电子工业(包括印制电路行业、半导体工业)
微电子(印制电路、半导体芯片、框架和连接器等)生产
PCB行业涉及的表面处理厚度
• 铜箔表面的镀层厚度(Au、Ni、Pd和Sn等等)
铜箔的厚度
助焊剂的厚度
孔铜的厚度
PCB上的镀层功能
金层:金具有高化学稳定性、导电性好、易抛光、延展性好、易焊接
,耐高温、抗氧化和腐蚀
镍层:用镍来作为金的衬底镀层,可大大提高耐磨性。当用来作为阻
挡层时,镍能有效地防止铜和其它金属之间的扩散。
铜层:良好的导电性和良好的机械性能,容易活化,能够与其它金属
镀层形成良好的金属一金属间键合
锡层:锡具有抗腐蚀、耐变色、无毒、易钎焊、柔软、熔点低和延展
性好
PCB镀层厚度测试意义
1、功能性保证:金层太薄性能影响很大。镍
太薄达不到效果,太厚易脆裂等
2、机械性能、尺寸:影响再加工、组装等
3、镀层均匀性:影响产品一致性
4、成本:加强加工或来料检验,减少损失 直接影响产品的性能和寿命
X射线荧光法的特点
• 是一种清洁的测量方法
• 非接触、非破坏的无损检测方法
• 单层、多层以及合金层都可测量
(例如:Sn/Cu、Au/Ni/Cu/PCB、SnPb/Cu 、Ag/Ni/Cu‥ ‥ ‥)
• 安全可靠
• 可广泛应用于各种金属表面处理行业(汽车、微电子、印制电路板、航
空航天、半导体、珠宝饰品、太阳能光伏等等)。
PCB电路板镀层测厚仪仪器原理
当产品镀层中的不同金属元素被X-荧光射线照射后会激发出电子荧光信号,而这些电子都有自己的特定讯号强弱,透过这些特性便可识别出不同金属元素。当仪器接收器收到讯号后会经过运算然后描绘出一个光谱图。由于不同的元素会产生不同的光谱图,它们也有特定的频道,这些数据再经过计算机软件运算后便可以计算出金属镀层厚度或成份数据。
PCB电路板镀层测厚仪XDLM镀层厚度测量仪特点
· 通用性极广,因为配备了微聚焦管、4个可切换准直器和 3 个基本滤片
· 适用于微小结构,如接插件或线路板
· 还适用于远距离测量(DCM方法,范围0-80 mm)
· 底部C型开槽的大容量测量舱
· 可编程的台式设备,用于自动测量
PCB电路板镀层测厚仪XDLM镀层厚度测量仪典型应用领域
· 测量印刷线路板工业中,薄金、钯和镍镀层。镍层测厚、化镍厚度
· 测量接插件镀层和触点镀层。
· 在电子和半导体行业中测量功能性镀层。
· 黄金、珠宝和钟表工业。
PCB电路板镀层测厚仪行业典型客户例举
富士康集团
冠捷集团
方正集团
厦门东声电子(产品:手机听筒)
厦门众盛精密电路(手机天线)
厦门骏丰电子(手机电子插件、显示器配线)
厦门安菲诺电子(手机电脑接插件)
数字式涂层测厚仪
本仪器是一种便携式测量仪,它能快速、无损伤、精密地进行涂、镀层厚度的测量。既可用于实验室,也可用于工程现场。通过使用不同的测头,可满足多种测量的需要。适用范围 本仪器采用了磁性和涡流两种测厚方法,可无损地测量磁性金属基体( 如钢、铁、合金和硬磁性钢等 )上非磁性覆盖层的厚度(如铝、铬、铜、珐琅、橡胶、油漆等)及非磁性金属基体(如铜、铝、锌、锡等)上非导电覆盖层的厚度(如:珐琅、橡胶、油漆、塑料等)。 本仪器能广泛地应用在制造业、金属加工业、化工业、商检等检测领域。是材料保护专业必备的仪器。主要技术指标 使用环境温度:0~40℃ 电源:镍氢电池5×1.2V 600mAH 外型尺寸:270×86×47mm 重量:530g 测量范围: 0—1250μm 主要功能 可使用6种测头(F400、F1、F1/90°、F10、N1、CN02)进行测量; 三种校准方法: 一点校准、二点校准、基本校准; 显示分辨率: 0.1μm(测量范围小于100μm) 1μm (测量范围大于100μm) 设五个统计量,存储495个数据 有两种工作方式:直接方式和成组方式 有两种测量方式:连续测量和单次测量 有两种关机方式:手动关机和自动关机 可设置限界:对限界外的测量值能自动报警,并可用直方图对一批测量值进行分析; 有删除功能:对粗大误差及错误设置可进行删除处理; 打印功能:可打印测量测量值、统计值、限界、直方图 有音乐铃声随时对操作进行提示 有电源欠压指示功能 可以边充电边工作 错误提示功能 与计算机通讯(通讯软件运行环境为Window操作系统),用计算机控制测厚仪工作。基本配置: 主机 1台 打印机 1台 F1或N1测头 1支 校准标准片 1套 充电器 1个
漆膜测厚仪,镀膜测厚仪,电镀膜测厚仪,氧化膜测厚仪
