低价VF2257荷兰TQC湿膜轮,膜厚仪价格
VF2257荷兰TQC湿膜轮,膜厚仪价格
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XRF-2000金属镀层膜厚仪
可测元素范围：钛（Ti） – 铀（U） 原子序 22 – 92 。
准直器：固定种类大小:可选圆形0.1 0.2 0.3 0.4mm 方型1×0.4mm
自动种类大小:可选圆形0.1 0.2 0.3 0.4mm 方型0.05×0.4mm
电脑系统：DELL品牌电脑,17寸液晶显示器，惠普彩色打印机
综合性能:镀层分析 定性分析 定量分析 镀液分析
镀层分析:可分析单层镀层,双层镀层,三层镀层, 合金镀层.
镀液分析:可分析镀液的主成份浓度（如镀镍药水的镍离子浓度,镀铜药水的铜离子浓度等）,简单的核对方式,无需购买标准药液.
定性定量分析:可定性分析20多种金属元素,并可定量分析成分含量.
光谱对比功能:可将样品的光谱和标准件的光谱进行对比,可确定样品与标准件的差别,从而控制来料的纯度.
统计功能:能够将测量结果进行系统分析统计,方便有效的控制品质GT810F涂层测厚仪 镀层测厚仪 膜厚仪GT810F
一体磁性金属涂层测厚仪 镀层测厚仪 膜厚仪GT810F GT810F是具有广泛使用范围的磁性仪器。其技术参数符合国家标准。 本仪器是磁性便携式一体磁性金属涂层测厚仪，它能快速、无损伤、精密地进行涂、镀层厚度的测量。既可用于实验室，也可用于工程现场。本仪器能广泛地应用在制造业、金属加工业、化工业、商检等检测领域。是材料保护专业必备的仪器。Fe质探针可检测所有非磁性涂层厚度，例如涂在钢、铁上的漆、粉末涂层、塑料、瓷、铬、铜、锌等。 功能：
深圳市速德瑞科技有限公司主营水分仪、涂层测厚仪、光泽度仪、显微镜、透光率仪、UV能量计、硬度计、张力计、万用表等各类仪器仪表欢迎有需要的厂家及经销商来电联系联系电话： QQ：1612436831登录www.speedre.com 了解更多详情
PIG455进口德国ERICHSEN仪力信涂PIG455层测厚仪破坏法漆膜膜厚仪
型号：PIG455品牌：ERICHSEN(德国仪力信)品质优势：同类产品中具有的品质
测量步骤：1、 标记：用标记笔在所测量的涂层表面上作一小的比色标记。2、 划痕：按刀头朝下，放大镜视孔朝前的姿势抓紧仪器，将刀头放在标记正前方 不远的地方，此时两个导位螺栓和刀头贴紧涂层表面，轻施压力让刀头保持直线划过标记，且划透涂层接触到底材即可。3、 数格：打开放大镜视孔旁边的灯泡开关，将放大镜聚焦在标记上的划痕上，调 节底部的调焦旋钮找到的焦距；旋转上部的视孔筒和稍微调整仪器的位置使任意一长刻度线和面漆标记划痕线直线重叠， 然后从左至右数小刻度格数，直到第二层漆层或底材，此为单层或多层的小格总数。4、取数：依不同的型号将小格总数乘上相应的系数即为涂层的各自单层或多层的总厚度。校正：仪器出厂时已经校正。使用一段时间后，如需精确的测量，可使用标准厚度进行定期的验证。
技术参数:
测量范围：2-200μm精 度：1%尺 寸：110mm×85mm×25mm
透镜灯： 3.7V/0.3A/base P13.5 s
用 途：广泛应用于塑胶、木材、混凝土和其他非金属材料表面漆层和类似的涂层的测量用于划格法测定，可作多种涂层的组分分析
电池：2个AA电池
测量范围：2～200 μm（标配为6号碳化物刀头）
放大倍数：50倍
刻 度：2 mm（1/100 格）
净重：0.4kg
配9V电池以及皮套
可选配件：
910924741 特殊 1号 刀头 用于最大 2000 um 厚的涂层910927441 特殊 4号 刀头 用于最大 1000 um 厚的涂层910927641 特殊 5号 刀头 用于最大 500 um 厚的涂层910927541 特殊 6号 刀头 用于最大 200 um 厚的涂层
