T-SCAN 300 & 300DL 测厚仪 |
T-SCAN 300 & 300DL测厚仪 手持超声测厚仪——同时检测出基体材料&涂层的厚度!!! 不同于其他的测厚仪,英银翼公司的测厚仪——T-scan 300 能够同时检测涂层及基体材料的厚度。 测厚仪的软件使得检测结果以两种模式显示:直接数字显示;检测部位的B扫描图像显示。 T-scan 300DL除具有与The T-scan 300相同的功能之外,还具有存储功能,32MB内存可以存储210,000个测试数据(栅格显示或连续显示),或存储16,000组B扫描图像(包括图像的设置)。 特征: · 测量模式 · 脉冲回波 · 脉冲回波及温度补偿 · 脉冲回波及涂层 · 回波-回波 · 涂层 自动: · 探头归零 · 探头识别 · 温度补偿 · 增益控制 · 高低门槛的声光报警 · 材料横截面积的B扫描图像 · 可存储210 000组数据 · 包含Windows PC软件 几何参数: · 重量:13.5 盎司 / 383 克 · 尺寸: 2.5 W x 6.5 H x 1.24 D inches 63.5 W x 165 H x 31.5 D mm · 操作温度: 14 to 140F (-10 to 60C) · 外壳: 铝金属外壳,镀镍层 · 键盘: 12个触摸键盘 · 数据导出: 双向RS232串口,Windows® PC界面 · 显示: 1/8in VGA灰度显示(240 x 160 pixels) 可视区域: 2.4 x 1.8in (62 x 45.7mm) 可背光显示 ※ 超声规格 · 测量模式: Coating Off: 脉冲回波 (P-E) Coating On: 脉冲回波涂层 (PECT) Temp Comp: 脉冲回波温度补偿(PETP) · 穿透涂层: Echo-Echo (E-E) · 涂层模式: Coating (CT) · 脉冲发生器: 双方波脉冲发生器 · 接收器: 双接收器 – 110dB范围内的手动或AGC增益控制 ※ 电源 3节1.5V铅酸电池或1.2V镍镉AA电池 使用时间:铅酸电池 150小时 镍镉AA电池 100小时 闲置5分钟后自动关机 电池状态显示 ※ 检测 范围: 脉冲回波模式(P-E) - (Pit & Flaw Detection) ,测量范围0.025 to 19.999 inches (0.63 to 508 mm) 脉冲回波涂层模式(PECT) –(材料,涂层,凹坑&腐蚀检测):材料: 0.025 to 19.999 in (0.63 to 508mm). 涂层: 0.001 to 0.100 in (0.01 to 2.54mm) 脉冲回波温度补偿模式(PETP)- (凹坑&腐蚀检测): 自动温度补偿,量程0.025 to 19.999in (0.63 to 508mm) 回波-回波模式(E-E)-(穿过涂层) 测量范围0.100 to 4.0in (2.54 to 102mm),量程根据涂层有不同。 涂层模式(CT)-(涂层厚度) 测量范围0.0005 to 0.100in (0.0127 to 2.54mm),量程根据涂层有不同。 精度: +/- 0.001in (0.01mm) 声速: 0.0492 to 0.5510in/ms 1250 to 13995 meters/second · 基体材料&涂层单点/双点标定选项 · 基体材料的选择 · 单位: 英制 & 公制 ※ 测量 大数字显示—标准厚度视图;数字高度:0.700 inches (17.78 millimeters),B-Scan—时基横截面视图,每屏显示速度15secs,扫描条厚度-每秒6次。B-Scan及大数字显示模式下可见。 条形图的可重复性—条形图显示读数的稳定性 特征状态栏— 显示激活的状态 数据记录功能:T-scan 300DL 记录模式: 栅格 (数字编号) 连续 (自动标示) 储存量: Graphics On: 16,000 个结果,为每次读数B扫描图像&标尺设置 Graphics Off: 210,000 个结果(涂层, 基体材料, min & max) OBSTRUCT: 显示达不到的区域 内存: 32 M内存 探头: 探头类型: 双晶 (1 to 10 MHz) 快速连接的LEMO接头 标配4M长电缆线 可根据特定需要定制探头和探头线 标定:厂家标定,满足际标准 |
