3500型技术参数1. 测量重复性误差 ≤2% 2. 测量范围 比表面测量范围: 0.01㎡/g ≤ X㎡/g ≤ 3500㎡/g 3. 基线稳定线 半小时基线漂移不大于0.1mv,噪声不大于0.05mv。4. 要求气体纯度吸附质——氮气,纯度99.99%以上。载气——氦气或氢气,纯度99.99%以上。(注意被测物不能与氢气作用)5. 仪器供电电源:交流220v±10%,电流频率50赫兹,功率不大于200瓦。 6. 主机外形尺寸:600Χ800Χ410 mm3重量:约50KG。7. 计算机配备系统:处理器:奔腾二以上内 存: 32MB以上显示器设备:高分辨率彩显 Windows98以上操作系统8. 采样频率: 100HZ9. 最小峰宽: 0.1min 10.峰高检测限 20uV
全自动静态容量法氮吸附比表面积分析仪特点
比表面积分析仪售后服务
全自动比表面测量仪
XF806-3600型技术参数≤±2% 此表面测量范围: ㎡/g ≤ X㎡/g ≤ 3500㎡/g 3.全自动比表面测量仪XF806-3600型 基线稳定线 ,。4.全自动比表面测量仪XF806-3600型要求气体纯度吸附质——氮气,%以上。载气——氦气,%以上。或氢气,%以上。(注意被测物不能与氢气作用)
5全自动比表面测量仪XF806-3600型 仪器供电电源交流220v±10%,电流频率50赫兹,功率不大于200瓦。
6.全自动比表面测量仪XF806-3600型主机外形尺寸: 600Χ380Χ410 mm3 重量:约50KG。7.全自动比表面测量仪XF806-3600型计算机配备系统:处理器:奔腾三以上内存: 64MB以上显示器设备:高分辨率彩显 Windows98以上操作系统8.全自动比表面测量仪XF806-3600型采样频率: 100HZ9.全自动比表面测量仪XF806-3600型小峰宽: 10.全自动比表面测量仪XF806-36000型峰高检测限 20uV
BET比表面积测定仪,稀土比表面积仪,炭黑(白炭黑)比表面积测试仪,电池材料比表面积分析仪,催化剂孔径分析仪,分子筛孔径分布测试仪,氧化铝比表面仪和活性炭孔容积微孔分析仪,陶瓷粉末孔隙率测定仪,吸附剂比表面及孔隙度分析仪国产实现真正自动化智能化测试技术的开拓者和引领者,多项独特技术已成为业内厂商仿效典范.
金埃谱比表面积仪是国内通过ISO9001质量认证的产品,金埃谱科技是国产比表面积仪实现真正自动化智能化测试技术的开拓者和引领者,金埃谱比表面积仪的多项独特技术已成为业内厂商仿效典范.
产品线: 全自动智能比表面积仪及中孔微孔分布测试仪,BET法比表面仪,比表面积测试仪,氮吸附比表面积测定仪,比表面检测仪,比表面测量仪,比表面积检测仪,介孔微孔分布测定仪,比表面积测量仪,BET比表面积分析仪,比表面测定仪,比表面测试仪,BET比表面分析仪,孔容积测定仪,孔径分析仪,孔径检测仪,孔径测量仪,孔径分布测定仪,孔隙度分析仪,介孔微孔分布分析仪,孔容积分析仪,孔径分布检测仪,孔径分布测量仪,孔隙率测定仪,孔隙率检测仪,孔隙率测量仪,孔容测试仪,孔结构分析仪,孔径测定仪,孔隙度检测仪,孔隙度测量仪,平均孔径测试仪,介孔微孔分布测量仪,孔结构检测仪,孔结构测量仪,总孔体积分析仪,孔容积测试仪,孔体积分析仪,孔体积检测仪,孔体积测量仪,平均孔径测定仪,孔隙率分析仪,孔径测试仪,孔径分布测试仪,孔容检测仪,孔容测量仪,总孔体积测定仪,介孔微孔分布检测仪,孔体积测试仪,平均孔径分析仪,总孔体积检测仪,总孔体积测量仪,孔隙度测定仪,孔径分布分析仪,平均孔径检测仪,平均孔径测量仪,孔结构测定仪,总孔体积测试仪,孔隙率测试仪,孔结构测试仪,孔容分析仪,孔体积测定仪,孔隙度测试仪,孔容测定仪等是粉体和颗粒材料的比表面积及孔径(孔隙度)分布的检测分析仪器
