当能量高于原子内层电子结合能的高能X射线与原子发生碰撞时,驱逐一个内层电子而出现一个空穴,使整个原子体系处于不稳定的激发态,激发态原子寿命约为 10-12-10-14s,然后自发地由能量高的状态跃迁到能量低的状态。这个过程称为驰豫过程。驰豫过程既可以是非辐射跃迁,也可以是辐射跃迁。当较外层的电子跃迁到空穴时,所释放的能量随即在原子内部被吸收而逐出较外层的另一个次级光电子,此称为俄歇效应,亦称次级光电效应或无辐射效应,所逐出的次级光电子称为俄歇电子。它的能量是特征的,与入射辐射的能量无关。当较外层的电子跃入内层空穴所释放的能量不在原子内被吸收,而是以辐射形式放出,便产生X 射线荧光,其能量等于两能级之间的能量差。因此,X射线荧光的能量或波长是特征性的,与元素有一一对应的关系。
K层电子被逐出后,其空穴可以被外层中任一电子所填充,从而可产生一系列的谱线,称为K系谱线:由L层跃迁到K层辐射的X射线叫Kα射线,由M层跃迁到K层辐射的X射线叫Kβ射线……。同样,L层电子被逐出可以产生L系辐射。如果入射的X 射线使某元素的K层电子激发成光电子后L层电子跃迁到K层,此时就有能量ΔE释放出来,且ΔE=EK-EL,这个能量是以X射线形式释放,产生的就是Kα 射线,同样还可以产生Kβ射线 ,L系射线等。莫斯莱(H.G.Moseley) 发现,荧光X射线的波长λ与元素的原子序数Z有关,其数学关系如下:
λ=K(Z-s)-2
这就是莫斯莱定律,式中K和S是常数,因此,只要测出荧光X射线的波长,就可以知道元素的种类,这就是荧光X射线定性分析的基础。此外,荧光X射线的强度与相应元素的含量有一定的关系,据此,可以进行元素定量分析。
(二)XR-306能量色散X荧光光谱仪特点
1.无需制样即可直接测量.
2. 所有元素可以同时测量,且短短几分钟即可完成分析,可以应付大批量待测样品.
3. 检出限低,可以满足WEEE和ROHS指令要求.
4. 无损分析. 分析样品不被破坏,分析快速,,便于自动化。
5. 没有人为误差,谁操作都得到一样的结果.
6. 操作简单,可以单键完成操作.
7.分析的元素范围广,从Na到U均可测定;
8.荧光X射线谱线简单,相互干扰少,样品不必分离,分析方法比较简便;
9.分析浓度范围较宽,从常量到微量都可分析。重元素的检测限可达ppm量级,
10、连续测试重复性极强,测试数据稳定
(三)能量色散光谱分析仪与波长色散光谱分析仪的区别
能量色散分析仪只有一个探测器,它对测量X射线能量范围是不受限制的,而且这个探测器能同时测量到所有能量的X射线。也就是说只要激发样品的X射线的能量和强度能满足激发所测样品的条件,对一组分析的元素都能同时测量出来。一般有以下三种基本类型的探测器可用于测量X射线:密封式或流气式充气探测器、闪烁探测器、半导体探测器。
能量色散的条件是当样品被激发后产生的X射线通过窗口进入探测器探测器把X射线能量转换成电荷脉冲,每个X射线光子在探测器中生成的电荷与该光子的能量成正比。该电荷被转换成电压脉冲,当这些电压脉冲经充分放大后,被送入脉冲处理器,脉冲处理器把这些代表着各个元素的模拟信号再转换成为数字信号,由计算机进行分类,分别存入多道分析器(MCA)的相应通道内,一般使用1024-2048道MCA。这些通道覆盖了分析的整个能量范围。
波长色散分析仪是用多个衍射晶体分开待测样品中各元素的波长,由此对元素进行测量。晶体被安装在适当位置,以满足布拉格定律的要求。 X射线荧光分析和其它光谱分析一样,也是一种相对分析。这就是说,要有一套参考标样,这些参考标样能够在可能感兴趣的范围内覆盖所测元素。首先对这些标样进行测量,记录欲分析元素的强度,建立浓度(含量)、强度(CPS)校准曲线,存入处理数据的计算机,供以后分析同一类型未知样品时使用。 最简单的校准线是直线,强度与浓度的依赖关系反映仪器的灵敏度。
