测厚仪专场,测厚仪商家多、资料全面第8组

CH-10-A/AT橡胶塑料测厚仪

橡胶塑料测厚仪CH-10-A/AT有手提式,台式两种型号.手提式:可随身携带,手持测量,适用车间现场测定.台式:用于物理实验室作试样测定.

技术参数:

1.测量范围:0-10mm

2.分度值:0.01mm

3.压力:22Kpa(63g)(包括游丝弹力以及丝杆,测头的总质量)也可按用户需要不要砝码,以拉黄代替其砝码重量

4.上测头的直径:φ6mm

AC-T200电解测厚仪

简单介绍

电解测厚仪产品描述：测量原理利用法拉第原理设计，其过程类似于电镀，但电化学反应的方向相反，是电解除镀。库仑法测厚是对被测部分的金属镀层进行局部阳极溶解，通过阳极溶解镀层达到基体时的电位变化及所需时间来进行镀层厚度的测量测量镀层铬、镍、铜、锌、锡、银、金、镉等金属镀层，镍合金镀层，复合镀层电脑电解测厚仪

简单介绍

电解测厚仪产品描述：测量方法阳极溶解库仑法,符合ISO2177标准测量原理利用法拉第原理设计，其过程类似于电镀，但电化学反应的方向相反，是电解除镀。库仑法测厚是对被测部分的金属镀层进行局部阳极溶解，通过阳极溶解镀层达到基体时的电位变化及所需时间来进行镀层厚度的测量

电解测厚仪的详细介绍

电解测厚仪：测量基材金属、塑胶等基材

测量镀层铬、镍、铜、锌、锡、银、金、镉等金属镀层，镍合金镀层，复合镀层

（如Cr/Ni/Cu）

测量范围 0~35 μm

分辨率金、装饰铬：0.01 μm，其他镀层：0.1μm

不确定度 ≤±10%

测量尺寸标准型2100B：最小工件尺寸 φ2.5mm（5mm2）或φ6mm以上直径工件

较小型2100S：最小工件尺寸 φ2mm（3mm2）或φ2.5mm以上直径工件

电源交流220V±10%，50/60Hz，30W

电解测厚仪主机净尺寸 210（W）×360（D）×85（H）mm

该公司产品分类：全自动插拔力试验机全自动插拔试验栅拉力试验机线材摇摆试验机电解测厚仪恒温恒湿机振动试验机单双臂跌落试验机模拟汽车运输振动台盐雾试验箱盐雾试验机

TT130天津测厚仪

::: 简介: :::::::::::::::::::::::::::::::::::::

一、产品概述

超声波测厚仪根据超声波脉冲反射原理来进行厚度测量的，当探头发射的超声波脉冲通过被测物体到达材料分界面时，脉冲被反射回探头，通过精确测量超声波在材料中传播的时间来确定被测材料的厚度。时代超声波测量厚仪系列是集当代科技电子技术和测量技术于一体的、的无损检测仪器，采用微电脑对数据时行分析、处理、显示，采用高度优化的测量电路，具有测量精度高、范围宽、操作简便、工作稳定等特点。凡能使超声波以一恒定速度在其内部传播的各种材料均可采用此原理测量，如金属类、塑料类、陶瓷类、玻璃类。可以对各种板材和加工零件作精确测量，广泛应用于石油、化工、冶金、造船、航空、航天等各个领域。本仪器显示分辨率为0.01，可测量比TT100更为精密的工件。

二、功能特点

1、高分辨率：测量100mm以下工件时显示分辨率为：0.01mm；2、自动校对零点：可对系统误差进行修正；3、耦合提示、低电压提示、4、关机方式：自动关机（无操作三分钟后）；4、声速调节：可利用已知厚度试块测量声速；5、数据存储：可以存储10个厚度值和5个声速值；

三、技术参数

性能	TT130
测量范围	0.75—300mm
显示分辨率	0.01mm
声速范围	1000—9999m/s
工件表面温度	-10~60
显示	四位液晶显示
示值误差	+_（1%H+0.1）mm, H为实际厚度值
管材测量下限	￠20mmX3.0mm（5P￠10探头,钢材）
操作时间	可连续操作250小时（2个AA型碱性电池，1.5V/个）

