抗干扰介质损耗测试仪抗干扰介质损耗测试仪厂家
抗干扰介质损耗测试仪一、概说
智能化介质损耗测试仪它淘汰了ＱＳＩ高压电桥，具有操作简单、中文显示、打印，使用方便、无需换算、自带高压，抗干扰能力强等优点。JSY—03体积小、重量轻，是我厂的第三代智能化介质损耗测试仪。 二、PY型智能化介质损耗测试仪结构仪器为升压与测量一体化结构，输出电压２.5KＶ～１０ＫＶ五档可调，以适应各种需要，在测量时无需任何外部设备。接线与ＱＳＩ电桥相似，但比其方便。图一为仪器操作面板图，图二为仪器接线端面图。 http://www.yzjldq.com http://www.jl6699.com http://www.jl9966.com ⑴ 显示窗————————液晶显示屏。 ⑵ 试验电压选择开关———当开关置于“关"时，仪器无高压输出。 ⑶ 操作键盘———————选择测量方式、起动、停止、打印等操作。 ⑷ 电源插座——————— 保险丝用５Ａ。 ⑸ 电源开关———————电源通断。 ⑹ 起动灯————————指示高压输出。 ⑺ 打印机————————打印测试结果。 ★★★★⑻ 接地端子——————使用前，必须将该端子接地！！！ ★⑼测量电流输入端ＩＸ———有两个出线头，中心头(红色，有ＣＸ标记)应与被试品一端相接，屏蔽头(黑色，有Ｅ标记)是仪器内部高压输出一个参考端，在正接法测量时应接地；在反接法测量时应浮空；外接法参见“外接高压法"。 ★⑽ 标准电流输入端ＩＮ———仅当外接标准电容器进行测量时才用，该端应与外接 标准电容器一端相连。ＩＮ必须小于１00ｍＡ！！！ ⑾ 测量高压输出端ＵＨ——只有一个大铁夹出线头(有ＵＨ标记)，与被试品一端 相接。
绝缘纸介电常数介质损耗测试仪
GB/T1409测量电气绝缘材料在工频、音频、高频
（包括米波波长在内）
下电容率和介质损耗因数的推荐方法
绝缘纸介电常数介质损耗测试仪1、范围
本标准规定了在15Hz〜300MHz的频率范围内测量电容率、介质损耗因数的方法，并由此计算某些数值，如损耗指数。本标准中所叙述的某些方法，也能用于其他频率下测量。
本标准适用于测量液体、易熔材料以及固体材料。测试结果与某些物理条件有关，例如频率、温度、湿度，在特殊情况下也与电场强度有关。
有时在超过1000V的电压下试验，则会引起一些与电容率和介质损耗因数无关的效应，对此不予论述。
绝缘纸介电常数介质损耗测试仪2、规范性引用文件
下列文件中的条款通过本标准的引用而成为本标准的条款。凡是注日期的引用文件，其随后所有的修改单（不包括勘误的内容）或修订版均不适用于本标准，然而，鼓励根据本标准达成协议的各方研究是否可使用这些文件的zui新版本。凡是不注日期的引用文件，其zui新版本适用于本标准。
IEC60247:1978 液体绝缘材料相对电容率、介质损耗因数和直流电阻率的测量
绝缘纸介电常数介质损耗测试仪3、术语和定义
下列术语和定义适用于本标准。
3.1
相对电容率relative permittivity
ε r
电容器的电极之间及电极周围的空间全部充以绝缘材料时，其电容Cx与同样电极构形的真空电容Co之比；
……………………………（1）
式中；
εr——相对电容率;
Cx——充有绝缘材料时电容器的电极电容；
Co——真空中电容器的电极电容。
在标准大气压下，不含二氧化碳的干燥空气的相对电容率ε r等于1.00053，因此，用这种电极构形在空气中的电容Cx来代替Co测量相对电容率εr时，也有足够的精确度。
在一个测量系统中，绝缘材料的电容率是在该系统中绝缘材料的相对电容率εr与真空电气常数εr的乘积。
在SI制中，绝对电容率用法/米（F/m）表示。而且，在SI单位中，电气常数εr，为：
……………………………（2）
在本标准中，用皮法和厘米来计算电容，真空电气常数为:ε0=0.088 54 pF/cm
3.2
介质损耗角dielectric loss angle
δ
由绝缘材料作为介质的电容器上所施加的电压与由此而产生的电流之间的相位差的余角。
3.3
介质损耗因数1） dielectric dissipation factor
tanδ
损耗角δ的正切。
3.4
[介质]损耗指数 [dielectric] loss index
ε＇＇r
该材料的损耗因数tanδ与相对电容率εr的乘积。
3.5
复相对电容率 complex relative permittivity
εr
由相对电容率和损耗指数结合而得到的：
