荧光光谱仪专场,荧光光谱仪商家多、资料全面第16组

111荧光光谱仪

【激光系列产品】

固体激光器半导体激光器气体激光器离子激光器光纤激光器大功率光纤耦合激光器皮秒激光器飞秒激光器调Q脉冲激光器激光二极管控制器激光功率计激光护目镜激光波长测量激光光束分析仪多通道激光功率计大功率激光器激光光束位置测量仪激光扩束镜激光准直器红外激光显示卡红外激光观察仪红外观察仪激光测距仪激光器温度控制器激光光纤耦合器高稳定性激光器相干型激光器自相关仪飞秒激光倍频器可变光阑便携式激光器染料激光器激光光谱测量热电制冷片激光光束定位系统 2微米光纤激光器飞秒光纤激光器皮秒光纤激光器脉冲光纤激光器光纤隔离器拉曼激光器光功率计

【光谱测试仪器】

紫外可见光谱仪便携式光谱仪高分辨率光谱仪高灵敏度光谱仪制冷型光谱仪中红外光谱仪荧光光谱仪拉曼光谱仪极紫外光谱仪真空紫外光谱仪多通道光谱仪教学型光谱仪 LED光测量光谱仪色坐标色温测量仪灯具光谱测量仪透射谱吸光度光谱仪绝对辐射光谱仪流体吸光度光谱仪流体荧光光谱仪膜厚测量仪椭偏仪太阳能电池IPCE测量系统太阳能电池QE测量系统太阳能电池光谱响应系统单色仪滤光片轮滤光片透射率测试仪太赫兹光谱仪等离子体光谱仪环境辐射仪近红外光谱仪元素分析仪氧含量测量信号发生器近红外谷物接收系统颗粒分析仪荧光寿命光谱仪三维表面轮廓仪

【光学精密机械】

干涉仪光学平台光学镜架手动平移台手动旋转台手动摆动台手动组合平台电动平移台电动转动台电动摆动平台电动组合平台压电陶瓷平台压电陶瓷制动器高稳定防震平台

【光源】

氙灯光源氘灯光源氘卤双光源 LED光源灯卤素灯光源光催化氙灯光源积分球积分球均匀光源太阳模拟器紫外固化机宽带超连续光源显微镜光源

【光学影像】

紫外CCD相机近红外CCD相机制冷型CCD相机高速相机显微镜 CID相机红外相机/热像仪

【光学元件】

窗片/窗口反射镜透镜光学基片分光镜棱镜晶体滤光片波长板扩散板起偏器光学镜头光纤产品光栅尺光栅

【光通信仪器】

ASE光源光纤放大器光通信激光器光功率计可调谐激光光源光纤测量系统光衰减器光纤熔接机光通信探测器光调制器 SLED光源 SLED模块光源高功率EDFA 光收发机拉曼EDFA组合放大器拉曼泵浦模块偏振光合束器拉曼放大器

【生物分析仪器】

动物注射泵样品均质器粘合剂分配器蠕动泵

AF-640A原子荧光光谱仪

主要特点：

●适世界首创“除汞技术”的环保型原子荧光光谱仪（专利）

●国内首创“低温原子化氩氢火焰自动点燃”技术（专利）

●国内首创“全陶瓷红外加热恒温控制”石英炉原子化器（专利）

●的“气态汞测定”的专用技术装置（专利）

●的喷流型氢化物/蒸气发生气液分离系统，静力式自动排除废液（专利）

●的“水样中超痕量汞测定”的专用技术装置

●可实现多种组合的两个元素同时测定

●设计的闭光式调光系统

●具有气路自动控制，自动保护，自动报警功能

●RS-232标准串口通讯，支持USB接口通讯

技术参数：

元素	检出限（DL）	相对标准偏差（RSD）	线性范围
As Sb Bi Se Te Pb Sn	<0.01 µg/ L	1%	10³
Hg	<0.001 µg/ L	1%	10³
Cd	<0.001 µg/ L	1%	10³
Zn	<2.0 µg/ L	1%	10³
Ge	<0.3 µg/ L	1%	10³
气态汞（空气、天然气、实验室工作现场等）	<1.0 ng/ m3	2%	10²
水样中汞（饮用水、矿泉水、海水、地表水等）	<0.0002 µg/ L	2%	10²

