◆易畅YT260涂镀层测厚仪（防腐层测厚仪）【使用方法】仪器装上电池后，按下“ON/OFF”按键开机，等蜂鸣声响后，液晶显示屏上显示"0"时，仪器自动进入测量状态，直接将测头垂直并快速紧压到工件表面的涂镀层上，仪器通过测头自动测量出涂层厚度，并通过显示屏把厚度值显示出来（注意：测量时注意测头保持垂直）
◆易畅YT260涂镀层测厚仪（防腐层测厚仪）【简介】DR260涂镀层测厚仪是一款专业测量金属材料表面涂镀层覆盖层物体厚度的专业无损检测仪器。采用磁性测厚方法，可无损地测量磁性金属基体（如：钢、铁）上非磁性覆层的厚度（如：镀锌、铬、锢、珐琅、橡胶、粉未、油漆、电泳、搪瓷、防腐层，涂料等）
◆易畅YT260涂镀层测厚仪（防腐层测厚仪）【特点】◇操作简单，测试速度快，灵敏度好，测量精度高◇连接电脑进行通信,读出存贮数据进行保存或打印（适用U型主机）◇可采用两种校准方式：零点校准和两点校准◇操作过程有蜂鸣声标示（单次测量方式）◇具有两种测试方式：连续（CONT INUE）和单次（SINGLE）测量方式◇设有四个统计功能：最大值（MAX）、最小值（MIN）、平均值（MEA）、测量次数（No）◇大容量存储，可存贮800多个测量数据◇自动识别铁基和非铁基底材◇公英制转换μm/Mil◇背光显示模式，低电压指示◇手动/自动关机功能
◆易畅YT260涂层测厚仪（防腐层测厚仪）【技术参数】◇测量范围：0-1250/3000μm（超过1250μm要提前告知厂家另行定制）◇使用环境：温度：0℃-50℃,湿度：20%RH—90%RH,无强磁场环境下使用◇最小基体面积10*10mm◇最小曲率：凸5mm;凹5mm◇基体临界厚度：0.5mm◇最薄基体：0.4mm◇测量精度：±（1%-3%）H+1.5μm◇分辨率：0.1μm /1μm（100μm以下为0.1μm,100μ以上为1μm）◇外形尺寸：130mm*70mm*24mm◇重量：100g◇电源：三节（7号）碱性电池
◆易畅YT260涂镀层测厚仪（防腐层测厚仪）出厂清单：
●YT260（标准配置）◇主机◇标准片◇基体 铁基体一块◇电池◇说明书◇合格证◇清洁布◇通讯数据线 适用于U型主机（选配）◇软件 适用于U型主机（选配）
| MCH系列电脑膜层测厚仪是高新技术的结晶。它采用微机技术，精度高，数字显示，示值稳定，功耗低，操作方便，无校正旋钮，单探头全量程测量，体积小重量轻。具有存贮，读出，统计，低电压指示、上下限报警功能。其性能达到国际同类产品先进水平。 本仪器采用磁性测厚法，方便无损地测量铁磁材料上非磁性涂层的厚度，如钢铁表面上的锌、铜、铬镀层，或油漆、搪瓷、玻璃钢、喷塑，沥青等涂层的厚度，该仪器广泛用于机械、汽车、造船，石油、化工、电镀、喷涂、搪瓷等行业。是铁磁材料保护层质量检测的必备工具。
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把测厚仪的表面迅速地压入精制的膜层上，此时外部锯齿恰好卡在基体上。然后移开仪器。必须选择测量的范围，所以一部分锯齿是湿的，另一部分是干的 。选择另外的合适的测量范围。根据仪器最短的锯齿和邻近干的锯齿，可以计算出膜层的平均值。根据标准的规格，请用同样的方法重复测量至少2次，以减少误差。测量完后，擦干仪器，放入合适的溶剂中。
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把测厚仪的表面迅速地压入精制的膜层上，此时外部锯齿恰好卡在基体上。然后移开仪器。必须选择测量的范围，所以一部分锯齿是湿的，另一部分是干的 。选择另外的合适的测量范围。根据仪器最短的锯齿和邻近干的锯齿，可以计算出膜层的平均值。根据标准的规格，请用同样的方法重复测量至少2次，以减少误差。测量完后，擦干仪器，放入合适的溶剂中。
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把测厚仪的表面迅速地压入精制的膜层上，此时外部锯齿恰好卡在基体上。然后移开仪器。必须选择测量的范围，所以一部分锯齿是湿的，另一部分是干的 。选择另外的合适的测量范围。根据仪器最短的锯齿和邻近干的锯齿，可以计算出膜层的平均值。根据标准的规格，请用同样的方法重复测量至少2次，以减少误差。测量完后，擦干仪器，放入合适的溶剂中。
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把测厚仪的表面迅速地压入精制的膜层上，此时外部锯齿恰好卡在基体上。然后移开仪器。必须选择测量的范围，所以一部分锯齿是湿的，另一部分是干的 。选择另外的合适的测量范围。根据仪器最短的锯齿和邻近干的锯齿，可以计算出膜层的平均值。根据标准的规格，请用同样的方法重复测量至少2次，以减少误差。测量完后，擦干仪器，放入合适的溶剂中。
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Fischerscope X-RAY XDL230 X射线荧光镀层厚度测试仪
一、仪器介绍
适用于Windows 2000或Windows XP的真Win32位程序带在线帮助功能。频谱库中允许创建从元素钛至铀的任何一种新的产品。能通过“应用工具箱"（由一个带所有应用参数的软盘和校准标准块组成）使应用的校准简单化画中画测试件查看和数据显示，带快速移动焦距功能放大试件图像；计算机生成的刻度化的瞄准十字星，并有X-射线光束大小指示器（光束的大小取决于测量的距离，见背面）图形化的用户界面，测试件的图像显示可插入于测试报告中 对试件与视准器之间的距离进行视觉控制的校正（DCM方法）范围可达80mm（3.2〞）