应用领域:吸附剂(如活性碳,硅胶,活性氧化铝,分子筛,活性炭,硅酸钙,海泡石,沸石等);陶瓷原材料(如氧化铝,氧化铟,氧化锆,硅酸盐,氮化铝,二氧化硅,氧化钇,氮化硅,石英,碳化硅等);橡塑材料补强剂(如炭黑,白碳黑,纳米碳酸钙,碳黑,白炭黑等);电池材料(如钴酸锂,锰酸锂,石墨,镍钴酸锂,氧化钴,磷酸铁锂,钛酸锂,三元素,三元素材料,聚合物,聚合物材料,聚合物电池材料,碱锰材料,锂离子材料,锂锰材料,碱性材料,锌锰材料,石英粉,镁锰材料,碳性材料,锌空材料,锌汞材料,乙炔黑,镍氢材料,镍镉材料,隔膜,活性物资,添加剂,导电剂,缓蚀剂,锰粉,电解二氧化锰,石墨粉,氢氧化亚镍,泡沫镍,改性石墨材料,正极活性物质,负极活性物质,锌粉等);金属氧化物(如氧化锌,氧化钙,氧化钠,氧化镁,氧化钡,氧化铁,氧化铜等);磁性粉末材料(如四氧化三铁,铁氧体,氧化亚铁等);纳米金属材料(如纳米银粉,铁粉,铜粉,钨粉,镍粉,铝粉,钴粉等);环保行业(如颜填料,柱填料,无机颜料,碳酸钙,氧化硅,矿物粉,沉积物,悬浮物等);无机粉体材料(如氧化钛,钛,二氧化钛等);纳米材料(如纳米粉体材料,纳米陶瓷材料等);稀土(膨润土,活性漂白土,抛光粉),煤炭(粉煤灰),水泥(矿渣粉),储能材料,催化剂(硅藻土),净化剂,助滤剂,土壤,黏土,石油断裂剂,发光稀土粉末材料(荧光粉),粉体材料,粉末材料,超细纤维,多孔织物,复合材料等粉体和颗粒材料的比表面积及孔径的检测分析,广泛适用于高校及科研院所材料研究和粉体材料生产企业产品质量监控.
(发明专利号201410320453.2)
参数规格
测试功能: | 直接对比法比表面积; |
测试气体: | 高纯氮气(99.999%)+高纯氦气(99.999%)混合气体; |
测试范围: | 比表面0.01m2/g至无上限; |
重复精度: | 比表面积≤± 1.0%; |
测试效率: | 平均每个样品5min,测试结果由软件自动实时得出; |
分析站: | 4个 |
升降系统: | 4个样品位原位设有4套独立的升降系统,电动控制、自动控制,且互不干扰; |
压力传感: | 原装进口,1000torr、10torr、1torr,精度≤± 0.15%(读值); |
分压范围: | P/P0为0.3或0.4; |
压力控制: | 常压下进行吸脱附实验,全自动控制; |
数据采集: | USB口数据采集卡及A/D转换器,采集速度快、精度高,兼容Windows 2000/XP 32位系统; |
可选脱气机参数:1. 脱气站:4站;2. 脱气温度:室温—400℃±1℃;3. 真空泵极限真空:100Pa;4. 规格:长400mm×宽300mm×高550mm, 重量约10 Kg;5. 使用电源要求:交流220V±20V,50/60HZ,最大功率300W;
测试原理:
精微高博JW-DX 动态独立吸附法比表面测定仪测试原理
流动色谱法,低温氮吸附, 常温脱附;
测试条件:
精微高博JW-DX 动态独立吸附法比表面测定仪测试条件
环境温度:室温20 - 25℃;
电 源:交流220V±20V,50/60HZ,最大功率300W;电流5A ;
气体:高纯氮气(99.999%)+高纯氦气(99.999%)混合气体;
仪器规格:
精微高博JW-DX 动态独立吸附法比表面测定仪规格
长610mm×宽360mm×高690mm, 重量约30Kg;
产品优势
1) 动态比表面测定,JW发明专利(专利号201410320453.2),采用吸附峰,测试过程简化,完全避免了样品脱附不完全可能带来的误差;
2) 仪器设有4个独立分析位,可同时进行4个样品的比表面快速测定,测定范围0.01m2/g-500 m2/g,尤其适合小比表面样品测试;
3) 每个样品独立进行吸附,实现了多样品的无干扰、无差异测试,完全保证四个样品站测试结果的平行性;测试重复精度≤± 1.0%;
4) 每个样品气路直接与热导检测器相连,不受其他气路冲淡,吸附峰尖锐,灵敏度大大提高,非常适合小比表面样品的测定;
5) 仪器内部管路连接方式采用快插式接头连接,方便、快捷、耐用、不漏气,完全满足常压下动态色谱法比表面积测试的要求,人性化设计:
6) 采用热导池检测器恒温系统,确保测试结果的稳定性,大大减小测量误差;
7) 自主研发的全自动数据采集及处理软件,先进而简便,操作极为方便,具有开拓性、时代性!
