；
功能性涂料：增透型、自清洁型、电致变色型、镜面性光学涂层，以及高分子、油类、Al2O3表面镀层和处理等；
生物和化学工程：有机薄膜、LB膜、SAM膜、蛋白子分子层、薄膜吸附、表面改性处理、液体等。

ES01系列也可用于测量块状材料的折射率n和消光系数k。应用领域包括：固体（金属、半导体、介质等），或液体（纯净物或混合物）。典型应用包括：

玻璃新品研发和质量控制等。

技术指标：

项目	技术指标
光谱范围	ES01V：370-1000nm ES01U：245-1000nm
光谱分辨率	1.5nm
单次测量时间	典型10s,取决于测量模式
准确度	δ(Psi): 0.02 ° ,δ(Delta): 0.04° （透射模式测空气时）
膜厚测量重复性（1）	0.05nm (对于平面Si基底上100nm的SiO2膜层)
折射率精度（1）	1x10-3 (对于平面Si基底上100nm的SiO2膜层)
入射角度	40°-90°自动调节，重复性0.02°
光学结构	PSCA（Δ在0°或180°附近时也具有极高的准确度）
样品台尺寸	可放置样品尺寸：直径170 mm
样品方位调整	高度调节范围：0-10mm
样品方位调整	二维俯仰调节：±4°
样品对准	光学自准直显微和望远对准系统
软件	•多语言界面切换
	•预设项目供快捷操作使用
	•安全的权限管理模式（管理员、操作员）
	•方便的材料数据库以及多种色散模型库
	•丰富的模型数据库
选配件	自动扫描样品台聚焦透镜

注：(1)测量重复性：是指对标准样品上同一点、同一条件下连续测量30次所计算的标准差。

可选配件：

NFS-SiO2/Si二氧化硅纳米薄膜标片
NFS-Si3N4/Si氮化硅纳米薄膜标片
VP01真空吸附泵
VP02真空吸附泵
样品池

栏目页面:http://www.runlian365.com/product/4516.html光谱椭偏仪来源网址:http://www.runlian365.com/chanpin/xx-200087.htmlES01 快速摄谱式自动变角度光谱椭偏仪凌海多角度成像光谱仪|塑料薄膜厚度测量仪|的详细介绍【河北润创科技开发有限公司】河北诚信民营企业单位★★专业售后为您服务★★安全放心购物企业★★机械行业品牌★★河北畅销工业品品牌★★拨打电话请告诉我产品订货号，热线：【孙经理0319-8738881】【关于合作】我们本着精益求精、经销诚实守信、服务热情周到的服务宗旨和协助伙伴成就事业从而成就自己的事业的立业精神，为客戶提供卓越的品质和服务。因产品种类多没有一一上传,如有需要,请联系我们。【关于发货】我们会在确认合作方式以及合作达成时为您发货考虑到成本的因素，我们一般采用物流发货，不过请您放心，因为我们的外地客户非常之多，基本上我们业务已经覆盖全国，所以物流公司都是我们精心筛选的，不管是发货时间，还是价格都是满意的，同时我们在交付物流公司后将在时间告知客户，并且我们会将物流费用一并告知发货打包我们都有专人严格检查商品的质量的，请放心购买。联系方式:刘经理电话:0319-8318708QQ:2851558308

该公司产品分类：阀门泵劳保五金仪器机械

美国GE CL5手持式超声波测厚仪精密厚度测量仪应用领域

【产品名称】手持式超声波测厚仪

【产品规格】CL5

美国GE CL5手持式超声波测厚仪产品简介：

cL5精密测厚仪具有功能面、使用简便、体积小巧和结构牢固的优点。位于显示屏正下方的3个软键启动所显示菜单上的各种功能。利用四个方向键可以简单而高效地切换菜单和浏览文本输入画面。图形显示为用户提供了6种不同的操作模式。用户可以在常规、小值扫描、值扫描、差值/减薄率、厚度+A扫描(选件)或声速测试(选件)中进行选择。CL 5采用可编程数据记录器，可以方便在电脑上设置数据文件。SD卡存储系统将所有数据记录和设置信息存储在可拆卸SD存储卡上。将测厚仪直接插入电脑后，文件的格式允许进行拖放操作。其它数据，比如数码照片，也可以存储在同张SD卡上。

