光学测量仪产品及厂家
德国optosol r1 涂层吸收率发射率检测仪，用于测量管状或平面太阳能吸收涂层的定向热发射度，其基础是测量来自扩展热源的红外辐射的反射率操作温度:70 - 90°c
更新时间:2025-01-03
德optosol-k3 太阳能吸收率发射率检测仪，k3型发射率检测仪由一个被加热到70℃的发光体（作为热辐射源）和三个对波长在8-14μm范围的光线敏感的探测器组成。 来自发光体的辐射均匀分布在用作漫射辐射源的积分球内。检测器以与样品表面法线成12°的角度安装。被测量的是由样品反射回来的辐射。
更新时间:2025-01-03
optosol absorber control k1 太阳能平板集热器膜层吸收与发射率快速测量仪，
更新时间:2025-01-03
trisol aaa美国oai标准太阳能模拟器，低成本，标准太阳模拟器提供高度准直，均匀的光，几乎任何材料或产品暴露在阳光下长时间或短时间的基本测试。根据配置，这些太阳能模拟器的输出功率为350w-5,000w。
更新时间:2025-01-03
tss-52,tss-100,tss-156,tss-208,tss-300美国oai太阳能模拟器，这些模拟器,取决于配置、输出额定350 w -5000 w。oai 3 a太阳模拟器可以提供一个范围的空气质量过滤器复制太阳能模拟太阳的光谱。目的探明oai透镜和镜像技术可以使一个广泛的接触区域。
更新时间:2025-01-03
美国 d&s 发射率测量仪 ae1/rd1，是专门针对测量物体的辐射率设计的，ae1测量样品最小直径为2.25英寸（5.7cm）。可选附件ae-ad1和ae-ad3探测头能使测量样品最小直径为1.0英（2.54cm），可以为圆柱形表面和几乎任何几何形状面需求的客户提供定制探头。对小直径圆柱形面样品测量，可以测量平行放置的多个样品。
更新时间:2025-01-03
美国sonix 晶圆检测设备 autowafe pro.为全自动晶圆检测设计的机型，主要应用在bond wafer，mems 内部空洞、离层检测，tsv量测方面。
更新时间:2025-01-03
美国泰克tek keithley半导体参数分析仪4200a-scs ，加快半导体设备、材料和工艺开发的探索、可靠性和故障分析研究。 业内领先性能参数分析仪，提供同步电流-电压 (i-v)、电容-电压 (c-v) 和超快脉冲 i-v 测量。
更新时间:2025-01-03
瑞士nanosurf 原子力显微镜coreafm ，非常智能地联合了原子力显微镜的核心部件来实现最多功能化与用户方便使用性. 正是由于这种基础的设计, coreafm非常合理的实现了最优化的原子力显微镜的功能.
更新时间:2025-01-03
韩国ecopia霍尔效应测量系统hms3000，hms5000，用于研究半导体材料/光电材料的电学特性，可以测量材料在不同温度、磁场下的载流子浓度、迁移率、电阻率、霍尔系数及载流子类型。
更新时间:2025-01-03
美国ogp光学式坐标测量仪 zip 250 ，5:1 accucentric 电动变焦透镜，在每次放大变倍时自动校准，可选配接触式探头、激光和微型探针。
更新时间:2025-01-03
美associated 耐压测试仪hypotmax 7710 ，是一款12 kvdc hipot测试仪，用于为电缆、电线、线束和电气元件测试提供高直流输出电压。该产品非常易于使用，并为安全有效的测试提供了各种特性。它有专利smartgfi®操作,它还包括电荷lo®和斜坡嗨®系统。最后，该系统具有远程安全联锁和数控电弧检测系统。
更新时间:2025-01-03
montana 新型超精细多功能无液氦低温光学恒温器完全摆脱了液氦。完全闭循环的制冷系统只需要极少量的氦气即可让系统达到极限低温。系统具有超快降温、超低震动和超高的温度稳定性。全自动化的控制软件，简化了用户的操作流程。
更新时间:2025-01-03
德国attocube磁共振显微镜/低温强磁场磁共振显微镜attocsfm,完美集成了由完全无磁性材料制备的高数值孔径（na）共聚焦显微镜与原子力显微镜来满足odmr实验的需求。
更新时间:2025-01-03
sinton少子寿命测试仪wct-120，suns-voc，硅片少子寿命测试系统，采用了独特的测量和分析技术，包括准稳定态光电导(qsspc)测量方法。可灵敏地反映单、多晶硅片的重金属污染及陷阱效应,表面复合效应等缺陷情况。
更新时间:2025-01-03
美国 mmr 霍尔效应测量系统 h5000，用于研究光电材料的电学特性，利用范德堡测量技术测量材料在不同温度、磁场下的载流子浓度、迁移率、电阻率、霍尔系数及载流子类型。整套系统主要包括控制器、样品室、磁场三部分。
更新时间:2025-01-03
美国nanovea三维表面形貌仪hs1000型，是一款高速的三维形貌仪，最高扫描速度可达1m/s,采用国际领先的白光共聚焦技术，可实现对材料表面从纳米到毫米量级的粗糙度测试，具有测量精度高，速度快，重复性好的优点，该仪器可用于测量大尺寸样品或质检现场使用。
更新时间:2025-01-03
德国 yxlon 高分辨率ｘ射线检测设备 y.cougar smt 平板探测器（标配） y.cheetah 高速平板探测器（标配）
更新时间:2025-01-03
美国royec芯片拾取及放置系统die pick & place systems,new !! ap+ 全自动芯片分选系统
更新时间:2025-01-03
美国royec半自动型芯片拾取系统de35-st ,最小200微米芯片拾取,可选配背面，侧面检测,可选配芯片转向功能.