配件：

● 选配PDI－10和引导式工作站系统升级模块，可实现As、Hg、Se等元素形态分析[专利] ● 选配WM－10 “水样中超痕量汞”测定专用装置，可实现地表水、海水（Ⅰ类、Ⅱ类）、自来水及水源水等水样中超痕量汞直接测定[专利] ● 选配VM－10“气态汞”测定专用装置，可实现空气、天然气、实验室及工作现场等气体中超痕量汞的直接测定[专利] ● 主机与自动进样器灵活配接 ■ 主机可脱离自动进样器实现半自动操作 ■ 配置自动进样器由微机控制可实现全自动测定 ■ 采用多环形结构的园形转盘式自动进样器，体积小、定位 ■ 大样品量可随即更换预留样品盘，由微机识别继续全自动测定

应用领域

广泛应用于环境监测、水质分析、食品检验和卫生防疫等系统

中的砷、锑、铋、汞、硒、碲、铅、锡、锗、锌和镉等元素。

该公司产品分类：电线电缆

ElvaX ProSpector手持式XRF荧光光谱仪 ElvaX ProSpector

手持式XRF荧光光谱仪 ElvaX ProSpector的详细描述：

ELVAX PROSPECTOR应用概览： Elvatech是一个紧凑的桌面能量色散x射线荧光光谱仪,合金分析仪。它是正确的和可负担得起的解决方案为珠宝行业,合金排序、表达QC在冶金(金属分析仪)。 ElvaX勘探器是便携式的能量散射型X射线荧光仪(EDXRF)，应用了最新的XRF系统，是Elvatech 引以为傲的产品。像所有ElvaX 产品一样，此款便携式手持能量散射型X射线荧光仪(EDXRF)以直观和用户友好为设计理念。该系统运用一块7.2 Vdc 锂电池，正常使用下，充一次电可以使用8小时。ElvaX 勘探器在40 kV 高压下操作，但最高可设置到50 kV，可检测范围从Cl 到 U。氢元素可检测范围从Mg 到 U。ElvaX 勘探器在带有4英寸高分辨率触摸屏显示器HP PDA控制下操作，系统具有高灵活性和可用性。使用PC或笔记本电脑控制，ElvaX ProSpector可成为实验室级的操作仪器所有设备的现场服务由一个拥有多年能量散射型X射线荧光仪(EDXRF)经验的工程师团队支持。 ELVAX PROSPECTOR的分析原理：能量色散X射线荧光光谱法 ELVAX PROSPECTORS可分析的元素： ELVAX PROSPECTOR可分析的元素范围是元素周期表中原子序数17号CL到92号U之间的元素。ELVAX PROSPECTOR工厂预制的基本参数法校准曲线可分析的元素包括Ag, As, Au, Ba, Ca, Cd, Cr, Co, Cu, Fe, Hg, K, Mn, Ni, Pb, Rb, Se, Sr, Sn, Sb, Ta, Th, Ti, Tl, V, W, Zn, Zr，完全覆盖EPA6200方法中涉及的所有26个元素。其他不在以上工厂预制校准曲线内的元素还可以根据用户需要进行添加。ELVAX PROSPECTORS标准测试元素：机型一： Al，Mg，Si，Ti，V，Cr，Mn，Fe，Co，Ni，Cu，Zn，Zr，Nb 机型二： [Ti－－U] Ti，V，Cr，Mn，Fe，Co，Ni，Cu，Zn，Zr，Nb Mo，W，Ta，稀土，铅，铋，银，锡，其他元素可根据需要增加。ELVAX PROSPECTOR可分析的样品类型：固体、粉末、液体（部分样品需要配置相应的样品容器）ELVAX PROSPECTOR典型分析时间： 15秒～120秒，视不同样品类型和分析精度要求而定ELVAX PROSPECTOR对各元素的测试报告：