美国GE CL5手持式超声波测厚仪功能特点：

高测量性能提供具有高度稳定性和可重复性的厚度值- 六种测量和显示模式：常规、小厚度捕获、厚度捕获、差值和减薄率、声速测试(要求配有CL 5V选项)和厚度+A扫描(要求配有实时A扫描选项)- 所有型号都具有A扫描快照功能- 空心/实心厚度值指示耦合或非耦合状态- 可视LED报警提醒用户测量超出了用户可以选择的限值。- 用于特殊配置的客户参数设置以及快速仪器设置- 灵活的电源系统，可通过标准AA电池或可充电电池组供电。- 多语言用户界面- 自动超声波调节性能(增益和闸门控制)- 支持多种类的标准探头声速测量选件：CL 5V可测定声波穿过铸件、合金或者塑料时的速度，得出所测材料内部组织是否紧密无缺陷。如可预先将球墨铸铁不同球化率百分比(通过金相法)试样做出，分别测量其不同的声速值，对铸件进行批量检查。实时A扫描选件：CL 5AS可选实时A扫描功能使得用户可以实时观察CL 5正在以数字方式测量的回波。观察实时A扫描可以帮助用户正确调整探头和测试件，从而获得测量值。用户通过观察实时A扫描可以确保测量的是正确的回波并且数字值也是正确的。数据记录器选件：CL 5DR利用数据记录器选项可以快捷地以文件形式存储厚度值。用户可完编程的数据记录器多可以存储10000个测量值或者500个带A扫描的值。可编程数据记录器可以直接从CL 5键盘创建数据记录器文件，或者利用灵活的UltraMATELite或UltraMATE软件程序通过电脑创建。数据记录器支持字母数字文件名、标准线性和网格文件以及自定义线性文件。扩充了的文件类型存储每测量点的厚度值、声速设置以及其它关键数据。CL5 和 UltraMATE起构成了完美的测试数据管理系统。美国GE CL5手持式超声波测厚仪精密厚度测量仪应用领域

美国GE CL5手持式超声波测厚仪应用领域：CL 5是个使用简便的精密厚度测量工具，主要用于汽车、航空和航天工业中的零部件，尤其是以下材料：- 铸造和冲压金属元件，比如铝、钢、铜- 青铜制成的元件- 机加工工件- 化学蚀刻元件- 金属条，金属板- 塑料和复合材料- 玻璃CL5可以单手握持并置于平坦工件上，是测量材料厚度和检查钢板腐蚀的为小巧的仪器。

美国GE CL5手持式超声波测厚仪参数规格：

测量范围	0.13至500毫米，取决于所用探头、所测材料、表面状况及温度
单位和测量分辨率	0.001/0.01/0.1mm
材料声速范围	1000～19999 m/s
接收器	带宽为1.0至16MHz@-6dB
更新率	用户可在MinCap和MaxCap下模式下选择4、8、32Hz。
显示器类型	64×128像素LCD， 40×57毫米，具有背景照明，可调节对比度
厚度显示	5位显示，在标准模式下具有0.75英寸数字高度，在厚度+A扫描模式下具有0.25英寸数字高度，实心或空心数字耦合状态指示器，射频模式下A扫描视图。
显示模式	厚度(包括A扫描快照) 厚度+实时A扫描(可选) 小值捕获和值捕获壁厚减薄差值和比率声速模式(可选)
管理员锁定	为校准、设置和数据记录器而通过字母数字密码进行锁定。
I/O端口	双向串行RS-232，波特率1200，9600，57600和115200
数据记录器	可编程数据记录器，每张64 MB SD卡上多120个文件(可选)
文件格式	通过仪表键盘创建的网格。接受来自UltraMATE软件创建的网格或用户定义线性文件
电源	3节AA电池(碱性、镍氢或镍镉电池)或可充电电池组
环保密封	外壳用耐冲击、防尘和防溅型密封圈密封，符合IP65
重量尺寸	420克，带电池。180x94x46毫米
温度范围	工作温度-10～60℃，存放温度：-20～70℃
工作语言	中文、英语、德语、法语、西班牙语、意大利语、俄语、日语
应用软件	UltraMATELite和UltraMATE(可选)