四、基本配置

手提箱	1个
主机	1台
探头	5P￠10探头1支
电池	AA型碱性电池2节
耦合剂	1瓶
随机文件	1套

五、可选附件

1、TT100/TT100A/TT110/TT120/TT130系列超声波测厚仪可选探头

2、耦合剂

如果您对测厚仪感兴趣的话,可以联系我们。

该公司产品分类：天津测厚仪天津粗糙度仪

手提式镀层测厚仪手提式膜厚仪便携式膜厚仪

全球款手提式 X-射线镀层测厚仪

这一款手提式测厚仪，在大型材料及各种形状配件镀层厚度的无损检测上有着明显的优势。

具备“批量测试”模式，即一次可以测量出一批小样品的总镀层厚度及平均镀层厚度

可广泛应用于建筑材料，电子，镀金行业及公证/检测机构的镀层检测。

配置说明：

微型银或钨X-射线管，5个准直器。

检测器：半导体高分辩率的检测器。

电源供应：包含两块可充电锂电池和充电器。

操作温度：-10 ~50摄氏度

FP软件测试包：测镀层薄膜厚度及金属元素分析

多年来，我们一直于为PCB 厂商，电镀行业，科研机构，半导体生产等电子行业提供高性能的仪器和的售后服务。让客户满意，为客户创造最大的价值是我们始终追求的目标，因为我们坚信，客户的需要就是我们前进的动力。愿我们成为真诚的合作伙伴、共同描绘双方的发展蓝图！

欢迎咨询洽谈:13424255969

光干涉薄膜测厚仪

应用领域

理论上讲，我们的光干涉膜厚仪可以测量所有透光或半透光薄膜的厚度。以下为我们最熟悉的应用领域(半导体薄膜，光学薄膜涂层，在线原位测量，粗糙或弧度表面测量)：

□ 晶片或玻璃表面的介电绝缘层(SiO2, Si3N4, Photo-resist, ITO, ...)；

□ 晶片或玻璃表面超薄金属层(Ag, Al, Au, Ti, ...)；

□ DLC(Diamond Like Carbon)硬涂层；SOI硅片；

□ MEMs厚层薄膜(100µm up to 250µm)；

□ DVD/CD涂层；

□ 光学镜头涂层；

□ SOI硅片；

□ 金属箔；

□ 晶片与Mask间气层；

□ 减薄的晶片(< 120µm)；

□ 瓶子或注射器等带弧度的涂层；

□ 薄膜工业的在线过程控制；等等…

软件功能

丰富的材料库：操作软件的材料库带有大量材料的n和k数据，基本上的常用材料都包括在这个材料库中。用户也可以在材料库中输入没有的材料。

软件操作简单、测速快：膜厚测量仪操作非常简单，测量速度快：100ms-1s。

软件针对不同等级用户设有一般用户权限和管理者权限。

软件带有构建材料结构的拓展功能，可对单/多层薄膜数据进行拟合分析，可对薄膜材料进行预先模拟设计。

软件带有可升级的扫描功能，进行薄膜二维的测试，并将结果以2D或3D的形式显示。软件其他的升级功能还包括在线分析软件、远程控制模块等。硬件升级 hspace=0

多通道测试，最多支持8个独立的同时测试 6英寸、12英寸扫描样品台

RTL透明样品专用夹具用于曲面结构的CSH探头

显微镜配适器不同型号及规格NanoCal-VIS 波长400 -850 nm, 膜厚50 nm.-20 μm (如SiO2 on Si) 分光计，A/D转换器，USB和RS232接口，卤素光源，反射探针，软件NanoCal-NIR 波长650 -1100 nm, 膜厚70 nm.-70 μm 分光计，A/D转换器，USB和RS232接口，卤素光源，反射探针，软件NanoCal-VIS/NIR 波长400 -1100 nm, 膜厚50 nm.-100 μm (选配1um-250um) 分光计，A/D转换器，USB和RS232接口，卤素光源，反射探针，软件NanoCal-UV/VIS 波长250 -850 nm, 膜厚10 nm.-20 μm 分光计，A/D转换器，USB和RS232接口，卤素光源，反射探针，软件NanoCal-FULL 波长250 -1100 nm, 膜厚10 nm.-70 μm 分光计，A/D转换器，USB和RS232接口，卤素光源，反射探针，软件NanoCal-NIR-HR 波长700 -978 nm, 膜厚1um-250um(选配400um)，高分辨分光计，A/D转换器，USB和RS232接口，卤素光源，反射探针，软件NanoCal-512-NIR 波长900 -1700 nm, 膜厚50 nm.-200 μm InGaAs-512阵列分光计，A/D转换器，USB和RS232接口，高能卤素光源，反射探针，软件NanoCal 软件单层膜测量、模拟、分析，支持Windows环境；NanoCal MS 软件多层膜测量、模拟、分析，支持Windows环境NanoCal Mapping软件配合6”或12”扫描台使用，3D数据；NanoCal Online软件在线原位分析软件；NanoCal Remote软件远程控制软件模块

CMI150涂层测厚仪

产品名称:英国牛津涂层测厚仪

产品型号:CMI150

产品说明:双功能技术的测厚仪，完成磁感应和电涡流测量自动转换。

CMI150测厚仪应用双功能测量技术，能够自动识别磁性或非磁性底材，然后采用相应的测试方法，适用于各种测量环境。CMI150测厚仪可测量非磁性底材上的非导电性涂层和磁性底材上的非磁性涂层的厚度。

