技 术 参 数 |
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PRO CMM光学跟踪仪
PRO CMM系统是使用现代的高速摄影测量概念的实时光学跟踪仪。PRO CMM系统一次安装测量范围可达6米,并以微米级别的精度在整个量程内进行测量。
DPR动态参考系统 自动补偿工件和追踪系统的任何运动。持续监控附在工件上的目标,生成一个当地参考系统,确保相对于工件的探针坐标。现在您可以在整个检测过程中自动调校工件以消除测量漂移和误差。可以在不稳定的环境中操作可以自动补偿振动误差可以克服由于热效应引起的校准变化可以补偿移动悬挂载荷可以不固定测量可以对工件或追踪系统重定位
MSP多面测头 MSP多面测头在测量时可以不管测头的方向性。当附加一个预校准的雷尼绍测针时,您能容易的在任何地方在测量机的测量范围内测量可见或隐藏的特征。MSP也可以连接激光扫描头或者安装在刚体上做6自由度(6DOF)跟踪测量。PRO CMM 系列产品包含的高级测量解决方案可确保在车间的任何地方进行精确的测量。
精度与测量范围
| Model 1000 | Model 2000 | Model 3500 |
测量范围 | 1.5m to 4.5m (10m3) | 1.5m to 6m (20m3) | 1.5m to 7.5m (35m3) |
单点精度 | 最高 20 µm | 最高20 µm | 最高20 µm |
体积精度* | 80 µm + 2.5L/100 | 95 µm + 2.5L/100 | 100 µm + 2.5L/100 |
实测精度 | 最高35 µm | 最高35 µm | 最高35 µm |
光学跟踪仪 | |
外形尺寸 | 1157mm L x 230mm W x 175mm H |
重量 | 24kg |
电源输入 | 100-240 VAC, 50/60 Hz, 1.0A |
操作温度 | 10°C to 35°C |
MSP多面测头 | |
外形尺寸 | 185mm L x 185mm W x 105mm H |
重量 | 200g |
跟踪目标 | 25 |
软件
PRO CMM光学跟踪仪整合了工业上处于领导地位的第三方检测与扫描软件。包括:• Delcam: PowerINSPECTwww.delcam.com• Geomagic: Control, Studio, Wrapwww.geomagic.com• Hexagon: Quindoswww.hexagonmetrology.com• InnovMetric: Polyworkswww.innovmetric.com• Metrologic Group: Metrolog X4www.metrologic.fr• MobiGagewww.mobigage.com• New River Kinematics: Spatial Analyzerwww.kinematics.com• Rapid Form: Geomagic Design X, Geomagic Verifywww.rapidform.com• Verisurf: Verisurf X6www.verisurf.com• Zeiss: Calyspo, HOLOS NT
VMT系列光学三坐标影象测量仪(三坐标复合型)
一款高精密度、高度的手/自动测量仪,结合传统光学与数码科学技术,随机配备功能完备的几何量测软件TPM,具有操作简便,速度快,功能齐全,使用范围广,经济性强的特点。影像可直接在屏幕上显示观察,并可直接量测;提供影像自动寻边工具快速寻边;具有超强去毛边功能,可对不规则形状的物件进行量测,消除人为误差。是工具显微镜和投影仪的升级换代产品
产品特点 1. 手摇式操作,可切换快速移动 2. 花岗石底座和立柱 3. 底光和表面光手动可调 4. 量测精度:(3+L/200)μm 5. 英国Renishaw接触式探针 6. 强大易用的OVM+TPM手动版量测软件 适合行业二维抄数、绘图、工程开发、各种精密电子、模具、五金塑胶、PCB板、导电橡胶、螺丝、冲压件、手表、手机等
性能特点:1.Renishaw接触式探针2.前置Z轴手轮,方便操作3.Step Zoom技术,镜头倍率变换不用重新校正4.OVM Pro影像量测软件和TPM三坐标量测软件5.IUI功能,以尽量少的步骤完成量测操作6.半自动学习,批量检测7.SPC功能8.对于圆槽沟,柱,球,锥,盲孔,高度等量测精度高9.测量数据可导入EXCEL,WORD或CAD软件
具体型号 | VMT250 VMT300 VMT400 |
(X/Y/Z轴)量测行程(mm) | 250*150*200 300*200*200 400*300*200 |
全机尺寸(mm) | 800*500*1650 980*620*1650 |
机台底座和立柱材料 | 高精度花岗石 |
光源材质 | LED冷光源 |
X,Y轴量测精度 | (3+L/200)um |
放大倍率 | 光学放大率:0.7--4.5X,影像放大率:28--180X |
光学尺解析度 | 1 um |
重复性 | 2 um |
操作方式 | 手动 |
显示器 | 液晶 |
电源供给 | 110/220V |
合适温度,湿度 | 温度:19°--24°,湿度:45%--75% |
保修期 | 1年 |
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重量:5.5 千克 · 尺寸:1089 x 174 x 119 毫米 · 单点性能 *:45 微米 · 体积性能 *:75 微米 · 测量速度:30 点/秒 · 操作温度范围:15-40 °C · 操作湿度范围(非冷凝):10-90% · 通用电源:100-240 VAC/50-60Hz · 认证:EN 301 489-1、EN 301 489-3、EN 300 220-1 * 测试方法 依照 ASME B89.4.22 标准
详情请参考:http://www.fanoric.com/product_view.asp?id=264