美国GE CL5手持式超声波测厚仪精密厚度测量仪应用领域美国GE CL5手持式超声波测厚仪精密厚度测量仪应用领域

公司简介：迪图（上海）生物科技有限公司于2007年始组建实验室仪器配套仪器、MRO工业品等产品线下供应体系，于2009年正式推出线上采购运行平台。迪图（上海）生物科技有限公司作为上海较早从事MRO工业品和实验室仪器仪表的企业，其实力雄厚、管理科学、质量可靠，售后完备、信誉至上。公司在产品供应体系上具有卓越优势，拥有国内外众多知名工业领域产品的中国区权限和支优秀国际采购团队，多年来以专业的能力态度为国内外客户提供高性价比的工业品及实验室仪器设备，赢得了数以万计的合作商的肯定和信任。

该公司产品分类： pcr仪均质器水分测定仪浊度仪超纯水机恒温振荡培养箱管线探测仪保存箱工业安全柜超声波细胞粉碎机混匀仪电泳电源移液器光学测量仪器辐射检测仪分子杂交箱高速离心机过滤装置摇床光泽度仪

960X-STRATA 960 （X荧光镀层厚度测量仪）

技术参数:

--元素范围: Ti22 – U92 同时分析层数和元素定量:5层(4层+基体)；最多同时15种元素定量

--X射线激发: 100瓦(50kV-2.0mA)微焦点钨靶X射线管（可选钼靶X射线管）

--X射线检测: 高分辨封气 (Xe)正比计数器，灵敏度高，可最多装备3种二次滤光片

--准直器: 单准直器或多准直器系统，准直器系统最多可安装4种规格的准直器，备有各种规格准直器（0.015mm-0.5mm)圆形或矩形供客户选用

--数字脉冲处理器: 4096通道数字多道分析器,包含自动波谱校正和Pulse Pile Rejection功能

--样品台: 程控XYZ轴:300 x 200 x 230mm

手动XY轴：250 x 250mm＋230mm程控Z轴

固定位置样品台，最大高度230 mm

--CCD系统: 1/2" CMOS-640X480 VGA resolution镜头标准为15倍，可选购40倍或由软件放大X1、X2、X3、X4 激光自动对焦

--自由距离测量DIM: 在12.7~88.9mm自由聚焦范围内可聚焦样品表面任意测量点，并有自动雷射聚焦功能

--统计报表功能: 平均值、标准偏差、相对标准偏差、最大值、最小值、数据变动范围、量测点数、控制上线图、控制下线图、CP、CPK数据分组、X-bar/R图、直方图

数据储存功能统计报告软件允许用户自行设计报表 (另可选购Excel 输出功能)

--电源: 85-130V或者215-265V、频率47-63Hz

--工作环境: 10－40℃、相对湿度小于98%，无冷凝水

--仪器尺寸: H744 x W686 x D813

--重量: 160公斤

CHD陶瓷砖厚度测量仪（天辰伟业）

CHD型陶瓷砖厚度测量仪（以下简称测厚仪）是用于测量普通量具无法测量的大尺寸陶瓷砖厚度的仪器，也可用于测量其它材料（如大理石板材、石膏板材等）产品厚度的测量。该测厚仪采用百分表进行测量，具有精度高、读数、操作简便、携带方便等优点，是有关生产厂家与质检单位的良好仪器。

主要技术参数

1.测厚仪的精度：±0.1mm

天津天辰伟业科技有限公司是集科研、开发、生产与经营为一体化的高科技实体。主要产品有混凝土、水泥、土工、沥青、CA砂浆、门窗检测、压力试验机、环境监测我们可为公路、铁路、桥梁、搅拌站、市政、大专院校、工程质量检测中心提供全套试验仪器与检测仪器设备。我公司对售出的任何仪器实行一年内保修，三个月内有质量问题包换，终身维修，并且负责送货上门，安装调试和指导用户使用。

