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pcie1.0x16 眼图测试 物理层致性测试电子产品发展到当的时代，工程界已经积累了很多实践经验，再搭上互联网大力 发展的快车，每位工程师都可以很轻松地从其他人的工程经验分享中获得很多有价值和 有助于自己设计的经验，但是经验并不是金科玉律，也不是都适合工程师特殊的设计需求。
更新时间:2025-07-17
pcie3.0x4 眼图测试 物理层致性测试下面是个 ddr3 设计的实际案例。按照传统的方式进行设计时，工程师会按照主芯片给的设计规范进行设计。结合项目工程的需要，其 ddr3 的采用的是 t 型的拓扑结构， ecc 放置在如下图 5 圆圈中所示位置。在生产完成后的调试过程中，发现 ddr3 的信号出现非单调性。
更新时间:2025-07-17
pcie3.0x8 眼图测试 物理层致性测试deviceid和vendor id寄存器这两个寄存器的值由pcisig分配，只读。其中vendor id代表pci设备的生产厂商，而device id代表这个厂商所生产的具体设备。如xilinx公司的k7，其vendor id为0x10ee，而device id为0x7028。
更新时间:2025-07-17
pcie3.0x16 眼图测试 物理层致性测试获得的信号波形没有出现非单调的情况。按照以上设计改板后的测试结果与仿真 致。 如果不进行仿真，那么只能在产品设计完成之后进行测试才能发现问题，如果要改善， 只能再改板调整，还可能出现改板很多次的情况，这样就会延迟产品上市时间并增加物料成本。
更新时间:2025-07-17
出租agilent usb3.0测试夹具u7242-26401
更新时间:2025-07-17
misenbo 硬件开放实验室 开放实验室 硬件实验室 ets-lindgren 7405近场探头 仪器资讯
更新时间:2025-07-17
misenbo 硬件开放实验室 开放实验室 硬件实验室 nemtest dito 静电放电模拟器 仪器资讯
更新时间:2025-07-17
mipi传输过程中的信号质量问题mipi是2003年由arm，nokia，st，it等公司成立的个联盟，旨在把手机内部的接口如存储接口，显示接口，射频/基带接口等标准化，减少兼容性问题并简化设计。
更新时间:2025-07-17
mipi接口屏闪屏的分析及解决方法 眼图测试基于示波器的当抖动测量工具在条通道上只提供个眼图。在通用测量中，这些工具只有6-8个测量项目。dpojet全面支持所有通道，包括同时测量每条通道的眼图。
更新时间:2025-07-17
mipi接口屏闪屏的分析及解决方法 眼图测试 mipi传输过程中的信号质量问题 mipi驱动问题 重起问题
更新时间:2025-07-17
硬件工程师调试mipi屏经验 mipi 接口的sensor问题 mipi接口的dsi的驱动问题
更新时间:2025-07-17
mipi lcd接口 mipi主板 mipi故障分析与解决 mipi调试经验 mipi硬件开发 mipi驱动
更新时间:2025-07-17
mipi调试经验 mipi硬件开发 mipi驱动 硬件工程师调试mipi屏经验 mipi 接口的sensor问题
更新时间:2025-07-17
mipi摄像头 mipi眼图测试 mipi lcd接口 mipi主板 mipi故障分析与解决从软件层面，再回顾下数据格式，加深在数据线上有3 种可能的操作模式：escape mode, high-speed (burst) mode and control mode，下面是从停止状态进入相应模式需要的时序：
更新时间:2025-07-17
解决mipi屏黑屏问题 mipi调试过程 mipi接口屏闪屏的测试 分析与解决方法依据ccir编码表，sav和evav之间的保护数据是被编码过的，使用这种方法，编码器可以纠正1-bit错误，可以检查2-bit的错误。该特征只是在csi的ccir编码中，仅仅是奇偶交错模式中支持。
更新时间:2025-07-17
分析与解决方法 mipi c-phy d-phy 眼图测试当帧结束或者是个在rxfifo中的完整的帧数据被全部读出时，eof中断就产生了，eof并不在csi的prp模式中使用。该中断是用在ccir奇偶域交错的模式下使用，该中断当field 1 和field 2交错的时候产生。f1_int和f2_int会产生
更新时间:2025-07-17
解决mipi屏黑屏问题 mipi调试过程 mipi接口屏闪屏的测试bayer数据是个从图像传感器获得典型的行数据。该数据宽度定要通过软件转化为rgb空间或者是yuv空间的数据格式。pack_dir bit设置为0，表示系统是小端，不是大端系统。使用p0,p1,p2,p3存放了打包了的数据内容，p0是个data,依次，p3是个data.
