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万濠rational 纳米白光干涉仪AE-100M

产用途：结合光学显微镜与白光干涉仪功能的扫描式白光干涉显微镜，结合显微物镜与干涉仪、不需要复杂光调整程序，兼顾体积小、纳米分辨率、易学易用等优点，可提供垂直扫描高度达400um的微三维测量，适合各种材料与微组件表面特征和微尺寸检测。应用域包含：玻璃镜片、镀膜表面、晶圆、光碟/影碟、精密微机电元件、平面液晶显示器、高密度线路印刷电路板、IC封装、材料分析与微表面研究等。

产特点:● 纳米深度3D检测● 高速、无接触量● 表面形状、粗糙度分析● 非透明、透明材质皆适用● 非电子束、非雷射的安全量测● 低维护成本

的3D图形处理与分析软体（Post Topo）：● 提供多功能又具友好界面的3D图形处理与分析● 提供自动表面平整化处理功能● 提供高阶标准片的软件自校功能● 深度、高度分析功能提供线性分析与区域分析等两种方式● 线性分析方式提供直接追溯ISO定义的表面粗糙度（Roughness）与起伏度● （waviness）的测量分析。可提供多达17种的ISO量测参数与4种额外量测数据（Wafer）● 区域分析方式提供图形分析与统计分析● 具有平滑化、锐化与数字过滤波等多种二维快速利叶转换（FFT）处理功能● 量测分析结果以BMP等多种图形档案格式输出或是Excel文本文件格式输出

高速精密的干涉解析软件(ImgScan)：● 系统硬件搭配ImgScan处理软件自动解析白光干涉条纹● 垂直高度可达0.1nm● 高速的分析算法则，让你不在苦候测量结果● 垂直扫描范围的设定轻松又容易● 有10X、20X、50X倍率的物镜可供选择● 平台X、Y、Z位置数字式显示，使检测目标寻找快速又便利● 具有手动/自动光强度调整功能以取得佳的干涉条纹对比● 具有高精度的PVSI与高速VSI扫描测量模式供选择● 具有的解析算法则可处理半透明物体的3D形貌● 具有自动补点功能● 可自行设定扫描方向

万濠rational 纳米白光干涉仪AE-100M

技术规格参数：

型号	AE-100M
移动台(mm)	平台尺寸100100 ，行程1313
物镜放大倍率	10X	20X	50X
观察与量测范围(mm)	0.43*0.32	0.21*0.16	0.088*0.066
光学分辨力(μm)	0.92	0.69	0.5
收光角度(Degrees)	17	23	33
工作距离	7.4	4.7	3.4
传感器分辨率	640*480像素
机台重量(kg)/载重kg	20kg/小于1kg
Z轴移动范围	45mm , 手动细调;可订制150mm
Z轴位置数字显示器	分辨力1μm
倾斜调整平台	双轴/手动调整
高度测量
测量范围	100(μm)(400μm ,选配)
量测分辨力	0.1nm
重复精度	≤ 0.1％ (量测高度:>10μm)
	≤10nm(量测高度1μm 10μm)
	≤ 5nm(量测高度:<1μm )
量测控制	自动
扫描速度(μm/s)	12(高)
光源
光源类型	仪器用卤素（冷）光源
平均使用寿命	1000小时100W 500小时（150W）
光强度调整	自动/手动
数据处理与显示用计算机
中央处理运算屏幕	双核心以上CPU
影像与数据显示屏幕	21" 双晶屏幕
操作系统	Win7
电源与环境要求	AC100 －－240 V 50-60Hz
环境振动	VC-C等以上
测量分析软件
量测软件ImgScan	ImgScan测量软件：具VSI/ PVSI/PSI 测量模式（PSI量测模式需另选配PSI模块搭配）
分析软件PosTopo	ISO 粗燥度/阶高分析，快速传利叶转换和滤波，多样的2D和3D 观测视角图，外形/面积/体积分析，图像缩放、标准影像文件格式转换报表输出，程序教导测量等。

