成像测量系统专场,成像测量系统商家多、资料全面阿仪网

手动/数控版成像测量系统

详情来电

CS-4030H广东万濠自动影像测量机，苏州成像测量系统，有效行程400*300mm

CS-4030H广东万濠自动影像测量机-用途： CS-4030H广东万濠自动影像测量机适用于以二维为主的应用域，也能做三维辅助测量；在机械、模具、电子、仪表、五金、塑料，PCB板、手机配件、连接器、机械配件的大批量快速检测。被广泛应用。自动影像测量仪属于光学非接触测量，与接触式测量的坐标测量机相比，自动影像测量仪应用范围的扩大，在某些范围内开始取代接触式坐标测量机对电子零配件、精密模具、冲压件、PCB板、螺纹、齿轮、成形刀具等工件进行精密测量，逐渐进入电子、机械、仪表、钟表、轻工、军工、航天航空等行业，以及高等院校、研究所、计量检定部门的实验室、计量室和生产车间，也可以对各种形状复杂的平面工件进行轮廓和表面形状的精密测量。

CS-4030H广东万濠自动影像测量机-特点：1. 整机体化设计2. X、Y轴伺服控制，定位精度高、速度快3. 主体材料结构采用花岗岩，仪器稳定性更好4. 具有快速自动对焦、自动寻边、自动测量功能5. 自主开发QMS3D软件，功能强大，可满足客户不同测量需求6. SPC数据处理分析，大批量治具测量7. 程控恒流驱动式五环八区表面冷光光源，可适应复杂的工件测量

CS-4030H广东万濠自动影像测量机-规格参数：

参数/机型	CS-3020H	CS-4030H
金属台尺寸（mm）	556*406	656*556
玻璃台尺寸（mm）	350*250	450*350
运动行程（mm）	300*200	400*300
仪器外形尺寸（mm）	91012651820	120017001800
仪器重量（kg）	500	600
X、Y、Z轴数显分辨力	0.5μm
X、Y示值误差	E_1XY=(3.5＋L/200)μm (其中L为被测长度）
Z轴升降行程（mm）	200
传动形式	X、Y、Z轴均采用滚珠线杆传动轴的形式
摄像机	1/2"CCD摄像机
变倍镜头	0.7—4.5X
视频总倍率	23.5—148X
物方视场	11.1—1.7mm
电源	AC 100-240V 50/60Hz
功率	500W（不含计算机）
计算机	计算机（标配）

CS-4030H广东万濠自动影像测量机－－日常保养维护

测量注意事项

自动影像测量仪作为种精密测量仪器，如果维护及保养做得及时，就能延长机器的使用1命，并使精度得到保障、故障率降低。

使用环境

l 避振

如果影像测量仪受到额外的围振动，测量精度将会降低。当频率小于10Hz时，围振动的振幅不应该超过2μm（峰-峰差值）；当频率在10Hz到50Hz之间时，则加速度不应超过0.4Gal。如果振动超过这些限制，应该采用防振措施（例如安装振动阻尼器）。

l 无尘

影像测量仪构成组件必须保证无灰尘。虽然防尘罩对影像测量仪有定的防护作用，但测量仪仍应定期清洁。

l 光照

影像测量仪不能放置在强光、或太阳直射的光照环境下，否则将会大影响测量仪的测量精度。

部件的保养

l 测量平台

在装卸工件时请特别小心玻璃平台，有时测量平台会附着水气及油雾层，请使用清洁剂清除污垢。

l 机身外壳

不工作时，请以防尘罩覆盖。旦机身外壳遭污染时，请以软布擦拭。因为机身外壳遭污染时，虽然并不会直接影响测量精度，但污染仍可能扩散至线性滑轨或平台等对测量精度有影响的机身其它部份。