式中：
εr——复相对电容率；
ε＇＇r——损耗指数；
ε＇r、εr——相对电容率；
tanδ——介质损耗因数。
注：有损耗的电容器在任何给定的频率下能用电容Cs和电阻Rs的串联电路表示，或用电容CP和电阻RP（或电导CP）并联电路表示。
并联等值电路 串联等值电路
式中：
Cs——串联电容；
Rs——串联电阻；
1）有些国家用“损耗角正切”来表示“介质损耗因数”，因为损耗的测量结果是用损耗角的正切来报告的。
CP——并联电容；
RP——并联电阻。
虽然以并联电路表示一个具有介质损耗的绝缘材料通常是合适的，但在单一频率下，有时也需要以电容Cs和电阻Rs的串联电路来表示。
串联元件与并联元件之间，成立下列关系：
式（9）、（10）、（11）中：Cs、Rs、CP、RP、tanδ同式（7）、（8）。
无论串联表示法还是并联表示法，其介质损耗因数tanδ是相等的。
假如测量电路依据串联元件来产生结果，且tanδ太大而在式（9）中不能被忽略，则在计算电容率前必须先计算并联电容。
本标准中的计算和测量是根据电流（ω=πf）正弦波形作出的。
绝缘纸介电常数介质损耗测试仪4、电气绝缘材料的性能和用途
4.1电介质的用途
电介质一般被用在两个不同的方面：
用作电气回路元件的支撑，并且使元件对地绝缘及元件之间相互绝缘；
用作电容器介质。
4.2影响介电性能的因素
下面分别讨论频率、温度、湿度和电气强度对介电性能的影响。
4.2.1频率
因为只有少数材料如石英玻璃、聚苯乙烯或聚乙烯在很宽的频率范围内它们的εr和tanδ几乎是恒定的，且被用作工程电介质材料，然而一般的电介质材料必须在所使用的频率下测量其介质损耗因数和电容率。
电容率和介质损耗因数的变化是由于介质极化和电导而产生，最重要的变化是极性分子引起的偶极子极化和材料的不均匀性导致的界面极化所引起的。
4.2.2温度
损耗指数在一个频率下可以出现一个最大值，这个频率值与电介质材料的温度有关。介质损耗因数和电容率的温度系数可以是正的或负的，这取决于在测量温度下的介质损耗指数最大值位置。
4.2.3湿度
极化的程度随水分的吸收量或电介质材料表面水膜的形成而增加，其结果使电容率、介质损耗因数和直流电导率增大。因此试验前和试验时对环境湿度进行控制是必不可少的。
注：湿度的显著影响常常发生在1MHz以下及微波频率范围内。
4.2.4电场强度
存在界面极化时，自由离子的数目随电场强度增大而增加，其损耗指数最大值的大小和位置也随此而变。
在较高的频率下，只要电介质中不出现局部放电，电容率和介质损耗因数与电场强度无关。
绝缘纸介电常数介质损耗测试仪5、试样和电极
5.1固体绝缘材料
5.1.1试样的几何形状
测定材料的电容率和介质损耗因数，zui好采用板状试样，也可采用管状试样。
在测定电容率需要较高精度时，最大的误差来自试样尺寸的误差，尤其是试样厚度的误差，因此厚度应足够大，以满足测量所需要的精确度。厚度的选取决定于试样的制备方法和各点间厚度的变化。对1%的精确度来讲，1.5mm的厚度就足够了，但是对于更高精确度，zui好是采用较厚的试样，例如6mm〜12mm。测量厚度必须使测量点有规则地分布在整个试样表面上，且厚度均匀度在±1%内。如果材料的密度是已知的，则可用称量法测定厚度。选取试样的面积时应能提供满足精度要求的试样电容。测量10pF的电容时，使用有良好屏蔽保护的仪器。由于现有仪器的极限分辨能力约1pF，因此试样应薄些，直径为10cm或更大些。
需要测低损耗因数值时，很重要的一点是导线串联电阻引人的损耗要尽可能地小，即被测电容和该电阻的乘积要尽可能小。同样，被测电容对总电容的比值要尽可能地大。第一点表示导线电阻要尽可能低及试样电容要小,第二点表示接有试样桥臂的总电容要尽可能小，且试样电容要大。因此试样电容zui好取值为20pF，在测量回路中，与试样并联的电容不应大于约5pF，
5.1.2电极系统
5.1.2.1加到试样上的电极
电极可选用5.1.3中任意一种。如果不用保护环，而且试样上下的两个电极难以对齐时，其中一个电极应比另一个电极大些。已经加有电极的试样应放置在两个金属电极之间，这两个金属电极要比试样上的电极稍小些。对于平板形和圆柱形这两种不同电极结构的电容计算公式以及边缘电容近似计算的经验公式由表1给出。
对于介质损耗因数的测量，这种类型的电极在高频下不能满足要求，除非试样的表面和金属板都非常平整。图1所示的电极系统也要求试样厚度均匀。.
