工业近景摄影测量系统XTDP 拍照式三维扫描仪 大型工件尺寸测量 配合三维扫描仪高精度测量检测 系统主要由高性能单反相机、编码标志点、非编码标志点、标尺、计算机及检测分析软件等组成。
0.1 系统特色工业近景摄影测量系统XTDP 拍照式三维扫描仪 大型工件尺寸测量 配合三维扫描仪高精度测量检测
l 国内自主研发的工业近景摄影测量系统
l 高精度的相机标定算法，适用于多种数码相机
l 自主知识产权的核心算法，达到国际先进水平
l 测量范围大：可测量0.3m~30m范围的物体
l 测量精度高：最高精度可达±0.015mm/m
l 测量速度快：拍照方便快速，计算速度快，测量结果三维可视化
l 具备CAD数模对比模块，可用于质量检测
l 具备静态变形测量模块，可测量工件变形数据
l 操作方便：设备不需要事先校正，使用方便，对操作人员无特殊要求
l 适应性强：不受环境及测量范围限制，可在车间或工业现场测量
l 便携式设计：设备轻便，单人可携带外出开展测量工作
l 支持64位系统操作系统，可多线程、多工程运算，计算速度更快。
0.2 系统功能工业近景摄影测量系统XTDP 拍照式三维扫描仪 大型工件尺寸测量 配合三维扫描仪高精度测量检测系统采用近景摄影测量技术，在被测物体上放置编码点及非编码点，通过单反相机围绕被测物体拍摄多张被测物图像，快速检测被测物表面关键的三维坐标、三维位移数据，测量结果三维彩色显示。系统功能主要包括基本测量功能、变形测量功能、数模对比功能、分析报告功能等。具体功能如下：
（1）基本测量功能：
测量幅面：支持几十厘米到几十米的测量幅面
测量相机：支持多种单反、工业相机图像计算
※相机数目：支持单个相机或多个相机图像同时计算，提高大型工件的测量效率
※相机标定：软件具备相机自标定功能，支持多种相机镜头畸变模型
计算模式：具备自动计算和自定义计算两种模式，方便用户灵活操作
※标志点类型：支持10、12、15位编码点，支持黑底白点、白底黑点，更多类型可定制
※变形测量功能：通过多次测量不同变形状态下的观测标志点三维坐标，可以进行关键点三维变形偏差计算和色谱图分析
※数模对比功能：可以对被测工件与CAD数模进行三维几何形状比对
测量结果：包含三维坐标、三维位移等数据，测量结果三维显示
显示设置：三维显示可灵活设置，包括颜色，尺寸等，可显示相机三维位置
※厚度补偿：具备编码点及非编码点厚度自动补偿功能
多工程测量：系统软件支持多工程计算、显示及分析
※多核加速：多核CPU并行运算，提高系统解算速度
支持系统：同时支持32位、64位系统
（2）变形测量功能：
参考模式：基准状态可任意设置，可是状态或者中间状态
对齐模式：支持ID转换、相对关系转换、手动转换等多种状态对齐模式
搜索深度：支持任意指定标志点搜索半径及搜索深度，提高标志点追踪稳定性
分析模式：支持多观察域分析，观察域自由选择
测量结果：包含X，Y，Z三维位移分量及总位移E
结果显示：位移测量结果在三维视图和图像中以射线和色谱形式绘制，真实表达三维点的变形与运动，显示效果可灵活设置
（3）数模对比功能：
※数模导入：支持stl，iges，step等多种数模文件格式
※分析模式：支持多观察域分析，观察域自由选择
检测结果：包含X，Y，Z三维偏差分量及总偏差E
结果显示：三维彩色矢量箭头直观显示偏差结果，显示效果可灵活设置
（4）分析报告功能：
坐标转换功能：321转换、参考点拟合、全局点转换、矩阵转换等多种坐标转换功能
※元素创建功能：三维点、线、面、圆、槽孔、矩形孔、球、圆柱、圆锥
※分析创建功能：点点距离、点线距离、点面距离、线线夹角、线面夹角、面面夹角
屏幕截图功能：具备二维图像及三维图像截图功能，截图自动插入报告
数据输出功能：测量结果及分析结果输出成报表，支持TXT，XLS，DOC文件的输出
（5）扩展接口
※系统扩展：可配合XTOM型三维光学面扫描系统使用，提高大型工件的拼接精度
0.3 技术指标（联 系 方 式： 1 8 0 5 1 1 1 2 9 6 3） XTDP三维光学摄影测量系统，使用普通单反相机（非量测相机），通过多幅二维照片，基于工业近景摄影测量原理，重建工件表面关键点三维坐标。用于对中型、大型（几米到几十米）物体的关键点进行三维测量。与传统三座标测量仪相比，没有机械行程限制，不受被测物体的大小、体积、外形的限制，能够有效减少累积误差，提高整体三维数据的测量精度。可以代替传统的激光跟踪仪、关节臂、经纬仪等，而且没有繁琐的移站问题，方便大型工件测量。系统主要由高性能单反相机、编码标志点、非编码标志点、标尺、计算机及检测分析软件等组成。0.1 系统特色