应用领域
催化剂材料:活性氧化铝、分子筛、沸石等;
环保领域:活性炭等吸附剂;
纳米材料:纳米陶瓷粉体(氧化铝、氧化锆、氧化钇、氮化硅、 碳化硅等)、纳米金属粉体(银粉、铁粉、铜粉、钨粉、镍粉 等)、纳米高分子材料、碳纳米管等;
煤矿行业:煤、矿石、岩石、页岩气、煤层气等;
其他材料:超细纤维、多孔织物、复合材料等。
电池材料:钴酸锂、锰酸锂、磷酸铁锂、石墨、三元材料等正负极材料;医药辅料等其他小比表面材料;
★ 《国产好仪器》、研发特别贡献奖
★ 高新技术企业证书、中关村高新技术企业协会会员证书
★ 中国仪器仪表协会会员证书
★ 自主创新金奖、企业诚信证书
★ CE证书
★ 中关村国家自主创新示范区新技术新产品证书、中关村高新技术企业证书
★ ISO9001:2008质量管理体系认证证书
★ 中国计量科学研究院测试证书
★ 专利证书
专利名称:一种标定气体体积的自动切换装置 专利名称:一种快插式接头 专利名称:一种杜瓦瓶专利号:ZL 2012 2 0167116.0 专利号:ZL 2012 2 0166665. 6 专利号:ZL 2012 2 0166438.3
专利名称:一种新型恒定液氮面高度的样品管 专利名称:一种真空干燥箱 专利名称:一种氮气分压调节装置专利号:ZL 2011 2 0090124.5 专利号:ZL 2012 2 0166437.9 专利号: ZL 2012 2 0167016.8
专利名称:一种阶梯式动态氮吸附仪 专利名称:外观设计专利 专利号:ZL 2011 1 0079215.3 专利号:ZL 2013 3 0617931.2
★ 软件产品登记证书
JW-DA 动态智能化比表面测试仪软件 JW-BK 静态氮吸附仪软件★ 软件著作权
★ 优秀产品奖
2010科学仪器优秀产品证书 中国粉体网优秀产品奖
★ 协会会员证书
北京粉体技术协会 聘书 中国化学与物理电源行业协会证书
中国颗粒学会证书 中国分析测试协会会员
北京粉体技术协会最受关注产品奖
★ 《商标注册证》
北京精微高博科学技术有限公司成立于2004年,是知名的材料科学家钟家湘教授领衔创建的、集研发、生产、销售于一体的国家级高新技术企业,坐落于风景秀丽的北京西二环护城河畔,在上海、广州等地设有分公司或办事处。 十年来,在钟教授的带领下,公司建立了一支拥有博士、硕士和一批工程师、技师组成的多学科交叉的技术队伍,团结一致,不断进取,始终坚持走自主创新的道路,在国内率先研发成功动态全自动比表面仪、BET比表面仪、阶梯法动态比表面仪、単气路常压孔径分析仪、静态容量法介孔分析仪、静态四站比表面测定仪、高性能静态微孔分析仪、气体法真密度仪、高压吸附仪等,被誉为“中国氮吸附仪的开拓者”,是我国微纳米新材料表征与测试仪器领域的领航者。 JW(精微)品牌已成为国内外知名品牌,用户已遍及全国32个省市,包括知名的高等院校、研究院所和企事业单位,用JW仪器数据撰写的论文发表于国际、国内很多知名杂志,为国产仪器走向国际开辟了道路。2011年,JW产品亮相于美国科学仪器展和日本粉体展,引起广泛关注,产品已远销国外,包括欧洲、日本、巴西、印度、泰国、蒙古、朝鲜等十余个国家。 精微高博把技术服务放在优先的战略地位,以创新求发展,视质量为生命,以客户需求为己任,遵循“为顾客提供优质产品和完美服务”的宗旨,坚持信誉第一,坚持实事求是的科学精神,坚持对用户负责的承诺,永远做用户忠实的、可信赖的朋友。
SSA-3600型比表面积分析仪
技术参数