5.1.2.2试样上不加电极
表面电导率很低的试样可以不加电极而将试样插入电极系统中测量，在这个电极系统中，试样的一侧或两侧有一个充满空气或液体的间隙。
平板电极或圆柱形电极结构的电容计算公式由表3给出。
下面两种型式的电极装置特别合适.
5.1.2.2.1空气填充测微计电极
当试样插入和不插人时，电容都能调节到同一个值，不需进行测量系统的电气校正就能测定电容率。电极系统中可包括保护电极。
5.1.2.2.2流体排出法
在电容率近似等于试样的电容率，而介质损耗因数可以忽略的一种液体内进行测量，这种测量与试样厚度测量的精度关系不大。当相继采用两种流体时，试样厚度和电极系统的尺寸可以从计算公式中消去。
试样为与试验池电极直径相同的圆片，或对测微计电极来说，试样可以比电极小到足以使边缘效应忽略不计。在测微计电极中，为了忽略边缘效应，试样直径约比测微计电极直径小两倍的试样厚度。
5.1.2.3边缘效应
为了避免边缘效应引起电容率的测量误差，电极系统可加上保护电极。保护电极的宽度应至少为两倍的试样厚度，保护电极和主电极之间的间隙应比试样厚度小。假如不能用保护环，通常需对边缘电容进行修正，表1给出了近似计算公式。这些公式是经验公式，只适用于规定的几种特定的试样形状。
此外，在一个合适的频率和温度下，边缘电容可采用有保护环和无保护环的（比较）测量来获得，用所得到的边缘电容修正其他频率和温度下的电容也可满足精度要求。
5.1.3构成电极的材料
5.1.3.1金属箔电极
用极少量的硅脂或其他合适的低损耗粘合剂将金属箔贴在试样上。金属箔可以是纯锡或铅，也可以是这些金属的合金，其厚度最大为100μm，也可使用厚度小于10μm的铝箔。但是，铝箔在较高温度下易形成一层电绝缘的氧化膜，这层氧化膜会影响测量结果，此时可使用金箔。
5.1.3.2烧熔金属电极
烧熔金属电极适用于玻璃、云母和陶瓷等材料，银是普遍使用的，但是在高温或高湿下，zui好采用金。
5.1.3.3喷镀金属电极
锌或铜电极可以喷镀在试样上，它们能直接在粗糙的表面上成膜。这种电极还能喷在布上，因为它们不穿透非常小的孔眼。
5.1.3.4阴极蒸发或高真空蒸发金属电极
假如处理结果既不改变也不破坏绝缘材料的性能，而且材料承受高真空时也不过度逸出气体，则本方法是可以采用的。这一类电极的边缘应界限分明。
5.1.3.5汞电极和其他液体金属电极
把试样夹在两块互相配合好的凹模之间，凹模中充有液体金属，该液体金属必须是纯净的。汞电极不能用于高温，即使在室温下用时，也应采取措施，这是因为它的蒸气是有毒的。
伍德合金和其他低熔点合金能代替汞。但是这些合金通常含有镉，镉象汞一样，也是毒性元素。这些合金只有在良好抽风的房间或在抽风柜中才能用于100℃以上，且操作人员应知道可能产生的健康危害。
5.1.3.6导电漆
无论是气干或低温烘干的高电导率的银漆都可用作电极材料。因为此种电极是多孔的，可透过湿气，能使试样的条件处理在涂上电极后进行，对研究湿度的影响时特别有用。此种电极的缺点是试样涂上银漆后不能马上进行试验，通常要求12h以上的气干或低温烘干时间，以便去除所有的微量溶剂，否则，溶剂可使电容率和介质损耗因数增加。同时应注意漆中的溶剂对试样应没有持久的影响。
要使用刷漆法做到边缘界限分明的电极较困难，但使用压板或压敏材料遮框喷漆可克服此局限。但在极高的频率下，因银漆电极的电导率会非常低，此时则不能使用。
5.1.3.7石墨
一般不推荐使用石墨，但是有时候也可采用，特别是在较低的频率下。石墨的电阻会引起损耗的显著增大，若采用石墨悬浮液制成电极，则石墨还会穿透试样。
5.1.4电极的选择
5.1.4.1板状试样
考虑下面两点很重要：
a）不加电极，测量时快而方便，并可避免由于试样和电极间的不良接触而引起的误差。
b）若试样上是加电极的，由测量试样厚度h时的相对误差△h/h所引起的相对电容率的相对误差△εr/εr可由下式得到：
……………………………（12）
式中：
△εr——相对电容率的偏差；
εr——相对电容率；
h——试样厚度；
Ah——试样厚度的偏差。
若试样上加电极，且试样放在有固定距离S>h的两个电极之间，这时
……………………………（13）
式中：
△εr、εr、h同式（12）。
εr——试样浸入所用流体的相对电容率，对于在空气中的测量则εr等于1。
对于相对电容率为10以上的无孔材料，可采用沉积金属电极。对于这些材料，电极应覆盖在试样的整个表面上，并且不用保护电极。对于相对电容率在3〜10之间的材料，能给出最高精度的电极是金属箔、汞或沉积金属，选择这些电极时要注意适合材料的性能。若厚度的测量能达到足够精度时，试样上不加电极的方法方便而更可取。假如有一种合适的流体，它的相对电容率已知或者能很准确地测出，则采用流体排出法是zui好的。
