元素分析仪 金属分析仪
3、主要特点:微机控制、自动化程度高。元素含量数显直读。内置比色杯,减少污染。采用的冷光源技术,使仪器更稳定
美国JORDAN VALLEY公司RoHS Analyzer荧光光谱仪
美国Jordan Valley 拥有超过30年向全世界众多客户提供用于元素含量分析的能量分散型X射线荧光分析
系统 (EDXRF)的丰富经验。该公司所制造的仪器能够提供迅速的、无损伤、多元素的成分确定,检
测精度可达ppm级。激发类型:直接激发采用光学设计,增大激发效率.如激发RoHS指令限制Cd元素时,激发电压50Kv即可,而偏振光则需要激
发电压为300Kv,后者价格大约为9万美金左右检测器类型:新一代Si PIN检测器检测器采用电制冷,使用方便,整机需220v 50HZ电源即可使用.稳定时间只需20分钟.而.Si(Li)检测器需
液氮冷却,操作不方便,有冻伤危险,并每月需要购买液氮,一般在300元左右. Si PIN检测器与.Si(Li)检
测器分辨率(分离相邻谱线的能力)分别为:150ev 140ev,因为RoHS指令中的元素都不是相邻元素,所以无
任何意义.最大激发电压:50Kv 4mA最大激发功率:50W能量之调整通常由电压及电流来决定的,电压增加将使阴、阳极电场加大,使电子速加大,亦即穿透能力
加大,电流增加将使阴极灯丝产生之电子数目增加,目前全球只有美国JORDAN VALLEY公司能把电流做到
4mA,而其他公司最多只做到2mA而已,如对与Br、Cr元素的测试,激发电流2mA时,检测限为5ppm,当激
发电流4mA时,检测限可以做到2ppm。此外,由电压、电流之能量组合,使激发能量更适合欲分析元素,
而较强能量可增加可测元素范围。元素分析范围:Na—U电脑:综合的数据处理系统标配件:试样观测系统彩色CCD监视器 抗震实验:可在机动车上安装及操作客户支持及维修服务:在安装期间由JORDAN VALLEY专家进行详尽的培训,香港环球分析测试仪器有限公司作为其国内代理
,并提供用户应用和技术服务支持,因为我们维修部与其他公司盈利性质维修部不一样,在保修期间,
其他公司一次维修费用大约2000到3000元左右,是我们的几倍。
香港环球分析测试仪器有限公司 销售工程师:钱磊电话:021-54259540 13661535228 传真:021-54259442 邮箱:leoqian@163.com
一、KDS-3A金属分析仪性能特点: 金属分析仪采用智能动态跟踪和标准曲线非线性回归等技术,直读含量,自动打印结果。采用微机技术自动跟踪检测,可储存多条标准曲线,断电不受影响。标准曲线自动建立,自动判断检测误差,确保数据。采用了的冷光源技术使数据更加稳定。
二、KDS-3A金属分析仪技术参数:测量范围(以Mn、P、Si、Cr、Ni、Mo.......为例): Mn:0.010-15.00% P:0.005-0.500% Cr:0.01-30.00% Si:0.10-5.00% Ni:0.01金属分析仪-30.00% Mo:0.01-6.00%......(若改变测试方法,可扩大测量元素的种类和含量范围)测量精度:符合GB223.3-5-1988标准 比色时间:约3秒