另外由于校准线要在很长一段时间内使用,所以应对仪器的漂移作出调整,尽管这种漂移不大,但它确实存在。这可以通过对每个分析元素选用高、低两个参考点来实现。制备若干被称作SUS(调整样)的特殊样品,它们含有适量的分析元素,有很好的稳定性。利用它们可以求出高、低强度值。
产品规格:
名 称 | X荧光光谱仪 |
型 号 | XR-306 |
分析原理 | 能量色散X射线荧光分析法 |
分析元素 | Na ~U任意元素, 铅(Pb)、镉(Cd)、汞(Hg)、六价铬(Cr6+)、多溴联苯(PBB)和多溴联苯醚(PBDE)中的溴。 |
技术指标 | 检出下限(Cd/Pd):Cd/Cr/Hg/Br≦2 ppm, Pb≦5 ppm 样品形状:任意大小,任意不规则形状 样品类型:塑胶/金属/薄膜/粉末/液体 X射线管:靶材/Mo 管电压/5~50 kV 管电流/最大1~1000 μA 照射直径:2、5、8mm 探测器:Si(PIN)半导体高灵敏度探测器 滤光片:八种新型滤光片自动选择 样品定位:微动载物平台(选配) 样品观察:30倍彩色CCD摄像机 微区分析:X光聚焦微区分析系统(选配)软件 定量分析:理论Alpha系数法(NBS-GSC法) 数据处理:IMB PC/AT/内存/256 MB 以上/硬盘/40 GB 以上 系统:Windows XP正版 功率:1.1kW 重量:40Kg 外形尺寸:550(W)×450(D)×450(H)mm |
标准配置 | 标准配置:Si(PIN)半导体高灵敏度探测器(<150eV) X光光管(寿命>15000小时) 高压电源(RSD<0.25%) 大样品仓 高精密摄像机(130万像素) Alpha系数法(NBS-GSC法)定量软件 计算机(P4品牌机) 打印机(爱普生彩色喷墨打印机) 测试用样品杯2个,测试用塑料薄膜数张 标 样:欧盟EC681一片、银校正标样一片。 1KVA UPS不间断电源 仪器工作台 |
工作条件 | 工作温度:10-30℃ 相对湿度:≤70% 电源:AC 220 V±10 %、50/60 Hz |
ATR FTIR PROBE探头式傅里叶变换衰减全反射红外光谱仪
晶格码独有的探头式傅里叶变换衰减全反射红外光谱仪是利用红外线光谱经傅立叶变换进而能够分析样品浓度的在线光谱分析仪。该产品的光纤探头将FTIR变成了一个真正的原位测量仪器,让您实现之前无法达成的常规FTIR分析。利用我们独特的光缆设计,可以将FTIR用于一个传统的实验室规模的反应容器,或是自动化的实验室反应器中。
系统所配备的光纤探头采用专利技术,将红外发射光纤束与一个全反射晶体相结合,对液体和半液体样品进行分析,或者是将红外发射光纤束和专门的透射或反射式探头结合在一起,对气体、液体和固体样品进行分析。
实时反应监控软件
技术指标
性能特征
产品优势
u 宽的光谱测量范围185-1100nm
u 专用的测量紫外、可见、近红外和红外波段的光谱仪
u 高品质光谱分辨率,最高可达0.03nm
u 可同时完成光谱波长与强度分布测量,吸光度测量,色品坐标和颜色测量
u 精巧的外观设计,设计均采用通用标准接口
u 丰富的可选配件,光源、光纤、CCD探头
u 无需外接电源,USB直接供电,工作稳定
软件优势
l 采用USB接口,全面支持Win7系统
l 软件自动识别、连接功能,通讯方便,能同时连接多台光谱仪器
l 集成多种光谱分析模块(光谱波长、强度分布测量、吸光度测量、色品坐标、
颜色测量等)
