三坐标光学测量仪器 Daisy564三坐标测量仪 三坐标检测 产品相册三坐标光学测量仪器 Daisy564三坐标测量仪 三坐标检测 产品特点
1) 全封闭结构,外形美观紧凑。 2) X、Y、Z三轴导轨均采用行业优质材料,三轴具有相同的温度效应,保证了测量机精度。 3) X横梁采用专利技术。4) 整机采用先进的有限元分析设计,对整机进行结构优化设计。5) 设备设置安装了多重保护功能, 大大提高了设备的使用安全性。6) 采用进口精密光栅系统为测量机提供了准确可靠的长度计量基准,保证了机器测量的重复性;7) 国际一流品牌控制系统,保证运动稳定性。8) 具有误差空间修正技术。9) 可配置自动温度补偿系统。10) 可选择外挂光学等多种附加技术,使得对设备的投资得到最佳的回报。
三坐标光学测量仪器 Daisy564三坐标测量仪 三坐标检测产品尺寸:
三坐标光学测量仪器 Daisy564三坐标测量仪 三坐标检测参数规格
项目 | 参数 | |
示值误差(μm) | DAISY | 2.0+L/300起 |
DAISYHA | 1.3+L/300起 | |
探测误差(μm) | DAISY | 2.2起 |
DAISYHA | 1.3起 | |
测量范围(㎜) | X | 500 |
Y | 600 | |
Z | 400 |
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GLOBAL ADVANTAGE
产品型号: GLOBAL ADVANTAGE 产品说明: GLOBAL ADVANTAGE 测量机,高速、高精度,可以快速而有效地完成任何测量检测任务。GLOBAL ADVANTAGE 的驱动装置运行速度快、平稳且精度高,保证了其测量的快速、有效和精确。对于那些始终需要密切关注生产过程的用户,GLOBAL ADVANTAGE 凭借其卓越的动态性能和一流的精度而成为理想的选择方案。对于高精度箱体类工件的尺寸控制,以及诸如叶片,齿轮,螺旋压缩机转子等复杂几何形状工件的检测,GLOBAL ADVANTAGE 可通过配备高速固定式扫描测头予以实现,这种测头的特点是即便携带超长加长杆也可保证测量精度高且重复性好。对于所有的GLOBAL ADVANTAGE机型,都将以标准配置的方式提供CLIMA 温度补偿系统,借助于该系统,即便在16-26度 的宽温度范围内也可确保一流的精度。
产品特点:精确反映在每一个细节- 计算机辅助设计技术,包括了有限元分析(FEA)和模块化分析,减少了由于结构的变形、振动和温度的变化对于机器的性能造成的影响。- 轻质量的外罩减少了整机的重量,从而提高了效率。- 全铝合金超强刚性的框架。- “精密三角梁”横梁设计提高了整体的刚性。- 质量很大、稳固的花岗石工作台减少了振动。- 获得专利的、经过精密加工整体燕尾导轨,提高了机器的精度和重复性。- 较小的机器支架,减少了机器的高度,便于安装在较为狭小的空间。- 非接触光栅尺避免了摩擦,减少了不确定度误差。- 调制式弹性被动减振系统和气动式主动减振系统。- 用由精密加工的椭圆齿形钢丝增强同步带,减少了在高速扫描情况下的振动- 电机远程放置减少了移动质量,提高了速度,也避免了电机发热对机器性能的影响。- 开敞的测量空间,操作便捷性更好。- 获得专利的气动平衡设计,提高了机器的测量性能- 功能强大的新型控制系统,提供了高加速度及高扫描速度。在线诊断,简化了机器的维护。- 可支持TESASTAR, TESASTAR-i, TP2, TP6, TP20和TP200 触发式测头,以及SP25M,SP600和LSP-X3, LSP-X5 扫描测头,并包括一系列非接触激光/光学扫描测头。探针更换架可支持一系列探针类型,包括星形、盘形和球形探针。- 可配备上下料系统- GLOBAL 测量机可配置CLIMA和ACTIV 实时结构温度补偿系统。
GLOBAL ADVANTAGE 05.07.05
性能指标:最大允许误差MPE(μm),L(mm),τ(s) | 最大三维速度(mm/s) | 最大三维加速度(mms2) | ||||||
测头配置 | 标准温度范围18-22℃ | 扩展温度范围16-26℃ | ||||||
MPEE | MPEP | MPETHP/τ | MPEE | MPEP | MPETHP/τ | |||
TP200 | 1.7+3.0L/1000 | 1.9 | - | 1.9+4.5L/1000 | 1.9 | - | 866 | 4330 |
SP25/SP600 | 1.5+3.0L/1000 | 1.7 | 3.4/120 | 1.7+4.5L/1000 | 1.7 | 3.4/120 | 866 | 4330 |
LSP-X3 | 1.5+3.0L/1000 | 1.5 | 2.5/68 | 1.7+4.5L/1000 | 1.5 | 2.5/68 | 866 | 1300 |
GLOBAL ADVANTAGE 07.10.07
