广东正业提供CMI900镀层测厚仪,CMI700涂层镀层测厚仪,CMI500铜厚测厚仪,CMI165等涂镀层测厚仪,元素分析仪,无损检测测厚仪.广东正业中国大陆的牛津仪器一级代理,专业销售维修:X-STRATA960,980等各种型号涂镀层测厚仪,拥有一支经验丰富的服务团队,为客户提供及时,的售前/售后服务和技术支持。
CMI900用于镀层厚度测量以及分析镀层金属成分、镀液,是一款专用镀层测厚仪、(印制线路板之金/镍、锡/铅、锡/银等)的非破坏性精确测量及材料成分分析。
CMI900镀层测厚仪用途:
1.多镀层金属厚度测
2.合金鉴定及化学分析
3.电镀液分析
4.金成色分析
CMI900镀层测厚仪特征:
应用X射线荧光原理测量,精确度高且不破坏样品。
NIST(美国国家标准和技术学会)的标准片。
CMI900系列膜厚测试仪能够测量多几种形状,各种尺寸的样品;并且测量点最小可达0.025×0.051毫米。
CMI900系列采用开槽式样品室,以方便对大面积线路板样品的测量。它可提供五种规格的样品台供用户选择用,分别为:标准样品台,XY轴固定,Z轴自动控制;扩展型标准样品台,XY轴固定,Z轴自动控制;可调高度型标准样品台,XY轴手动控制、Z轴自动控制;程控样品台,XYZ轴自动控制;超宽程控样品台,XYZ轴自动控制。
CMI900镀层测厚仪技术参数:
项目 | 规格 |
测量元素 | 22(TI)-92(U) |
测量层数 | 5层(4层镀层+基材层) |
X射线管功率 | 50W |
X射线管靶材 | 钨 |
最大可安装准直器数量 | 6个 |
外形尺寸 | 305×711×356mm(标准台) |
CMI900 无损电镀 膜厚测试仪,镀层测厚仪 专业测量金、银 钯 銠 镍 铜 锡 等贵金属多镀层膜厚测量,快速 无损,业内广受好评,客户应
用广泛在 五金 连接器 PCB LED支架等行业以形成行业测量的标准。欢迎广大五金连接器客户联系 测量量样品 洽谈往来 本公司经营多年工程师经验丰富,商业合作个方式灵活。
CMI900膜厚仪,镀层测厚仪,金属镀层测厚仪,CMI测厚仪,牛津测厚仪,膜厚测试仪 Xray金镍测厚仪 金价高位时代,你还吃得消吗?镀金厂家成本控制的选择! 采用无损检测方法测厚既不破坏覆层也不破坏基材,检测速度快,故能使大量的检测工作经济地进行。以下分别介绍几款常规测厚仪器。在电镀原料价格飞涨的 无损金属镀层测厚仪 是提高产品品质,降低产品成本的理想选择。
金属镀层厚度测量, 例如Zn;Cr; Cu; Ag; Au;Sn等 合金(两样金属元素)镀层厚度测量, 例如: SnPb; ZnNi; 及NiP(无电浸镍)在Fe上等 合金(三檬金属元素)镀层厚度测量, 例如: AuCuCd在Ni上等 双镀层厚度测量, 例如:Au/Ni在Cu 上; Cr/Ni在Cu上;Au/Ag在Ni上;Sn/Cu在黄铜上等 双镀层厚度测量(其中一层是合金层), 例如: SnPb/Ni或Au/PdNi在青铜上等 三镀层, 例如: Cr/Ni/Cu在塑胶或在铁上
PCB LED 连接器等行业 gold flash/ Nip / Cu 或 Au / Pdni / Cu ~~ Ag / Ni / Cu / Ni / Cu 等常见应用
应用域
江苏天瑞仪器股份有限公司是具有自主知识产权的高科技企业,注册资本23088万。旗下拥有北京邦鑫伟业技术开发有限公司和深圳市天瑞仪器有限公司两家资子公司。总部位于风景秀丽的江苏省昆山市阳澄湖畔。公司业从事光谱(ROHS检测机、ROHS测试仪器、EDX1800B、X荧光测厚仪、矿石分析仪、合金分析仪、电镀金镍测厚仪,便携式光谱仪、电感耦合等离子体光谱仪ICP)、色谱、质谱(气相色谱质谱联用仪GCMS、液相色谱质谱联用仪LCMS、电感耦合等离子体质谱仪ICPMS)等分析测试仪器及其软件的研发、生产和销售。
公司被授予 “家火炬计划重点高新技术企业”,“江苏省高新技术企业”,“江苏省软件企业”,“江苏省科技创新示范企业”,“江苏省规划布局内重点软件企业”,“江苏省光谱分析仪器工程技术研究中心”等荣誉称号。产品具有际先的技术水平,X荧光光谱仪系列产品被认定为“家重点新产品”和“江苏省高新技术产品”。产品品种齐,为环境保护与安、工业测试与分析及其它域提供业解决方案。
金镍测厚仪又称无损镀层测厚仪,牛津生产的金镍测厚仪x-stara920主要应用于电镀 表面处理等行业 单层 多层 金属镀层厚度的测量 最多可一次性测量五层镀层厚度 多镀层一次测量出结果,避免直接接触或破坏被测物。快速 无损 准确 广泛使用于 五金 PCB 连接器 LED 卫浴 通讯 电池触点 电脑、仪表、汽车、家电以及数控机床等高科技电子领域行业等电镀领域。金镍测厚仪x-stara920主要用于镀层或涂层厚度的测量,而且特别适合于对微细表面积或超薄镀层的测量。利用x射线原理,对被测样品发射一束一次X射线,样品的原子吸收X射线能量后被激发并释放出二次X射线。每个化学元素会释放出特定能量的X射线,通过测量这些释放出的二次X射线的特征能量和强度,镀层测厚仪就能够对被测材料的镀层厚度和成份提供定性和定量分析。金镍测厚仪x-stara920特点:可测元素:钛Ti22---铀U92间各元素;可测镀层:5层镀层(含基材层),15种元素共存校正;测量时间约10秒,快速得出测量结果;测量结果精确到微英寸;测量结果报告可包含:数据、被测样品点图片、各种统计报表、客户信息;提供贵重金属分析和金纯度检查(即Au karat评价);提供NIST认证的标准片;享有全球的服务与支持。金镍测厚仪x-stara920测厚范围:取决于具体的应用。 金镍测厚仪x-stara920测量精度:膜厚≤20µin(0.5um)时,测量误差值为:第一层±1µin,第二层±2µin,第二层±3µin膜厚>20µin(0.5um)时,测量误差值为:第一层±5%,第二层±10%,第二层±15%牛津生产金镍测厚仪x-stara920可检测多层镀层元素的厚度,同时也可以分析镀层金属元素的成分。