5.1.4.2管状试样
对管状试样而言，最合适的电极系统将取决于它的电容率、管壁厚度、直径和所要求的测量精度。一般情况下，电极系统应为一个内电极和一个稍为窄一些的外电极和外电极两端的保护电极组成，外电极和保护电极之间的间隙应比管壁厚度小。对小直径和中等直径的管状试样，外表面可加三条箔带或沉积金属带，中间一条用作为外电极（测量电极），两端各有一条用作保护电极。内电极可用汞，沉积金属膜或配合较好的金属芯轴。
高电容率的管状试样，其内电极和外电极可以伸展到管状试样的全部长度上，可以不用保护电极。
大直径的管状或圆筒形试样，其电极系统可以是圆形或矩形的搭接，并且只对管的部分圆周进行试验。这种试样可按板状试样对待，金属箔、沉积金属膜或配合较好的金属芯轴内电极与金属箔或沉积金属膜的外电极和保护电极一起使用。如采用金属箔做内电极，为了保证电极和试样之间的良好接触，需在管内采用一个弹性的可膨胀的夹具。
对于非常准确的测量，在厚度的测量能达到足够的精度时，可采用试样上不加电极的系统。对于相对电容率εr不超过10的管状试样，最方便的电极是用金属箔、汞或沉积金属膜。相对电容率在10以上的管状试样，应采用沉积金属膜电极；瓷管上可采用烧熔金属电极。电极可像带材一样包覆在管状试样的全部圆周或部分圆周上。
5.2液体绝缘材料
5.2.1试验池的设计
对于低介质损耗因数的待测液体，电极系统最重要的特点是：容易清洗、再装配（必要时）和灌注液体时不移动电极的相对位置。此外还应注意：液体需要量少，电极材料不影响液体，液体也不影响电极材料，温度易于控制，端点和接线能适当地屏蔽；支撑电极的绝缘支架应不浸沉在液体中，还有，试验池不应含有太短的爬电距离和尖锐的边缘，否则能影响测量精度。
满足上述要求的试验池见图2〜图4。电极是不锈钢的，用硼硅酸盐玻璃或石英玻璃作绝缘，图2和图3所示的试验池也可用作电阻率的测定，1EC 60247:1978对此已详细叙述。
由于有些液体如氯化物，其介质损耗因数与电极材料有明显的关系，不锈钢电极不总是最合适的。有时，用铝和杜拉铝制成的电极能得到比较稳定的结果。
5.2.2试验池的准备
应用一种或几种合适的溶剂来清洗试验池，或用不含有不稳定化合物的溶剂多次清洗。可以通过化学试验方法检查其纯度，或通过一个已知的低电容率和介质损耗因数的液体试样测量的结果来确定。3试验池试验几种类型的绝缘液体时，若单独使用溶剂不能去除污物，可用一种柔和的擦净剂和水来清洁试验池的表面。若使用一系列溶剂清洗时则最后要用最大沸点低于100°C的分析级的石油醚来再次清洗，或者用任一种对一个已知低电容率和介质损耗因数的液体测量能给出正确值的溶剂来清洗，并且这种溶剂在化学性质上与被试液体应是相似的。推荐使用下述方法进行清洗。
试验池应全部拆开，彻底地清洗各部件，用瑢剂回流的方法或放在未使用溶剂中搅动反复洗涤方法均可去除各部件上的溶剂并放在清洁的烘箱中，在110℃左右的温度下烘干30min。
待试验池的各部件冷却到室温，再重新装配起来。池内应注人一些待试的液体，停几分钟后，倒出此液体再重新倒人待试液体，此时绝缘支架不应被液体弄湿。
在上述各步骤中，各部件可用干净的钩针或钳子巧妙地处理，以使试验池有效的内表面不与手接触。
注1:在同种质量油的常规试验中，上面所说的淸洗步骤可以代之为在每一次试验后用没有残留纸屑的干纸简单地擦擦试验池。
注2:采用溶剂时，有些溶剂特别是苯、四氧化碳、甲苯、二甲苯是有毒的，所以要注意防火及毒性对人体的影响，此外，氧化物溶剂受光作用会分解。
5.2.3试验池的校正
当需要高精度测定液体电介质的相对电容率时，应首先用一种已知相对电容率的校正液体（如苯）来测定“电极常数＇。
“电极常数”C。的确定按式（14）:
……………………………（14）
式中：
Cc——电极常数；
Co——空气中电极装置的电容；
Cn——充有校正液体时电极装置的电容；
εn——校正液体的相对电容率。
从C。和Cc的差值可求得校正电容Cg
并按照公式
来计算液体未知相对电容率εx。
式中：
Cg——校正电容；
Co——空气中电极装置的电容；
Cc——电极常数|
Cx——电极装置充有被试液体时的电容；
εx——液体的相对电容率。
假如Co、Cn和Cx值是在εn是已知的某一相同温度下测定的，则可求得最高精度的εx值。
