原子力显微镜(atomic force microscopy)是种以物理学原理为基础,通过扫描探针与样品表面原子相互作用而成像的新型表面分析仪器。般原子力显微镜利用探针对样品扫描,探针固定在对探针与样品表面作用力极敏感的微悬臂上。悬臂受力偏折会引起由激光源发出的激光束经悬臂反射后发生位移。检测器接受反射光,后接受信号经过计算机系统采集、处理、形成样品表面形貌图像。
alpha300 ra –在一个系统里面集成化学成分分析和纳米级别的结构成像alpha300 ra 是市场上首个高度集成的拉曼原子力显微镜系统,可以在标准的alpha 300r共聚焦拉曼系统上通过标准模块升级即可完成拉曼原子力系统联用,获得原位的afm和raman图像的叠加。alpha300 ra 独特的设计理念使联用系统既保留300r强大的化学组分分析能力,同时加入微纳级别的表面形貌等特性的分析能力,使研究者能对样品进行深度完善的分析和理解。
film sense 多波长椭偏仪通过简单的 1 测量,可以以高的精度和精度测定大多数透明薄膜的薄膜厚度和折射率并对许多样品进行光学常数 n&k 等薄膜性质的测量。多波长椭偏仪提供了强大的薄膜测量功能售价只是单一波长椭偏仪和光谱椭偏仪的中等水平。film sense 偏仪非常适合在研究实验室教室,现场处理室,工业质量控制等等。