产品性能1、测量范围: 0~1200um2、测量误差: <3%±1um3、最小示值: 1um4、显示方式: 4位液晶数字显示5、主要功能:(1).测量: 单探头全量程测厚(2).存储、删除: 可存入测量数据600个,对测量中的单个可疑数据进行删除,也可以删除存储区内的所有数据。(3).读: 读出已存入的测量数据(4).统计: 设有三个统计量,平均值最大值最小值(5).校准: 可进行零点校准、两点校准及系统校准(6).电量: 具有欠压显示功能(7).蜂鸣提示:操作过程中有蜂鸣提示(8).打印: 可打印测量值,选配微型打印机(9).关机: 具有自动关机和手动关机两种方法6、电源: 两节1.5v电池7、功耗: 最大功耗100mw8、外形尽寸: 51mm*126mm*27mm9、重量: 160g(含电池)10、使用环境温度: 0℃~+40℃ 相对湿度:不大于90%11、基体最小厚度: 0.5mm12、基体最小平面的直径: 7mm13、最小曲率半径: 凸:1.5mm 凹:6mm
主要用途及特点:
本仪器适用于机械测量法测定塑料薄膜和薄片的厚度(不适用于压花的薄膜和薄片)、读数直观,使用方便。执行GB/T6672-2001标准。
技术参数:
测量范围:0-1㎜
分度值:0.001㎜
上测头曲率半径:15~50㎜
测头对试样施加负荷:0.1~0.5N
薄膜厚度测量的重要性:
当今微电子薄膜,光学薄膜,抗氧化薄膜,巨磁电阻薄膜,高温超导薄膜等在工业生产和人类生活中的不断应用,在工业生产的薄膜,其厚度是一个非常重要的参数,直接关系到该薄膜材料能否正常工作。如大规模集成电路的生产工艺中的各种薄膜,由于电路集成程度的不断提高,薄膜厚度的任何微小变化,对集成电路的性能都会产生直接的影响。除此之外,薄膜材料的力学性能,透光性能,磁性能,热导率,表面结构等都与厚度有着密切的联系。
详情致电 济南艾德诺仪器 18615199091
用户使用“Administrator”,密码:skyray
2) 进入测试软件后,选择“测试条件”
点击“确定”,即测试条件确定(仪器已设置好)
3) 选择“工作曲线”
如待测样品是铁镀镍,则选择Ni-Fe;其他依次类推
4) 放入“Ag片”对仪器进行初始化
初始化完成后,(峰通道为1105,计数率达到定的数,如300以上)。
5) 待测样品测试
放入待测的样品,通过摄像头画面观察当前放入的样品的表面情况,以及仪器的X射线的聚焦点(由图中激光的红斑所示)。可以通过软件提供的十字坐标(也称十字光标)来定位该聚焦点,将样品放在聚焦点位置。点击“开始”,输入样品名称后“确定”。
6) 测试完成后即可保持报告,报告的位置可以在桌面的“分析报告”快捷方式中的“镀层报告”中找到。
注意:测试镀层样品时,必须先要确定是什么镀层、选择好对应的工作曲线测试。
技术参数
测定对象 | 磁性金属上非磁性涂镀层及非磁性金属上绝缘层 |
测定范围 | 0-2000um |
测定精度 | <50um ±1um 50-1000±2% 1000-2000um±3% |
分辨率 | <100um 0.1um >100um 1um |
界限设定 | 可设定上/下限数值 |
测试单位 | 公/英制互换 |
显示方式 | LCD数显 |
操作面板 | 密封防水按键 |
附属品 | 铁基体/铝基体/校正标准片/电池/皮套/说明书 |
电源 | DV3V 7#碱性电池×2个 |
体积 | 82(W)×31(D)×99.5(H) |
重量 | 主机重量135g,主机含电池重量155g |
测定对象 | 磁性金属上非磁性涂镀层及非磁性金属上绝缘层 |
测定范围 | 0-2000um |
测定精度 | <50um ±1um 50-1000±2% 1000-2000um±3% |
分辨率 | <100um 0.1um >100um 1um |
界限设定 | 可设定上/下限数值 |
测试单位 | 公/英制互换 |
显示方式 | LCD数显 |
操作面板 | 密封防水按键 |
附属品 | 铁基体/铝基体/校正标准片/电池/皮套/说明书 |
电源 | DV3V 7#碱性电池×2个 |
体积 | 82(W)×31(D)×99.5(H) |
重量 | 主机重量135g,主机含电池重量155g |
测定对象 | 磁性金属上非磁性涂镀层及非磁性金属上绝缘层 |
测定范围 | 0-2000um |
测定精度 | <50um ±1um 50-1000±2% 1000-2000um±3% |
分辨率 | <100um 0.1um >100um 1um |
