主要特点 |
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产品参数 |
波长范围:300-800nm 波长精度:≤±0.4nm 波长重复性:≤0.2nm 杂散光:≤0.3%T 相对孔径:1/5.5 光栅:1200L/mm 狭缝:宽度0-2mm连续可调 示值精度:0.01mm/格,最大高度20mm 谱线半宽度:≤0.2nm(波长在589nm处,狭缝高3mm,宽0.2mm) 接收单元:单光子计数器 光源:半导体激光器(可选配其他激光器) (波长:532nm,功率:>40mW) |
光斑分析仪_激光准直仪_位敏探测仪
激光器检测、3D打印、激光导光臂、精密机床、位敏探测
产品案例高性价比BeamOn X(CMOS 41万像素 350-1310nm 6.47×4.83mm)通用性BeamOn U3(CCD 230万像素 350-1600nm 11.34×7.13mm)光通讯Beam Analyzer(InGaAs 800-1800nm 3mm/5mm)紫外光Beam Analyzer(Si-UV 190-1100nm 5mm/9mm)1550±50nmBeamOn IR-1550(CCD 41万像素 6.47×4.83mm)1550±50nmBeamOn HR-1550(CCD 144万像素 6.47×4.83mm)M2仪M2Beam-Si(350-1100nm)M2仪M2Beam-UV(190-1100nm)M2仪M2Beam-IR(800-1800nm)BeamOn U3BeamOn WSR UV-NIR / VIS-NIRBeamOn HRBeamOnBeamOn 2/3BeamOn LABeamOn LongbowBeam AnalyzerBA7系列精度更高推荐用于明显非高斯光束的测量BA3系列推荐用于小光斑尺寸及近高斯光束的测量Beam Analyzer TouchM2 BeamuBeam激光准直仪
Electronic AutocollimatorElectronic Autocollimator HRLaser Analyzing AutocollimatorLaser Analyzing TelescopeAngleMeter LACMOS USB2-LensPSD4 USB-LensPSD4 USB-HR-LensPSD9 USB-LensPSD4 Analog-LensPSD4 Analog-HR-LensPSD9 Analog-LensAlignMeter LAAlignMeter-100-9x9mmAlignMeter-100-4x4mmAlignMeter-50-9x9mmAlignMeter-50-4x4mm位敏探测仪SPOTUSB-LSpotOn USB2.0SpotOn Analog USBSpotOn AnalogSpotOn LASpotOn MobileSpotOn CompactSpotOn CCDLaserOn高功率光斑分析模块BeamOn U3 HPBeamOn X HPBeam Analyzer HPuBeam HPLAM Beam Analyzer
功率计_波长计_光谱仪_观察仪
激光功率计 NEWOPTO-PM 材料Si, 光谱380-1100nm, 功率100pW-10mW, 口径11mm
材料Si-UV, 光谱200-1100nm, 功率100pW-1mW, 口径11mm
材料InGaAs, 光谱800-1650nm, 功率100pW-10mW, 口径3mm NEWOPTO-PMH_表头
四位液晶显示、自动量程切换、测量方式(W|dBm|dB)、多波长校准、适配器和电池供电激光波长计 Model: MWM002 Wavelength 780nm±12nm (Recommended 777-798nm) Accuracy ±1pm Model: SHR Wavelength: 190-1100nm Accuracy ±3pm Model: SHR-IR Wavelength: 600-1800nm Accuracy ±20pm微型光谱仪
光谱200-1100nm, 分辨率0.16-1.6nm, 像元素2068×70光谱190-1100nm, 分辨率1.0nm, 像元素3648光谱200-400nm, 分辨率0.9-1.2nm, 像元素512光谱200-2560nm, 分辨率0.06-10nm, 像元素2068×512
红外观察仪
ABRIS M系列:350-1300nm_350-1700nm_350-2000nmSM-3R系列:350-1700nm_350-2000nm波长范围:350-2000nm分辨率:50-60 Lp/mm视角:12°-40°放大倍率:1X-3.4X焦距范围:0.15m-0.6m(最小0.05m)电源:外配电源或内置电池主要特点:多个版本可选,光谱响应范围从350nm到2000nm,灵敏度高,外形小巧紧凑,可手持操作或安装在接杆上操作主要应用:激光准直,光纤对准, 半导体检测,热成像,红外发光以及照片处理