采用上述方法测定液体电介质的相对电容率时，可保证其测得结果有足够的精度，因为它消除了由于寄生电容或电极间隙数值的不准确测量所引起的误差。
绝缘纸介电常数介质损耗测试仪6、测置方法的选择
测量电容率和介质损耗因数的方法可分成两种：零点指示法和谐振法。
6.1零点指示法适用于频率不超过50MHz时的测量。测量电容率和介质损耗因数可用替代法；也就是在接入试样和不接试样两种状态下，调节回路的一个臂使电桥平衡。通常回路采用西林电桥、变压器电桥（也就是互感耦合比例臂电桥）和并联T型网络。变压器电桥的优点：采用保护电极不需任何外加附件或过多操作，就可采用保护电极；它没有其他网络的缺点。
6.2谐振法适用于10kHz〜几百MHz的频率范围内的测量。该方法为替代法测量，常用的是变电抗法。但该方法不适合采用保护电极。
注：典型的电桥和电路示例见附录。附录中所举的例子自然是不全面的，叙述电桥和测量方法报导见有关文献和该种仪器的原理说明书。
绝缘纸介电常数介质损耗测试仪7、试验步骤
7.1试样的制备
试样应从固体材料上截取，为了满足要求，应按相关的标准方法的要求来制备。
应精确地测量厚度，使偏差在±（0.2%土0.005mm）以内，测量点应均匀地分布在试样表面。必要时，应测其有效面积。
7.2条件处理
条件处理应按相关规范规定进行。
7.3测量
电气测量按本标准或所使用的仪器（电桥）制造商推荐的标准及相应的方法进行。
在1MHz或更高频率下，必须减小接线的电感对测量结果的影响。此时，可采用同轴接线系统（见图1所示），当用变电抗法测量时，应提供一个固定微调电容器。
绝缘纸介电常数介质损耗测试仪8、结果
8.1相对电容率εr
试样加有保护电极时其相对电容率εr可按公式（1）计算，没有保护电极时试样的被测电容C＇x包括了一个微小的边缘电容Ce，其相对电容率为：
……………………………（17）
式中：
εr——相对电容率；
C＇x——没有保护电极时试样的电容；
Ce——边缘电容;
Co——法向极间电容；
Co和Ce能从表1计算得来。
必要时应对试样的对地电容、开关触头之间的电容及等值串联和并联电容之间的差值进行校正。
测微计电极间或不接触电极间被测试样的相对电容率可按表2、表3中相应的公式计算得来。
8.2介质损耗因数tanδ
介质损耗因数tanδ按照所用的测量装置给定的公式，根据测出的数值来计算。
8.3精度要求
在第5章和附录A中所规定的精度是：电容率精度为±1%，介质损耗因数的精度为±（5%±0.0005）。这些精度至少取决于三个因素：即电容和介质损耗因数的实测精度；所用电极装置引起的这些量的校正精度；极间法向真空电容的计算精度（见表1）。
在较低频率下，电容的测量精度能达±（0.1%土0.02pF），介质损耗因数的测量精度能达±（2%±0.00005）。在较高频率下，其误差增大，电容的测量精度为±（0.5%±0，1PF），介质损耗因数的测量精度为±（2%±0.0002）。
对于带有保护电极的试样，其测量精度只考虑极间法向真空电容时有计算误差。但由被保护电极和保护电极之间的间隙太宽而引起的误差通常大到百分之零点几，而校正只能计算到其本身值的百分乏几。如果试样厚度的测量能精确到±0.005mm，则对平均厚度为1.6mm的试样，其厚度测量误差能达到百分之零点几。圆形试样的直径能测定到±0.1%的精度，但它是以平方的形式引人误差的，综合这些因素，极间法向真空电容的测量误差为±0.5%。
对表面加有电极的试样的电容，若采用测微计电极测量时，只要试样直径比测微计电极足够小，则只需要进行极间法向电容的修正。采用其他的一些方法来测量两电极试样时，边缘电容和对地电容的计算将带来一些误差，因为它们的误差都可达到试样电容的2%〜40%。根据目前有关这些电容资料，计算边缘电容的误差为10%，计算对地电容的误差为因此带来总的误差是百分之几十到百分之几。当电极不接地时，对地电容误差可大大减小。
采用测微计电极时，数量级是0.03的介质损耗因数可测到真值的±0.0003，数量级0.0002的介质损耗因数可测到真值的±0.00005介质损耗因数的范围通常是0.0001〜0.1，但也可扩展到0.1以上。频率在10MHz和20MHz之间时，有可能检测出0.00002的介质损耗因数。1〜5的相对电容率可测到其真值的±2%，该精度不仅受到计算极间法向真空电容测量精度的限制，也受到测微计电极系统误差的限制。
绝缘纸介电常数介质损耗测试仪9、试验报告
试验报告中应给出下列相关内容：
绝缘材料的型号名称及种类、供货形式、取样方法、试样的形状及尺寸和取样日期（并注明试样厚度和试样在与电极接触的表面进行处理的情况）；
