便携式膜厚计/多功能膜厚仪/手持式膜厚计/台湾特安斯/膜厚测试仪/TASI676
便携式膜厚计/多功能膜厚仪/手持式膜厚计/台湾特安斯/膜厚测试仪/TASI676产品特点: 可测量导磁、非导磁材料。 资料储存255笔。 可设定Hi/Lo 警报蜂鸣的读值范围。 选择平均值、最大值、最小值及最大值-最小值。 常用厚度量测点可使用快速一点校正。 使用者可选择μm/mils 可无损地测量磁性金属基体( 如钢、铁、合金和硬磁性钢等 )上非磁性覆盖层的厚度(如铝、铬、铜、珐琅、橡胶、油漆等)及非磁性金属基体(如铜、铝、锌、锡等)上非导电覆盖层的厚度(如:珐琅、橡胶、油漆、塑料等)。 便携式膜厚计/多功能膜厚仪/手持式膜厚计/台湾特安斯/膜厚测试仪/TASI676说明
测量范围 | 0~40.0mils (0~1000μm) |
精确度 | ±(4 位)在0~7.8mils ±(10 位)在0~199μm ±(3%+4 位)在7.9mils~40mils ±(3%+10 位)在200μm~1000μm |
解析度 | 0.1mils/1μm |
回应时间 | 1 秒 |
显示 | 3½ 位数字液晶显示,最大1999 读值 |
电池电压不足显示 | 当电池电压低于操作电压时,"+ - "显示 |
自动关机 | 15 秒 |
电池 | 9V碱性电池一节 |
精确度测试环境 | 23℃±5℃,相对湿度<75%R.H. |
操作环境 | 0℃~50℃,相对湿度<80%R.H. |
储存环境 | -20℃~60℃,0~70%R.H. |
尺寸 | 148mm(高)x105mm(宽)x42mm(厚) |
重量 | 约260公克(含电池) |
附件 | 说明书、电池、皮套 |
美国THERMO/CalMetrics X-RAY镀层膜厚测试仪标准片
测厚仪标准片又名膜厚仪校准片,专业用于测厚仪(膜厚仪)在测金属镀层厚度的时候进行标准化校准.也就是我们在膜厚测试中常用的标准曲线法,是测量已知厚度或组成的标准样品,根据荧光X-射线的能量和强度及相应镀层厚度的对应关系,来得到标准曲线。之后以此标准曲线来测量未知样品,以得到镀层厚度或组成比率。对于PCB,五金电镀,半导体等行业使用测厚仪来检测品质和控制成本起到了很重要的作用。
测厚仪标准片一般分为单镀层片,双镀层片,多镀层片,合金镀层片,化学镀层片。如:
单镀层:Ag/xx, 双镀层:Au/Ni/xx , 三镀层:Au/Pd/Ni/xx, 合金镀层:Sn-Pb/xx, 化学镀层:Ni-P/xx.
我们可以根据客户不同的金属元素,镀层结构,镀层厚度等要求向美国工厂定做标准片,并可出据标准片厚度值证书.
我公司是一精密测试仪器代理商,为香港仪高集团附属成员. 我集团在中国和香港地区代理韩国MICRO PIONEER XRF-2000系列X-射线测厚仪及德国ROENTGENANALYTIK Compact eco系列X-射线测厚仪。此两种仪器主要用于镀层或涂层厚度的测量,而且特别适合于对微细表面积或超薄镀层的测量。欢迎随时来电咨询或亲临我司测试及参观!!!
多年来,我们一直于为PCB 厂商,电镀行业,科研机构,半导体生产等电子行业提供高性能的仪器和的售后服务。让客户满意,为客户创造最大的价值是我们始终追求的目标,因为我们坚信,客户的需要就是我们前进的动力。愿我们成为真诚的合作伙伴、共同描绘双方的发展蓝图!
欢迎咨询洽谈13424255969
美国THERMO/CalMetrics X-RAY镀层膜厚测试仪标准片
测厚仪标准片一般分为单镀层片,双镀层片,多镀层片,合金镀层片,化学镀层片。如:
单镀层:Ag/xx, 双镀层:Au/Ni/xx , 三镀层:Au/Pd/Ni/xx, 合金镀层:Sn-Pb/xx, 化学镀层:Ni-P/xx.