典型的应用范围如下：
单一镀层：Zn， Ni，Cr，Cu，Ag，Au，Sn等。
二元合金层：例如Fe上的SnPb，ZnNi和NiP合金。
三元合金层：例如Ni上的AuCdCu合金。
双镀层：例如Au/Ni/Cu，Cr/Ni/Cu，Au/Ag/Ni，Sn/Cu/Brass，等等。
双镀层，其中一个镀层为合金层：例如Cr/NiCu/Plastic；Fe。
最多24种镀层（使用WinFTM® V.6软件）。
分析多达4种（或24种－使用V.6软件）元素。
分析电镀溶液中的金属离子浓度。
测量模式用于：
单、双及三层镀层系统
双元及三元合金镀层的分析和厚度测量
双层镀层，其中合金镀层在外层或在中间层的厚度测量和分析（两层的厚度和合金成分都能被测量）
能分析多达四种金属成分的合金，包括金的开数分析的特殊功能。
对电镀溶液的分析能力可达包含一或二种阳离子的电镀液。
可通过RS-232接口或使用网络环境控制命令设定数据的输出和输入以实现系统的远程控制。
通过使用可选择的带合成条形码读入器的键盘实现产品选择。
可编程的应用项图标，用于快速产品选择。
完整的统计功能，SPC图，标准的概率图和矩形图评估。 报告生成，数据输出
语言可选择：英语，德语，法语，意大利语，西班牙语，及中文
菜单中的某些选择项可授权使用
二、主要特点：
FISCHERSCOPE XDL 2xx是一款基于Windows? 的镀层厚度测量和材料分析的X-射线系统。测量方向从上往下。XDL 2xx 的特色是独特的距离修正方法。DCM方法（距离控制测量）自动地修正在不同的测量距离上光谱强度的差别。对于XDL 2xx 带测量距离固定的X-射线头，这一特性提供了能在复杂几何外形的测试工件和不同测量距离上实现简便测量的可能性。特别针对微波腔体之类样品的底部镀层厚度进行测量。 HELMUT FISCHER制造用于镀层厚度测量和材料分析的X射线荧光系统有超过17年的经验。通过对所有相关过程包括X射线荧光测量法的精确处理和使用了的软件和硬件技术，FISCHER公司的X射线仪器具有其独特的特点。的WinFTM®（版本3（V.3）或版本6（V.6））软件是仪器的核心。它可以使仪器在没有标准片校准并一定测量精度的情况下测量复杂的镀层系统，同时可以对包含多达24种元素的材料进行分析（使用WinFTM® V.6软件）
三、技术参数：
1.Fischerscope X-RAY XDL是采用根据技术标准DIN50987，ISO3497和ASTM B568的X-射线荧光测试方法；
2.原始射线从上至下；
3.X-射线管高压设定可调节至的应用：50kV，40kV或30kV；
4.单个0.3mm直径（12 mils）的标准视准器，在附加费用的基础上可选择0.05×0.3 mm（2×12 mil）带槽视准器；或直径0.1mm;或直径0.2mm；或0.4X0.4mm方形。
5.测量箱外部尺寸：（高×宽×深）650 mm×570 mm×740 mm（26〞×22〞×29〞），重量大约为105kg（120lbs）；
6.带槽箱体的内部尺寸：（高×宽×深）300 mm×460 mm×500 mm（12〞×18〞×20〞）带向上回转箱门；
7.嵌入式固定的测试件支承板，需要时可移去以适用于大件的超出尺寸的测试工件。
8.从X-射线头部（X-射线管，成比例的反射接收器及视准器）至测试件平面支承板有三种可选择的固定距离。需要的设定距离（见背面）必须在定货时明确（标准设定：中间位置）
9.试件查看用彩色摄像机
10.有LED状态指示灯的测量开始/结束按钮与测试箱集成在一体。
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| FISCHERSCOPE® X-RAY XDL 2xx |
| 测量方向 | 从上往下 |
| X-射线管型号（W: 钨管、MW: 微聚焦钨管） | W |
| 可调节的高压：30kV; 40kV; 50kV | 有 |
| 开槽的测量箱体 |
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| 基本Ni滤波器 | 有 |
| 接收器（Co）可选择的WM-版本 | 有 |
| 数准器数目 | 1 |
| z-轴 | 无，或电机驱动或可编程的 |
| 测量台类型 | 固定台面或手动XY工作台或可编程的XY工作台 |
| 测试点的放大倍率 | 20 - 180 x |
| DCM方法（距离控制测量） | 有 |
| WinFTM® 版本 | V.6L |
| 操作系统：Windows XP prof. | 有 |
FISCHERSCOPE® X-RAY XDL® 2xx 仪器系列目前版本：
FISCHERSCOPE® X-RAY XDL® 210 固定的测量台面和固定的X-射线测量头距离
FISCHERSCOPE® X-RAY XDL® 220 固定的测量台面和电机驱动的X-射线测量头Z-轴运行
FISCHERSCOPE® X-RAY XDL® 230 手动的XY工作台面和电机驱动的X-射线测量头Z-轴运行
FISCHERSCOPE® X-RAY XDL® 240 可编程的XY工作台和可编程的X-射线测量头Z-轴运行