万濠rational 纳米白光干涉仪AE-100M

该公司产品分类：干燥机静点测试仪张力计玛芝哈克韩国DONG-DO 亮度计光泽度仪大理石扭力起子插规，深度规蔚仪试验仪器宝禾密仪器系列意大利GIVIMISURE 显微镜瑞士杰恩尔常州首丰影像仪各式千/百分表测头其他仪器仪表污点规，点卡，对比测量推拉力测试仪器

sis智泰白光干涉仪

产品特点：

1 、非接触式测量：避免对象受损。

2 、三维表面测量：表面高度测量范围为 1nm －－-200μm。

3 、多重视野镜片：方便物镜的快速切换。

4 、纳米级分辨率：垂直分辨率可以达到0.1nm。

5、高速数字讯号处理器：实现测量仅需要几秒钟。

6 、扫描仪：采用死循环控制系统。

7、工作台：气动装置、抗震、抗压。

8 、测量软件：基于windows 操作系统的使用者接口，强大而快速的运算。

应用领域：

1、半导体芯片

2、液晶产品（CS,LGP,BIU）

3、微机电系统

4、光纤产品

5、资料存储盘（HDD,DVD,CD）

6、材料研究

7、精密加工表面

8、生物医学工程

机型		SIS 1200	SIS 2000
工作台	尺寸	250 mm×174 mm	350mm×350mm
	倾斜度	±3 °
测量行程		X:150mm Y:100mm	X:200mm Y:200mm
Z轴行程		50mm	100mm
运动方式		手动	自动，马达驱动
扫描速度		30μm/sec
垂直分辨率		0.1 nm
CCD		黑白CCD， 640×480 像素
物镜安装架		手动导引五孔式	手动 5个位移的可定位夹具
镜头选配		镜头：5×、10×、20×、50×

系统参数：

测量技术	增强相位扫描干涉相位移动干涉
放大率	2.5X	5X	10X	20X	50X
视场 (mm)	3.62×2.72	1.81×1.36	0.90×0.68	0.45×0.34	0.18×0.13
横向分辨率	4.72μm	2.72μm	1.18μm	0.88μm	0.64μm
控制器	计算机
软件	i2000SNU Map Windows 2000环境下运行
扫描仪	死循环控制
抗震工作台	气动装置

SIS 2000自动白光干涉仪

SIS 2000基本信息

品牌：	SNU	型号：	SIS 2000	操作方式：	自动
功能：	检测、观察、分析	精度：	1nm
其它型号：	SIS 1200

SIS 2000产品特点

1、非接触式测量：避免物件受损。2、三维表面测量：表面高度测量范围为1nm-200μm。3、多重视野镜片：方便物镜的快速切换。4、纳米级分辨率：垂直分辨率可以达到0.1nm。5、高速数字信号处理器：实现测量仅需要几秒钟。6、扫描仪：采用闭环控制系统。7、工作台：气动装置、抗震、抗压。8、测量软件：基于windows 操作系统的用户界面，强大而快速的运算。

SIS 2000技术参数

机型		SIS 2000
工作台	尺寸	350mm×350mm
	倾斜度	±3 °
测量行程		X:200mm Y:200mm
Z轴行程		100mm
运动方式		自动，马达驱动
扫描速度		30μm/sec
垂直分辨率		0.1nm
CCD		黑白CCD， 640×480 像素
物镜安装架		手动 5个位移的可定位夹具
镜头选配		镜头：5×、10×、20×、50×