元素	ERM®-EC680K（标样）	ElvaX ProSpector分析仪
	标准值（ppm）	测试值（ppm）
As	4.1±0.5	3.9±0.2
Br	96±4	97.5±1.9
Cd	19.6±1.4	21.2±0.8
Cl	102.2±3	99.4±9.4
Cr	20.2±1.1	21.4±7.5
Hg	4.64±0.2	< 7.0
Pb	13.6±0.5	12.6±2.2
S	76±4
Sb	10.1±1.6	10.6±0.6

元素	ERM®-EC681K（标样）	ElvaX ProSpector分析仪
	标准值（ppm）	测试值（ppm）
As	29.1±1.8	28.1±2.2
Br	770±40	758.9±10.9
Cd	137±4	132.2±0.8
Cl	800±50	820.6±19.4
Cr	100±5	106.5±7.5
Hg	23.7±0.8	20.0±5.6
Pb	98±6	98.7±2.2
S	630±40
Sb	99±6	96.2±0.6

*检测下限受样品基体、干扰元素、测量时间等因素影响而不同。 ELVAX PROSPECTOR参数和基本配置：

Оption –氢元素（SDD检测器）	从Mg（Z = 12）到CL（Z = 16
电池	可反复充电、多次拔插、且有电量显示功能的Li离子电池，典型工作情况下单块电池工作时间8小时，配有110/230V,50/60HZ直流电源充电器。
尺寸	242 mm x 230 mm x 78 mm
重量（含电池）	1230 g（1440克）

技术特点

＇

以上是原装进口ElvaX ProSpector手持式荧光光谱分析仪意大利技术的详细介绍，包括原装进口ElvaX ProSpector手持式荧光光谱分析仪意大利技术的价格、型号、图片、厂家等信息!

该公司产品分类： 1

北斗芯微原子荧光光谱仪PCB抄板，原子荧光光谱仪克隆，原子荧光光谱仪抄板

技术参数：

1、检出线（D.L.）: As、Pb、Se、Bi、Sn、Sb、Te、Hg＜ 0.01µg/LHg（冷原子法）、Cd＜0.001µg/LGe＜0.05µg/LZn＜1.0µg/L 、Au＜3.0µg/L2、精密度＜1.0％3、线性范围: 大于三个数量级。

主要特点：

一、技术指标1、检出限（D.L.）: As、Pb、Se、Bi、Sn、Sb、Te、Hg＜ 0.01µg/L Hg（冷原子法）、Cd＜0.001µg/L Ge＜0.05µg/L Zn＜1.0µg/L Au＜3.0µg/L2、精密度＜1.0％3、线性范围: 大于三个数量级。

南京PCB抄板，广州PCB抄板，杭州PCB抄板，郑州PCB抄板，苏州PCB抄板，济南PCB抄板，上海PCB抄板，重庆PCB抄板广东PCB抄板，江苏PCB抄板，北京PCB抄板，浙江PCB抄板，河南PCB抄板，山东PCB抄板，河北PCB抄板，湖南PCB抄板，辽宁PCB抄板广东抄板，江苏抄板，北京抄板，浙江抄板，河南抄板，山东抄板，河北抄板，湖南抄板，辽宁抄板深圳北斗芯微科技有限公司是一家专业PCB线路板设计，芯片解密和OEM代工的的公司，主要从事:PCB Layout；PCB改板，电路板克隆（抄板）；PCB转原理图，BOM单制作；各类电路板制板；样机制作、调试，PCB批量生产，防抄板技术，半成品加工，oem代工生产，芯片解密等。公司拥有一批具有多年线路板设计经验的专业技术精英，对多层PCB板有极其详尽透彻的了解，对含有激光孔、盲孔、埋孔的PCB板结构及走线规则的理解更是胜人一筹。无论是元件密集，遍布微带线、等长线的电脑主板、显卡板、千兆网络设备基板，或是对高频处理要求苛刻，电磁兼容性控制严格的小灵通主板、手机主板、无线网卡、蓝牙板、路由器及其他无线通讯设备，以及叠层多达30多层PCB板，盲孔埋孔密布的工控主板，我们都能依据客户提供的一套完好样板一次性克隆成功。我们业务范围涉及到电子产品十几个领域：高清视频技术、家用电视、通讯、监控、电子乐器、医疗器械、汽车电子、电脑及周边产品、数模转换、数码产品、工业控制等。北斗芯科技是目前有专业性优势的公司。我们期待与您真诚的合作！给我一套样机，我能快速做出相同功能的产品!深圳北斗芯微科技有限公司采用目前国际上进的技术与设备，专业的单片机解密程序流程竭诚为国内外广大客户提供专业单片机解密服务联系人：吴生 QQ:1632478768公司名称：深圳北斗芯微科技有限公司深圳福田区八卦岭鹏益花园4栋1604更多资料访问：http://www.copy-pcb.com