界限设定 | 可设定上/下限数值 |
测试单位 | 公/英制互换 |
测定方法 | 电磁式及高频涡流式 |
测定对象 | 磁性金属上非磁性涂镀层及非磁性金属上绝缘层 |
测定范围 | 0-2000um |
测定精度 | <50um ±1um 50-1000±2% 1000-2000um±3% |
分辨率 | <100um 0.1um >100um 1um |
界限设定 | 可设定上/下限数值 |
测试单位 | 公/英制互换 |
显示方式 | LCD数显 |
操作面板 | 密封防水按键 |
附属品 | 铁基体/铝基体/校正标准片/电池/皮套/说明书 |
电源 | DV3V 7#碱性电池×2个 |
体积 | 82(W)×31(D)×99.5(H) |
重量 | 主机重量135g,主机含电池重量155g |
记忆内容 | 测定结果 统计计算结果 批量号 测定或操作时间记录等 |
输出内容 | 测定结果 统计计算结果 批量号 测定或操作时间记录等 |
附加功能 | 时间表示 统计计算:最大值.最小值.标准偏离值.平均值 |
测定方法 | 电磁式及高频涡流式 |
测定对象 | 磁性金属上非磁性涂镀层及非磁性金属上绝缘层 |
测定范围 | 0-2000um |
测定精度 | <50um ±1um 50-1000±2% 1000-2000um±3% |
分辨率 | <100um 0.1um >100um 1um |
界限设定 | 可设定上/下限数值 |
测试单位 | 公/英制互换 |
显示方式 | LCD数显 |
操作面板 | 密封防水按键 |
附属品 | 铁基体/铝基体/校正标准片/电池/皮套/说明书 |
电源 | DV3V 7#碱性电池×2个 |
体积 | 82(W)×31(D)×99.5(H) |
重量 | 主机重量135g,主机含电池重量155g |
记忆内容 | 测定结果 统计计算结果 批量号 测定或操作时间记录等 |
输出内容 | 测定结果 统计计算结果 批量号 测定或操作时间记录等 |
附加功能 | 时间表示 统计计算:最大值.最小值.标准偏离值.平均值 |
测定精度:<50um±1um 50-1000±2% 1000-2000um±3%
分辨率:<100um 0.1um >100um 1um
记忆内容 :统计计算结果 批量号 测定或操作时间记录等
产品说明: 概述 本仪器是一种便携式测量仪,它能快速、无损伤、精密地进行涂、镀层厚度的测量。既可用于实验室,也可用于工程现场。通过使用不同的测头,可满足多种测量的需要。
适用范围 本仪器采用了磁性和涡流两种测厚方法,可无损地测量磁性金属基体( 如钢、铁、合金和硬磁性钢等 )上非磁性覆盖层的厚度(如铝、铬、铜、珐琅、橡胶、油漆等)及非磁性金属基体(如铜、铝、锌、锡等)上非导电覆盖层的厚度(如:珐琅、橡胶、油漆、塑料等)。 本仪器能广泛地应用在制造业、金属加工业、化工业、商检等检测领域。是材料保护专业必备的仪器。
主要技术指标 使用环境温度:0~40℃ 电源:镍氢电池5×1.2V 600mAH 外型尺寸:270×86×47mm 重量:530g 测量范围: 0—1250μm
主要功能 可使用6种测头(F400、F1、F1/90°、F10、N1、CN02)进行测量; 三种校准方法: 一点校准、二点校准、基本校准;
显示分辨率: 0.1μm(测量范围小于100μm) 1μm (测量范围大于100μm) 设五个统计量,存储495个数据 有两种工作方式:直接方式和成组方式 有两种测量方式:连续测量和单次测量 有两种关机方式:手动关机和自动关机 可设置限界:对限界外的测量值能自动报警,并可用直方图对一批测量值进行分析; 有删除功能:对粗大误差及错误设置可进行删除处理; 打印功能:可打印测量测量值、统计值、限界、直方图
有音乐铃声随时对操作进行提示 有电源欠压指示功能 可以边充电边工作 错误提示功能 与计算机通讯(通讯软件运行环境为Window操作系统),用计算机控制测厚仪工作。
基本配置: TT260主机 1台 TT260打印机 1台 F1或N1测头 1支 校准标准片 1套 充电器 1个
产品名称 | CMI900/950系列X射线荧光测厚仪 |
产品功能 | CMI900/950系列采用开闭式样品室,以方便测定各种形状、各种规格的样品。CMI900/950系列X射线荧光测厚仪能够测量多种几何形状、各种尺寸的样品;幷且测量点最小可达0.025 x 0.051毫米。 |
产品特点 | |
产品图片 | ![]() |