仪器介绍
EXF-10B是集多年的经验,专门研发用于镀层行业的一款仪器,可全自动软件操作,可多点测试,由软件控制仪器的测试点,以及移动平台。是一款功能强大的仪器,配上专门为其开发的软件,在镀层行业中可谓大展身手。
性能特点
满足各种不同厚度样品以及不规则表面样品的测试需求
可以满足微小测试点的需求,最小可达0.2mm
高精度移动平台可精确定位测试点.
鼠标可控制移动平台,鼠标点击的位置就是被测点
高分辨率探头使分析结果更加精准
良好的射线屏蔽作用
测试口高度敏感性传感器保护
技术指标
型号:EXF-10B
元素分析范围从铝(Al)到铀(U)。
同时可以分析30种以上元素,五层镀层。
分析检出限可达2ppm,最薄可测试0.005μm。
分析含量一般为ppm到99.9% 。
镀层厚度一般在50μm以内(每种材料有所不同)
任意多个可选择的分析和识别模型。
相互独立的基体效应校正模型。
多变量非线性回收程序
工作温度:15℃至30℃ 湿度:≤80%
电源: 交流220V±5V
外型尺寸:670mm×470mm×370mm
测量仓:520mm×370mm×105mm
重量:45kg
标准配置
精密二维移动样品平台。
Si-Pin探测器。
信号检测电子电路。
高低压电源。
X光管。
高度传感器
保护传感器
计算机
彩色打印机
应用领域
黄金,铂,银等贵金属和各种首饰的含量检测.
金属镀层的厚度测量, 电镀液和镀层含量的测定。
主要用于贵金属加工和首饰加工行业;银行,首饰销售和检测机构;电镀行业。
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梳式测厚仪是尺状的,在六面都有支撑基点,每个面均有不同长度的齿。测量时,将量程范围与漆膜估计厚度相近的那个面垂直地压入湿膜。测量范围:25-3000μm
涂镀层测厚仪MiniTest1100/2100/3100/4100特点:MiniTest1100/2100/3100/4100包括四种不同的主机,各自具有不同的数据处理功能;所有型号均可配所有探头;可通过RS232接口连接MiniPrint打印机和计算机;可使用一片或二片标准箔校准。
技术特征型号 1100 2100 3100 4100MINITEST 存储的数据量 应用行数(根据不同探头或测试条件而记忆的校准基础数据数) 1 1 10 99每个应用行下的组(BATCH)数(对组内数据自动统计计算,并可设宽容度极限值) 1 10 99可用各自的日期和时间标识特性的组数 1 500 500数据总量 1 10000 10000 10000MINITEST统计计算功能 读数的六种统计值x,s,n,max,min,kvar √ √ √读数的八种统计值x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cp √ √ 组统计值六种x,s,n,max,min,kvar √ √ 组统计值八种x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk √ √ 存储显示每一个应用行下的所有组内数据 √ 分组打印以上显示和存储的数据和统计值 √ √ 显示并打印测量值、打印的日期和时间 √ √ √ 其他功能 设置极限值 √ √ 连续测量模式快速测量,通过模拟柱识别最大最小值 √ √ 连续测量模式中测量稳定后显示读数
√ √ 连续测量模式中显示最小值 √ √ 可选探头参数
所有探头都可配合任一主机使用。在选择最适用的探头时需要考虑覆层厚度,基体材料以及基体的形状、厚度、大小、几何尺寸等因素。F型探头:测量钢铁基体上的非磁性覆层
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Ø 通过自动定位功能提高操作性 测量样品时,以往需花费约10秒的样品对焦,现在3秒内即可完成,大大提高样品定位的操作性。
Ø 微区膜厚测量精度提高 通过缩小与样品间的距离等,致使在微小准直器(0.1、0.2mm)下,也能够大幅度提高膜厚测量的精度。
Ø 多达5层的多镀层测量 使用薄膜FP法软件,即使没有厚度标准片也可进行多达5层10元素的多镀层测量。
Ø 广域观察系统(选配) 可从最大250×200mm的样品整体图像指定测量位置。
Ø 对应大型印刷线路板(选配) 可对600×600mm的大型印刷线路板进行测量。
Ø 低价位 与以往机型相比,既提高了功能性又降低20%以上的价格。
性能\型号 | TT100 | TT100a | TT110 | TT120 | TT130 |
测量范围 | 0.75~300.00㎜(钢,由探头决定) | ||||
显示分辨率 | 0.1㎜ | 0.01㎜ | |||
背光显示 | 无 | 有 | 无 | ||
声速范围 | 1000~9999m/s | 5900m/s | 1000~9999m/s | ||