1.测量重复性误差:≤2%
2.比表面测量范围:0.01㎡/g ≤ X㎡/g ≤ 3500㎡/g
3.基线稳定线:半小时基线漂移不大于0.1mv,噪声不大于0.05mv
4.采样频率:100HZ
5.最小峰宽:0.1min
6.峰高检测限:20uV
7.要求气体纯度:
吸附质——氮气,纯度99.99%以上
载气——氦气,纯度99.99%以上(如使用氢气,要求纯度99.99%以上,并注意被测物不能与氢气发生反应;)
8.电源规范:交流220v±10%,电流频率50赫兹,功率不大于200瓦
9.主机外形规格:L600mm * W380mm * H410mm
10.主机重量:约50KG
11.计算机配备系统:
处理器:奔腾3以上
内存: 64MB以上
显示器设备:高分辨率彩显
操作系统Windows98/XP/2000本产品已申请专利,专利号为02229474.0 。
全自动比表面积分析仪NOVA系列产品主要特点
1、新一代R&D级产品,康塔专利技术无需氦气,运行成本低。
2、脱气站具有真空和流动两种标准脱气方式。
3、具有包括液位传感器的液氮液位伺服控制系统,死体积小
4、仪器操作由键盘、计算机双控制系统,灵活便捷
7、有中文操作和软件说明书
8、符合美国FDA 21 CFR Part 11 标准
全自动比表面积分析仪NOVA系列产品主要性能指标
1.样品分析站数量:多站分析仪,可以同时最多进行4个样品的比表面积分析和4个样品真空脱气处理。
2.比表面积范围:0.01-无上限㎡/g;孔径适用范围0.35-400nm。
3.压力传感器度:0.1%(全量程、1000torr 传感器)
4.压力传感器相对灵敏度:优于2×10-5
5.极限真空度:优于1 x 10-3 torr
6.具有液氮液位传感器控制样品管在液氮中的深度,最大限度的减小死体积
7.仅用氮气,无氦气分析技术,无需氦气做载气,低成本运行。
8.脱气方式:真空脱气和流动脱气两种标准方式
9.具有样品真密度测量功能,一机多用
10.Windows操作和处理软件,可以得到以下基本数据:等温吸附线;BET比表面积;LUNGMUIR 比表面积;外表面积(STSA),BJH孔分布;平均孔径;总孔体积;DR微孔面积:包括平均吸附能等
更多信息请关注康塔官方网站http://www.quantachrome-china.com/Product_View.asp?Id=21
比表面积分析仪技术指标
比表面积分析仪主机功能:氮吸附动态法(气相色谱法)测试,直接对比法比表面积测试,BET法比表面积(多点及单点)测试,Langmuir比表面积测试,平均粒径估算,炭黑外比表面积测试,样品吸附常数C测定;采用强大的在线数据分析系统(软著第0330203号),确保测试数据更稳定更精确.
比表面积分析仪测试功能:F-Sorb智能化测试模式,无人干预全自动测试,消除人为操作误差,提高测试精度
比表面积分析仪测量范围:0.01(㎡/g)--至无上限(比表面积)
比表面积分析仪流量调节:F-Sorb独创技术,微型步进电机流量调节系统,实现流量的精确调节,真正实现流量调节的自动化
比表面积分析仪定量标定:F-Sorb型定量管脱附系统,软件自动控制实现定量管气路切换,无需人工手动操控定量开关阀,提高定量标定精度和实现自动化
比表面积分析仪控制系统:采用的集中多功能控制系统(软著第0330201号),确保实现测试过程的自动化及智能化,测试期间无需任何人工干预,仪器自动执行测试.