该公司产品分类：仪器、仪表公路仪器

X射线荧光镀层厚度测量仪

CMI900/950系列X射线荧光测厚仪是一种功能强大的材料涂/镀层测量仪器，可应用于材料的涂/镀层厚度、材料组成、贵金属含量检测等领域，为产品质量控制提供、快速的分析。基于Windows2000中文视窗系统的中文版SmartLink FP应用软件包，实现了对CMI900/950主机的自动化控制，分析中不需要任何手动调整或手动参数设定。可同时测定最多5层、15种元素。数据统计报告功能允许用户自定义多媒体分析报告格式，以满足您特定的分析报告格式要求；如在分析报告中插入数据图表、测定位置的图象、CAD文件等。统计功能提供数据平均值、误差分析、最大值、最小值、数据变动范围、相对偏差、UCL(控制上限)、LCL(控制下限)、CpK图、直方图、X-bar/R图等多种数据分析模式。CMI900/950系列X射线荧光测厚仪能够测量多种几何形状、各种尺寸的样品；并且测量点最小可达0.025 x 0.051毫米。CMI900系列采用开槽式样品室，以方便对大面积线路板样品的测量。它可提供五种规格的样品台供用户选用，分别为： 标准样品台：XY轴手动控制、Z轴自动控制。 扩展型标准样品台：XY轴手动控制、Z轴自动控制。 可调高度型标准样品台：XY轴手动控制、Z轴自动控制。 程控样品台：XYZ轴自动控制。 超宽程控样品台：XYZ轴自动控制。CMI950系列采用开闭式样品室，以方便测定各种形状、各种规格的样品。同样，CMI950可提供四种规格的样品台供用户选用，分别为： 全程控样品台：XYZ三轴程序控制样品台，可接纳的样品最大高度为150mm，XY轴程控移动范围为300mm x 300mm。此样品台可实现测定点自动编程控制。 Z轴程控样品台：XY轴手动控制，Z轴自动控制，可接纳的样品最大高度为270mm。 全手动样品台：XYZ三轴手动控制，可接纳的样品最大高度为356mm。 可扩展式样品台用于接纳超大尺寸样品。CMI900/950主要技术规格如下：No. 主要规格规格描述1 X射线激发系统垂直上照式X射线光学系统空冷式微聚焦型X射线管，Be窗标准靶材：Rh靶；任选靶材：W、Mo、Ag等功率：50W(4-50kV，0-1.0mA)－标准 75W(4-50kV，0-1.5mA)－任选X射线管功率可编程控制装备有安全防射线光闸2 滤光片程控交换系统根据靶材，标准装备有相应的一次X射线滤光片系统二次X射线滤光片：3个位置程控交换，Co、Ni、Fe、V等多种材质、多种厚度的二次滤光片任选位置传感器保护装置，防止样品碰创探测器窗口3 准直器程控交换系统最多可同时装配6种规格的准直器，程序交换控制多种规格尺寸准直器任选：－圆形，如4、6、8、12、20 mil等－矩形，如1x2、2x2、0.5x10、1x10、2x10、4x16等4 测量斑点尺寸在12.7mm聚焦距离时，最小测量斑点尺寸为：0.078 x 0.055 mm(使用0.025 x 0.05 mm准直器)在12.7mm聚焦距离时，最大测量斑点尺寸为：0.38 x 0.42 mm(使用0.3mm准直器)5 X射线探测系统封气正比计数器装备有峰漂移自动校正功能的高速信号处理电路6 样品室 CMI900 CMI950－样品室结构开槽式样品室开闭式样品室－最大样品台尺寸 610mm x 610mm 300mm x 300mm－XY轴程控移动范围标准：152.4 x 177.8mm任选：50.8mm x 152.4mm 50.4mm x 177.8mm 101.6 x 177.8mm 177.8 x 177.8mm 610mm x 610mm 300mm x 300mm－Z轴程控移动高度 43.18mm XYZ程控时，152.4mmXY轴手动时，269.2mm－XYZ三轴控制方式多种控制方式任选：XYZ三轴程序控制、XY轴手动控制和Z轴程序控制、XYZ三轴手动控制－样品观察系统高分辨、彩色、实时CCD观察系统，标准放大倍数为30倍。50倍和100倍观察系统任选。激光辅助光自动对焦功能可变焦距控制功能和固定焦距控制功能7 计算机系统配置 IBM计算机：1.6G奔腾IV处理器，256M内存，1.44M软驱，40G硬盘，CD-ROM，鼠标，键盘，17寸彩显，56K调制解调器。惠普或爱普生彩色喷墨打印机。8 分析应用软件操作系统：Windows2000中文平台中文分析软件包：SmartLink FP软件包－测厚范围可测定厚度范围：取决于您的具体应用。请告诉牛津仪器您的具体应用，我们将列表可测定的厚度范围－基本分析功能无标样检量线测厚，可采用一点或多点标准样品自动进行基本参数方法校正。牛津仪器将根据您的应用提供必要的校正用标准样品。样品种类：镀层、涂层、薄膜、液体(镀液中的元素含量)可检测元素范围：Ti22 – U92可同时测定5层/15种元素/共存元素校正组成分析时，可同时测定15种元素多达4个样品的光谱同时显示和比较元素光谱定性分析－调整和校正功能系统自动调整和校正功能：校正X射线管、探测器和电子线路的变化对分析结果的影响，自动消除系统漂移谱峰计数时，峰漂移自动校正功能谱峰死时间自动校正功能谱峰脉冲堆积自动剔除功能标准样品和实测样品间，密度校正功能谱峰重叠剥离和峰形拟合计算－测量自动化功能(要求XY程控机构) 鼠标激活测量模式：“Point and Shoot”多点自动测量模式：随机模式、线性模式、梯度模式、扫描模式、和重复测量模式测量位置预览功能激光对焦和自动对焦功能－样品台程控功能(要求XY程控机构) 设定测量点One or Two Datumn (reference) Points on each file测量位置预览(图表显示)－统计计算功能平均值、标准偏差、相对标准偏差、最大值、最小值、数据变动范围、数据编号、CP、CPK、控制上限图、控制下限图数据分组、X-bar/R图表直方图数据库存储功能－系统安全监测功能 Z轴保护传感器样品室门开闭传感器操作系统多级密码操作系统：操作员、分析员、工程师－任选软件统计报告编辑器允许用户自定义多媒体报告书液体样品分析，如镀液中的金属元素含量材料鉴别和分类检测材料和合金元素分析贵金属检测，如Au karat评价