测试原理455测量基于标准楔形切割程序：涂层以一个定义的角度被划破到基材，涂层的厚度（s）根据切割面的三角形投影（b）计算出来，这由一个显微镜和切割角（а）决定。依据相同的原理，多层涂层系统的每层涂层厚度也可计算出来，对于符合AS 1580 Meth 408.1标准的附着力测试，在切割操作中涂层卷起的区域宽度与投影b有关。设计和功能PIG 455由1个黑色的氧化铝部件构成，它包含以下功能元件：—可更换的碳化物刀头，具有精确的角度切割刀。—一个50倍的测量显微镜和一个刻度（2mm分为100格），它也适用于检查任务。—两对支脚用于支持测量显微镜和导向碳化物刀头。—电池槽可放两个AA电池—透镜灯可更好的照明样品—双位开关设置（点亮/）
SQ-GT8102SQ-GT8102一体两用涂层测厚仪/涂膜厚仪一体两用涂层测厚仪/涂膜厚仪
| 产品名称：SQ-GT8102一体两用涂层测厚仪/涂膜厚仪 |
| 产品编号：906 |
| 产品型号：SQ-GT8102 |
应用双功能测量技术，能够自动识别磁性或非磁性底材，然后采用相应的测试方法，适用于各种测量环境。可测量非磁性底材上的非导电性涂层和磁性底材上的非磁性涂层的厚度。
SQ-GT8102是具有广泛使用范围的磁性和非磁性及两用仪器。其技术参数符合国家标准。
本仪器是磁性、涡流一体的便携式覆层测厚仪，它能快速、无损伤、精密地进行涂、镀层厚度的测量。既可用于实验室，也可用于工程现场。本仪器能广泛地应用在制造业、金属加工业、化工业、商检等检测领域。是材料保护专业必备的仪器。Fe质探针可检测所有非磁性涂层厚度，例如涂在钢、铁上的漆、粉末涂层、塑料、瓷、铬、铜、锌等。NFe质探针检测所有绝缘涂层厚度，例如漆、塑料、瓷等。这些涂层须涂在诸如铝、铜、黄铜或不锈钢等非磁性金属基体上。
（一体化传感器涂层测厚仪）
机身尺寸：102mm×66mm×24mm
附件：
标准片4片： 50um 、100um、 250um 、500um（选配：12um、25um）基体2块（GT810 2块基体）
电池2块
清洁布1块
说明书1份
保修卡1张
华南国家计量中心校准证书
东精精密表面粗糙度仪S130A，台阶仪、膜厚仪东精精密中国一级代理特价
 产 品 说 明 | ||||
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产品资料：国产华唯镀层厚度检测仪X射线荧光技术测厚仪涂层膜厚仪
UX-700 镀层厚度检测仪 华唯
| 配置型号 | 探测器 | X光管 | 高压电源 |
| Ux-700 M | AMPTEK Si-PIN X-123(进口) | 上海科颐维（国产） | 咸阳威思曼(国产) |
| Ux-700 H | AMPTEK Si-PIN X-123(进口) | 上海科颐维（国产） | spellman(进口) |
| Ux-700 S | AMPTEK SDD X-123(进口) | 上海科颐维（国产） | spellman(进口 |
产品简介：国产华唯镀层厚度检测仪X射线荧光技术测厚仪涂层膜厚仪
本着对插接件等细小结构件的单镀层和多镀层厚度的测量，Ux-700更专业小样品测试腔的设计，带有聚焦光点的准直器，高分辨率的探测系统，众多条件的选择，保证测试结果的准确性。
X射线荧光技术测试镀层厚度的应用，提高了大批量生产电镀产品的检验条件，无损、快速和更准确的特点，对在电子和半导体工业中品质的提升有了检验的保障。
Ux-700镀层测厚仪配备了XY轴微移动平台，可以通过鼠标的点击操作，选择样品的多点测试，特别适应于细小结构多种不同镀层材料的测试。
Ux-700镀层测厚仪具有高清晰、高放大倍数的摄像设备，测试样品的部位清楚明了，同时摄像设备拍抓测试部位的图片，和测试数据结果一同出现在测试报告中。
Ux-700镀层测厚仪采用了华唯新专利技术FlexFp -Multi，不在受标准样品的限制，在无镀层标样的情况下直接可以测试样品的镀层厚度。
参数规格：国产华唯镀层厚度检测仪X射线荧光技术测厚仪涂层膜厚仪
测厚技术：X射线荧光测厚技术
测试样品种类：金属镀层，合金镀层
测量下限：0.003um
测量上限：30-50um（以材料元素判定）
测量层数：10层
测量用时：30-120秒
探测器类型：Si-PIN电制冷