BDX001X荧光光谱仪PCB抄板，X荧光光谱仪抄板，X荧光光谱仪克隆

技术参数：1.功率50W，最大电压50KV，最大电流2mA2.50W端窗Pd靶X光管3.硅漂移计数器，分辨率小于170eV4.3位置次级靶自动转换系统，即3束X激发光源。5.可选真空、充气、常压系统主要特点：1.偏振X光激发样品，具有极低的背景，的灵敏度2.真正意义的Na-U的全分析，无需滤光片。3.分析的含量范围ppm级到100%4.极为丰富的软件系统，提供各种方法及校正模式

NDA500X荧光光谱仪

X荧光光谱仪

产品型号：NDA300

品牌：纳优

应用领域

●RoHS指令筛选检测

●无卤指令筛选检测

●玩具指令筛选检测

●日用消费品中限制元素筛选检测

●合金成分分析

●土壤、污水重金属检测

主要配置

●SDD硅漂移电致冷半导体探测器

●侧窗钼（Mo）靶管

● 标配16组复合滤光片

● 配置了0.5mm、1mm、3mm、4*4mm四种准直器

● 具备符合中国国家标准的样品混测功能

● 具备开放工作曲线技术平台

● 内致标准工作曲线

● 配置On-Line实时在线技术支持与服务平台

● 分析软件操作系统分级管理

产品参数

名称：X荧光光谱仪

输入电压：220±5V/50Hz

消耗功率：≤500W

环境温度:15-30℃

环境温度：≤80%（不结露）

主机外形（mm）：长*宽*高＝900*500*440

样品仓：长*宽*高＝430*380*120

主机重量:约60公斤

技术指标

测量元素范围：S-U

测量时间：对聚合物材料，典型测量时间为30秒

精密度（Pb,Br,Cr,Hg）≤15ppm Cd≤7ppm

准确度（Pb,Br,Cr,Hg）≤100ppm Cd≤10ppm

对铜基材料，典型测量时间为50秒

精密度Pb≤50ppm, 准确度Pb≤150ppm

*注1：项目课题：出口机电产品国际绿色贸易壁垒应对技术及应用；子课题：支持RoHS指令的新型X荧光分析仪开发与企业应用；项目组织单位：中国机械工业联合会；课题负责人：杨李锋（纳优科技公司总经理）。

*注2：《RoHS检测用X荧光能谱仪（XRF）性能评价规范》为全球范围内首部用于评价能量色散X荧光光谱仪的性能的参照范本，其中包括：安全性能、仪器硬件基本性能指标及分析方法配置、精密度指标测试、准确度指标测试、典型材料（聚合物、金属等）中各种有害元素的检出限、仪器对不同基体材料测量的适应性和扩展性及其它性能参数等测试项目以及仪器性能评价步骤等，对于X荧光光谱仪生产厂家和购买仪器的用户均有实际参考指导意义。

*注3：该检测必须“一机一检”，其检测内容、方法及步骤等均以《RoHS检测用X荧光能谱仪（XRF）性能评价规范》（见注2）为准。检测报告也称仪器检测鉴定证书，该证书最大的特点就是“唯一性”，一机一证，证书封页注明仪器出厂编号、检测报告编号的同时，需盖有赛西实验室矩形骑缝章印。