CS-4030H广东万濠自动影像测量机，苏州成像测量系统，有效行程400*300mm 全新上市！！！CS-4030H广东万濠自动影像测量机，苏州成像测量系统，有效行程400*300mm 全新上市！！！CS-4030H广东万濠自动影像测量机，苏州成像测量系统，有效行程400*300mm 全新上市！！！CS-4030H广东万濠自动影像测量机，苏州成像测量系统，有效行程400*300mm 全新上市！！！CS-4030H广东万濠自动影像测量机，苏州成像测量系统，有效行程400*300mm 全新上市！！！CS-4030H广东万濠自动影像测量机，苏州成像测量系统，有效行程400*300mm 全新上市！！！CS-4030H广东万濠自动影像测量机，苏州成像测量系统，有效行程400*300mm 全新上市！！！CS-4030H广东万濠自动影像测量机，苏州成像测量系统，有效行程400*300mm 全新上市！！！CS-4030H广东万濠自动影像测量机，苏州成像测量系统，有效行程400*300mm 全新上市！！！CS-4030H广东万濠自动影像测量机，苏州成像测量系统，有效行程400*300mm 全新上市！！！CS-4030H广东万濠自动影像测量机，苏州成像测量系统，有效行程400*300mm 全新上市！！！CS-4030H广东万濠自动影像测量机，苏州成像测量系统，有效行程400*300mm 全新上市！！！CS-4030H广东万濠自动影像测量机，苏州成像测量系统，有效行程400*300mm 全新上市！！！CS-4030H广东万濠自动影像测量机，苏州成像测量系统，有效行程400*300mm 全新上市！！！CS-4030H广东万濠自动影像测量机，苏州成像测量系统，有效行程400*300mm 全新上市！！！CS-4030H广东万濠自动影像测量机，苏州成像测量系统，有效行程400*300mm 全新上市！！！CS-4030H广东万濠自动影像测量机，苏州成像测量系统，有效行程400*300mm 全新上市！！！CS-4030H广东万濠自动影像测量机，苏州成像测量系统，有效行程400*300mm 全新上市！！！CS-4030H广东万濠自动影像测量机，苏州成像测量系统，有效行程400*300mm 全新上市！！！CS-4030H广东万濠自动影像测量机，苏州成像测量系统，有效行程400*300mm 全新上市！！！CS-4030H广东万濠自动影像测量机，苏州成像测量系统，有效行程400*300mm 全新上市！！！CS-4030H广东万濠自动影像测量机，苏州成像测量系统，有效行程400*300mm 全新上市！！！CS-4030H广东万濠自动影像测量机，苏州成像测量系统，有效行程400*300mm 全新上市！！！CS-4030H广东万濠自动影像测量机，苏州成像测量系统，有效行程400*300mm 全新上市！！！CS-4030H广东万濠自动影像测量机，苏州成像测量系统，有效行程400*300mm 全新上市！！！CS-4030H广东万濠自动影像测量机，苏州成像测量系统，有效行程400*300mm 全新上市！！！CS-4030H广东万濠自动影像测量机，苏州成像测量系统，有效行程400*300mm 全新上市！！！CS-4030H广东万濠自动影像测量机，苏州成像测量系统，有效行程400*300mm 全新上市！！！CS-4030H广东万濠自动影像测量机，苏州成像测量系统，有效行程400*300mm 全新上市！！！CS-4030H广东万濠自动影像测量机，苏州成像测量系统，有效行程400*300mm 全新上市！！！CS-4030H广东万濠自动影像测量机，苏州成像测量系统，有效行程400*300mm 全新上市！！！CS-4030H广东万濠自动影像测量机，苏州成像测量系统，有效行程400*300mm 全新上市！！！CS-4030H广东万濠自动影像测量机，苏州成像测量系统，有效行程400*300mm 全新上市！！！CS-4030H广东万濠自动影像测量机，苏州成像测量系统，有效行程400*300mm 全新上市！！！CS-4030H广东万濠自动影像测量机，苏州成像测量系统，有效行程400*300mm 全新上市！！！CS-4030H广东万濠自动影像测量机，苏州成像测量系统，有效行程400*300mm 全新上市！！！CS-4030H广东万濠自动影像测量机，苏州成像测量系统，有效行程400*300mm 全新上市！！！CS-4030H广东万濠自动影像测量机，苏州成像测量系统，有效行程400*300mm 全新上市！！！CS-4030H广东万濠自动影像测量机，苏州成像测量系统，有效行程400*300mm 全新上市！！！CS-4030H广东万濠自动影像测量机，苏州成像测量系统，有效行程400*300mm 全新上市！！！CS-4030H广东万濠自动影像测量机，苏州成像测量系统，有效行程400*300mm 全新上市！！！CS-4030H广东万濠自动影像测量机，苏州成像测量系统，有效行程400*300mm 全新上市！！！CS-4030H广东万濠自动影像测量机，苏州成像测量系统，有效行程400*300mm 全新上市！！！CS-4030H广东万濠自动影像测量机，苏州成像测量系统，有效行程400*300mm 全新上市！！！CS-4030H广东万濠自动影像测量机，苏州成像测量系统，有效行程400*300mm 全新上市！！！CS-4030H广东万濠自动影像测量机，苏州成像测量系统，有效行程400*300mm 全新上市！！！CS-4030H广东万濠自动影像测量机，苏州成像测量系统，有效行程400*300mm 全新上市！！！CS-4030H广东万濠自动影像测量机，苏州成像测量系统，有效行程400*300mm 全新上市！！！CS-4030H广东万濠自动影像测量机，苏州成像测量系统，有效行程400*300mm 全新上市！！！CS-4030H广东万濠自动影像测量机，苏州成像测量系统，有效行程400*300mm 全新上市！！！CS-4030H广东万濠自动影像测量机，苏州成像测量系统，有效行程400*300mm 全新上市！！！