试样条件处理的方法和处理时间；
电极装置类型，若有加在试样上的电极应注明其类型；
测量仪器；
试验时的温度和相对湿度以及试样的温度；
施加的电压；
施加的频率；
相对电容率εr（平均值）；
介质损耗因数tanδ（平均值）；
试验日期；
相对电容率和介质损耗因数值以及由它们计算得到的值如损耗指数和损耗角，必要时，应给出与温度和频率的关系。
表1 真空电容的计算和边缘校正
| （1） | 极间法向电容 （单位：皮法和厘米） （2） | 边缘电容的校正 （单位：皮法和厘米） （3） |
| 1.有保护环的圆盘状电极 | ||
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| 2.没有保护环的圆盘状电极 | ||
| a）电极直径=试样直径
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| b）上下电极相等，但比试样小
|
其中：ε1 是试样相对电容率的近似值，并且a≤h | |
表1（续）
| （1） | 极间法向电容 （单位：皮法和厘米） （2） | 边缘电容的校正 （单位：皮法和厘米） （3） |
| c）电极直径=试样直径
|
|
其中：ε1 是试样相对电容率的近似值，并且a≤h |
| 3.有保护环的圆柱形电极 | ||
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|
|
|
| 4.没有保护环的圆柱形电极 | ||
|
|
|
其中：ε1 是试样相对电容率的近似值 |
试样的相对电容率：
其中：
C＇x——电极之间被测的电容；
In——自然对数；
Ig——常用对数。
表2 试样电容的计算——接触式测微计电极
| 试样电容 | 注 | 符号定义’ |
| 1.并联一个标准电容器来替代试样电容 | CP——试样的并联电容 △C——取去试样后，为恢复平衡时的标准电容器的电容增量 Cr——在距离为r时，测微计电极的标定电容 Cs——取去试样后，恢复平衡，测微计电极间距为s时的标定电容Cor，Coh——测微计电极之间试样所占据的，间距分别为r或h的空气电容。可用表1中的公式1来计算r——试样与所加电极的厚度 h——试样厚度 相对电容率: | |
| CP=△C+Cor | 试样直径至少比测微计电极的直径小2r。在计算电容率时必须采用试样的真实厚度h和面积A。 | |
| 2.取去试样后减少测微计电极间的距离来替代试样电容 | ||
| CP=Cs-Cr+Cor | 试样直径至少比测微计电极的直径小2r。在计算电容率时必须采用试样的真实厚度h和面积A。 | |
| 3.并联一个标准电容器来替代试样电容 当试样与电极的直径同样大小时，仅存在一个微小的误差（因电极边缘电场畸变引起0.2%〜0.5%的误差），因而可以避免空气电容的两次计算。 | ||
| CP=△C+Coh | 试样直径等于测微计电极直径，施于试样上的电极的厚度为零。 | |
表3电容率和介质损耗因数的计算——不接触电极
| 相对电容率 （1） | 介质损耗因数 （2） | 符号意义 （3） |
| 1.测微计电极（在空气中） |
| |
|
若ho 调到一个新值h＇o，而△C=0时
| tanδx= tanδc +M·εr·△tanδ
| △C——试样插人时电容的改变量（电容增加时为+号） C1——装有试样时的电容 C1——仅有流体时的电容，其值为εr•Co Co——所考虑的区域上的真空电容，其值为εo•A/h0 A——试样一个面的面积，用 厘米2表示（试验的面积大于等于电极面积时） ε1——在试验温度下的流体相对电容率（对空气而言εr ＝1. 00) ε0——电气常数用皮法/厘米表示 △tanδ——试样插入时，损耗因数的增加量 tanδc——装有试样时的损耗因数 tanδx试样的损耗因数的计算值 d0——内电极的外直径 d1——试样的内直径 d2试样的外直径 d3——外电极的内直径 h0——平行平板间距 h——试样的平均厚度 M——h0 /h—1 lg――常用对数 注；在二流体法的公式中，脚注1和2分别表示第一种和第二种流体。 |
| 2. 平板电极——流体排出法 | ||
|
| tanδx= tanδc +M·εr·△tanδ
| |
| 当试样的损耗因数小于1时，可以用下列公式: | ||
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| |