X荧光光谱仪

该公司产品分类：无铅检测仪 ROHS检测仪合金分析镀层测厚仪 XRF检测仪 ROHS无卤检测仪+ X荧光光谱仪环保检测仪器

S1 TURBO(SD)手持式X荧光光谱仪德国布鲁克便携式直读光谱仪

产品简介

详细介绍

德国布鲁克

手持式X荧光光谱仪-常见合金详细说明：

主要应用：石油化工、军工、航空、航天、钢铁、电站、电厂、锅炉压力容器、机械制造与加工、金属回收与分类、贵金属、RoHS检测、矿石、土壤等

手持式X荧光光谱仪仪器简介Bruker公司是手持式X荧光光谱仪的先驱，2001年在美国纳斯达克证券交易所上市。2001年第一次把X射线管应用于手持式X荧光光谱仪中；2002年第一次实现手持式X荧光光谱仪测量轻元素；2008年第一次在手持X荧光光谱仪中使用硅漂移检测器（SDD）。S1 TURBOSD使用了XFlash®SDD探测器技术，大大提高了手持式X荧光光谱仪的灵敏度和精度。确保了工业生产的安全和产品的质量。成为目前世界同类仪器中分析速度最快，分析范围最广的设备。可测量的基体/应用范围：工具钢，低合金钢，不锈钢，钴合金，镍合金，铜合金，钛合金，锆合金，钨合金，锌合金，锆合金等手持式X荧光光谱仪主要特点品牌中的精英，精品中的极品！快速、高效、准确；检测项目：材料分析、废料分捡、牌号识别的最理想工具。手持式X荧光光谱仪　功能模块定量分析牌号识别混料识别合格与否判定图谱显示应用领域石油化工、军工、航空、航天、钢铁、电站、电厂、锅炉压力容器机械制造与加工、金属回收与分类、贵金属、RoHS检测（玩具、塑料等）矿石、土壤、其它技术参数重量：1.5kg尺寸：30cm（L）x10cm（W）x28cm（H）激发源：X射线管，Ag靶，40kV检测器：XFlash®硅漂移检测器（SDD）, 检测速度快；　　　　能量分辨率高：145eV, 计数率：100 kcps　操作系统：HP掌上电脑：Windows Mobile5.0 Bruker 专用软件冷却系统:Peltier半导体冷却系统电源：交、直流供电；2块充电锂电池，可连续工作8-12小时工作条件：湿度范围：-20℃～+55℃　湿度范围：0～95%电池充电器：交流充电器：110/220V，50/60Hz计算机/显示器：240x320彩显; 65,536像素; 背景光可调; 触摸屏测量模式：样品表面温度牌号识别、定量分析、显示测量谱线、合格与否判定　　　　　使用热表面适配器，最高可测500℃高温件数据传输：USB，无线蓝牙，SD卡数据存储：主机：512MB存储卡：CF/SD卡，2GB，能存储几十万个牌号和测量数据安全：密码保护，设有多级安全锁运输箱：减震、抗压、防水、密封仪器箱支持语言：包括中、英文在内共12种语言（用户自选）质保期：2年获得认证：CE、TUV、ISO9001、IECEE

该公司产品分类：超声波测厚仪/探伤仪机床配件金相显微镜量具万用表实验/力学仪器光谱仪ROHS分析仪三坐标测量机里氏硬度计巴氏硬度计显微维氏硬度计洛氏硬度计光泽计精密色差计涂层测厚仪光学影像测量仪测高仪/高度计粗糙度轮廓仪轮廓测量仪圆度、圆柱度仪

荷兰帕纳科便携式X射线荧光光谱仪

l 接近实验室分析精度,检出限可低至1-10ppm！！

l 检测范围广,覆盖周期表从F到U所有元素！！

l 营地现场即时快速分析,节约大量的运输经费,大幅度提高效率!