SIS 2000应用领域

1、TFT产业2、半导体3、MEMS4、高校科研5、精密加工

CCI6000英国原装进口Talysurf CCI系列白光干涉仪表面轮廓仪

Talysurf CCI 6000白光干涉仪随着科技潮流,非接触式的量测至今已被广泛的应用在生产及研发上，而Taylor Hobson经多年的研发于2003年初推出的Talysurf CCI 6000白光干涉仪可堪称目前世界上精度最高功能最强的白光干涉仪，,其超高解析度的特性（0.1Å），可以运用在量测晶圆，微机电及抛光元件等产品的粗糙度平面度及膜厚分析等，而非破坏性的特性更可以有效的量测软性物质，在迈入奈米纪元同时相信Talysurf CCI 6000绝对是各大企业不可少的量测系统。 Talysurf CCI 6000白光干涉仪： &解析度（Z轴） 0.01nm （0.1Å） &测量范围（Z轴） 100um &测量范围（X x Y） 0.36mm x 0.36mm ~ 7.2mm x 7.2mm（依物镜倍率不同可自由选择） &1024 x 1024 高解析量测点数 &受测物的反射率 0.3% - 100% （透明物亦可量测）硬件及软件 &气浮式防震系统已隔绝楼板震动‧隔离罩以隔离外在环境避免影响量测精度 &相容于Windows 2000及 Windows XP 系统 CCI干涉仪 Mirau 干涉白光干涉仪3D分析软件 &Talymap 3D & 2D 分析软体。 &可分析项目: 粗度平面度波纹膜厚体积计算承压比值等等。 &微机电尺寸计算（距离高度等计算）‧表面频谱分析（FFT） MEMS Sensor Optics Diamond Turned& Wafer Step Talysurf CCI 6000白光干涉仪应用： &MEMS 微小尺寸计算 &Silicon Wafer 表面粗度平面度 &非球面镜表面粗糙度 &硬碟光碟表面组织形状 &OLED PDP LCD 膜厚分析计算

该公司产品分类：尼康卡规、角度尺、水平仪步距规、量块、测厚规测长仪数码工程打印机其他各种常用量具数显表、百分表、杠杆表卡尺、千分尺、微分头材料试验机除锈油美国施泰力东京精密三坐标测量机涂层测厚仪镀层测厚仪测量投影仪、影像测量仪电子天平、水分测试仪色差、光泽计齿轮测量仪显微镜、内窥镜

供应张家港常熟靖江扬州厂家二次元三次元白光干涉仪

供应张家港常熟靖江扬州厂家二次元三次元白光干涉仪智泰集团南通办事处主要从事光学影像量测仪、三维激光抄数机、光谱仪、无损探伤仪、白光干涉仪、三坐标测量仪和投影仪在苏北地区的销售和售后服务。同时也承接各种精密测量仪器技术咨询,测量仪维修,改造服务。公司生产的仪器广泛应用于机械加工、汽配、摩配、制冷、家电、厨具、电机、电动工具、轴承、精密五金、精密工具、刀具、模具、冲压制品、光学元件、塑胶制品等行业。可测轴承套圈、滚针、滚子、钢球、电机轴、电机换向器（整流子）、花键轴、齿轮轴、凸轮轴、曲轴、圆柱销、活塞销、活塞、缸套、气门、阀门、齿轮、凸轮、油泵油嘴、液压件、气动件、纺机配件等工件相关参数；适用于科研院所、大专院校、计量机构和企业计量室、车间在线检测等。我公司产品使用范围广,成立十年来一直畅销于各行各业. Super View超大行程系列基本信息品牌： 3DFAMILY 型号： SV1200 操作方式：自动功能：三维测量精度： 4.5μm 软件： OVM Pro其它型号： SV1500 SV1000

产品介绍 Super View超大行程系列量测仪是3DFAMILY又一创新力作，产品拥有多项专利设计，弥补了目前市场上销售各品牌大行程机型的多项缺陷。产品特点1、采用流线型外观，减少运行时的阻力，提率。2、模块化设计，超大行程移动桥架式结构，运行性能稳定，且机构稳定不变形。3、的低阿贝误差，测量精度大幅度提升。4、日本三洋伺服马达，X、Y轴加装德国高减速比减速机减少马达负载、提高运行速度使运行速度快、稳定。5、Y轴同步传动X轴硬件闭环结构，确保运行时不会出现左右偏摆或甩尾的现象。技术参数　具体型号 SV-1200测量行程（X/Y/Z） 1000×1200×200（mm）机台尺寸（长/宽/高） 1800×2500×1500（mm）机台承重 20KG机台底座、立柱和横梁材料为高精度花岗石光源材质 LED冷光源精度（4.5+L/200）?m放大倍率光学放大率：0.7X-4.5X，影像放大率：28X-180X光学尺解析度 1?m重复性 4.5?m操作方式自动显示器 17"液晶电源供给 220±10%适宜温度、湿度温度：20±2℃ 湿度：55%-65%保修期一年应用领域大型钣金件、PCB板及目前最热门的TFT产业的刀模、背光板、绝缘材料、面版、边框行业等附件CCD、镜头、光学尺、LED冷光源、OVM Pro软件等

