oai is a world leader in uv liight & energy measurement instrumentation used for reliable accurate calibrated control of the hotolithography processes in the semiconductor
uk micron optoelectronics的表面粒子检测器系列通过以下技术实现电子半导体行业表面污染的量化监测和控制:核心技术原理界面颗粒再悬浮技术?:采用界面技术,通过物理或气流方式将附着在关键表面的颗粒重新悬浮,便于后续检测。高精度光学检测:基于激光光学传感器和光散射原理,实时捕获悬浮粒子的散射光信号,实现单个粒子尺寸的精确分析。