对野外采取的大量的地质样本（矿石或土壤）进行精确的定量分析是地质队在野外地质勘查中的主要工作之一，然而大量待测试样的保管和运输已经成为勘探工作的一大负担，尤其是在预查普查阶段。Epsilon 3能够在野外对试样进行快速准确的定量分析，使地质工作者从繁重的工作中解放出来，让他们专注于更加重要的工作。

Epsilon 3—足以满足甚至超出您的需求

1. Epsilon 3无需样品预处理（可直接分析固体，粉末及液体样品）；另外大样品模式下，可以直接测试岩心等未经制备的样品；

2. 高分辨率硅漂移探测器，脉冲复位电路提供的计数率可超过200,000cps，分辨率通常超过135eV；

3. 操作简单，分析速度快（分析一个样品仅需3-5分钟）；

4. 先进的无标定分析软件Omnina，可在无标准参考样情况下进行可靠定量分析；

5. 车载实验室，方便实用，准确度高，满足地质野外探矿及应急分析要求。

技术优势：

Epsilon 3结合了最新激发和检测技术以及智能设计，可与体积更大、功率更高的光谱仪相媲美，甚至超出。

Epsilon 3已经成为一款经济实惠且可行的移动实验室，从而实现试样的野外快速分析，极大减轻工作量提高工作效率。

参数：

	Epsilon 3技术指标	Epsilon 3L技术指标
综述
	能量色散X射线荧光光谱仪，元素测定范围F-U，浓度范围：ppm-100%
样品处理
样品类型：	粉末（松散或者压片）、熔片、金属、液体、薄膜、大尺寸样品
样品尺寸：	固体27-51.5mm直径，高度10cm；通常样品杯放置10ml液体或者粉末 LSM：大样品模式样品尺寸：4.9×20×10（H×W×D）
样品交换器：	10位，可取出
X射线管
类型：	金属陶瓷，侧窗
阳极材料：	Rh，Ag，Mo
光管设置：	软件控制，最大电压30kV，最大功率9W	软件控制，最大电压50kV，最大功率15W
光管滤波片：	六个，软件选择
探测器
	高分辨硅漂移探测器（135 eV@ 5.9 keV/1,000 cps）
电学指标
电源电压：	90-264V
功率：	250W
安装
尺寸：	231×530×510mm	270×530×510mm
重量：	40.5kg	42.5kg
环境温度：	5°C-35°C

X荧光光谱仪（XRF）

RoHS检测：用户可方便对RoHS控制的六类物质进行检测与控制。 Pb、Cd、Hg、六价Cr（测试总Cr）PBB、PBDE （测试总Br）。无卤检测：优良的硬件设计和完善的软件解谱方法，可以精准的测试氯（Cl）元素。检出下限低至≤60ppm。

开放性工作曲线用户可很方便的根据自身材质状况，建立风险材料的工作曲线，全面提高工作曲线与被测材料的对应性。从而大幅度提升风险物质的检测精度。

供应纳优NDA200X荧光光谱仪ROHS检测仪器

应用领域

►RoHS指令筛选检测

►无卤指令筛选检测

►玩具指令筛选检测

►金属镀层测厚

►合金成分分析

技术特点

►配置最新专利技术“样品免拆分”检测模式：采用最新专利技术的光路结构，最小照射光斑直径可达到0.5mm，辅以精确的光斑定位系统，从而可以实现对复杂样品进行免拆分直接测量的要求

►配置符合中国国家标准的样品混测功能：方形4mmⅩ4mm光斑设计，配合0.5mm光斑配合使用，能够对电路板等复杂样品实现“免拆分”区域扫描测量功能；从而显著节省测量时间，大幅度提高检测效率

►配置ON-Line实时在线技术支持系统（选配）：实时解决用户在使用过程中的疑难技术问题，同时对用户操作人员进行培训

►配置十六组复合滤光片：NDA200型配置了16组复合型滤光片，是业界配置最全、数目最多的配置之一；16组滤光片的配置，极大的保证了XRF分析仪针对各种复杂样品检测的适应性