工件表面温度 | .-10~+60℃ | .-10~+300℃ | .-10~+60℃ | ||
显 示 | 4位LCD | ||||
测量精度 | ±(1%H+0.1)㎜ H为被测物实际厚度 | ||||
管材测量下限 | ⊙20㎜×3.0㎜(钢,由探头决定) | ||||
探头直径 | ⊙6㎜(选配),⊙10㎜(标配),⊙12㎜(选配) | ||||
校 准 | 4.0㎜(钢) | ||||
电压指示 | 低电压提示 | ||||
电 源 | AA型碱性1.5V电池(2节) | ||||
操作时间 | 连续操作可达250小时 | ||||
外形尺寸 | 126㎜×68㎜×23㎜ | ||||
重 量 | 170g | ||||
标准配置 | 主机,5MHz探头,4.0㎜钢校准块,AA型碱性电池,耦合剂 | ||||
可选附件 | 2.5MHz探头(3~300㎜),7MHz探头(0.75~60㎜) |
超声波探伤仪、测厚仪、硬度计
EPOCH 4型数字超声波探伤仪
EPOCH XT超声波探伤仪
EPOCH LT超声波探伤仪
EPOCH 4PLUS 超声波探伤仪
EPOCH 4B 经济型超声探伤仪
MG2 MG2-XT MG2-DL超声波测厚仪
26MG 26MG-XT 26XTDL系列超声波测厚仪
Model 25超声波测厚仪
25HP PLUS超声波测厚仪
25DL PLUS超声波测厚仪
37DL PLUS 超声波腐蚀厚度测量仪
QuaNix4200、QuaNix4500、QuaNix1200、QuaNix1500、QuaNix7500、QuaNix8500、QuaNixkeyless涂层测厚仪
HARTIP1000 、HARTIP1500、 HARTIP3000硬度计
TDS-100超声波流量计
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仪器特点:搭载MS-WINDOWS系统(的操作性与高精度测定)与IBM PC 相容个人电脑 使用与IBM PC相容个人电脑,采用MS-WINDOWS软体,使用时多彩多姿。 采用二种滤波器 用用数位式滤波器外另有机械式滤波器(两种滤波器),在测定时,若是最适当的条件下,经常可得到的精度。准值仪5种孔径内藏式 最小的准值仪孔径仅0.1 mm,可测定极微小的部品。 标准:0.1,0.2,0.5,1.0,2.0另备有2种特别规格可供选购。 0.05,0.1,0.2,0.3,0.5 0.05*0.5,0.1,0.2,0.3,0.5自动测定测量台 利用滑鼠来调整测量位置,非常敏捷快速。或是测量位置已完成登陆时,可连续自动测定,利用座标补正、连结频道,来应付各种测量轨迹。亦可用自动测定来作标准片校正。 的显示机能 测定部显示尽像的表示 X线照射部可由WINDOWS画面上取得照射部的表示。从准仪照射测定物的位置,可由倍率率更机能来实现尽面上测出物放大。在膜厚测定中的能谱表示 由多频分析器可快速处理能谱分析。可执行测定物的能谱分析表示,操作简单。 提长资料处理的速度 充实测量报告的作成机能 采用MS-WINDOW软件,测定画的撷取,非常简便,可充衬测量报告的制作机能。可同时间隔处理多项工作,机器在测量中亦可处理其他工作:包括如测量报告的制作。测定物膜厚附著分布表示 以三次元图案来表示测定物膜厚附著状态的分布,作判定时一目了然。 获得安心的性。 自己诊断机能及X线管保食机能 自己诊断机能,迅速的对策来排除机器的因扰。附有X线管的使用时间及耐久时间表示机能,可加强保养的安全性。各机型规格参数:
机型 | 手动测量台 | 自动测量台 | ||
测量主体 | 测量台尺寸(mm) | 170*110 | 240*220 | |
移动量 | X(mm) | 70 | 200 | |
Y(mm) | 70 | 200 | ||
Z(mm) | 50(最大150) | 50 | ||
测定物最大高度(mm) | 50(option 150) | 50 | ||
尺寸(mm) | 602(W)*463(D)*732(H) | |||
重量(kg) | 55 | 61 | ||
样品最大何重(kg) | 3 | 1 | ||
电脑 | 尺寸(mm) | 本体182(W)*383(D)/显示幕412(W)*415(D)*432(H) | ||
电脑重量(kg) | 本体9/显示幕16 | |||
印表机 | 重量(kg) | 5.2 | ||
电源 | AC100V±10V(option AC115V、AC230 |
仪器详细介绍:
1. X線源 | 油浸式1.2mA小型微小焦點X線管. 50kV管電壓,可變管電壓。 | |
2. 照射方式 | 由上而下垂直照射方式。 | |
3. 檢出器 | 比例計數管。 | |