l 提供多种样品光谱(标准光源光谱/太阳光光谱/氘灯光谱/汞灯光谱/各类
LED光谱/高低色温节能灯光谱;各种玻璃片的吸光度光谱)
l 方便快捷的数据处理功能(将光谱数据与图像导入到Excel、TXT文件中,
同时可保存为*.pdf *.bmp等文件)
l 便捷的智能曝光时间功能
l 具有光谱录像功能
型号 | AULTT-P2000 | AULTT-P3000 | AULTT-P4000 |
有效波长范围 | 350-1000nm | 200-800nm | 185-1100nm |
应用 | 可见波段测量 | 紫外波段测量 | 紫外、可见、红外测量 |
最高分辨率 | 0.03nm | 0.03nm | 0.03nm |
波长重复误差 | < 0.3nm | < 0.3nm | < 0.3nm |
探测器(CCD) | 2048单元线阵硅CCD | 3648单元线阵硅CCD | 3648单元线阵硅CCD |
狭缝宽度 | 30μm | 30μm | 30μm |
光栅 | 600线@450nm | 600线@250nm | 600线@250nm |
深圳市华唯计量技术开发有限(UniqueMetricalTechnology Development Co. ,Ltd. Shenzhen )是中国最大的,专业制造、生产和销售X荧光分析仪器的高新技术企业联盟成员。拥有国内的X荧光分析技术领域的专家队伍(国家X荧光光谱仪“七五”“九五”攻关项目绝大部分核心成员),是集产品设计、开发、制造、销售及服务为一体的科技实体,在X荧光分析仪项目上,产品包括波长色散X荧光分析仪和能量色散X荧光分析仪两大系列。同时,公司与国内外相关领域的专业研究院所保持着密切的合作关系,实时追踪国际X荧光分析领域最前沿的理论和技术,也是目前中国专业化生产波长色散X荧光分析仪的企业联盟成员。 UX系列能量色散X荧光分析仪、 BX系列波长色散X荧光分析仪是我们总结我国多年来研制该类型仪器的经验和教训, 并吸收国际技术基础上,深入进行产业化研发形成的高科技产品,各项技术性能指标均已达到国际同类产品水平。
本公司是专业从事各种环境实验设备、测试仪器、品质检测、生产过程、校验校准等仪器设备,以及高科技企业开发生产、维修所必需的焊接等配套工具的开发、生产、销售及后服务,对外承接非标工程,非标产品的订做、必制、维修等业务。现将部分介绍如下,如有需求,欢迎来电来涵查询。
一、拉力强度:万能材料试验机设备
微机控制万能材料试验机、经济型万能材料试验机、智能电子拉力试机、微电脑拉力试验机、桌上型(双杆)电动拉力机等多种材料拉力试验机。
二、环境试验设备:
换气式老化试验机、可程式恒温恒湿试验箱、高温试验箱、冷热冲击试验箱(三槽式设置)、臭氧老化箱、紫外灯耐候试验机、盐水喷雾试验机、淋雨试验箱、氙灯耐气候试验机、砂尘试验箱、标准光源箱等各种环保试验设备。
三、纸箱、包装、家私试验机系列。
电脑纸箱抗压试验机、破裂强度试验机(有指针式、电子式),单臂跌落试验台、双臂跌落试验台(专门测试产品包装后坠落受到损害情况)、机械振动试验机,微电脑振动试验台,电磁式振动试验机,模拟汽车运输振动度过台,办公椅系列试验机,等各种包装运输检测设备。
四、电脑、手机试验机系列、电工器材试验系列。
转轴寿命试验机、微电脑转轴寿命试验机、手机翻盖寿命试验机、按键寿命试验机、耐磨擦试验机、全自动扭力试验机、手机跌落试验台、纸带耐磨试验机、各种插头、插座试验机等一系列电工器材试验设备。