该公司产品分类：干燥机静点测试仪张力计玛芝哈克韩国DONG-DO 亮度计光泽度仪大理石扭力起子插规，深度规蔚仪试验仪器宝禾密仪器系列意大利GIVIMISURE 显微镜瑞士杰恩尔常州首丰影像仪各式千/百分表测头其他仪器仪表污点规，点卡，对比测量推拉力测试仪器

TESA VISIO 300 / 300 DCC手动/数控版成像测量系统

TESA VISIO 300 以及300 DCC手动/数控版成像测量系统为扩充和增强现有光学测量系统产品线，瑞士TESA 推出的高精度产品线，包括采用创新技术的TESAVISIO300，具备三个型号，并配有300 x 200mm 的工作台。 ★ 手动光学测量系统配备TESA-VISTA 软件，能够完成各种不同应用，并为不同水平的用户使用。 ★ 手动光学测量系统配备PC-DIMS 企业级计量软件，使用该软件的光学测量功能，为用户在两维、三维领域提供了强有力的非接触测量工具。 ★ 自动数控光学测量系统配备直流伺服电机。利用PC-DIMS Vision 软件，使得该机成为目前市场上性价比的光学测量系统。 PC-DMIS Vision成像测量系统的新境界 PC-DMIS Vision 是Hexagon 计量产业集团的企业计量解决方案(EMS) 的重要组成部分，是一个具备强大视频测量功能的计量软件，便于使用和操作，并可利用CAD 模型在线和脱机完成零件检测程序的编制。配合使用TESA VISIO 成像测量系统，PC-DMIS 将万能工具显微镜和轮廓投影仪的功能合二为一。PC-DMIS 能够实现对光强以及变焦实现自动控制，从而提高了工效，并具备了与其他高价位产品同等的精度。使用"自动识别特征"工具条，只需简单的选取你所希望测量的特征并点击实现程序的编制。具备高度智能化的PCDMIS软件能够实现对于所有图像参数的设置，并根据不同的工件的差异进行偏差的搜索。其测量特征包括： ★ 点-边缘特征 ★ 点-面特征 ★ 线 -或圆弧 ★ 槽-圆槽或方槽 ★ 轮廓-开线或闭线 PC-DMIS 还可实现对一些特征的构造，包括那些三维特征的测量，如： ★ 平面 ★ 圆柱 ★ 椭圆 ★ 圆锥 ★ 球体 PC-DMIS 的视频测量技术通过一个简单直观的工具条实现控制。为使用者提供了各种测量时用到的过滤和边缘强度控制的选择，从而为整个测量过程提供了通用性。利用PCDMIS视频检测模块，使用者不仅可以产生数控检测程序，同时还可以实现多种CAD 格式的编程，或者是利用独特的CAD 照相功能进行脱机编程。这样，使得机器操作、使用效率以及投资回报率达到最大化。主要特点： ★ 完善的校准功能 ★ 光学系统-变焦范围 ★ 照明系统-适用于任何类型(顶部/底部等等) ★ 机械结构-对每个轴的偏斜补偿 ★ 计算机控制 ★ 参数设置 ★ 变焦 ★ 光强弱 ★ 对任何特征的随时的快速编辑 ★ 特征独立于变焦 ★ 完善的CAD 操作功能 ★ 各种CAD 格式的输出 ★ 图像可捕捉到文件-剪贴板和报告 ★ 脱机编程，包括利用独特的CAD 照相功能实现光强弱和变焦操作 PC-DMIS Vision 使得用户通过最小的投入获得最多的功能，并为成像测量系统增加新的境界。