比表面积分析仪升降系统:采用步进电机控制的液氮升降系统,运行平稳,噪音小,并可提高使用稳定性和寿命
比表面积分析仪样品数量:可同时进行4个样品的吸附或脱附测定,样品测试系统和样品处理系统相互独立,并且样品测试和样品脱气处理可以同时进行,避免了测试管路受到污染,从而进一步确保测试的精度和提高仪器使用寿命
比表面积分析仪测试压力:常压下进行,无需抽真空, 利于快速的比表面积测试
比表面积分析仪测试精度:测量重复性误差≤1.5%
比表面积分析仪样品类型:粉末,颗粒,纤维及片状材料等
比表面积分析仪测试气体:载气为高纯He气(99.99%),吸附质为高纯N2(99.99%)或其它(按需选择如Ar,Kr)
比表面积分析仪管路密封:采用高真空系统不锈钢管路,高密封性能,防止气体分子渗透导致的比表面积测试误差;同时不锈钢管不存在老化问题,大大提高性和寿命
比表面积分析仪测试时间:每样品每 P/P0点吸附和脱附平均时间为5分钟(视样品吸附特性变化),四个样品分析平均时间20分钟左右(同时可测四个样品),比表面积结果自动由软件实时得出
比表面积分析仪数据采集:采用主流的数据采集存储系统(软著第0330205号)和独立的工业级数据采集模块,采集精度高,误差小,抗干扰能力强.
比表面积分析仪数据处理:BET单点及多点线性拟合图,图形化数据分析结果报表,可根据需要选择中英文格式结果报表。分析与数据处理可同时进行,检测结果实时显示,详细的自动操作步骤记录及数据随测试结果文件保存
比表面积分析仪仪器规格:尺寸:长55×宽55×高60(CM);重量:40公斤;电压:交流220V;电流:3A
参数规格
测试功能: | 直接对比法比表面积; |
测试气体: | 高纯氮气(99.999%)+高纯氦气(99.999%)混合气体; |
测试范围: | 比表面0.01m2/g至无上限; |
重复精度: | 比表面积≤± 1.0%; |
测试效率: | 平均每个样品5min,测试结果由软件自动实时得出; |
分析站: | 4个; |
升降系统: | 4个样品位原位设有4套独立的升降系统,电动控制、自动控制,且互不干扰; |
真空泵: | 极限真空:100Pa; |
脱气系统: | 异位真空脱气预处理系统模块化设计,可同时进行4个样品的脱气处理; |
脱气温度: | 室温—400℃±1℃; |
分压范围: | P/P0为0.3或0.4; |
压力控制: | 常压下进行吸脱附实验,全自动控制; |
数据采集: | USB口数据采集卡及A/D转换器,采集速度快、精度高,兼容Windows 2000/XP 32位系统; |
测试原理:
精微高博JW-04 动态比表面快速测定仪测试原理
流动色谱法,低温氮吸附,常温脱附;
仪器规格:
精微高博JW-04 动态比表面快速测定仪规格
长610mm×宽360mm×高690mm, 重量约30Kg;
测试条件:
精微高博JW-04 动态比表面快速测定仪测试条件
环境温度:室温20 - 25℃;
电 源:交流220V±20V,50/60HZ,最大功率300W;电流5A ;
气体:高纯氮气(99.999%)+高纯氦气(99.999%)混合气体;
产品优势
1) 四站并列分析,可同时进行四个样品的比表面快速测试,测试效率超高;
2) 可选配外置式4站真空脱气机,完全同仪器分开,样品测试的同时,可以进行另外样品的脱气处理,大大提高测试效率,最高脱气温度400℃;(JW专利技术,证书号第2516757号)
3) 四个样品的直接对比法比表面测试,15分钟内自动完成;
4) 采用国际知名品牌气体稳压稳流装置双重控制,精度高、误差小,确保经过样品表面的气体的流量稳定性与精确性;
5) 仪器内部管路连接方式采用快插式接头连接,方便、快捷、耐用、不漏气,完全满足常压下动态色谱法比表面积测试的要求,人性化设计;(JW专利技术,证书号第2506357号)
6) 具有热导池检测器恒温系统,确保测试结果的稳定性,大大减小测量误差;
7) 仪器完全支持使用高纯氦气或氢气充当载气,测试灵敏度高;
8) 自主研发的全自动数据采集及处理软件,先进、简便,具有开拓性!