德国BMT WLI白光干涉仪

采用ACM 600 共焦显微镜可对物体的表面和结构进行非接触式的测量，评估和显示。装配不同的显微物镜，测量视场大小和精度也不同。视场的扩展可通过钉合的方式来实现。 ACM 600 使用特殊的微透镜扫描盘，使采集的单个测量点相互平行。ACM 600目前是商业化的采用微透镜扫描盘的仪器。与尼普科夫扫描盘相比，微透镜扫描盘使光学系统反应快速，所以即使暗淡的表面也能够获得良好的测量结果。它的另外的独特之处在于采用了LED作为光源，避免了使测量头发热，因而它的寿命几乎可以视为无限长。仪器配备了物镜切换盘，可以快速转换物镜。检测物件的设定和测量全过程可以通过一个独立的监视器观察。测量软件基于Windows XP操作系统编制，并提供所有标准的评估程序。仪器结构紧凑，耐用，特别适用于工业用途。在微透镜扫描盘自动伸出后，仪器可作为普通的显微物镜使用。

主要用途：

粗糙和光滑表面的测量和显示

亚微米范围内的微观形貌测量

金相测量

非接触式表面轮廓的计量主要特点0,1mm2到0,7mm2视场采用钉合方式扩大视场

配置物镜切换盘

确定垂直分辨率来设定测量时间

横向分辨率可达1祄，垂直分辨率可到5 nm 具有采用微透镜扫描盘的快速光学系统

全自动数据评估

实验室和在线两用设计主要优点：

高保真轮廓复现，对物体三维结构快速，非接触式的定性和量化

测量结果与材料表面性能无关

根据用户需求配置系统和软件无人干预全自动测量过程

将微透镜扫描盘自动伸出后可作为普通的显微物镜使用

采用压电驱动或步进电机进行垂直扫描软件:Windows XP 操作系统测量和评估软件包括下列功能：

水平调整，图像缩放，轮廓线的提取，毛刺的剔除, 过滤，数学计算，FFT，ACF，2D/3D 粗糙度参数，面积的测定，斜度和波度的分布状态及其它。用户特定要求的计算方法

技术数据：

共焦显微镜头标准规格配置50x/0.8物镜带有微透镜扫描盘的扫描共焦传感器

光源: LED

寿命 h: > 50,000小时

采用步进电机时的测量范围mm：50mm

采用压电执行器件时的测量范围µm: 100/150µm

垂直分辨率 nm: 5nm

横向分辨率µm: 1µm

工作距离mm: 0.66mm

视场µm: 370 x 280µm

256个高度台阶的测量时间s: 约 30秒

重量kg：约12kg

测量工作台

X、Y、Z每轴位移mm: 50mm

最小步距µm : 1µm

该公司产品分类： Pace金相加工设备太阳能电池测试仪器无损检测仪器实验室耗材，配件等德国BMT 汽车零部件检测仪器德国天顶天底仪 X射线荧光光谱仪三坐标测量仪原子力显微镜AFM探针台阶仪探针原子力显微镜光学轮廓仪台阶仪

白光干涉仪

白光干涉仪:非接触式三维表面形状测量仪可以沿垂直轴方向对被测物体进行扫描，它采用光学干涉技术，精密测量样品的表面形状分布。与共聚焦显微镜、调焦显微镜等三维表面测量技术相比，该表面形状测量仪具有更高的垂直分辨率。

Sunny VSI三维表面形状测量仪可安装在配套的三维数控平台上，实现横向扫描。

系统构成1）光学照明系统2）光学成像系统3）垂直扫描控制系统：4）信号处理系统：5）应用软件：6）显示器

应用领域LED晶片基板测量表面粗糙度/平整度分析硬盘悬臂焊接点的直径测量太阳能电池纹理缺陷检测

参数白光干涉仪型号 Sunny VSI 垂直测量分辨率 0.05um 横向测量分辨率 2.767um/plxels 图像分辨率 768*576 plxels 扫描体积 2.125mm*1.593mm*100um 均方根值重复精度 <0.5nm

