数字式立式光学计 立式光学计
型号:GH/JDG-S2
PC-S1数字式立式光学计:
详细介绍: | |||||||||||
产品介绍: 本仪器是一般是用标准器(如量块)以比较法测量工件的尺寸。已可对五等量块、量棒、钢球、线形及平行平面状精密量具和零件的外型尺寸作精密测量;本仪器头部亦可作为一个独立体,在科研、生产过程控制及在线检测等方面,对被测件作微小位移测量。 产品特点: 技术参数: 被测件最大长度: 180mm 测量范围: +/-0.1mm 最小显示值: 0.0001mm 测量力: (2+/-0.2)N 示值变动性: 0.0001mm 最大不度: +/-0.00025mm 体积: 300×170×410mm 重量: 18kg
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被测件最大长度 | 180mm |
测量范围 | ≥±0.1mm |
最小显示值 | 0.0001mm |
测量力 | (2 ± 0.2)N |
示值变动性 | 0.0001mm |
最大不确定度 | ±0.00025mm |
仪器体积 | 300×170× 410 mm |
仪器重量 | 18㎏ |
读数方式 | 数字显示 |
标准配件 | 可调带筋园台 可调园平台 带筋固定方台 平面测帽φ2 平面测帽φ8 小球面测帽 刃形测帽 |
数字式立式光学计 JDG-S1
JDG-S1 数字式立式光学计是一般是用标准器(如量块)以比较法测量工件的尺寸。主要用于对五等量块,量棒,钢球,线形及平行平面状精密量具和零件的外形尺寸作精密测量 202-AB-1 202-A-1 202-1 202-AB-1 202-A-1 202-1 202-AB-0 202-A-0 202-0 202-AB-00 202-A-00 202-00 DZF6050 101-AB-4 101-4-A 101-4 101-AB-3 101-A-3 101-3 ,本仪器头部亦可作为一个独立体,在科研,生产过程控制及在线测量等方面,对被测件作微小位移测量,及对非金属如:薄膜、纸张等的厚度测量。技术参数:1、被测件最大长度:180 mm2、直接测量范围:≥±0.1mm3、最小显示值:0.1 μm4、测量力:(2±0.2) N 5、示值变动性:0.1 μm6、最大不准确度:±0.25 μm7、读数方式:数字显示8、最大测量误差:±(0.5+L/100)μm ,L是被测长度,以mm计 9、仪器体积:300×170×410 mm10、仪器重量:18 kg标准配件:1、可调带筋园台 2、可调园平台 3、带筋固定方台 4、平面测帽 Ф25、平面测帽 Ф8 6、小球面测帽 7、刃形测帽
数字式立式光学计 光学纸张厚度检测仪 铝箔薄膜厚度光学测量仪 钢球线形物体厚度检测仪
被测件大长度 | 180mm |
测量范围 | ≥±0.1mm |
小显示值 | 0.0001mm |
测量力 | (2 ± 0.2)N |
示值变动性 | 0.0001mm |
大不确定度 | ±0.00025mm |
仪器体积 | 300×170×410 mm |
仪器重量 | 18㎏ |
读数方式 | 数字显示 |
标准配件 | 可调带筋园台 可调园平台 带筋固定方台 平面测帽φ2 平面测帽φ8 小球面测帽 刃形测帽 |