性能指标:最大允许误差MPE(μm),L(mm),τ(s) | 最大三维速度(mm/s) | 最大三维加速度(mms2) | ||||||
测头配置 | 标准温度范围18-22℃ | 扩展温度范围16-26℃ | ||||||
(1)MPEE | (2)MPEP | (3)MPETHP/τ | (1)MPEE | (2)MPEP | (3)MPETHP/τ | |||
TP200 | 1.7+3.0L/1000 | 1.9 | - | 1.9+4.0L/1000 | 1.9 | - | 866 | 4330 |
SP25/SP600 | 1.5+3.0L/1000 | 1.7 | 3.4/120 | 1.7+4.0L/1000 | 1.7 | 3.4/120 | 866 | 4330 |
LSP-X3 | 1.5+3.0L/1000 | 1.5 | 2.5/68 | 1.7+4.0L/1000 | 1.5 | 2.5/68 | 866 | 1300 |
型号 | 行程(mm) | 外型尺寸(mm) | 平台(mm) | 测量空间(mm) | 支撑(mm) | 被测工件最大重量(kg) | 机器重量(kg) | ||||||||||
X | Y | Z | Lx | Lx1* | Ly | Lz | Lz1** | Ph | Py | Dx | Dz | Dz1 | Sy | Sy1 | |||
05.07.05 | 500 | 700 | 500 | 1025 | 900 | 1480 | 2431 | 1728 | 800 | 1190 | 633 | 130 | 680 | 835 | 174 | 227 | 620 |
07.10.07 | 700 | 1000 | 660 | 1250 | 1140 | 1910 | 2696 | 1816 | 700 | 1650 | 826 | 140 | 838 | 950 | 430 | 900 | 1255 |
GLOBAL ADVANTAGE 09.12.08,09.15.08,09.20.08
性能指标:最大允许误差MPE(μm),L(mm),τ(s) | 最大三维速度(mm/s) | 最大三维加速度(mms2) | ||||||
测头配置 | 标准温度范围18-22℃ | CLIMA温度范围16-26℃ | ||||||
(1)MPEE | (2)MPEP | (3)MPETHP/τ | (1)MPEE | (2)MPEP | (3)MPETHP/τ | |||
TESASTAR-P/TP20 | 2.2+3.0L/1000 | 2.2 | - | 2.4+4.0L/1000 | 2.2 | - | 866 | 4330 |
TP200 | 1.9+3.0L/1000 | 1.9 | - | 2.1+4.0L/1000 | 1.9 | - | 866 | 4330 |
SP25 | 1.7+3.0L/1000 | 1.7 | 3.4/120 | 1.9+4.0L/1000 | 1.7 | 3.4/120 | 866 | 4330 |
LSP-X5 | 1.5+3.5L/1000 | 1.5 | 2.5/68 | 1.7+4.0L/1000 | 1.5 | 2.5/68 | 866 | 1300 |
型号 | 行程范围(mm) | 外型尺寸(mm) | Z轴测量长度(mm) | 平台(mm) | 支撑(mm) | 镶嵌件(mm) | 被测工件最大重量(kg) | 整机重量(kg) | |||||||||
X | Y | Z | Lx | Lx1 | Ly | Lz | Lz1 | Dz1 | Dx | Ph | Py | Sy1 | Sy2 | A | |||
09.12.08 | 900 | 1200 | 800 | 1538 | 1457 | 2430 | 3066 | 2148 | 936 | 1039 | 700 | 2030 | 550 | 1100 | 76 | 1300 | 2286 |
09.15.08 | 900 | 1500 | 800 | 1538 | 1457 | 2730 | 3066 | 2148 | 936 | 1038 | 700 | 2330 | 600 | 1200 | 51 | 1500 | 2567 |
09.20.08 | 900 | 2000 | 800 | 1538 | 1457 | 3230 | 3091 | 2148 | 936 | 1039 | 725 | 2830 | 700 | 1450 | 126 | 1800 | 33161 |
GLOBAL ADVANTAGE 12.15.10,12.22.10,12.30.10
性能指标:最大允许误差MPE(μm),L(mm),τ(s) | 最大三维速度(mm/s) | 最大三维加速度(mms2) | ||||||
测头配置 | 标准温度范围18-22℃ | CLIMA温度范围16-26℃ | ||||||