测厚仪电涡流测试方法:应用包括铝或铜底材上的特富龙、珐琅、瓷釉、环氧树脂、阳极氧化层或涂料的厚度测量。

测厚仪磁感应测试方法:应用的涂镀层包括锌、镉、涂料或粉末喷涂。

产品特点：

1、精度高、稳定性好

2、铁基和非铁基底材自动识别、切换

3、无需校准、一键操作

4、一体化探头、小巧实用、测量快速精确

5、自动开、关机以延长电池使用时间

产品参数：

1、测量范围：0～2000μmF；0～1000μmN

2、误差：±3%

3、分辨率：1um

4、最小曲率半径：5mm凸；25mm凹

5、最小测量面积：φ20mm

6、最小基体厚度：0.35mm

7、显示：4位LCD数显

8、测量单位：um-mils可选

9、校准方式：无需校准

10、电源：2节7号电池

11、仪器尺寸：95x50x25mm

12、仪器重量：71g

MC-2001涂层测厚仪厂家直销

涂层测厚仪厂家直销，涂层测厚仪检测原理：采用磁感应原理时，利用从测头经过非铁磁覆层而流入铁磁基体的磁通的大小，来测定覆层厚度。也可以测定与之对应的磁阻的大小，来表示其覆层厚度。覆层越厚，则磁阻越大，磁通越小。

科强超声仪器mc系列涂层测厚仪，镀层测厚仪技术参数：

MC-2001型测量范围:0-1000μmMC-2002型测量范围:10-2000μm测量精度:±（3%厚度值+1）μm显示方式：4位液晶数字显示、塑料机壳外型尺寸：161×69×32mm电源：4节5号电池重量：260g

涂层测厚仪厂家直销

该公司产品分类：测厚仪超声波提取设备超声波清洗机电火花检测仪

锡膏测厚仪

锡膏测厚仪特点：

● 天然花岗岩：稳定性高，不会变形，可长时间使用不需停机校正

● 线性马达：维修保养容易，且没有螺杆传输的磨耗问题

● 解析度高达20um;扫描速度64cm2/sec是业界在高解析度时,可100%

全检且能有最快检测速度的三维锡膏检测设备。

● 实板330mm×150mm的检测时间为20秒

● 利用干涉条纹所衍生的三相位移演算法可精确计算锡膏高度、面积、

体积、偏移与短路

● 克服基板弯曲问题

● 简易明了的操作界面

● 简易快速的转档程序制作

锡膏测厚仪技术参数

外观尺寸 216cm×116cm×137cm（h×w×d）

重量 1200kg

空气压力 3-4kgf/cm2

电源 AC200-240V,50/60Hz,15amps

控制系统 AC linear servo motor with resolution 0.5 micros

传输带速度 300mm/sec

传输带高度 890-965mm

可量测的PCB尺寸 510×450mm

PCB板厚 0.2-7.0mm

PCB板边缘预留间隙 Top2.5mm Bottom3.8mm

锡膏测厚仪扫描速度 64cm2/sec

定位点搜寻 <4seconds

XY相素解析度 20um

Z轴（高度） 1.225um

板弯限制 <2mm for each scan width 42mm

可量测高度范围 450um

高度重现性 3um

体积重现性 ±3%

高度精确性 5um

以上为锡膏测厚仪的标准机型参数，如果您有特殊要求，我们会按照您的要求给您设计最适合的方案。

售后服务：

本产品免费送货上门，免费对客户方的操作人员进行专业的培训，产品免费保修一年，终身服务。

若您需要更详细的了解锡膏测厚仪，请您拨打我们的服务热线：欢迎您的来电！

因为专业所以值得信赖！

真切关注聆听您的感受！

该公司产品分类：环境类试验箱

测厚仪手提式X射线荧光测厚仪

技术参数重量：基体配置1.2kg；1.6kg带电池尺寸：长度：30cm；高度：23cm；宽度：7.5cm X射线发生器：银或钨靶微型X射线管；10-40kV，10-50µA 主要过滤器：5个过滤器测量尺寸：接触样品表面测量时，7.75 mm X射线探测管：Si-PIN高分辨率探测系统温度范围：-10℃—50℃ 电源：可充电锂离子电池；含2块电池及充电器；AC转换器及多电池电源可选购。参数调整：不锈钢316作为参考标准

主要特点 HMX系统主要特点无论体积多大的电镀件，HMX系统是理想的解决办法对于QC、电镀线以及实验室分析等应用的现场测量现场的样品分析基材管理的合金分类以及合金确认独特的“分组测量”模式，允许计算一组部件的平均厚度

mini ETG-F微型涂镀层测厚仪

设计用于测量钢铁基体上涂镀层厚度他是所有预处理工作的鉴定检查者可用英制mils或公制um两种模式显示尺寸小,一只手就能操作持续和连续的读出数据不需要校准适用所有的气候

测量范围:0-1000um

精度:1%