TESA VISIO三坐标成像测量系统、三坐标测量机

简单说明：TESA VISIO瑞士TESA三坐标成像测量系统,三维影像测量仪，通过视频成像系统完成非接触测量，特别适合于彩色塑料件，注塑模具和丝膜,印刷等行业许多零件的测量要求，配有带边缘识别功能的TESA-TOUCH或PC-DMIS VISION测量软件，具有微小尺寸及其位置的成像测量, 三坐标, 非接触, RAD功能。

详细说明

三坐标成像测量系统

TESA VISIO三坐标成像测量系统，通过视频成像系统完成非接触测量，特别适合于彩色塑料件，注塑模具和丝膜印刷等行业许多零件的测量要求，配有带边缘识别功能的TESA-TOUCH或PC-DMIS VISION测量软件，具有微小尺寸及其位置的成像测量, 三坐标, 非接触, RAD功能。

三坐标成像测量系统主机 Machine （订货号/ORAer No.: 06830200）

l TESA Visio 300瑞士TESA三坐标成像测量系统,三维影像测量仪一台;

l 变焦镜头（0.7X~4.5X）一个;（货号）06860048

l 测量软件（TESAVISTA）一套;

l 表面环形光（48白色LEDS）货号06860053

l 个人PC电脑一套

东莞三坐标测量机、国产三坐标测量机

该公司产品分类：测量显微镜读数显微镜荧光显微镜偏光显微镜体视显微镜生物显微镜金相显微镜显微镜测量投影仪对刀仪二次元测量仪影像测量仪齿轮测量仪三维激光扫描仪三次元测量机三坐标测量机三坐标测量仪凸轮轴测量仪圆柱度仪轮廓仪

PMEye-3000光致发光光谱成像测量系统

PMEye-3000光致发光光谱成像（PL-Mapping）测量系统是卓立汉光研制的，用于LED外延片、半导体晶片、太阳能电池材料等，在生产线上的质量控制和实验室中的产品研发检测。该系统对样品的PL谱进行Mapping二维扫描成像，扫描结果以3D方式进行显示，使检测结果更易于分析和比较。该系统的软件窗口界面友好，操作简单，只需简单培训就能使用。测试原理：PL（光致发光）是一种辐射复合效应。在一定波长光源的激发下，电子吸收激发光子的能量，向高能级跃迁而处于激发态。激发态是不稳定的状态，会以辐射复合的形式发射光子向低能级跃迁，这种被发射的光称为荧光。荧光光谱代表了半导体材料内部，一定的电子能级跃迁的机制，也反映了材料的性能及其缺陷。PL是一种用于提供半导体材料的电学、光学特性信息的光谱技术，可以研究带隙、发光波长、结晶度和晶体结构以及缺陷信息等等。应用领域举例：LED外延片，太阳能电池材料，半导体晶片，半导体薄膜材料等检测与研究。