(1)MPEE | (2)MPEP | (3)MPETHP/τ | (1)MPEE | (2)MPEP | (3)MPETHP/τ | |||
TESASTAR-P/TP20 | 2.8+3.0L/1000 | 2.6 | - | 3.1+5.0L/1000 | 2.6 | - | 866 | 4330 |
TP200 | 2.5+3.0L/1000 | 2.2 | - | 2.8+5.0L/1000 | 2.2 | - | 866 | 4330 |
SP25 | 2.2+3.0L/1000 | 2.0 | 4.0/120 | 2.5+5.0L/1000 | 2.0 | 4.0/120 | 866 | 4330 |
LSP-X5 | 2.2+3.0L/1000 | 2.0 | 3.5/68 | 2.5+5.0L/1000 | 2.0 | 3.5/68 | 866 | 1300 |
型号 | 行程范围(mm) | 外型尺寸(mm) | Z轴测量长度(mm) | 平台(mm) | 支撑(mm) | 镶嵌件(mm) | 被测工件最大重量(kg) | 整机重量(kg) | |||||||||
X | Y | Z | Lx | Lx1 | Ly | Lz | Lz1 | Dz1 | Dx | Ph | Py | Sy1 | Sy2 | A | |||
12.15.10 | 1200 | 1500 | 1000 | 1838 | 1757 | 2880 | 3431 | 2307 | 1173 | 1300 | 625 | 2480 | 650 | 1300 | 149 | 1800 | 3792 |
12.22.10 | 1200 | 2200 | 1000 | 1000 | 1757 | 3580 | 3406 | 2282 | 1173 | 1300 | 600 | 3180 | 800 | 1630 | 149 | 2250 | 5679 |
12.30.10 | 1200 | 3000 | 1000 | 1000 | 1757 | 4380 | 3431 | 2307 | 1173 | 1300 | 625 | 3980 | 1000 | 1980 | 24 | 2250 | 7587 |
|
型号 | SV120 | SV130 | SV140 |
量测行程(X/Y/Z) | 200x150x150mm | 300x200x150mm | 400x300x200mm |
外观尺寸(L/W/H) | 600x600x910mm | 700x700x940mm | 750x900x1100mm |
整机重量 | 165kg | 225kg | 465kg |
机台负重 | 20kg | 25kg | 30kg |
床台材质 | 钢质-表面硬化防刮处理 | ||
基座材质 | 花岗石基座 | ||
X/Y精度 | Uxy=3.0+L/150μm | Uxy=3.0+L/150μm | Uxy=3.0+L/150μm |
Z精度 | Uz=3.0+L/100μm | Uz=3.0+L/100μm | Uz=3.0+L/100μm |
X/Y重现精度 | Uxy=3.0 | Uxy=3.0 | Uxy=3.0 |
Z重现精度 | Ux=3.0 | Ux=3.0 | Ux=3.0 |
光学尺分辨率 | | | |
摄影机 | 高分辨率彩色CCD, 768x494 Pixel Array | ||
轮廓光源 | LED,可调整式 | ||
表面光源 | LED环型光源,可调整式,三环光 | ||
镜头 | 无段变倍镜头(0.75~5X) | ||
量测软件 | QM-2800几何量测软件(可选用其它量测软件) |
1.测量测范围: X 轴 500mm, Y 轴 600mm, Z 轴400mm 2.解析读数:英国RENISHAW金属光栅尺 0.001mm 3.精 度: U1= 3+L/200 um 4.全机尺寸: L x W x H (2100 x 1150 x 2300 mm ) 5.工作限重: 最大可承载200KGS 6.机台重量: 1000 KG 7.环境要求: 温 度 -- 20°C ±1.0 C ,相对湿度 -- 60% 8.操作要求: 温度范围 -- 25°C 以内 电 压: 220VAC/60HZ 功 率: 最大190W 9.配 备: 联想品牌电脑,17寸液晶显示器 10.空气压缩机 壹台 B.机台部分 1. 讯号处理电路(R232输出) 2、校验测针用标准球 C、测头部分 英国Renishaw MCP测头 + φ1,2,3mm探针及30mm延长杆各一 D.应用软件部份 3D 量测图形几何软件(三次元测量功能) 1. 可简单的利用KEYIN方式操作 2.操作型态: 学习、执行、校证和编辑,使用者可储存工件程序到微处理器里,可储存 3.校 验: 可校验单测针或多测针 4.量测特性: 基本元素 -- 点、线、圆、球、圆筒、圆锥、中心线、槽、节圆 交 点 -- 线/线、中心线/中心线 对 称 点 -- 两点间之对称点 X,Y,Z 位置 对 称 线 -- 两线间之对称线 距 离 -- 槽宽、段差、壁厚、点/点、线/线、 圆/圆、线/圆、中心线/圆、 球/球、点至参考面、相对距离 方 向 性 -- 垂直度: 线/线、中心线/中心线、螺孔/平面、面/面、圆柱/圆柱,包括 参考长度-- 平行度: 线/线、中心线/中心线、面/面、 包括参考长度-- 同心度