探测器分辨率：149eV
高压范围：5-50Kv，50W
X光管参数：5-50Kv，50W，侧窗类；
光管靶材：Mo靶；
滤光片：专用镀层滤光片
CCD观察：260万像素
微移动范围：XY15mm
输入电压：AC220V，50/60Hz
测试环境：非真空条件
数据通讯：USB2.0模式
准直器：Ø0.5mm
软件方法：FlexFP-Mult
工作区：开放工作区 自定义
样品腔：70*20mm
整机重量：38kg
镀层测厚方法：
1.磁性涂层测厚法
使用磁性测厚法可测铁、钢导磁金属上面的所有非导磁金属和所有非导电层的厚度，如铁上镀铜、锌、铬、金、银等，涂的油漆、塑料、橡胶、磷化膜、玻璃钢等。
2.涡流层层测厚法
可以测量非导磁导电金属上面非导电涂层的厚度，如不锈钢、铜、铝金属上的油漆层、氧化膜、磷化膜、玻璃钢、橡胶等图层的厚度
3.X射线荧光法
所有金属材料/非金属材料上单金属成分、2元或多元合金材料的单层和多层厚度的测试，同时可以测试镀层材料的合金成分含量比例。
常用单位：
微米（um），微英寸（u‘’）俗语“迈”，密耳（mil）
1um=39.4迈， 1um=0.04mil
国产华唯镀层厚度检测仪，X射线荧光技术测厚仪，涂层膜厚仪国产厂家直销
德国QuaNix4500膜厚仪代理
4500测厚仪，德国QuaNix4500膜厚仪
| QuaNix4200/4500: 1.只需调零、无需校准 2.Fe/NFe两用探头 3.一体化设计 4.自动开关机 | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
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菲希尔XDL系列膜厚仪
菲希尔XDL系列膜厚仪，是发展继承其前身FISCHERSCOPE X－RAY光谱膜厚仪XDL-B系列，其非破坏式的测量，特别适合金属镀层厚度，如一些五金零件、电路板及测量电镀槽中的金离子的含量检测。其采用了高次数率的比例接收器，可以在没有标准片的情况下，对金属五金件的镀层厚度及电镀液中的离子含量做出精确的测量，另外在WINFTM BASIC 软件的支持下，可测量多至24元素，这是其他品牌所不能的。菲希尔XDL系列膜厚仪的长期稳定性是十分高的，这使仪器减少校正所需要的时间及次数，便于管理仪器，并提高生产效率.应用范围广泛，包括了测量大量的电镀五金件、检查薄膜层（如：装饰性铬的镀层）、在电子及半导体行业中分析其功能性的镀层、可用于电路板测量、电镀槽中的药水成份分析。
LZ-990膜厚仪
1.本仪器是KETT品牌最新款双用一体机,,机型小巧,方便携带,性能稳定,功能广泛的实用型机.有较高的性价比.
2．对磁性和涡流的测定方式有自动识别转换功能,无需人工调整.有4种语言显示及储存功能等.
3.探头上配有曲面器可测圆型,管型及弧型工件,此曲面器也可轻松拔下,还可测量平面及小面积的工件.
技术参数:
型号 LZ-990J
测定方法 电磁和涡流两用型
测定对象 磁性金属上的非磁性涂镀层和非磁性金属上的绝缘层
测量范围 0~3000μm或0~120.0mils
测量精度 ﹤50μm时，±1μm ＞50μm﹤1000μm时，±2% ＞1000μm≦3000μm时，±3%
分辨率 ＜100μm时，0.1μm ＞100μm时,1μm
最小测试面积 ≥5*5mm
数据输出接口 USB接口或连接打印机（可选）
显示方式 数显式LCD
统计功能 测试数/最大值/最小值/平均值/标准偏差,可存储数据 存储数据 有成组储存（电磁式和涡流式各8组）,共计16组
功能设定 各种设定共15种
测量单位 um和mils互换
测量方式 单次测量/连续测量
语言显示 中文/英文/日文/韩语
工作方式 直接方式/成组方式 统计功能
测试次数/最大值/最小值/平均值/标准偏差
存储数据 1000个
其它 可连接VZ-330型打印机,可与PC机通讯上下限界数据,
外形 尺寸:82（W）*99.5（D）*32（H）mm
重量:160g
可选配件 工作台,打印机,打印机连接线,电脑通讯线