更新时间:2025-07-17
mipi clk眼图 data眼图测试与分析 解决mipi屏黑屏问题mx27提供了个非常业的摄像头csi接口，可以配置相关的口进行接口匹配。我们的摄像头是ov9660，输出设定为yuv模式，因此，csi获取的数据也是yuv格式的数据，因此还需要通过软件，将yuv的格式转化为rgb565、rgb656、rgb888格式放到lcdc对应的memory进行显示输出。
更新时间:2025-07-17
mipi c-phy d-phy 眼图测试 mipi屏 初始化指令问题像素可以放映到你的抓图上面的大小，该像素就是说明你的cmos或者是ccd感光元件的像素点多少，可以想象在相同的面积上，数量越多，感光元件肯定要越小，感光元件小，那么图像的质量其实会变差，这个当然可以理解，但是从大的方面来说，只要镜头好，光源充足，那么效果也会变好，这样画面就比像素低的更加的细腻，所以高像素的好处就在这里。
更新时间:2025-07-17
mipi眼图 数据 clk眼图 data眼图测试与分析 解决mipi屏黑屏问题 mipi调试过程mx27提供了个非常业的摄像头csi接口，可以配置相关的口进行接口匹配。
更新时间:2025-07-17
梅特勒电极ha405-dpa-sc-s8/120（有问题，产品上留有碎渣） 硬件开放实验室 开放实验室 仪器租赁
更新时间:2025-07-17
emmc 上电时序测试 电源纹波测试emmc 芯片下方在敷铜时，焊盘部分要增加敷铜禁布框，避免铜皮分布不均影响散热，导致贴片虚焊。
更新时间:2025-07-17
emmc 时钟测试 数据信号测试电源纹波测试过大的问题通常和使用的探头以及端的连接方式有关。先检查了用户探头的连接方式，发现其使用的是如下面左图所示的长的鳄鱼夹地线，而且接地点夹在了单板的固定螺钉上，整个地环路比较大。由于大的地环路会引入更多的开关电源造成的空间电磁辐射噪声以及地环路噪声，于是更换成如下面右图所示的短的接地弹簧针。
更新时间:2025-07-17
emmc 复位测试 clk测试 dqs测试这是个典型的电源纹波测试的问题。我们通过使用短的地线连接、换用低衰减比的探头以及带宽限制功能使得纹波噪声的测试结果大大改善。
更新时间:2025-07-17
emmc4 上电时序测试 电源纹波测试 时钟测试 数据信号测试实际上就是把电缆的头接在示波器上，示波器设置为50欧姆输入阻抗；电缆的另头剥开，屏蔽层焊接在被测电路地上，中心导体通过个隔直电容连接被测的电源信号。这种方法的优点是低成本，低衰减比，缺点是致性不好，隔直电容参数及带宽不好控制。
更新时间:2025-07-17
相关产品：emmc5 , 上电时序测试 , 电源纹波测试 , 时钟测试 , 数据信号测试通俗的来说，emmc=nand闪存+闪存控制芯片+标准接口封装。
更新时间:2025-07-17
emmc4 , 复位测试 , clk测试 , dqs测试emmc则在其内部集成了 flash controller，包括了协议、擦写均衡、坏块管理、ecc校验、电源管理、时钟管理、数据存取等功能。
更新时间:2025-07-17
emmc5 复位测试 clk测试 dqs测试包括card interface（cmd，data，clk）、memory core interface、总线接口控制（card interface controller）、电源控制、寄存器组。
更新时间:2025-07-17
emmc5 复位测试 clk测试mmc通过发cmd的方式来实现卡的初始化和数据访问。device identification mode包括3个阶段idle state、ready state、identification state。
更新时间:2025-07-17
emmc4 复位测试 clk测试 dqs测试 emmc5 复位测试identification state，发送完 cid 后，emmc device就会进入该阶段。