| 3. 圆柱形电极——流体排出法（用于tanδ小于0.1时） | ||
|
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| |
| 4. 二流体法——平板电极（用于tanδx小于0. 1时） | ||
|
|
| |
| 1——测微计头； | 6——微调电容器； |
| 2——连接可调电极（B)的金属波纹管； | 7——接检测器； |
| 3——放试样的空间（试样电容器M1； | 8——接到电路上； |
| 4——固定电极（A）； | 9——可调电极（B）。 |
| 5——测微计头； |
|
图1 用于固体介质测量的测微计——电容器装置
单位为毫米
| 1——内电极； | 1——把柄； |
| 2——外电极； | 5——棚硅酸盐或石英垫圈； |
| 3——保护环； | 6——硼硅酸盐或石英垫圈。 |
图2 液体测量的三电极试验池示例
注满试验池所需的液体量大约15mL
1——温度计插孔；
2——绝缘子；
3——过剩液体溢流的两个出口。
图3 测量液体的两电极试验池示例
1——温度计插孔；
2——1mm厚的金属板；
3——石英玻璃；
4——1mm或2mm的间隙；
5——温度计插孔
图4 液体测量的平板两电极试验池
HYB5001智能化介质损耗测试仪
| 加工定制： | 是 | 类型： | 变压器测试类 |
| 品牌： | 华研 | 型号： | HYB5001 |
| 测量范围： | 10KV | 精确度： | 介损：±（2%读数+0.09%） |
| 适用范围： | 正接法 反接法 自激法 外接法 | 仪表重量： | 25（kg） |
| 工作电源： | 供电电源180~240VAC 50Hz（市电或发电机供电）（V） |
智能介质损耗测试仪技术参数
1、抗干扰方式：变频抗干扰
2、测试方式：正接法 反接法 自激法 外接法
3、测量范围：
电容量：内接高压 <3pF~60000pF/10kV 60pF~1μF/0.5kV
外接高压 3pF~0.3μF/10kV 最小分辨率0.01pF 有效数字五位
介损：不限,最小分辨率0. 01%
4、准确度：
电容量：±（1.5%读数+2pF） 介损：±（2%读数+0.09%）
内接试验电源：0.5~10kV 电压缓升缓降 45、50、55、60、65Hz单频
45/55Hz自动双频测试 最大输出电流200mA
自激电源3~50V变频 最大输出电流20A
5、测量时间：约30秒（与测量方式有关） 6、附加功能：100组数据存储
6、输入电源：供电电源180~240VAC 50Hz（市电或发电机供电）
7、工作环境：温度范围：－10℃~50℃ 相对湿度<90%
SB2204-智能化介质损耗测试仪
http://www.1718sh.com/viewp/2425.htm
SB2204/3型智能化介质损耗测试仪是一种新颖的测量介质损耗角正切（tgδ）和电容值（Cx）的自动化仪器。可以在工频高电压下，现场测量各种绝缘材料、绝缘套管、电力电缆、电容器、互感器、变压器等高压设备的介质损耗角正切（tgδ）和电容值（Cx）。与西林电容电桥相比，具有操作简单、自动测量、读数直观、无需换算、精度高、抗干扰能力强等优点。仪器内附标准电容器和升电压装置，在“内接"方式下使用，无需其它外接设备，便于携带。具有多种测量方式，可选择正/反接线、内/外标准电容器和内/外试验电压进行测量。正接线可测量高压介损。内附SF6标准电容器，tgδ<0.005%，受空气湿度影响小，矢量运算法结合移相、倒相法，抗干扰效果好；能地消除强烈的电场干扰对测量的影响，适用于500kV极其以下电站的强干扰现场试验。主要特点：高压短路和突然断电时，仪器能迅速切断高压，并发出警告信息；测量重复性好，电压线性好（测量度不受电压影响）；一体化结构，重量适中，便于携带；大屏幕带背光中文液晶显示器信息提示操作，使用方便；仪器自带打印机，及时保存测试数据；高压电缆连接至试品，保障安全；仪器未接地报警，安全措施完备。工作原理：仪器测量线路包括一路标准回路和一路被试回路，标准回路由内置高稳定度标准电容器与采样电路组成,被试回路由被试品和采样电路组成。由8031单片机运用计算机数字化实时采集方法,对数以万计的采样数据处理后进行矢量运算，分别测得标准回路电流与被试回路电流幅值及其相位关系,并由之算出试品的电容值（Cx）和介质损耗角正切（tgδ），测量结果。现场有干扰时，先利用移相、倒相法减小干扰的影响，再将被试回路测`得的电流Ix′与单独测得的干扰电流Id矢量相加，得到真正的测量电流Ix，进而得出正确的测量结果。由图3可见，可根据不同的测量对象和测量需要，灵活地采用多种接线方式。如测量非接地试品（正接法）时，“LV"（E）点接地；而测量接地试品（反接法）时，则“HV"点接地。