我们也提供FJW系列红外观察仪84499系列85100系列85268系列89400系列85300系列85700系列85706系列85050A系列85051A系列end
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仪器简介英国牛津仪器公司的子公司WAS AG公司生产的FOUNDRY-MASTER Compact (FMC)台式火花直读光谱仪采用现代进的CCD数码技术,实现了分析光谱的全谱直读。特殊设计的激发光源,使金属材料的成份分析进入了一个新的时代。的分析性能、极短的分析时间,极低的运行维护成本,智能化的操作模式,使样品分析简单易行。可以广泛适用于铝基、镍基、锌基、钴基、镁基等金属样品的成分分析。FOUNDRY-MASTERCompact (FMC)是当今有色金属分析的选择,同时可以轻松面队未来分析的更高要求,不添加任何硬件设施,即可升级分析功能,方便灵活地随生产发展的需要增加分析的元素及基体种类。
主要特点 -的CCD数码技术,分析光谱全谱直读 -自动光路校准,不受温度漂移影响,确保分析的性 -自动谱库寻址,免除繁琐的波峰扫描工作 -随时增加分析材料种类及分析元素 -指纹谱图技术,自动谱线识别 -开放式电极架,适用于各种形状和尺寸的样品分析 -智能化分析模式,快速测定各金属材料中的元素成分
技术参数1.光学系统:帕邢-龙格结构,焦距400mm,波长范围185-590nm, 光栅刻线数2400条/mm,高速数字读出CCD检测器,象素分辨率6pm,高稳定分光系统。 2.光源:固态火花光源,固态振荡器。 3.高能预燃(HEPS)技术:计算机控制光源参数 ,频率:100-400HZ,电压:300-500V。 4.氩气冲洗火花台:开放式火花台设计,低氩气消耗的喷射电极(Jet Stream),不同基体可快速更换激发台板。
5.WASLAB软件功能:校准和分析时的重现性检查,校准或控样的自动提示,分析结果超出曲线范围的标识,自定义输入样品的标识码,自由编辑牌号数据库,牌号校验功能,牌号标识功能,自动分析谱线识别,任意次数的结果平均,标准偏差(SD)及相对标准偏差(RSD),硬件故障自动诊断,光谱指纹谱图信息,百分浓度,绝对强度,强度率输出模式等。 6.外观尺寸及重量:高度:680mm;宽度:410mm;长度:640mm;重量:60公斤
Controller Intensity Modulated Photo Spectroscopy
应用于太阳能电池(如燃料敏化太阳能电池),半导体材料,光诱导的化学反应
德国Zahner公司的可控强度调制光谱仪(简称CIMPS)相对于通常的IMPS系统具有许多独特的优点, 最突出的是该仪器采用闭环控制技术调节和调制光强和调制, 从而保证了光源的绝对稳定性. 在仪器匹配的光源内装有光强传感器, 工作时系统自动比较并计算测得的实际光强与设定值的偏差并加以校正,这样就消除了由于光源器件的非线性、老化、以及温度漂移产生的光强输出误差。不仅如此,仪器还允许直接输入单位为(W/cm2)的具体数值校正光源,非常方便。 Zahner的光电化学系列产品可用于以下各种太阳能电池的研究应用:- 燃料敏化太阳能电池- 钙钛矿太阳能电池- 有机太阳能电池- 量子点太阳能电池-有机无机杂化太阳能电池
套CIMPS由几个可即插即用的部件组合而成,包括操作软件和整套校正系统。一台电化学工作站Zennium或IM6及其相应模块构成了频谱分析部分并为光电测试池提供电源负载(作为恒电流仪或恒电位仪)。Zahner的电化学工作站以其高精度,易于使用,软件功能强大而著称。该工作站还负责控制一台外置恒电位仪,驱动激发光源,输出强度调制光信号。
仪器说明:
由于光源部分采用了偏振化结合二次靶材的特殊设计,使得入射X光被单色化而变得极为“纯净“,可以在几乎不损失有效信号强度的情况下将来自于光源的背底散射干扰降到最低,在实际分析过程中可以提高5~10倍的信号灵敏度,使得大气下对“轻”元素的精确分析(ppm级)变为现实,并极大的扩展了能量色散型XRF光谱仪的应用范围,是真正意义上的全元素分析设备。
技术参数:
1.内存:1GB 或以上;
2.硬盘:160GB 或以上;
3.光驱: DVD Rw;
4.显示器:液晶显示器17";
5.操作系统:WINDOWS XP;
6.钯靶Pd X射线管;
7.最大功率50W;
8.最大电压50kV;
9.检测系统-能量分辨率小于或等于160电子伏特;
10.分析元素范围
HOPG次级偏振单色靶:钠-钒
Zr次级单色靶:铬-钇,铪-铀
CsI次级偏振靶:钛-铀。
标配清单:
1.仪器控制电路;
2.高压供给及控制系统;
3.电源分配器;
4.3位置次级靶交换器(靶材HOPG, Zr, CsI);
5.用于仪器再校准标准样品;
6.X-LABpro软件包;
7.数据采集, 预处理及仪器控制。