主要特点： ◆ PLMapping测量 ◆ 多种激光器可选 ◆ Mapping扫描速度：180点/秒 ◆ 空间分辨率：50um ◆ 光谱分辨率：0.1nm@1200g/mm ◆ Mapping结果以3D方式显示 ◆ 最大8吋的样品测量 ◆ 样品精确定位 ◆ 样品真空吸附 ◆ 可做低温测量 ◆ 膜厚测量

一体化设计，操作符合人体工学 PMEye3000 PL Mapping测量系统采用立式一体化设计，关键尺寸根据人体工学理论设计，不管是样品的操作高度和电脑使用高度，都特别适合于人员操作。主机与操作平台高度集成，方便于在实验室和检测车间里摆放。仪器侧面设计有可收放平台，可摆放液晶显示器和鼠标键盘。仪器底部装有滚轮，方便于仪器在不同场地之间的搬动。模块化设计 PMEye-3000 PL Mapping测量系统采用模块化设计思想，可根据用户的样品特点来选择规格配置，让用户有更多的选择余地。激发光源、样品台、光谱仪、探测器、数据采集设备都实现了模块化设计。操作简便、全电脑控制 PMEye-3000 PL Mapping测量系统，采用整机设计，用户只需要根据需要放置检测样品，无需进行复杂的光路调整，操作简便；所有控制操作均通过计算机来控制实现。的样品台设计，采用真空吸附方式对样品进行固定，避免了用传统方式固定样品而造成的损坏；可对常规尺寸的LED外延片样品进行精确定位，提高测量重复精度。两种测量方式,用途更广泛系统采用直流和交流两种测量模式，直流模式用于常规检测，交流模式用于微弱荧光检测。监控激发光源,校正测量结果一般的PL测量系统只是测量荧光的波长和强度，而没有对激发光源进行监控，而激发光源的不稳定性将会对PL测量结果造成影响。PMEye-3000 PL Mapping测量系统增加对激光强度的监控，并根据监控结果来对PL测量进行校正。这样就可以消除激发光源的不稳定带来的测量误差。激光器选配灵活 PMEye-3000 PL Mapping测量系统有多种高稳定性的激光器可选，系统最多可内置2个激光器和一个外接激光器，标配为1个405nm波长高稳定激光器。用户可以根据测量对象选配不同的激光器，使PL检测更加。可选配的激光器波长有： 405nm，442nm，532nm、785nm、808nm等，外置选配激光器波长为：325nm。自动Mapping功能 PMEye-3000 PL Mapping测量系统配置200×200mm的二维电控位移台，最大可测量8英寸的样品。用户可以根据不同的样品规格来设置扫描区域、扫描步长、扫描速度等，扫描速度可高达每秒180个点，空间分辨率可达50um。扫描结果以3D方式显示，以不同的颜色来表示不同的荧光强度。



软件功能丰富,操作简便我们具有多年的测量系统操作软件开发经验，,熟悉试验测量需求和用户的操作习惯，从而使开发的这套PMEye-3000操作软件功能强大且操作简便。 MEye-3000操作软件提供单点PL光谱测量及显示，单波长的X-Y Mapping测量，给定光谱范围的X-Y Mapping测量及根据测量数据进行峰值波长、峰值强度、半高宽、给定波长范围的荧光强度计算并以Mapping显示，Mapping结果以3D方式显示。同时具有多种数据处理方式来对所测量的数据进行处理。