白光干涉仪网址 www.-china.com

该公司产品分类： UNION显微镜元件表面温度测试渗透探伤纳米CT 芯片推拉力测试仪激光测振仪

WLIRing德国BMT WLIRing 白光干涉仪

德国BMT WLIRing 干涉仪

德国BMT WLIRing 干涉仪该测量系统用于快速准确测量圆柱形工件的表面形貌，计算粗糙度参数，微型结构，及内外部表面特征。

特点

l 对内外层都可进行测量

l 光滑粗糙表面都可进行测量

l 测量结果不受工件的颜色和材料影响

l 数秒内进行快速测量

l 用于在线测量的OEM测量头

技术参数

测量头

l 光源：LED

l 垂直分辨率（nm）：<1

l 水平分辨率（μm）：≥1

l 焦距，大约（mm）：1

l 测量区域的尺寸：由物体决定

l 图像尺寸（Pixel）：1000×1000

移动平台

l Z轴（mm）：10～50

l 步进速度（μm/min）：1

该公司产品分类：白光干涉测厚仪硬度计拉力试验机片剂硬度仪反应釜、反应器润滑油检测仪光学计量仪器在线流量计火焰蔓延性能测定仪热防护（辐射）性能测定仪抗融仪热传导性能测定仪燃烧试验箱在线粘度计导热仪、热导仪粘度计金属检测机其它行业专用介电常数测定仪光学表面分析仪

白光干涉仪AE-100M/万濠白光干涉仪

产用途：结合光学显微镜与白光干涉仪功能的扫描式白光干涉显微镜，结合显微物镜与干涉仪、不需要复杂光调整程序，兼顾体积小、纳米分辨率、易学易用等优点，可提供垂直扫描高度达400um的微三维测量，适合各种材料与微组件表面特征和微尺寸检测。应用域包含：玻璃镜片、镀膜表面、晶圆、光碟/影碟、精密微机电元件、平面液晶显示器、高密度线路印刷电路板、IC封装、材料分析与微表面研究等。

产特点:● 纳米深度3D检测● 高速、无接触量● 表面形状、粗糙度分析● 非透明、透明材质皆适用● 非电子束、非雷射的安全量测● 低维护成本

的3D图形处理与分析软体（Post Topo）：● 提供3D图形处理与分析● 提供自动表面平整化处理功能● 提供高阶标准片的软件自校功能● 深度、高度分析功能提供线性分析与区域分析等两种方式● 线性分析方式提供直接追溯ISO定义的表面粗糙度（Roughness）与起伏度● （waviness）的测量分析。可提供多达17种的ISO量测参数与4种额外量测数据（Wafer）● 区域分析方式提供图形分析与统计分析● 具有平滑化、锐化与数字过滤波等多种二维快速利叶转换（FFT）处理功能● 量测分析结果以BMP等多种图形档案格式输出或是Excel文本文件格式输出

高速精密的干涉解析软件(ImgScan)：● 系统硬件搭配ImgScan处理软件自动解析白光干涉条纹● 垂直高度可达0.1nm● 高速的分析算法则，让你不在苦候测量结果● 垂直扫描范围的设定轻松又容易● 有10X、20X、50X倍率的物镜可供选择● 平台X、Y、Z位置数字式显示，使检测目标寻找快速又便利● 具有手动/自动光强度调整功能以取得佳的干涉条纹对比● 具有高精度的PVSI与高速VSI扫描测量模式供选择● 具有的解析算法则可处理半透明物体的3D形貌● 具有自动补点功能● 可自行设定扫描方向技术规格参数：