我们可以根据客户不同的金属元素,镀层结构,镀层厚度等要求向美国工厂定做标准片,并可出据标准片厚度值证书.
我公司是一精密测试仪器代理商,为香港仪高集团附属成员. 我集团在中国和香港地区代理韩国MICRO PIONEER XRF-2000系列X-射线测厚仪及德国ROENTGENANALYTIK Compact eco系列X-射线测厚仪。此两种仪器主要用于镀层或涂层厚度的测量,而且特别适合于对微细表面积或超薄镀层的测量。欢迎随时来电咨询或亲临我司测试及参观!!!
多年来,我们一直于为PCB 厂商,电镀行业,科研机构,半导体生产等电子行业提供高性能的仪器和的售后服务。让客户满意,为客户创造最大的价值是我们始终追求的目标,因为我们坚信,客户的需要就是我们前进的动力。愿我们成为真诚的合作伙伴、共同描绘双方的发展蓝图!欲了解产品详情,请与我们联系或访问http://eastco.18show.com.cn
产品标题 | 电镀层电解膜厚测试仪 北京 | ||||||||||||||||||||||||||||||||
型号 | KH.1-20IA(微电脑型号KH.1-HQT-IB) | ||||||||||||||||||||||||||||||||
图片 | ![]() | ||||||||||||||||||||||||||||||||
简介 | 测量品种:铜、镍、铬、锌、镉、银、金、多层镍各层厚度及层间电位差。 测量范围:0.03μm~99.99μm 准确度:±10% 复现精度:<5% 电位测量范围:-100mv~+400mv 电位测量精度:±5%\\ 本产品荣获国家轻工部科技成果三等奖。
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LTT-H80 特点/Features
其它用途/Others
● IC封装、空PCB变形测量; ● 钢网的通孔尺寸和形状测量; ● PCB焊盘、丝印图案的厚度和形状测量; ● 提供刮刀压力预测功能、印刷制程优化功能; ● 芯片邦定、零件共平面度、BGA/CSP尺寸和形装测量;
工作原理图/Work Pninciple
自动挟板功能 采用激光焊接
软件分析/Software Analyse
软件界面图 CPK测试报告
测试效果/Test Effection
技术参数/Parameters
测量精度 | Tiptop measure precision(Z) | Height (Z) :0.5μm | |
重复精度 | Repeat precision | Height :below 1.2μm Volume :below 1% | |
放大倍率 | Zoom multiple | 50X | |
光学检测系统 | Optics inspection system | 德国工业 CCD相机 | |
激光发生系统 | Laser system | 红光激光模组 | Laser module with glowing |
自动平台系统 | Auto-system | 全自动 | Full automaticity |
测量原理 | Measure principle | 非接触式激光速 | Non-touch laser bean |
X/Y可移动扫描范围 | Scan area (X/Y) | 330mm(X) × 300mm(Y) 530mm(X) ×460mm(Y) | |
最大可测量高度 | Max measure height | 5mm | |
测量速度 | Measure speed | 最大150 Profiles / sec | |
SPC 软件 SPC | SPC soft | Cp、Cpk、Sigma、 Histogram Chat、 X bar R&S、Trend、 Scatter、Pdata report to Excel & Text | |
计算机系统 | PC system | HP双核P4 20寸LCD Windows XP | |
软件语言版本 | Language | 简体中文 . 繁体中文 . 英文 | Simplified Chinese , Traditional Chinese, English |
电源 | Power | 单相 AC 220V, 60/50Hz | Single-phase AC 220V, 60/50Hz |
重量 | Weight | 75kg | |