低温样品室附件该附件可实现样品在低温状态下的荧光检测。有些样品在不同的温度条件下，将呈现不同的荧光效果，这时就需要对样品进行低温制冷。如图所示，从图中我们可以发现在室温时，GaN薄膜的发光波长几乎涵盖整个可见光范围，且强度的峰出现在580nm附近，但整体而言其强度并不强；随着温度的降低，发光强度开始慢慢的增加，直到110K时，我们可以发现在350nm附近似乎有一个小峰开始出现，且当温度越降越低，这个小峰强度的增加也越显著，一直到温25K时，基本上就只有一个荧光峰。GaN薄膜的禁带宽度在室温时为3.40Ev,换算成波长为365nm，而我们利用PL系统所测的GaN薄膜在25K时在356.6nm附近有一个峰值，因此如果我们将GaN薄膜的禁带宽度随温度变化情况也考虑进去，则可以发现在理论上25K时GaN的禁带宽度为3.48eV，即特征波长为357.1nm，非常靠近实验所得的356.6nm，因此我们可以推断这个发光现象应该就是GaN薄膜的自发辐射。

不同制冷温度下GaN材料的PL谱图

主要功能和技术参数

扫描模式	单点光谱扫描；单波长Mapping
摄谱模式	峰值波长Mapping；峰值强度Mapping；半高宽Mapping；给定波长范围的荧光强度Mapping
膜厚测量	单点膜厚测量
光源	405nm激光（标配）；150W溴钨灯
光谱仪	三光栅DSP扫描光谱仪
光谱仪焦距	300mm（标配）	500mm
光谱分辨率	0.1nm（1200g/mm光栅）	0.05nm（1200g/mm光栅）
倒线色散（nm/mm）	2.7（1200g/mm光栅） 5.4（600g/mm光栅） 10.8（300g/mm光栅）	1.7（1200g/mm光栅） 3.4（600g/mm光栅） 6.8（300g/mm光栅）
探测器	Si探测器，光谱响应范围：200～1100nm （标配）
数据采集设备	带前置放大器的数字采集器DCS300PA（标配）锁相放大器SR830（选配）
二维位移平台	行程200*200mm，重复定位精度<3μm
样品台	具有真空吸附功能对主流的2’’,3’’,4’’,5’’,6’’,8’’的晶片可进行精确定位
Mapping扫描速度	高达180点/秒
Mapping位移步长	最小可到1um
空间分辨率	50um
重复定位精度	<3um

可选择探测器

探测器类型	光谱响应范围
R1527光电倍增管	200～680nm
CR131光电倍增管	200～900nm
DSi300硅光电探测器	200～1100nm
DInGaAs1700常温型铟镓砷探测器	800～1700nm
DInGaAs1900制冷型铟镓砷探测器	800～1900nm
DinGaAs2200制冷型铟镓砷探测器	800～2200nm
DinGaAs2600制冷型铟镓砷探测器	800～2600nm

可选择的内置激光器：

波长	稳定性	功率
355nm	<10%	1～20mW
405nm	<1%	1～300mW
442nm	<1%	1～50mW
532nm	<1%	1～450mW
561nm	<1%	1～200mW
635nm	<1%	1～500mW
785nm	<1%	1～300mW
808nm	<1%	1～500mW

可选择的外置激光器：325nm HeCd激光器，功率有：10、15、20、、25、30、40、45、50、55、80、100mW等。

该公司产品分类：门控相机/分幅相机光电模组半导体光学参数检测工业分析电动直线滑台微弱信号处理器光谱测量用探测器光谱测量应用系统光学元件系列产品光学平台系列产品光学调整架系列产品手动位移台系列产品电移台系列产品专用光源光谱仪、光栅光谱仪、单色仪高光谱成像仪/高光谱分析系统拉曼光谱分析仪荧光光谱分析仪（系统）太阳能电池检测仪器(系统） LED Tester, LED 分光机