HQT-IA 微电脑多功能电解测厚仪 特性表 | |||||||
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测量范围 | 0~1800um |
测量原理 | 磁感应 |
测量误差 | ±(3%H±1um) |
分辨率 | 0.1um |
数据存储 | 15组 |
自动关机 | 有 |
低电提示功能 | 有 |
零点校准/两点校准 | 有 |
7点校准 | 有 |
最大/最小值功能 | 有 |
技术参数:测量范围:0.75-300mm(钢).显示精度:0.01mm测量误差:1 mm~10 mm :±0.05mm 10mm~200mm :(±0.5%H+0.1)mm管道测量下限(钢):Φ20mm×2.0mm测量周期:2次/ 秒测量频率:5MHz声速范围:1000-9999m/s显示:4位半数字LCD显示,带冷光源照明显示零位调整:探头放在测厚仪试块上按键自动调零线性校正:微处理器程序自动线性校正(即V Path 自动补偿)报警功能:可设置限界,对限界外的测量值能自动蜂鸣报警工作电压:3V(2节AA尺寸碱性电池串联)关闭:连续2分钟无动作自动关闭,有开关按钮显示内容:厚度值、耦合状态、电量状态,可显示CAL标定状态、声速外形尺寸:132 X 76.2 mm整机重量:345g
工作原理本超声波测厚仪对厚度的测量,是由探头产生超声波脉冲透过耦合剂到达被测体,一部分超声信号被物体底面反射,探头接收由被测体底面反射的回波,精确地计算超声波的往返时间,并按下式计算厚度值,再将计算结果显示出来。
式中:
H-测量厚度; v-材料声速; t-超声波在试件中往返一次的传播时间。
5、仪器配置表1 仪器配置 序号名称数量备注标准配置1主机1台 2标准探头(5MHz)1只 3耦合剂1瓶 4ABS仪器箱1只 5随机资料1份 6电池仓工具1把 7AA(5号)尺寸碱性电池2只 可选配置8粗晶探头(2MHz)9微径探头(7.5MHz)
品牌 | 北京时代 | 型号 | TT220 |
测量范围 | 0-1250um(mm) |
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ST8000光学薄膜测厚仪是把UV-Vis光照在测量对象上,利用从测量对象中反射出来的光线测量膜的厚度的产品。 这种产品主要用于研究开发或生产导电体薄膜现场,特别在半导体及有关Display工作中作为 In-Line monitoring 仪器使用。ST8000光学薄膜测厚仪产品特性
1) 因为是利用光的方式,所以是非接触式,非破坏式,不会影响实验样品。
2) 可获得厚度和 n,k 数据。
3) 测量迅速正确,且不必为测量而破坏或加工实验样品。
4) 可测量3层以内的多层膜。
5) 根据用途可自由选择手动型或自动型。
6) 产品款式多样,而且也可以根据顾客的要求设计产品。
7)可测量 Wafer/LCD 上的膜厚度 (Stage size 6“ 8”, 12“ ...)