l 国内自主研发的工业近景摄影测量系统
l 高精度的相机标定算法，适用于多种数码相机
l 自主知识产权的核心算法，达到国际先进水平
l 测量范围大：可测量0.3m~30m范围的物体
l 测量精度高：最高精度可达±0.015mm/m
l 测量速度快：拍照方便快速，计算速度快，测量结果三维可视化
l 具备CAD数模对比模块，可用于质量检测
l 具备静态变形测量模块，可测量工件变形数据
l 操作方便：设备不需要事先校正，使用方便，对操作人员无特殊要求
l 适应性强：不受环境及测量范围限制，可在车间或工业现场测量
l 便携式设计：设备轻便，单人可携带外出开展测量工作
l 支持64位系统操作系统，可多线程、多工程运算，计算速度更快。
0.2 系统功能系统采用近景摄影测量技术，在被测物体上放置编码点及非编码点，通过单反相机围绕被测物体拍摄多张被测物图像，快速检测被测物表面关键的三维坐标、三维位移数据，测量结果三维彩色显示。系统功能主要包括基本测量功能、变形测量功能、数模对比功能、分析报告功能等。具体功能如下：（1）基本测量功能：
测量幅面：支持几十厘米到几十米的测量幅面
测量相机：支持多种单反、工业相机图像计算
※相机数目：支持单个相机或多个相机图像同时计算，提高大型工件的测量效率
※相机标定：软件具备相机自标定功能，支持多种相机镜头畸变模型
计算模式：具备自动计算和自定义计算两种模式，方便用户灵活操作
※标志点类型：支持10、12、15位编码点，支持黑底白点、白底黑点，更多类型可定制
※变形测量功能：通过多次测量不同变形状态下的观测标志点三维坐标，可以进行关键点三维变形偏差计算和色谱图分析
※数模对比功能：可以对被测工件与CAD数模进行三维几何形状比对
测量结果：包含三维坐标、三维位移等数据，测量结果三维显示
显示设置：三维显示可灵活设置，包括颜色，尺寸等，可显示相机三维位置
※厚度补偿：具备编码点及非编码点厚度自动补偿功能
多工程测量：系统软件支持多工程计算、显示及分析
※多核加速：多核CPU并行运算，提高系统解算速度
支持系统：同时支持32位、64位系统
（2）变形测量功能：
参考模式：基准状态可任意设置，可以是状态或者中间状态
对齐模式：支持ID转换、相对关系转换、手动转换等多种状态对齐模式
搜索深度：支持任意指定标志点搜索半径及搜索深度，提高标志点追踪稳定性
分析模式：支持多观察域分析，观察域自由选择
测量结果：包含X，Y，Z三维位移分量及总位移E
结果显示：位移测量结果在三维视图和图像中以射线和色谱形式绘制，真实表达三维点的变形与运动，显示效果可灵活设置
（3）数模对比功能：
※数模导入：支持stl，iges，step等多种数模文件格式
※分析模式：支持多观察域分析，观察域自由选择
检测结果：包含X，Y，Z三维偏差分量及总偏差E
结果显示：三维彩色矢量箭头直观显示偏差结果，显示效果可灵活设置
（4）分析报告功能：
坐标转换功能：321转换、参考点拟合、全局点转换、矩阵转换等多种坐标转换功能
※元素创建功能：三维点、线、面、圆、槽孔、矩形孔、球、圆柱、圆锥
※分析创建功能：点点距离、点线距离、点面距离、线线夹角、线面夹角、面面夹角
屏幕截图功能：具备二维图像及三维图像截图功能，截图自动插入报告
数据输出功能：测量结果及分析结果输出成报表，支持TXT，XLS，DOC文件的输出
（5）扩展接口
※系统扩展：可配合XTOM型三维光学面扫描系统使用，提高大型工件的拼接精度
| 型号:JX204234GD-III光电效应试验仪 | 型号:JX204235GCY-Ⅳ光速测定仪 | 型号:JX204230SZS-ZL夫兰克—赫兹实验仪 |
可用谱线：3650Å 4050Å 4360Å 5460Å 5770Å
本仪器由光学系统和信号处理系统两部分组成，它根据光拍频原理设计，通过光电转换检测，在普通示波器上同时观察和比较两束光的波形和相位，测量光程差和位相差，求得光速。
采用新的分频、触发措施，能在示波器上观察到、清晰的波形。
实验误差＜±5‰(位相差=2n时)
频率≈35MHz
激光管波长：6328Å
功率＞1.5mW
连续工作时间：≥20h
体积：1480×420×270mm3，适合普通桌面