更新时间:2025-01-03
美国rti自动特性图示仪 mt century curve tracer，是一个性价比较高的曲线追踪设备。最多到96个channel，提供4种型号可供客戶选择，mt century curve tracer 与rti其他大型curve trace拥有一样的可靠性，功率和软件。像其他rti机型一样，mt century系統的设计有与950系列的测试夾具及其它专用夾具连接的接口。
更新时间:2025-01-03
德国klocke nanotech纳米级三维测量仪3d nanofinger，是一种实用的纳米精度坐标和形貌综合测量设备。由台架、控制系统、探头、针尖组成. 可测量样品外形尺寸，表面轮廓、粗糙度等，并可与超精密微加工、微组装系统组合，进行在线检测、质量控制等。
更新时间:2025-01-03
美国filmetrics 薄膜厚度测量系统f20，f30，f40，f50，f60，f3-xxt 系列，台式薄膜厚度测量系统
更新时间:2025-01-03
美国 sonix 超声波扫描显微镜:echo-vs, echo pro™全自动超声波扫瞄显微镜,sonix echo vs™ 是专为更高精度要求，更复杂元器件设计的新一代设备。echo pro™全自动超声波扫瞄显微镜,编程自动判别缺陷,高产量,无需人员重复设置.
更新时间:2025-01-03
德国bruker ft-nir光谱仪tango,mpa,matrix-i.ft-nir光谱仪已经在包括制药，食品，农业和化学行业在内的所有行业的质量控制应用中得到了很好的应用。它为耗时的湿法化学方法和色谱技术提供了一种实用的替代方法。ft-nir无破坏性，不需要样品制备或危险化学品，使其定量和定性分析快速可靠。
更新时间:2025-01-03
sentech ald实时监测仪是一种新型的光学诊断工具，是心灵超高分辨率的单一ald循环。在不破坏真空的条件下分析薄膜特性(生长速率，厚度，折射率)，在短时间内开发新工艺、实时研究ald循环中的反应机理是sentech ald实时监测仪的主要应用。
更新时间:2025-01-03
日本rion 液体光学颗粒度仪：ks-16/16f ( 光散射法）, 大粒子数浓度：1 200 颗/l （误差值低于5%）, 粒径范围（5个通道）：≥0.1μm， ≥0.15μm ， ≥0.2μm ， ≥0.3μm, ≥0.5μm
更新时间:2025-01-03
日本rion 液体光学颗粒度仪：ks-17b ( 光散射法）,纯水用，大粒子数浓度：100 000 颗/ml （误差值低于5%），粒径范围（2个通道）：≥0.05μm， ≥0.1μm （4通道需工厂定制）
更新时间:2025-01-03
日本理音rion液体光学颗粒度仪ks-19f，宽广的测试范围，可测试 0.03~0.13um 之间的颗粒只需要小小的样品取样量就可以得到高效率高精准的颗粒数据。
更新时间:2025-01-03
日本rion粒子计数器kc-24 ( 光散射法）,液体粒子计数器，可检测从纯水到氢氟酸各种各样的液体。可测 0.1um 空气颗粒度仪kc-24
更新时间:2025-01-03
日本rion液体光学颗粒度仪ks-41a ( 光阻用），可检测光阻产品、sog 等产品中 0.15um 的颗粒。粒径范围（4个通道，出厂默认）：≥0.15μm， ≥0.2μm ， ≥0.3μm ， ≥0.5μm
更新时间:2025-01-03
日本rion 液体光学颗粒度仪：ks-18f ( 光散射法）液体光学颗粒度仪 ks-18f宽广的测试范围，可测试 0.05~0.2um 之间的颗粒只需要小小的样品取样量就可以得到高效率高精准的颗粒数据。 可侦测到小粒径 0.05um 的粒子
更新时间:2025-01-03
日本rion液体光学颗粒度仪ks-42a&42af ( 光散射法）,可测试 0.1~0.5um 之间的颗粒只需要小小的样品取样量就可以得到高效率高精准的颗粒数据。
更新时间:2025-01-03
日本rion液体光学颗粒度仪ks-42b/42bf ( 光散射法）,宽广的测试范围，可测试 0.2~2.0um 之间的颗粒只需要小小的样品取样量就可以得到高效率高精准的颗粒数据。
更新时间:2025-01-03
布鲁克 dektakxt 台阶仪（探针式表面轮廓仪）设计创新，实现了更高的重复性和分辨率，垂直高度重复性高达 5å。第十代 dektakxt台阶仪（探针式表面轮廓仪）的技术突破，实现了纳米尺度的表面轮廓测量，从而可以广泛的应用于微电子器件，半导体，电池，高亮度发光二管的研发以及材料科学域。
更新时间:2025-01-03
日本rion液体光学颗粒度仪ks-19f,宽广的测试范围，可测试 0.03~0.13um 之间的颗粒只需要小小的样品取样量就可以得到高效率高精准的颗粒数据。
更新时间:2025-01-03
美az 总辐射度/太阳能吸收率(tesa)便携式反射计 tesa 2000，根据astm e408测定热发射率和空气质量为零时的太阳吸收率(空间应用)。它紧凑，轻巧，坚固耐用，符合人体工程学设计，便于在野外或实验室中使用。
更新时间:2025-01-03
日本rion气体粒子计数器：kl-28b/28bf( 光散射法）,粒径范围（2个通道）：≥0.2μm， ≥0.5μm, 大粒子数浓度：1 200 颗/l （误差值低于5%）
更新时间:2025-01-03
日本rion液体光学颗粒度仪ks-42c ( 光散射法）,宽广的测试范围，可测试 0.5~20um 之间的颗粒只需要小小的样品取样量就可以得到高效率高精准的颗粒数据。
更新时间:2025-01-03
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