金相工具显微镜QI-U系列本机特性:◆ 该系统设备一款通用型落射照明器,它可以满足各种观察需求,如明场,暗场,简易偏光,DIC以及落射荧光。根据工作或观察目的,可以选购高亮度12V-50W卤素灯光源何白色LED光源◆ 这是一个基于一个不仅能测量长度,还能通过目镜的观测来检查表面的处理状态或其他要素的显微镜的高附加值系统◆ 带有闪烁抑制的新光学系统可在大视野范围内产生清晰的正像(2X:与常规产品相比,能减少了80%的闪烁)◆ 在一台显微镜中集成了金相显微镜和测量显微镜功能,能提供高分辨率观察和高精度测量◆ 在立柱两侧标配Z轴粗/微调手柄,可进行精准调焦何观察/测量◆ 可选配置视像装置等多种选件,使标准测量显微镜更具魅力应用:半导体封装,焊接贴片,环路高度,FPD面板(LCM),MEMS,晶片级CSP,硬盘滑行磁头仪器型号 MM-U400 MM-U800X/Y/Z测量行程 200*100*150 300*200*200Z轴移动 手动/电动 手动/电动Z轴线性光学尺 内置 内置光学头 日本尼康、奥林巴斯金相光学头选配分 辩 率 0.001/0.0001 0.001/0.0001目镜 10X物镜 10X、20X、40X、100X 选配测量精度 (2+L/200)um,L=测量长度(单位:mm)重 复 性 2um 2um载重量 15Kg 15Kg光源 LED同轴光照明器外 形 尺 寸 1000*600*1400mm 1200*720*1600mm机 身 重 量 100kg 120kg工作台底座 工作台铸铁采用天然失效处理,配合瑞士进口SCHNEEBERGER导轨
德国乌尔公司(Walter Uhl techn. Mikroskopie GmbH & Co.KG)是生产测量显微镜的专业厂家,位于德国黑森州光学城Wetzlar – Asslar。乌尔公司历史,1943年开始生产显微镜和精密机械部件,拥有世界范围各个领域的广泛用户.乌尔公司有自己的产品设计,软件设计,精密测量台加工和客户服务整体团队.主要产品为MS摄像测量显微镜系列,VMM测量显微镜系列,显微镜另部件供应和特殊测量系统。乌尔公司2000年收购了莱卡(Leica Microsysteme)测量显微镜,将莱卡的测量显微镜生产转移到了Asslar,改进后成为的UHL VMM测量显微镜系列。
模块式设计 – 满足每一个用户的需求 |
l 工 业:机器设备制造,汽车工业,航空航天,电子半导体,精密机械,光学,医学
l 研 究: 科研工程和高等院校
l 实验室: 检验和鉴定实验室,刑事技术实验室
l 应 用: 质量控制,零件加工,产品研发,工具制造,成型制造,材料技术
l 检 验: 张力和非张力产品,弯曲和冲压零件,喷铸零件,电机和驱动零件,螺纹,刀具,电子器件,教学,光栅尺,医学组织
l 功 能: 长度和角度测量,轮廓测量,膜层厚度测量,材料分析,材料断裂分析
l 材 料: 金属,塑料,陶瓷,玻璃,橡胶
基本机械结构: |
l 沉稳结实的铸铁机身
l 极高的测量稳定性,对温度变化最小的敏感
l 极稳定的测量台,滚柱轴承导轨
l 的工作台承受
l 测量台测量范围(X/Y):150X100,250X150 mm
l 测量台快速定位,解除锁定,可手动任意移动和便捷精调测量台,可选电机驱动测量台
测量系统: |
l 光电测量系统,增量钢质光栅尺,分辨率 0.0001 mm
l 可选择Z-轴数字测量系统,测量范围 150 mm
l 极小的误差高精度测量
l PTB的标定标准,按照VDI/VDE 2617 验证的定位精度
光学系统: |
l 远焦平场TELEPLAN测量物镜用于长度和形状测量
l 显微荧光物镜PLAN FLUOR 用于表面分析,如金相分析
l 远心光路的物镜意味着,即使没有聚焦在被测零件上,所成像的大小也不改变- 这是高精密测量绝对必要的前提。
l 物镜具有的光学质量,的校正,平场无畸变的成像–所有物镜由莱卡LEICA设计
l 大的工作距离适合测量高的零件
l 物镜更换便捷,物镜转盘接口
l 摄像头接口,用于图象处理
l 双目观察
l 明场和暗场图象观察,可选偏振光源,相差干涉条纹对比(DIC)
光 源: |
l 外部卤素冷光源 30 – 250W
l 光纤导线
l 照明方式:透射,反射,倾斜照明和环形照明
l 金相分析:明场,暗场,干涉条纹对比和偏振
l ·OMS测量软件
OMS 测量软件灵活易学, 2维测量, 与手动或电动测量显微镜连接使用.
适合实验室或生产环境使用, 测量原始样本,中小批量生产.
最强的软件功能: 不需要手算的测量
以3至50个点测量圆的直径
直角图形极坐标系
可编程控制测量过程( 最多250个测量步骤)
任意选择坐标零点
树结构目录: 连接几何图形的不同元素
直接用鼠标在屏幕上确定测量点
在测量报告中实时显示测量结果
操作方便易学,自动寻找确定边沿,可编程控制测量过程
可设置相匹配的直角,圆,网格屏幕图案, 进行快速观察控制