◎无损样品,前处理简单 ◎能分析出塑料中含有的1PPm的镉 ◎直观的分析界面 ◎自动编制附带合格与否判定结果的分析表 一、技术指标 X荧光光谱仪ROHS指令检测主要技术指标 1.检测仪器SkyrayEDX3000B 2.样品室尺寸:A型400*500*300MM B型1000*1000*300MM 3.测量时间:200秒 4.高压:25-50KV 5.管流:50--1000uA 6.计数率:1300-8000Cps 7.ROHS指令有害元素分析仪检出限Cd/Pb/Cr/Hg/Br达1PPM 8.电致冷硅针半导体探测器 9.加强金属元素感度分析 10.分析范围:1ppm--99.99% 11.测量元素:欧盟ROHS有害微量元素Cd/Pb/Cr/Hg/Br,其中对PBB、PBDE只能测其Br总量,对六价铬只能测其Cr的总量,通过有偿服务可以增加镀层膜厚分析软件与其相关标样可以扩展测到从钾到轴等73种元素 二、主要配置 主要部件: - 主机壹台,含下列主要部件: •X光管:使用寿命大于5千小时 •探测器:电制冷半导体探测器;分辨率:170±10电子伏特 •放大电路; •高压系统 :从25KV~50KV,1毫安 •样品腔:开放式大样品腔(1000mm*1000mm*300mm) •计数率:1300-8000计数率/秒 •ROHS分析软件 测塑料中ROHS指令及金属中ROHS指令的软件。 三、应用领域 § 化学工业 无机有机制品、化学纤维、催化剂、涂料、颜料、药品、化妆品、洗涤剂、橡胶、调色剂等 § 陶瓷、水泥、水泥原料、熟料、石灰石、粘土、玻璃、耐火材料、岩石等 § 电子磁性材料半导体、磁光盘、磁性材料、电池、线路板、电容器等 § 农业、食品土壤、肥料、植物、食品等 § 钢铁生铁、铸铁、不锈钢、低合金、炉渣、铁矿石、铁合金、表面处理钢板、电镀液、铸造砂等 § 环境工厂废水、海水、河水、大气粉尘、工业废物等 § 石油、煤炭石油、重油、润滑油、高分子聚合物、煤炭、焦炭等 § 纸张、纸浆涂布纸、滑石、调色剂、墨水等 § 有色金属铜合金、铝合金、铅合金、锌合金、镁合金、钛合金、贵金属等
联系人:郁光照 电话:0769-22305416(手机13790221005)
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Fischerscop@X—RAY System XDL@一B及XDLM@一C4的设计是专门测量金属镀层厚度的仪器, 它是采用WinFTMV.3的软件, 计算方面用了的FP(FUrldamental Parameter)、DCM(Distance Con“olled Measurement)及强大的电脑功能, X—RAY XDL —B及XDLM —C4已经可以在不使用标准片调校仪器之下, 一样可以进行测量。应用方面:罩性金属镀层厚度测量, 例如Zn;Cr; Cu; Ag; Au; Sn等 合金(两样金属元素)镀层厚度测量, 例如: SnPb; ZnNi; 及NiP(无电浸镍)在Fe上等合金(三檬金属元素)镀层厚度测量, 例交口: AuCuCd在Ni上等双镀层厚度测量, 例如:Au/Ni在Cu 上; Cr/Ni在Cu上;Au/Aq在Ni上;Sn/Cu在黄铜上等双镀层厚度测量(其中一层是合金层), 例如: SnPb/Ni或Au/PdNi在青铜上等三镀层, 例如: Cr/Ni/Cu在塑胶或在铁上金属成份分析, 最多可以分析四种金属元素规格:主机——高650mmx阔570mmx深740mrn; 重55kg测量箱一高300mmx阔460mmx深500mmXDL@—B: 圆形准值器一中0.3mmXDLM@—C4:4倜准值器一中0.1 mm; 中O,2mm;中0.3mm及0.05X0.3mmX一射线向下投射主机上有直接测量键可调校X一射线管高压: 30kV,40kV或50kV彩色显示测量位置, 焦距距离计算办法(DCM)最大焦距调节为80mm外置式电脑(Pentium或同级)及VGA彩色屏幕可选配自动或手动的测量台 |
· 零部件、连接器、PCB中的Pb含量
·焊料中的Pb, Cu, Fe, Ag, Bi
·聚合材料中的Br, Pb, Hg, 和Cd
·框架和紧固件中的涂层,如Cr
· 其他材料中的Cr, Pb, Cd, Hg, Br和其他感兴趣的元素