更新时间:2025-07-17
相关产品：clk测试 , dqs测试 , emmc4 , 上电时序测试data strobe 时钟信号由 emmc 发送给 host，频率与 clk 信号相同，用于 host 端进行数据接收的同步。data strobe 信号只能在 hs400 模式下配置启用，启用后可以提高数据传输的稳定性，省去总线 tuning 过程。
更新时间:2025-07-17
数据信号测试 emmc5 上电时序测试start bit 与 command 样，固定为 "0"，在没有数据传输的情况下，cmd 信号保持高电平，当 emmcdevice 将 start bit 发送到总线上时，host 可以很方便检测到该信号，并开始接收 response。
更新时间:2025-07-17
数据信号测试 emmc5 上电时序测试start bit 与 command 样，固定为 "0"，在没有数据传输的情况下，cmd 信号保持高电平，当 emmcdevice 将 start bit 发送到总线上时，host 可以很方便检测到该信号，并开始接收 response。
更新时间:2025-07-17
clk测试 dqs测试 emmc4 上电时序测试，眼图测试crc 为 data 的 16 bit crc 校验值，不包含 start bit。各个 data line 上的 crc 为对应 data line 的 data 的 16 bit crc 校验值。
更新时间:2025-07-17
数据信号测试 emmc4 复位测试 clk测试 dqs测试在 ddr 模式下，data line 在时钟的上升沿和下降沿都会传输数据，其中上升沿传输数据的奇数字节 （byte 1,3,5...），下降沿则传输数据的偶数字节（byte 2,4,6 ...）。
更新时间:2025-07-17
复位测试 clk测试 dqs测试 emmc4 上电时序测试当 emmc device 处于 sdr 模式时，host 可以发送 cmd19 命令，触发总线测试过程（bus testing procedure），测试总线硬件上的连通性。
更新时间:2025-07-17
高温介电温谱测试系统运用三电法设计原理测量。并参考美国 a.s.t.m 标准。重复性与稳定性更好，采用双屏蔽高频测试线缆，提高测试参数的精确度，同时抗干扰能力更强。本设备也可应用于产品检测以及新材料电学性能研究等用途。搭配labview系统开发的huacepro软件，具备弹性的自定义功能，可进行介电温谱、频谱、升温速度、测量参数等设置，符合压电陶瓷与其它新材料测试多样化的需求。电压、过电
更新时间:2025-07-17
hcld-3系列高压耐漏电起痕试验仪采用西门子plc作为主控制系统，配合高精度电压、电流传感器、高压真空断路开关、高压交直流变压器元件构成。高压耐漏电起痕试验是在工频下,用液体污染和倾斜试样评定在严酷环境条件下使用的电气绝缘材料耐漏电起痕和耐电蚀损性能。其评定的方法有两种,即恒定漏电起痕电压法和逐升压漏电起痕电压法。试验中可采用两种终点判断法来确定试验终点。方法a是当高压回路中通过的电流达到或超g
更新时间:2025-07-17
hcld-3系列高压耐漏电起痕试验仪采用西门子plc作为主控制系统，配合高精度电压、电流传感器、高压真空断路开关、高压交直流变压器元件构成。高压耐漏电起痕试验是在工频下,用液体污染和倾斜试样评定在严酷环境条件下使用的电气绝缘材料耐漏电起痕和耐电蚀损性能。其评定的方法有两种,即恒定漏电起痕电压法和逐升压漏电起痕电压法。试验中可采用两种终点判断法来确定试验终点。方法a是当高压回路中通过的电流达到或超
更新时间:2025-07-17
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