型号	AE-100M
移动台(mm)	平台尺寸100100 ，行程1313
物镜放大倍率	10X	20X	50X
观察与量测范围(mm)	0.43*0.32	0.21*0.16	0.088*0.066
光学分辨力(μm)	0.92	0.69	0.5
收光角度(Degrees)	17	23	33
工作距离	7.4	4.7	3.4
传感器分辨率	640*480像素
机台重量(kg)/载重kg	20kg/小于1kg
Z轴移动范围	45mm , 手动细调
Z轴位置数字显示器	分辨力1μm
倾斜调整平台	双轴/手动调整
高度测量
测量范围	100(μm)(400μm ,选配)
量测分辨力	0.1nm
重复精度	≤ 0.1％ (量测高度:>10μm)
	≤10nm(量测高度1μm 10μm)
	≤ 5nm(量测高度:<1μm )
量测控制	自动
扫描速度(μm/s)	12(高)
光源
光源类型	仪器用卤素（冷）光源
平均使用寿	1000小时100W 500小时（150W）
光强度调整	自动/手动
数据处理与显示用计算机
中央处理运算屏幕	双核心以上CPU
影像与数据显示屏幕	17 " 双晶屏幕
操作系统	Windows XP(2)
电源与环境要求	AC100 －－240 V 50-60Hz
环境振动	VC-C等以上
测量分析软件
量测软件ImgScan	ImgScan测量软件：具VSI/ PVSI/PSI 测量模式（PSI量测模式需另选配PSI模块搭配）
分析软件PosTopo	ISO 粗燥度/阶高分析，快速传利叶转换和滤波，多样的2D和3D 观测视角图，外形/面积/体积分析，图像缩放、标准影像文件格式转换报表输出，程序教导测量等。

该公司产品分类：干燥机静点测试仪张力计玛芝哈克韩国DONG-DO 亮度计光泽度仪大理石扭力起子插规，深度规蔚仪试验仪器宝禾密仪器系列意大利GIVIMISURE 显微镜瑞士杰恩尔常州首丰影像仪各式千/百分表测头其他仪器仪表污点规，点卡，对比测量推拉力测试仪器

SuperView W1光学3D表面轮廓仪，白光干涉仪，非接触式三维表面轮廓仪

一、产品描述

获取报价请电议，或者访问中图仪器与我们取得联系，http://www.chotest.com　　SuperView W1 1200光学3D表面轮廓仪是一款用于对各种精密器件表面进行亚纳米测量的检测仪器。它是以白光干涉技术为原理、结合精密Z向扫描模块、3D 建模算法等对器件表面进行非接触式扫描并建立表面3D图像，通过系统软件对器件表面3D图像进行数据处理与分析，并获取反映器件表面质量的2D、3D参数，从而实现器件表面形貌的3D测量的光学检测仪器。

SuperView W1 1200光学3D表面轮廓仪只需操作者装好被测器件，在软件测量界面上设置好视场参数，调整镜头到接近器件表面，选择自动聚焦，仪器会对器件表面进行自动对焦并找到干涉条纹，调节好干涉条纹宽度后即可开始进行扫描测量；扫描结束后，软件分析界面自动生成器件3D图像，操作者可通过软件对生成的3D形貌进行数据处理与分析，获取表征器件表面线、面粗糙度和轮廓的2D、3D参数。

SuperView W1 1200 光学3D表面轮廓仪采用光学非接触式测量方法，它具有测量精度高、使用方便、分析功能强大、测量参数齐全等优点，其光源模式保证了它能够适用于从光滑到粗糙等各种精密器件的表面质量检测。

系统软件为简体中文操作系统，操作方便。

二、产品功能

1．行业域和应用对象

对各种产品、部件和材料表面的平面度、粗糙度、波纹度、面形轮廓、表面缺陷、磨损情况、腐蚀情况、孔隙间隙、台阶高度、弯曲变形情况、加工情况等表面形貌特征进行测量和分析。

该公司产品分类：粗糙度轮廓仪晶圆形貌测量系统测长机台阶仪图像尺寸测量仪晶圆形貌测量系统半导体业检测设备显微尺寸测量仪测长机一键闪测仪光学影像测量仪二次元影像测量仪机床测头在机测量系统激光测长机光栅测长机三坐标测量机激光干涉仪激光跟踪仪激光测量仪