五、橡胶、塑胶、胶带试验系列橡胶胶磨试验机、磨耗试验机、耐磨试验机、耐折试验机、泡棉压缩应力试验机、发泡塑反复压缩试验机、试料磨平机、塑胶熔融指数测定机、冲击试验机、加热变形温度试验机、落球冲击试验机、硬质塑胶落锤冲击试验机、塑胶膜落锤冲击试验机、高温灰化炉、恒温胶带保持力试验机、胶带保持力试验机、胶带初粘性滚球试验机、色差仪、工业投影仪、三座标测量仪。
六、基础电子测试仪器。
七、力光学、量具、仪表、衡器、静电系列。
注:凡属于本公司所售之仪器,在非人为损害情况下,保修一年,终身维护
手持式矿石金属分析仪也称便携式金属分析仪、矿石元素分析仪等,,“手持式能量色散分析仪,是为野外、现场X荧光分析应用专门开发的仪器类型。具有体积小、重量轻、普通人可手持测量的特点。它包括矿石分析仪、有害元素分析仪,合号分析仪、土壤分析仪、贵金属分析仪等一系列专业型号,其中手持式能量色散矿石分析仪已广泛应用于各类地质矿样多元素检测和分析、矿渣精炼分析及考古研究中。检测样品包括从硫至铀的所有自然矿石、矿渣、岩石、泥土、泥浆等,形态为固体、液体、粉靠的防火墙;小巧轻便,将人性化理念落实入微。
性能特点
1. 采用小功率端窗一体化微型光管,功耗小、激发效率高,结合使用大面积铍窗电致冷Si-PIN探测器,使该手持式
仪器具有与台式机相近的地质矿样测试性能。
2. 体积小、便携,方便野外工作。随时随地,随心所欲的现场分析和原位分析。
3.采用高分辨率(640*480)PDA作主机,结合无线蓝牙通讯的微型多道分析器专利技术,仪器使用方便灵活,在
任何环境中,测试数据都尽在掌中。
4 .仪器既可手持进行快速测试,也能使用座立式对样品进行较长时间的精细测试。
5 .仪器防水防尘,可在高温高湿环境下连续使用,其保护箱采用高强度军工用品设计,有良好的防潮防震防压三防功能。
6. 专业软件,针对地质矿样元素检测的应用软件,具有高灵敏度、测试时间短、操作简易,对操作人员限制很小的
特点。
7 .矿样类别的快速识别,多元素自动定性定量分析以及多种矿样模式选择和无限数目模式的自由添加,内置强度校
正方法,可校正几何状态不同和结构密度不均匀的样品造成的偏差。
8 .一块电池可使用4小时,三块原装电池装配,可选配太阳能充电器或车载式充电器,随时随地进行测试。
技术指标
型号:EDX-P730手持式能量色散矿石及金属分析仪
探测器:13mm2电致冷Si-PIN探测器
激发源:40KV/50uA-银靶端窗一体化微型X光管
检测时间:10-200秒(可手持式或座立式测试)
检测对象:固体、液体、粉末
检测范围:S,K,Ca,Ba,Ti,V,Cr,Mn,Fe,Co,Ni,Cu,Zn,As,Se,Rb,Sr,Zr,Nb,Mo,Pb, Ag,Cd,Sn,Sb,Hf,Ta,W,Re,Pb,Bi,Cs,Te,U,Th,Hg,S等。Au硫(S)到铀(U)之间所有元素
可同时分析元素:多至26个元素
元素检出限:0.001%~0.01%
校正方式:银(Ag)
安全性:自带密码管理员模式,非授权人员无法使用
Data使用性:可在PDA内进行编辑,可导入PC机进行
保存打印,配备海量存储卡
电源:两块锂电池满电可连续工作8小时
仪器重量:1.35 Kg
环境温度:-20℃-+50℃;,环境湿度:不高于85%
仪器配置
PDA / Si-PIN半导体探测器/放大电路/ X光管及高低压电源
PDA版检测矿样元素专用分析软件/实验室测试支架(选配)
110V/220V通用充电器;两块4000mAh锂电池、锂电池充电器
超大容量SD存储卡,SD卡读卡器/抗冲击、耐压、带锁的防水手提箱
核心应用领域,地质矿物勘探、普查
野外岩石、土壤、沉积物和矿石的原位检测,矿山矿石分布图的绘制,洗矿过程中原矿、精矿和尾矿的检测,原矿和精矿采购中矿石品位的测定