►内置标准工作曲线：仪器内置了满足EU-RoHS以及CHINA-RoHS产品认证要求的基础材料的工作曲线，方便用户直接使用；并与国家指定的认证检测实验室保持一致

►具备开放的工作曲线技术平台：基于开放的工作曲线技术平台，电子生产企业可以建立针对自己工厂特定物料的工作曲线，确保XRF分析仪检测结果的可靠性和准确性

►分析软件操作系统分级管理：仪器系统软件配置了操作员、工程师两级操作功能菜单，便于工厂有序管理；操作员菜单简单直观，避免仪器重要参数的误修改；工程师菜单功能强大，仪器的各种参数设置权限全部开放给用户

►采用经典的迷宫式辐射防护结构：采用了经典的迷宫式辐射防护结构，在保持仪器外形美观操作方便的同时，彻底杜绝低能散射X射线的泄露

►可选配专利技术“影响权系数法”多层镀层测厚功能：纳优科技独创的“影响权系数法”多层镀层测厚技术，显著提高镀层厚度测量的准确度；最大可测量镀层数量为9层；彻底解决了常规XRF测厚方法所不能解决的塑料基体镀层厚度测量的技术难题

►外观设计实用美观：符合人体工程学的仪器外形设计，操作人员测量过程方便舒适

分析方法及系统软件

分析方法配置：

►基于蒙特卡洛计算模型的基本参数法

► 经验系数法

► 理论α系数法

软件功能描述：

► RoHS指令、无卤指令等环保指令所限制的Pb、Hg、Cd、TCr、TBr、Cl等元素含量的分析

► 各种金属材料、无机非金属材料（不包括聚合物材料）的材质分析（S～U元素）

► 聚合物等有机材料中硫（S）～铀（U）元素的含量分析

► 分析报告的自主定制与输出打印

► 分析结果的保存、查询及统计

► On-Line实时在线技术支持与技术服务功能

► 多层镀层厚度测量功能（选配）

主要配置

►美国Si-PIN电制冷半导体探测器

►侧窗钼（Mo）靶管

►标配16组复合滤光片

►配置了Φ0.5mm、Φ1mm、Φ3mm、Φ4mm四种准直器

►具备符合中国国家标准的样品混侧功能

►内置标准工作曲线

►配置On-line实时在线技术支持与服务平台

►具备开放工作曲线技术平台

►分析软件操作系统分级管理

产品参数

名称：X荧光光谱仪

型号：NDA200

输入电压：220±5V/50Hz

消耗功率：≤500W

环境温度：15-30℃

环境湿度：≤80%（不结露）

主机外形（mm）:长＊宽＊高=900*500*440

样品仓（mm）:长＊宽＊高=430*380*120

主机重量：约60公斤

技术指标

元素种类：元素周期表中硫（S）～铀（U）之间元素

测量时间：

对聚合物材料，典型测量时间为200秒

对铜基体材料，典型测量时间为400秒

检出限指标（LOD）：

对聚合物材料：LOD（Pb）≤5mg/Kg；LOD（Hg）≤5mg/Kg；LOD（TCr）≤5mg/Kg；LOD（TBr）≤5mg/Kg；LOD（Cd）≤5mg/Kg

对铜基体材料：LOD（Pb）≤50mg/Kg

精密度指标，以连续测量7次的标准偏差σ表征：

对聚合物（塑胶）材料：LOD（Pb）≤15mg/Kg；LOD（Hg）≤15mg/Kg；LOD（TCr）≤15mg/Kg；LOD（TBr）≤15mg/Kg；LOD（Cd）≤7mg/Kg

对铜基体材料：LOD（Pb）≤50mg/Kg

准确度指标，以系统偏差δ进行表征

对聚合物材料：δ（Pb）≤100mg/Kg; δ（Hg）≤100mg/Kg; δ（TBr）≤100mg/Kg; δ（TCr）≤100mg/Kg; δ（Cd）≤10mg/Kg

对铜基体材料：δ（Pb）≤150mg/Kg

该公司产品分类：通用检测 NaU系列 NDA系列