4. 濾波器 | 採用 Co 和 Ni 雙濾波器及數位式濾波器,可單一或同時使用。 | |
5. 準直儀 | Collimator 採用五種孔徑一體成型式,可自動切換使用。0.1, 0.2, 0.5, 1.0, 2.0 ψ㎜.(選購) 0.05 ×0.5, 0.05, 0.1, 0.2, 0.5 ψ㎜.(選購) 0.05, 0.1, 0.2, 0.3, 0.5 ψ㎜. | |
6. 樣品觀測系統 | 彩色CCD及高畫質顯示幕。 | |
7. 譜分析器 | 使用256高頻分析器,光譜自動分析,在執行測量及運算時,非常快速。 | |
電腦操作部: | 8. 電腦系統(※僅供參考) | IBM 相容中文個人電腦. CPU:Intel Celeron 1GHz. RAM:128 MB.Floppy Disk:3.5 ×1, 40倍速 CD-ROM ×1.Hard Disk:40 GB.17" 高畫質顯示幕.EPSON彩色噴墨式印表機。 |
9. 本機型(COSMOS-1X系列)之操作系統採中文視窗(Windows98)對話式操作,非常簡便。 | ||
特性說明: | 10. 測量項目 | 單層膜厚測定. 2層膜厚測定. 3層膜厚測定. 無電解鎳膜厚測定. 合金膜厚成份比同時測定. 元素的光譜峰值測定分析. |
11. 測量材質 | 原子序22(Ti) ~ 82(Pb)為激發法測量。 原子序22以下為吸收法測量。 | |
12. 測量範圍 | 原子序22 ~ 24 , 約 0.2 ~ 20 um. 原子序25 ~ 40 , 約 0.1 ~ 30 um. 原子序41 ~ 51 , 約 0.2 ~ 70 um. 原子序52 ~ 82 , 約 0.05~ 10 um. | |
13. 測量機能 | 同一點重複測定機能 輸出形式設定.能譜測定. | |
14. 測量條件或膜厚規格可以保存 | 當要測量相同的製品時,若測量條件已儲存,可以馬上進行測量。最大檢量線檔案數:可登錄儲存100組檔案。最大測量檔案數 :可登錄儲存300組檔案。 | |
15. 檔案記錄 | 每一個批號可儲存無限個測量資料.(因所使用的電腦之容量大小而定)每一個測量檔案可輸入及儲存公司名稱.每個批號可單獨執行統計處理.每個測量檔案可輸入不同的檢量線(校正曲線). | |
16. 資料處理 | 統計值表示:平均值、標準偏差、最大值、最小值、上下限值範圍、Cp、Cpk。X-R 管制圖.柱狀圖:有自動設定及自己任意設定二種方式。可彩色列印觀物顯示幕上所觀測之圖像。 | |
17. 底材補正 | 當樣品與標準片的底材不同時,可作底材補正。 | |
18. 觀物顯示幕 | 十字刻度線的高解析度彩色觀物顯示幕 | |
安全裝置. | 19. 本機俱有自動安全斷電系統功能. | |
20. 由鎖匙開關來控制X 線輸出,以防止外人任意操作. | ||
其他機能. | 21. 密碼辨識功能 | |
22. 裝置維護調整 | ||
23. 測量部主機 | 尺寸:362(W) ×425(D) ×486(H) ㎜.重量:約 44.2 Kg. | |
24. 操作部:(※僅供參考) | 電腦尺寸:180(W) ×420(D) ×360(H) ㎜.重量:約 8.8 Kg.顯示幕尺寸:360(W) ×420(D) ×370(H) ㎜.重量:約16.5 Kg.印表機尺寸:500(W) ×250(D) ×300(H) ㎜.重量:約 4.3 Kg. | |
X-Y-Z軸可移動式測量台 | 25. 測量台尺寸及移動量. | 測量台尺寸 170 (W) ×100 (D) ㎜移動量(X-Y-Z軸) 70 ×70 ×50 ㎜. |
26. 測量樣品限制 | 樣品限制高度: 45㎜樣品限制重量: 3 Kg. | |
使用電源. | 27. 電壓 | AC100V ±10V ; 50/60Hz(選購) AC110V, AC220V. |
28. 容量 | 700V |
CMI900/950系列X射线荧光测厚仪是一种功能强大的材料涂/镀层测量仪器,可应用于材料的涂/镀层厚度、材料组成、贵金属含量检测等领域,为产品质量控制提供、快速的分析。基于Windows2000中文视窗系统的中文版SmartLink FP应用软件包,实现了对CMI900/950主机的自动化控制,分析中不需要任何手动调整或手动参数设定。可同时测定最多5层、15种元素。数据统计报告功能允许用户自定义多媒体分析报告格式,以满足您特定的分析报告格式要求;如在分析报告中插入数据图表、测定位置的图象、CAD文件等。统计功能提供数据平均值、误差分析、最大值、最小值、数据变动范围、相对偏差、UCL(控制上限)、LCL(控制下限)、CpK图、直方图、X-bar/R图等多种数据分析模式。
CMI900/950系列X射线荧光测厚仪能够测量多种几何形状、各种尺寸的样品;并且测量点最小可达0.025 x 0.051毫米。