MTSY-8型北京陶瓷砖厚度测量仪价格，陶瓷砖厚度测量仪厂家

MTSY-8型陶瓷砖厚度测量仪产品用途

陶瓷砖厚度测量仪用于测量普通量具无法测量的大尺寸陶瓷砖厚度的仪器，也可用于测量其它材料（如大理石板材、石膏板材等）产品厚度的测量。产品特点该测厚仪采用百分表进行测量，具有精度高、读数、操作简便、携带方便等优点，是有关生产厂家与质检单位的良好仪器。参数规格

陶瓷砖厚度测量仪技术参数

1.测厚仪的精度：±0.1mm

2.测厚仪的测量范围：

规格	最大测量范围（长×宽）	最大测量厚度
CHD-1000	1000×1000mm	25 mm
CHD-600	600×600 mm	18 mm

公司介绍

北京蓝航智晟试验仪器有限公司坚持“质量，信誉至上”的经营理念，一心为用户做好产品售前、售中、售后服务工作，真诚对待每一位客户。所售产品一年内免费保修，终身维护，以的产品、良好的信誉，周到的服务得到新老用户的信任。北京蓝航智晟试验仪器有限公司热诚欢迎各界朋友前来参观、考察、洽谈业务。我公司坚持以人为本，以质量为的原则，为我国建筑检测行业贡献出我们进的技术产品！

北京蓝航智晟试验仪器有限公司郑重：一、售前服务;1、顾客通过电话咨询、网站查询、广告等了解北京蓝航智晟试验仪器有限公司的基本情况。2、顾客通过电话、传真、邮件等方式向北京蓝航智晟试验仪器有限公司销售部咨询更多产品情况。3、北京蓝航智晟试验仪器有限公司销售部热情接受客户咨询及技术交流，为其提供方案咨询、产品选型、专业采购、行业动态等各种完善的服务。二、售中服务 1、物流部门及时安排发货，货物准时、安全运达。 2、需上门安装、调试的设备产品，公司派技术人员到现场指导、安装，培训操作人员直到达标，顾客满意为止。三、售后服务 1、整机保修一年（易耗品除外），终身维护，快捷迅速为客户提供所需配件（人为原因除外）。2、建立客户档案，对客户实行跟踪服务。定期回访。3、定期培训。凡本公司经销商或客户，因产品升级或新品上市，我公司将根据具体情况随时安排各种形式统一培训，或上门指导。

北京蓝航智晟试验仪器有限公司仪器使用注意事项：

1.　使用该仪器时，要认真阅读技术说明书，熟悉技术指标、工作性能、使用方法、注意事项，严格遵照仪器使用说明书的规定步骤进行操作。2.　初次使用人员，必须在熟练人员指导下进行操作，熟练掌握后方可进行独立操作。

3.　实验时使用的仪器设备及器材，要布局合理，摆放整齐，便于操作，观察及记录等。4.　设备通电前，确保供电电压符合仪器设备规定输入电压值，配有三线电源插头的仪器设备，必须插入带有保护接地供电插座中，安全。