Inspector三座标测量机产品优势:• 完成各种精度等级的几何量计量、品质控制任务 Inspector三座标测量机 可完成多种工业计量应用,如首件和最终件检测、夹具验证和程序控制等,是中小型箱体类工件检测的理想选择。
• 广泛的测头选配支持 Inspector三座标测量机 还提供多款测头、手动和自动测座、测头自动更换架的选项配置。•享有盛誉的PC-DMIS测量软体配备 世界上最多用户专业选择的计量与检测软体PC -DMIS,是inspector测量机的配置PC-DMIS PRO 软体在强大计量功能和使用便捷方面得到了协调。无论是複杂的参数化编程,还是简单地测量直径值,PC-DMIS PRO 软体始终是计量人员的正确选择。并可选支持基于CAD 的各种测量应用。
Inspector 06.*.06, 08.*.06 行程范围、尺寸
Inspector三座标测量机 06.08.06, 06.10.06, 08.10.06, 08.12.06 环境要求:-标准环境温度:18-22℃-环境温度变化:1℃/h - 2℃/24h-温度梯度:1℃/m-相对湿度:25%-75%供气要求:-最小供气压力:5bar-耗气量:150NL/min电源要求:-电压:220V/50Hz-功耗:1500VA
Inspector 三座标测量机04.05.04 环境要求:-标准环境温度:19 - 21 ºC-环境温度变化:1 ºC/h - 2 ºC/24h-温度梯度:1 ºC/m -相对湿度:25 - 75%供气要求:-最小供气压力:4bar-耗气量:21 NL/min电源要求:-电压:220 VAC ±10% (中国),110 ±10% (北美) -电流:15 A-频率:50/60 Hz,接地电阻应小于5欧姆精确反映在每一个细节1、轻品质的外罩减少了整机的重量,从而提高了效率。2、获得专利的X 向“精密三角梁”设计增强了整机的刚性品质比,从而提高了测量的精度和运行的稳定性。3、厚重稳固的花岗石工作台减少了振动带来的响。4、燕尾式导轨整体加工在花岗石平台上(该技术获得专利),提高了机器的精度和重複性。5、电机远端放置减少了移动品质,提高了速度,也避免了电机发热对机器性能带来的影响。6、获得专利的气动平衡设计,提高了机器的测量性能。7、採用的Heidenhain Aurodur® 高解析度金质光栅尺,其热膨胀係数获得PTB认证。8、控制器固定在主机一侧,便于整体的移动。
L0044578三坐标测量仪价格
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L0044578三坐标测量仪价格 参数:
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L0044578三坐标测量仪价格 概述:
刻线爪尖镶硬质合金。微调架使尺身能实现微进给。不锈钢制造。
L0044578三坐标测量仪价格 相关仪器:
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测量范围:500*400*300
工作台:大理石台面:706*576
玻璃台面:545*445
承重:30KG
三坐标测量机、二次元
三坐标测量机是指在一个六面体的空间范围内,能够表现几何形状、长度及圆周分度等测量能能力的仪器,又称为三坐标测量仪或三次元。
三坐标测量仪的测量方法分类:1、接触式探针测量三坐标测量机(最常用使用最普遍);2、影像复合式三坐标测量机;3、激光复合式三坐标测量机(主要应用于产品测量与逆向抄数扫描);我们将根据客户的产品特点与测量要求提供最适合客户的测量产品。 三坐标测量仪产品概述: 手动机,采用国际的有限元分析技术设计,具有高精度、高性能高速度和高稳定性的特点。横梁采用独特的45°专利斜梁技术,提高了其机械刚性,具有了良好的刚性质量比;运动更平稳、更精确,确保了整机精度更高。配以AC—DMIS测量软件包,使其成为同类机型中性价相比当高的产品,其将满足您的需求,为 您提供一个完善的测量解决方案。
三坐标测量仪技术参数:
型号:GT-8310 测量范围(mm):500×600×400 示值误差(μm):3.0+L/250 外形尺寸(mm):1046×958×2235 最大载荷(kg):500
三坐标测量仪应用范围:
广泛应用于汽车、电子、五金、塑胶、模具等行业中,可以对工件的尺寸、形状和形位公差进行精密检测,从而完成零件检测、外形测量、过程控制等任务。