应用领域
橡胶材料:炭黑、白炭黑、碳酸钙、氧化锌、氧化硅等化工原料;电池材料:钴酸锂、锰酸锂、磷酸铁锂、石墨、三元材料等电极正负极材料;食品添加剂:淀粉、活性白土、膨润土等; 磁性材料:四氧化三铁、铁氧体、四氧化三锰等;纳米材料:纳米陶瓷粉体(氧化铝、氧化锆、氧化钇、氮化硅、 碳化硅等)、纳米金属粉体(银粉、铁粉、铜粉、钨粉、镍粉 等)等;
★ 《国产好仪器》、研发特别贡献奖
★ 高新技术企业证书、中关村高新技术企业协会会员证书
★ 中国仪器仪表协会会员证书
★ 自主创新金奖、企业诚信证书
★ CE证书
★ 中关村国家自主创新示范区新技术新产品证书、中关村高新技术企业证书
★ ISO9001:2008质量管理体系认证证书
★ 中国计量科学研究院测试证书
★ 专利证书
专利名称:一种标定气体体积的自动切换装置 专利名称:一种快插式接头 专利名称:一种杜瓦瓶专利号:ZL 2012 2 0167116.0 专利号:ZL 2012 2 0166665. 6 专利号:ZL 2012 2 0166438.3
专利名称:一种新型恒定液氮面高度的样品管 专利名称:一种真空干燥箱 专利名称:一种氮气分压调节装置专利号:ZL 2011 2 0090124.5 专利号:ZL 2012 2 0166437.9 专利号: ZL 2012 2 0167016.8
专利名称:一种阶梯式动态氮吸附仪 专利名称:外观设计专利 专利号:ZL 2011 1 0079215.3 专利号:ZL 2013 3 0617931.2
★ 软件产品登记证书
JW-DA 动态智能化比表面测试仪软件 JW-BK 静态氮吸附仪软件★ 软件著作权
★ 优秀产品奖
2010科学仪器优秀产品证书 中国粉体网优秀产品奖
★ 协会会员证书
北京粉体技术协会 聘书 中国化学与物理电源行业协会证书
中国颗粒学会证书 中国分析测试协会会员
北京粉体技术协会最受关注产品奖
★ 《商标注册证》
北京精微高博科学技术有限公司成立于2004年,是知名的材料科学家钟家湘教授领衔创建的、集研发、生产、销售于一体的国家级高新技术企业,坐落于风景秀丽的北京西二环护城河畔,在上海、广州等地设有分公司或办事处。 十年来,在钟教授的带领下,公司建立了一支拥有博士、硕士和一批工程师、技师组成的多学科交叉的技术队伍,团结一致,不断进取,始终坚持走自主创新的道路,在国内率先研发成功动态全自动比表面仪、BET比表面仪、阶梯法动态比表面仪、単气路常压孔径分析仪、静态容量法介孔分析仪、静态四站比表面测定仪、高性能静态微孔分析仪、气体法真密度仪、高压吸附仪等,被誉为“中国氮吸附仪的开拓者”,是我国微纳米新材料表征与测试仪器领域的领航者。 JW(精微)品牌已成为国内外知名品牌,用户已遍及全国32个省市,包括知名的高等院校、研究院所和企事业单位,用JW仪器数据撰写的论文发表于国际、国内很多知名杂志,为国产仪器走向国际开辟了道路。2011年,JW产品亮相于美国科学仪器展和日本粉体展,引起广泛关注,产品已远销国外,包括欧洲、日本、巴西、印度、泰国、蒙古、朝鲜等十余个国家。 精微高博把技术服务放在优先的战略地位,以创新求发展,视质量为生命,以客户需求为己任,遵循“为顾客提供优质产品和完美服务”的宗旨,坚持信誉第一,坚持实事求是的科学精神,坚持对用户负责的承诺,永远做用户忠实的、可信赖的朋友。