产品说明 | |
测量对象: 单金属镀层:(Cu Zn、Ni、Ag、Sn、Cr等) 合金镀层(Pb-Sn、Cr-Zn、Zn-Ni、Ni-P等); 复合镀层(Cu+Ni+Cr/Fe等); 多线镀层(需配用电位记录仪,如与PC电脑连接则不需记录仪); 显著特点: 一机多用!ZD-B智能电解厚仪+PC电脑=ZD-B智能电解测厚仪+ZD-B型多线镀层度-电位测定仪。 |
SM-112测厚仪
原理:在一定的面积与一定荷重下,测量出的物件厚度。指针式测厚规可以作为物品检测时的基础测量。
技术参数:
指式方式:指针式
测量范围:0-10mm
最小读数:0.01mm
测量深度:26mm
体积大小:(W*D*H)87*23*105mm
重量:150g
仪器介绍
Thick800A是天瑞集多年的经验,专门研发用于镀层行业的一款仪器,可全自动软件操作,可多点测试,由软件控制仪器的测试点,以及移动平台。是一款功能强大的仪器,配上专门为其开发的软件,在镀层行业中可谓大展身手。
性能特点
满足各种不同厚度样品以及不规则表面样品的测试需求φ0.1mm的小孔准直器可以满足微小测试点的需求高精度移动平台可精确定位测试点,重复定位精度小于0.005mm采用高度定位激光,可自动定位测试高度定位激光确定定位光斑,确保测试点与光斑对齐鼠标可控制移动平台,鼠标点击的位置就是被测点高分辨率探头使分析结果更加良好的射线屏蔽作用测试口高度敏感性传感器保护
技术指标
型号:Thick 800A元素分析范围从硫(S)到铀(U)。 一次可同时分析最多24个元素,五层镀层。分析检出限可达2ppm,最薄可测试0.005μm。分析含量一般为2ppm到99.9% 。镀层厚度一般在50μm以内(每种材料有所不同)任意多个可选择的分析和识别模型。相互独立的基体效应校正模型。多变量非线性回收程序多次测量重复性可达0.1%工作稳定性可达0.1%度适应范围为15℃至30℃。电源: 交流220V±5V, 建议配置交流净化稳压电源。 外观尺寸: 576(W)×495(D)×545(H) mm 样品室尺寸:500(W)×350(D)×140(H) mm重量:90kg
标准配置
开放式样品腔。精密二维移动样品平台,探测器和X光管上下可动,实现三维移动。双激光定位装置。铅玻璃屏蔽罩。 Si-Pin探测器。信号检测电子电路。高低压电源。X光管。高度传感器保护传感器计算机及喷墨打印机
应用领域金属镀层的厚度测量
电镀液和镀层含量的测定
Leeb332
测量范围 0.75~300mm(钢,由探头决定)
显示分辨率 0.01mm
声速范围 1000~9999m/s
表面温度 -10~60℃
示值误差 ±(1%H+0.1)mm,H为被测物实际厚度
电源 AA型碱性电池(2节)
外壳 金属外壳
操作时间 约200小时
外形尺寸 130×70×25mm
重量 约0.2kg(主机)
标准配置 主机、L51探头、AA型碱性电池、耦合剂
可选配 探头、耦合剂
产品特点:可进行零点校准及二点校准。可对测头进行基本校准。设有五个统计量:平均值(MEAN)、最大值(MAX)、最小值(MIN)、测试次数(NO)、标准偏差(S.DEV)。可存贮和统计计算15个测量值。具有两种测量方式:连续测量方式(CONTINUE)和单次测量方式(SINGLE)。具有自动关机功能。删除功能:对测量中出现的单次可疑数据进行删除,也可删除存贮区内的所有数据,以便进行新的测量。 操作过程有蜂鸣声提示。有欠压指示功能。有背光选择。
仪器简介:德国QNix4200和QNix4500这两种型号涂层测厚仪一体化/分体化设计,只需调零,无需校准,使用极其简单。其中QNix4200为磁性测厚仪,可以用来测量钢、铁等磁性基体上的涂层、镀层;QNix4500为磁性和涡流两用测厚仪,不仅可以用来测量钢铁等磁性基体,还可以用来测量铝、铜、不锈钢等非磁性金属表面的涂层、氧化膜、磷化膜等覆层。这两个型号操作简单,携带方便,精度高,为广大用户所喜爱。
在传统QNix® 4500基础上,为了满足客户不同的需要,特推出QNix® 4500(分体式)机,探头和主机之间通过一根探头线连接起来,可以满足特定测量环境(比如狭小空间)的需要,测量更方便,使用更人性化,性价比更高!