8)用于特殊领域(超精密,微小部位-0.2um2 ) a
TESTER SANGYO国内总代理:上海贸和荣贸易有限公司
TH-104 纸、薄膜厚度测定仪
本机是TH-101,102系列的数码万分表类型。因为是数码类型、自动回零、有抓头儿等的功能、校正也简便。根据选项能打印所需求的数据。
配 置
纸用
型 式 :A 型
精 度 :1 /1000mm
行 程 :8mm
载 重 :550g /cm
加压尺寸:14.3mm¢
薄膜用
型 式 :A 型’
精 度 :1 /1000mm
行 程 :8mm
载 重:125g
加压尺寸: 5mm¢
参考规格……JISP-8111 (纸用) JISK-6781(薄膜用)
付属品 ……回收箱
机体尺寸……约(正面的宽度)9x(深)14x(高度)27cm
TESTER SANGYO国内总代理:上海贸和荣贸易有限公司
TH-104 纸、薄膜厚度测定仪
本机是TH-101,102系列的数码万分表类型。因为是数码类型、自动回零、有抓头儿等的功能、校正也简便。根据选项能打印所需求的数据。
配 置
纸用
型 式 :A 型
精 度 :1 /1000mm
行 程 :8mm
载 重 :550g /cm
加压尺寸:14.3mm¢
薄膜用
型 式 :A 型’
精 度 :1 /1000mm
行 程 :8mm
载 重:125g
加压尺寸: 5mm¢
参考规格……JISP-8111 (纸用) JISK-6781(薄膜用)
付属品 ……回收箱
机体尺寸……约(正面的宽度)9x(深)14x(高度)27cm
功 能: 1.测量锡膏厚度:计算方形、不规则多边形、圆形锡膏面积和体积。 2.检查几何形状、X轴间距、Y轴间距和两线夹角,零件脚共平面度 3.影像捕捉、处理;S.P.C分析、报表输出 量测原理: 非接触激光测度仪由专用激光器产生线型光束,以一定的倾角投射到待测量目标上,由于待测与基板存在 高度差,此时观测到的目标和基板上的激光束相应出现断续落差,根据三角函数关系可以用观测到的落差 计算出待测目标与周围基板存在高度差,从而实现非接触式的快速测量。 软件介绍: 1.视频观察、图像保存、厚度测量、数据记录、背景光、激光亮度控制、面积(方形、不规则多边形、圆 形)/体积/间距/(X轴、Y轴)/夹角测量,可记忆24条生产线任意数量产品。 2.根据的产品、生产线和日期范围进行数据查询、修改、删除、导出(文本和Excel表格)、打印,能统计平均值、最大值、最小值、方差、标准差、不良数、不良率、偏度、峰度、Ca、Cp、Cpk、Pp、Ppk,并可绘制、预览、打印X-BAR管制图和R管制图(其中的管制参数可自行设定) 技术参数:
测量原理:非接触式、激光束 平台:大理石平台,机座不可以移动 测量精度 ±0.002mm 重复测量精度:±0.004mm 基座尺寸:320mm×500mm×360mm 系统尺寸: L320mm×W500mm×H360mm 光学放大倍率:25x~110x(5档可调) 照明系统:可调亮度环形LED光源(PC控制亮度) 测量光源:高精度红色激光线 测量软件:SH-110-2D/HSPC1000(Windows2000/XP平台)
技术参数
显示方法:高对比度的段码液晶显示,高亮度EL背光; 测量范围:0.75~300mm(钢中),公制与英制可选择; 声速范围:1000~9999 m/s: 分 辨 率:0.1mm 示值精度: ±(1%H+0.1)mm H为被测物实际厚度 测量周期:单点测量时4次/秒、扫描模式10次/秒; 存储容量:可存储20组(每组最多99个测量值)厚度测量数据。 工作电压:3V(2节AA尺寸碱性电池串联) 持续工作时间:约100小时(不开背光时) 外形尺寸:150×74×32 mm 整机重量:245g
主要功能
适合测量金属(如钢、铸铁、铝、铜等)、塑料、陶瓷、玻璃、玻璃纤维及其他任何超声波的良导体的厚度; 可配备多种不同频率、不同晶片尺寸的双晶探头使用; 具有探头零点校准、两点校准功能, 可对系统误差进行自动修正; 已知厚度可以反测声速,以提高测量精度; 具有耦合状态提示功能; 有EL背光显示,方便在光线昏暗环境中使用; 有剩余电量指示功能,可实时显示电池剩余电量; 具有自动休眠、自动关机等节电功能; 小巧、便携、性高,适用于恶劣的操作环境,抗振动、冲击和电磁干扰;
工作原理
本超声波测厚仪对厚度的测量,是由探头产生超声波脉冲透过耦合剂到达被测体,一部分超声信号被物体底面反射,探头接收由被测体底面反射的回波,精确地计算超声波的往返时间,并按下式计算厚度值,再将计算结果显示出来。 环境温度:
操作温度-20~+50℃;存储温度:-30℃~+70℃相对湿度≤90%;周围环境无强烈振动、无强烈磁场、无腐蚀性介质及严重粉尘。