该公司产品分类：岩石检测仪器系列隔墙板测试仪器沥青混凝土系列试验机系列粗粒土水利水电测试仪器系列塑料波纹管测试仪器系列开关插座测试仪器系列防水材料测试仪器系列安全网安全帽检测仪器系列陶瓷砖测试仪器系列桥梁密封胶测试仪器塑料检查井测试仪器土工合成材料水平渗透仪土工布排水板通水仪土工合成材料蠕变系统电动数显土工布厚度仪土工布厚度仪土工合成材料直剪拉拔摩擦系统土工合成材料直剪仪土工合成材料拉拔仪

LS-3叶片厚度仪 LS-3植物叶片厚度测量仪

名称:叶片厚度仪

型号：LS-3

品牌：绿博

产地：浙江

优惠价格：1200元

LS-3叶片厚度仪产品特点：

叶片是植物最重要的器官，其形态变化可以反映出植物生长状态的变化，如光合作用、水分情况、养分情况等。研究表明，叶片厚度变化具有周期规律性，可分为长周期和短周期（24小时）。掌握这些规律对研究植物水分状态具有重要意义。

通常的灌溉系统是以空气的温度、湿度以及土壤的湿度作为控制参数，属于开环控制。针对这一问题，提出了以植物的器官(叶片、茎杆、果实)的几何参数为控制参数的智能节水灌溉控制系统，属于闭环控制。

LS-3叶片厚度仪技术参数：

测量范围：0－－10mm

分辨率：0.01mm

精度：0.015mm

接触面积：Φ10mm

读取装置：指针

如需了解更多详情请联系广州航信科学仪器有限公司，来电价格有优惠

该产品本公司免费承担至全国各地（仅限物流公司可到达网络点）的运输费用，不含送货上门；如需送货上门，根据贵单位所在具体地址另行收费，偏远地区请先至电。本公司销售产品保修一年，终身维护。

该公司产品分类：氧气检测仪磷化氢气体检测报警仪磷化氢气体检测仪振荡器全自动间断化学分析仪泵头恒流泵/蠕动泵/注射泵/微型齿轮泵氮吹仪空气发生器其他设备药品冷藏箱血液冷藏箱医用低温冰箱远红外快速干燥箱恒温（高温）干燥箱采样器粒子计数器浊度计色度计（仪）白度计（仪）

LYT-2008油漆厚度测量仪

1.本仪器符合以下标准GB/T 4956-1985 磁性金属基体上非磁性覆层厚度的测量（磁性方法）2.特点便携设计，手掌大小采用高速的DSP芯片，具有快速的测量能力人性化设计，简单操作。两种校准方式：零点校准和二点校准宽角度LCD液晶显示公制和英制单位转换具有电源欠电压提示操作过程有蜂鸣声提示具有自动关机功能3.测量原理本仪器采用磁性法，当测头与覆层接触时，测头与磁性金属基体构成一闭合磁路，由于非磁性覆层的存在，使磁路磁阻发生变化，通过测量其变化量，可测得其覆层的厚度。二、油漆厚度测量仪技术参数1.测量范围：0-1200um2.工作电源：两节五号电池3.分辨率：0.1um/1um（100um以下为0.1um）4.测量精度误差：零点校准 ±（1.5+3%H）；二点校准±【（1%～3%H）】H+1.55.公英制转换：um/mil转换6.环境温度:-10-40℃7.相对湿度:≤85%8.最小基体:10*10mm9.最小曲率:凸5mm;凹5mm10.最薄基体：0.4mm11.重量：99克（含电池）12尺寸：102mm*66mm*24mm

该公司产品分类：光泽度仪黑白密度计粗糙度仪超声波探伤仪工业观片灯便携式里氏硬度计磁粉探伤仪涡流测厚仪磁性涂镀层测厚仪电火花检测仪电火花检漏仪超声波测厚仪

德国施密特厚度测量仪J-40-T德国施密特厚度测量仪J-40-T

该公司产品分类：真空度计日本理音日本小野欣锐仪器德国Novi 德国百瑞高台湾泰仕TES 德国德图testo 美国雷泰Raytek 日本加野KANOMAX 日本日置HIOKI 日本共立KYORITSU 香港希玛SMART 德国QBL 意大利哈纳HANNA 美国联合系统美国ESC 美国斯德克韩国卡利安株式会社德国喜利得HILTI