为了迎合用户需要,还推出QNix® 4500(大量程)机,使在铁基测量模式下量程可扩大到5mm。
产品优点:◆只需调零,无需校准◆体积小巧,操作方便◆一机双用,自动识别基体◆精度高◆价格便宜
QNix® 4500(分体式)介绍:◆简单快速测量◆不需要校准◆自动开关机◆大量程FE:0-5000um NFE:0-3000um◆双用探头,性价比高◆霍尔传感器让测量更稳定◆测量时声音同步◆红宝石耐磨头,寿命长◆背光LED显示,读数更加清晰◆自动识别测量基体◆分体式探头,满足不同的测量环境
技术参数 | |
磁性基体(Fe模式) | QNix4200/4500均有此功能 |
非磁性基体(NFe模式) | QNix4500有此功能 |
测量范围 | QN4200:Fe:0-3000um |
QNIX4500:Fe:0-3000um;NFe:0-3000um QNIX4500(5mm型):Fe:0-5000um;NFe:0-3000um QNIX4500(分体型):Fe:0-3000um;NFe:0-3000um | |
显示精度 | 0.1um |
精度 | 0-50um:≤±1um |
50-1000um:≤±1.5%读数 | |
1000-3000um≤±3%读数 | |
最小接触面 | 10×10mm/QNix4500 |
最小曲率半径 | 凸面:3mm;凹面:25mm |
最小基体厚度 | Fe:0.2mm/NFe:0.05mm |
温度补偿范围 | 0-60℃ |
显示 | LCD液晶(带背光) |
探头 | 红宝石固定式 |
电源 | 2×1.5V干电池 |
尺寸 | 100×60×27mm |
重量 | 110g |
传感器探头 | 铁磁性 | 非铁磁性 |
工作原理 | 磁感应 | 涡流 |
测量范围 | 0~1250um | 0~1250um |
0~49.21mil | 0~49.21mils | |
误差 | 0~850 um (+/- 3%+1um) | 0~850 um(+/- 3%+1.5um) |
(相对当前读数) | 850um~1250um (+/- 5%) | 850um~1250 um (+/- 5%) |
0~33.46 mils (+/- 3%+0.039mils) | 0~33.46mils (+/- 3%+0.059mils) | |
33.46um~49.21mils (+/- 5%) | 33.46um~49.21mils (+/- 5%) | |
精度 | 0~50um (0.1um) | 0~50um (0.1um) |
50um~850um(1um) | 50um~850um(1um) | |
850um~1250um(0.01mm) | 850um~1250um(0.01mm) | |
0~1.968mils (0.001mils) | 0~1.968mils (0.001mils) | |
1.968mils~33.46mils(0.01mils) | 1.968mils~33.46mils(0.01mils) | |
33.46mils~49.21mils(0.1mils) | 33.46mils~49.21mils(0.1mils) |
HQT-IA 微电脑多功能电解测厚仪 特性表 | |||||||
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