企业产品目录:磁化率仪,野外手持矿石鉴别紫外灯,野外数据采集仪,加拿大磁性硬度笔,美国矿物特性测试工具包,多功能机械罗盘,钢笔型数码地质显微镜,LED光源放大镜,美国Estwing平头地质锤,多功能分体锻钢折叠铲,磁性硬度笔套装,单双槽地质取样刻槽机,电动岩心切割机,高强度塑料岩芯箱,便携式浅层取样钻机,地球科学矿物标本基础套装,德国工艺地质多功能背包;便携式矿石元素分析仪/手持式矿石元素分析仪/手持式X荧光分析仪,便携式近红外矿物分析仪,便携式拉曼矿物分析仪,便携式伽马能谱仪,便携式X射线衍射仪,移动式X射线荧光分析仪;地震仪系列,电法仪系列,磁法仪系列,重力仪系列,瞬变电磁仪,核磁共振分析仪,探地雷达系列,综合测井仪系列,放射性测量仪系列,全站仪,RTK测量系统,激光测距仪,三维激光扫描仪,经纬仪,水准仪,地物波谱仪,高光谱航空遥感成像光谱仪,航测无人机;全谱直读等离子体光谱仪(ICP-AES),电感耦合等离子体质谱仪(ICP-MS),波长/能量X射线荧光光谱仪(WDXRF/EDXRF),火焰/石墨炉原子吸收光谱仪(AAS),X射线衍射仪(XRD),原子荧光光谱仪(AFS),紫外/可见分光光度分析仪(UV/VIS),激光拉曼光谱仪,全液压钻机,颚式破碎机,圆锥破碎机,球磨机,E-MINE地质成图与储量计算软件,物探数据解析软件,遥感图像处理软件,数字化矿山软件等。QQ:494842270 曾经理1356449386八
Agilent 86142B系列是充分地被适合的一台水准光学的频谱分析器( OSA )因为WDM组成部分和系统测试力量和wavelength性,动态的范围和低的极化从属是关键的应用。 高性能能力与的特性结合装置和板测量应用使你迅速和容易地制定高度精确测量方法成为可能。 这些的特性对增加你的产品产量是服务于的,充分发挥制造容量和最大限度地减少费用。 随车携带的测量方法应用为了当保持灵活性时要求最小限度的训练为了个体定制测量方法的使用的容易已被设计需要。
*10pm波长度和低偏振相关性
*90dBm灵敏度和70dB动态范围
*实时扫描速率和改进的高速数据传递
*新的灵活的单色仪输出型式
*具有通过/失败的自动检验应用
*台式和便携的平台
*直观的图形用户界面
*组合的软盘和打印机
*可选的内部波长校准器和EELED
*VGA和并行(centronics)接口
*两年的校准周期
86140B,86141B,86142B,86143B,86145B光谱分析仪
Agilent 86140B,86141B,86142B,86143B和86145B是光栅型光谱分析仪系列,显示600至1700nm波长范围有关波长幅度与波长的关系曲线。该光谱分析仪采用专利的双通过单色仪的设计,同时实现用快速扫描时间同时得到高灵敏度和大的动态范围。这种性能对于表征DWDM部件和多路系统特性很重要,尤其在生产制造环境中,速度、度和生产能力是十分关键的因素。该系列包括台式(86140B,86141B和86142B)和便携式(86143B和86145B)分析仪,均具有组合的打印机和软盘驱动器,可立即提供测量结果文件,并把电子拷贝传递给PC机。VGA端口允许PC监测器能直接连到光谱分析仪屏幕,并行(centronics)接口能生成清晰的彩色拷贝的测量结果。GPIB接口提供在总线上的高传递速率,它在高吞吐量的环境下非常重要。简洁而有条理的前面板被设计为直观的图形用户界面(GUI),大大地超过了上一代Agilent 71450系列光谱分析仪。该界面可以从前面板或外部的指向装置驱动。
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产品描述 |
EDX3000B能量色散X荧光光谱仪 无损样品,前处理简单 能分析出塑料中含有的1PPm的镉 直观的分析界面 自动编制附带合格与否判定结果的分析表
X荧光光谱仪ROHS指令检测主要技术指标 1. 检测仪器SkyrayEDX3000 2. 样品室尺寸:A型400*500*300MM; B型1000*1000*300MM 3. 测量时间:60-300秒 4. 高 压:25-40KV 5. 管 流:600μA 6. 计数率:1300-4000Cps 7. ROHS指令有害元素仪检出限Cd/Pb/Cr/Hg/Br为1PPM 8. 检测时间为200秒 9. 电致冷硅针半导体探测器 10. 加强金属元素感度分析 |
电话:13249473053
厦门亿辰科技有限公司耗材部 专业供应光谱标样|光谱分析标准样品|光谱标准物质|光谱控样,我们致力于光谱标样|光谱标准物质|光谱分析标准样品批发。来电咨询有优惠价格。联系人:白小姐 --9831 QQ:563--
中低合金钢低标 -- GSBA68073-92013 |
标样编号:GSBA68073-92013 | 名称牌号:中低合金钢低标 | 状态:块状 |
元素 | C | Mn | Si | P | S | Cr | Ni | W | V | Mo |
含量% | 0.097 | 0.247 | 0.146 | 0.039 | 0.010 | 2.03 | 2.91 | 0.22 | 0.048 | 0.109 |
元素 | Al | Ti | Cu | As | ||||||
含量% | 0.016 | 0.077 | 0.096 | 0.0069 |
详细资料 |
规格: 证书:有 研制单位:沈阳机械