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X荧光光谱仪
产品型号:NDA300
品牌:纳优
应用领域
●RoHS指令筛选检测
●无卤指令筛选检测
●玩具指令筛选检测
●日用消费品中限制元素筛选检测
●合金成分分析
●土壤、污水重金属检测
主要配置
●SDD硅漂移电致冷半导体探测器
●侧窗钼(Mo)靶管
● 标配16组复合滤光片
● 配置了0.5mm、1mm、3mm、4*4mm四种准直器
● 具备符合中国国家标准的样品混测功能
● 具备开放工作曲线技术平台
● 内致标准工作曲线
● 配置On-Line实时在线技术支持与服务平台
● 分析软件操作系统分级管理
产品参数
名称:X荧光光谱仪
输入电压:220±5V/50Hz
消耗功率:≤500W
环境温度:15-30℃
环境温度:≤80%(不结露)
主机外形(mm):长*宽*高=900*500*440
样品仓:长*宽*高=430*380*120
主机重量:约60公斤
技术指标
测量元素范围:S-U
测量时间:对聚合物材料,典型测量时间为30秒
精密度 (Pb,Br,Cr,Hg)≤15ppm Cd≤7ppm
准确度(Pb,Br,Cr,Hg)≤100ppm Cd≤10ppm
对铜基材料,典型测量时间为50秒
精密度Pb≤50ppm, 准确度Pb≤150ppm
*注1:项目课题:出口机电产品国际绿色贸易壁垒应对技术及应用;子课题:支持RoHS指令的新型X荧光分析仪开发与企业应用;项目组织单位:中国机械工业联合会;课题负责人:杨李锋(纳优科技公司总经理)。
*注2:《RoHS检测用X荧光能谱仪(XRF)性能评价规范》为全球范围内首部用于评价能量色散X荧光光谱仪的性能的参照范本,其中包括:安全性能、仪器硬件基本性能指标及分析方法配置、精密度指标测试、准确度指标测试、典型材料(聚合物、金属等)中各种有害元素的检出限、仪器对不同基体材料测量的适应性和扩展性及其它性能参数等测试项目以及仪器性能评价步骤等,对于X荧光光谱仪生产厂家和购买仪器的用户均有实际参考指导意义。
*注3:该检测必须“一机一检”,其检测内容、方法及步骤等均以《RoHS检测用X荧光能谱仪(XRF)性能评价规范》(见注2)为准。检测报告也称仪器检测鉴定证书,该证书最大的特点就是“唯一性”,一机一证,证书封页注明仪器出厂编号、检测报告编号的同时,需盖有赛西实验室矩形骑缝章印。
X荧光光谱仪
应用领域
►RoHS指令筛选检测
►无卤指令筛选检测
►玩具指令筛选检测
►金属镀层测厚
►合金成分分析
技术特点
►配置最新专利技术“样品免拆分”检测模式:采用最新专利技术的光路结构,最小照射光斑直径可达到0.5mm,辅以精确的光斑定位系统,从而可以实现对复杂样品进行免拆分直接测量的要求
►配置符合中国国家标准的样品混测功能:方形4mmⅩ4mm光斑设计,配合0.5mm光斑配合使用,能够对电路板等复杂样品实现“免拆分”区域扫描测量功能;从而显著节省测量时间,大幅度提高检测效率
►配置ON-Line实时在线技术支持系统(选配):实时解决用户在使用过程中的疑难技术问题,同时对用户操作人员进行培训
►配置十六组复合滤光片:NDA200型配置了16组复合型滤光片,是业界配置最全、数目最多的配置之一;16组滤光片的配置,极大的保证了XRF分析仪针对各种复杂样品检测的适应性
►内置标准工作曲线:仪器内置了满足EU-RoHS以及CHINA-RoHS产品认证要求的基础材料的工作曲线,方便用户直接使用;并与国家指定的认证检测实验室保持一致
►具备开放的工作曲线技术平台:基于开放的工作曲线技术平台,电子生产企业可以建立针对自己工厂特定物料的工作曲线,确保XRF分析仪检测结果的可靠性和准确性
►分析软件操作系统分级管理:仪器系统软件配置了操作员、工程师两级操作功能菜单,便于工厂有序管理;操作员菜单简单直观,避免仪器重要参数的误修改;工程师菜单功能强大,仪器的各种参数设置权限全部开放给用户
►采用经典的迷宫式辐射防护结构:采用了经典的迷宫式辐射防护结构,在保持仪器外形美观操作方便的同时,彻底杜绝低能散射X射线的泄露
►可选配专利技术“影响权系数法”多层镀层测厚功能:纳优科技独创的“影响权系数法”多层镀层测厚技术,显著提高镀层厚度测量的准确度;最大可测量镀层数量为9层;彻底解决了常规XRF测厚方法所不能解决的塑料基体镀层厚度测量的技术难题
►外观设计实用美观:符合人体工程学的仪器外形设计,操作人员测量过程方便舒适