设备外型 尺寸 | Product shape size | 668(W) x 775(D) x374(H) mm | |
包装后尺寸 | Packing size | 790(W)×880(D) ×630(H) mm |
名称 Item 数量 / Qty 主机 Host 1 说明书 User Manual 1 软件 Software CD 1 校正块 Standard Block 1 校证证书 Quality Certification 1 工控电脑 Industrial compuster 1 加密狗 Dongle 1
CMI900 无损电镀 膜厚测试仪,镀层测厚仪 专业测量金、银 钯 銠 镍 铜 锡 等贵金属多镀层膜厚测量,快速 无损,业内广受好评,客户应
用广泛在 五金 连接器 PCB LED支架等行业以形成行业测量的标准。欢迎广大五金连接器客户联系 测量量样品 洽谈往来 本公司经营多年工程师经验丰富,商业合作个方式灵活。
金属镀层厚度测量, 例如Zn;Cr; Cu; Ag; Au;Sn等 合金(两样金属元素)镀层厚度测量, 例如: SnPb; ZnNi; 及NiP(无电浸镍)在Fe上等 合金(三檬金属元素)镀层厚度测量, 例如: AuCuCd在Ni上等 双镀层厚度测量, 例如:Au/Ni在Cu 上; Cr/Ni在Cu上;Au/Ag在Ni上;Sn/Cu在黄铜上等 双镀层厚度测量(其中一层是合金层), 例如: SnPb/Ni或Au/PdNi在青铜上等 三镀层, 例如: Cr/Ni/Cu在塑胶或在铁上
PCB LED 连接器等行业 gold flash/ Nip / Cu 或 Au / Pdni / Cu ~~ Ag / Ni / Cu / Ni / Cu 等常见应用
仪器介绍CMI 900 系列X射线荧光测厚仪是一种功能强大的材料涂/镀层测量仪器,可应用于材料的涂/镀层 厚度、材料组成、贵金属含量检测等领域
,为产品质量控制提供、快速的分析.基于WindowsXP中文视窗系统的中文版 SmartLink FP 应用软件包,实现了对CMI900主机的自动化控制, PCB 五金 LED 连接器 表面处理等行业技术参数:CMI 900 X-射线荧光镀层厚度测量仪,在技术上一直以来都领先于全世界的测厚行业A CMI 900 能够测量包含原子序号22至92的典型元素的电镀层、镀层、表膜和液体,极薄的浸液镀层(银、金、钯、锡等)和其它薄镀层。区别材料并定性或定量测量合金材料的成份百分含量可同时测定最多5层、15 种元素。B :精确度领先于世界,精确到0。025um (相对与标准片)C :数据统计报告功能允许用户自定义多媒体分析报告格式,以满足您特定的分析报告格式要求 ;如在分析报告中插入数据图表、测定位置的图象、CAD文件等。D :统计功能提供数据平均值、误差分析、最大值、最小值、数据变动范围、相对偏差、UCL(控制上限)、LCL(控制下限)、CpK图、直方图、X
-bar/R图等多种数据分析模式。CMI900系列X射线荧光测厚仪能够测量多种几何形状各种尺寸的样品;E :可测量任一测量点,最小可达0.025 x 0.051毫米牛津仪器CMI900电镀膜厚测量仪
TT260涂层测厚仪主要技术指标
使用环境温度 | 0~40℃ |
电源 | 镍氢电池5×1.2V 600mAH |
外型尺寸 | 270×86×47mm |
重量 | 530g |
测量范围 | 0—1250μm |
可使用6种测头 | (F400、F1、F1/90°、F10、N1、CN02)进行测量 |
三种校准方法 | 一点校准、二点校准、基本校准 |
显示分辨率 | 0.1μm(测量范围小于100μm)1μm (测量范围大于100μm) |
设五个统计量 | 存储495个数据 |
有两种工作方式 | 直接方式和成组方式 |
有两种测量方式 | 连续测量和单次测量 |
有两种关机方式 | 手动关机和自动关机 |
可设置限界 | 对限界外的测量值能自动报警,并可用直方图对一批测量值进行分析 |
有删除功能 | 对粗大误差及错误设置可进行删除处理 |
打印功能 | 可打印测量测量值、统计值、限界、直方图 |
其它功能 | 有音乐铃声随时对操作进行提示 有电源欠压指示功能 可以边充电边工作 错误提示功能 与计算机通讯(通讯软件运行环境为Window操作系统),用计算机控制测厚仪工作。 |
基本配置 | TT260主机 1台, TT260打印机 1台 ,F1或N1测头 1支,校准标准片 1套,充电器 1个 |