分析方法及系统软件
分析方法配置:
►基于蒙特卡洛计算模型的基本参数法
► 经验系数法
► 理论α系数法
软件功能描述:
► RoHS指令、无卤指令等环保指令所限制的Pb、Hg、Cd、TCr、TBr、Cl等元素含量的分析
► 各种金属材料、无机非金属材料(不包括聚合物材料)的材质分析(S~U元素)
► 聚合物等有机材料中硫(S)~铀(U)元素的含量分析
► 分析报告的自主定制与输出打印
► 分析结果的保存、查询及统计
► On-Line实时在线技术支持与技术服务功能
► 多层镀层厚度测量功能(选配)
主要配置
►美国Si-PIN电制冷半导体探测器
►侧窗钼(Mo)靶管
►标配16组复合滤光片
►配置了Φ0.5mm、Φ1mm、Φ3mm、Φ4mm四种准直器
►具备符合中国国家标准的样品混侧功能
►内置标准工作曲线
►配置On-line实时在线技术支持与服务平台
►具备开放工作曲线技术平台
►分析软件操作系统分级管理
产品参数
名称:X荧光光谱仪
型号:NDA200
输入电压:220±5V/50Hz
消耗功率:≤500W
环境温度:15-30℃
环境湿度:≤80%(不结露)
主机外形(mm):长*宽*高=900*500*440
样品仓(mm):长*宽*高=430*380*120
主机重量:约60公斤
技术指标
元素种类:元素周期表中硫(S)~铀(U)之间元素
测量时间:
对聚合物材料,典型测量时间为200秒
对铜基体材料,典型测量时间为400秒
检出限指标(LOD):
对聚合物材料:LOD(Pb)≤5mg/Kg;LOD(Hg)≤5mg/Kg;LOD(TCr)≤5mg/Kg;LOD(TBr)≤5mg/Kg;LOD(Cd)≤5mg/Kg
对铜基体材料:LOD(Pb)≤50mg/Kg
精密度指标,以连续测量7次的标准偏差σ表征:
对聚合物(塑胶)材料:LOD(Pb)≤15mg/Kg;LOD(Hg)≤15mg/Kg;LOD(TCr)≤15mg/Kg;LOD(TBr)≤15mg/Kg;LOD(Cd)≤7mg/Kg
对铜基体材料:LOD(Pb)≤50mg/Kg
准确度指标,以系统偏差δ进行表征
对聚合物材料:δ(Pb)≤100mg/Kg; δ(Hg)≤100mg/Kg; δ(TBr)≤100mg/Kg; δ(TCr)≤100mg/Kg; δ(Cd)≤10mg/Kg
对铜基体材料:δ(Pb)≤150mg/Kg
1.分析速度快 ,1-2秒钟即可显示合金牌号以及元素含量
2.分析数据可靠,仪器长期稳定性好
3.真正一体化设计,防尘,防溅水,防金属屑
4.高性能锂电池,单次充电可持续工作6-8小时。
合金材料鉴别(PMI)
有了光谱仪,可以在很短时间内完成几英里管道系统,生产设备的合金材质鉴别任务。从金属细丝到焊点阀门,或是压力容器,光谱仪都可以高效,无损的完成检测任务。
废旧金属回收(Metals Recucling)
可快速准确的对大量废旧金属进行现场检测和分类,只需要很短的时间,就可以得出合金牌号,还可以分析从痕量水平到纯金属的成分含量。为购销双方在交易时做出迅速可靠的判提供了必要的信息。
创新点:Apex从根本上解决了只能从高灵敏度和高分辨率中二选一的问题。Apex光谱仪采用独一无二的光学设计和高通量虚拟狭缝技术(HTVS),解决了灵敏度和分辨率之间的冲突问题。Apex较高的分辨率能够更好地分辨拉曼光谱,解析精细光谱结构。其高灵敏度可实现更短的积分时间、更快的测量速度和更低的激光激发功率,以使样本降解程度降至最低。
详细信息
海洋光学新推出的Apex拉曼光谱仪,通过采用专利的高光通量虚拟狭缝技术(HTVS),在保证光谱分辨率的同时,可以极大的提高光谱灵敏度,传统的高光通量,分辨率,光谱范围之间的矛盾得到了有效的解决。Apex拥有高灵敏度,高分辨率,宽光谱范围。HTVS技术极大的提高了检测系统的入射光通量,使得灵敏度更高,测量速度更快,所需要的激光激发能量更低,更不容易热损毁样品。特点:
· 高光通量虚拟狭缝技术,更短的积分时间,更快的测量速度
· 高分辨率,高灵敏度
· 系统搭建灵活,可与激光、等其它附件配合使用
指标一览:
波长范围 | 780nm-1120nm |
拉曼频移 | >3800cm-1 |
分辨率 | <10cm-1 |
动态范围 | 15000:1 |
输入光纤 | 200um,0.22NA(优化) |
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