额定工作条件：温度0～40℃，相对湿度：30%～85%，供电电源220V±22V 50±1Hz
| 测量内容 | tgδ范围 | 电容量范围（Cx） | 试品类型 | 基本误差 |
| 介质损 耗因数 tgδ | 0～0.5 | 50pF～60000pF | 非接地 | ±（1%读数+0.0005） |
| 接地 | ±（1%读数+0.0010） | |||
| 10pF～50pF或 60000pF以上 | 非接地 | ±（1%读数+0.0010） | ||
| 接地 | ±（2%读数+0.002） | |||
| 3pF～10pF | 非接地 与接地 | |||
| 电容量 | 50pF以上 | ±（1%读数+1pF） | ||
| 50pF以下 | ±（1%读数+2pF） |
PSJSC-A抗干扰介质损耗测试仪
HN6000型系列智能化介质损耗测试仪
一、概括：HN6000型系列智能化介质损耗测试仪是一种的测量介质损耗（ tgδ）和电容容量（ Cx ）的仪器，用于工频高压下，测量各种绝缘材料、绝缘套管、电力电缆、电容器、互感器、变压器等高压设备的介质损耗（ tgδ）和电容容量（ Cx ）。它淘汰了ＱＳＩ高压电桥，具有操作简单、中文显示、打印，使用方便、无需换算、自带高压，抗干扰能力强 等优点。二、技术指标１．环境温度：０～４0℃（液晶屏应避免长时日照）２．相对湿度：３0％～７0％３．供电电源：电压：２２０Ｖ±１0％，频率：５0±１Ｈz４．外形尺寸：长×宽×高＝490mm×300mm×390mm５．重量：约18Ｋg６．输出功率：1ＫVA７．显示分辨率：４位８．测量范围：介质损耗（tgδ）：０-50％ 电容容量（Cx）和加载电压：２.5ＫＶ档：≤ ３00nＦ（ ３00000ｐＦ）３ＫＶ档：≤２00nＦ（ ２00000ｐＦ）５ＫＶ档：≤ ７6nＦ（ ７6000ｐＦ）７.５ＫＶ档：≤ ３4nＦ（ ３4000ｐＦ）１０ＫＶ档：≤ ２0nＦ（ ２0000ｐＦ）９．基本测量误差：介质损耗（tgδ）： １％±０.０7％（加载电流２０μＡ～５00ｍＡ）正接介质损耗（tgδ）： ２％±０.０9％（加载电流 ５μＡ～２0μＡ）反接电容容量 （ Cx）：１.５％±１.５pＦ三、HN6000型系列智能化介质损耗测试仪结构仪器为升压与测量一体化结构，输出电压２.5KＶ～１０ＫＶ五档可调，以适应各种需要，在测量时无需任何外部设备。接线与ＱＳＩ电桥相似，但比其方便。图一为仪器操作面板图，图二为仪器接线端面图。⑴ 显示窗————————液晶显示屏。⑵ 试验电压选择开关———当开关置于“关"时，仪器无高压输出。⑶ 操作键盘———————选择测量方式、起动、停止、打印等操作。⑷ 电源插座——————— 保险丝用５Ａ。⑸ 电源开关———————电源通断。⑹ 起动灯————————指示高压输出。⑺ 打印机————————打印测试结果。★★★★⑻ 接地端子——————使用前，必须将该端子接地！！！★⑼ 测量电流输入端ＩＸ———有两个出线头，中心头（红色，有ＣＸ标记）应与被 试品一端相接，屏蔽头（黑色，有Ｅ标记）是仪器内部高压输出 一个参考端，在 正接法测量时应接地；在反接法测量时应浮空；外接法参见“外接高压法"。★⑽ 标准电流输入端ＩＮ———仅当外接标准电容器进行测量时才用，该端应与外接 标准电容器 一端相连。ＩＮ必须小于１00ｍＡ！！！⑾ 测量高压输出端ＵＨ——只有一个大铁夹出线头（有ＵＨ标记），与被试品一端 相接。
四、HN6000型系列智能化介质损耗测试仪工作原理仪器测量线路包括一路标准回路和一路测试回路，如图三所示。标准回路由内置高稳定度标准电容器与标准电阻网络组成，由计算机实时采集标准回路电流与测试回路的电流幅值及其相位差，并由之算出被测试品的电容容值（Cx ）和其介质损耗（tg）。数据采集电路全部采用高稳定度器件，采集板和采集计算机被铁盒浮空屏蔽，仪器的外壳接地屏蔽；另外使用了光导数据、浮空地、大面积地、单点地、数字滤波等抗干扰技术，加之计算机对数百个电网周期的数据进行处理，故测量结果稳定、精确、。由图三可见，仪器高压变压器的高压侧和测量线路都是浮地的，用户可根据不同的测量对象和测量需要，灵活地采用多种接线方式。如采用“正接线法"进行测量时，可将“Ｅ"点接地；而当采用“反接线法"进行测量时，可将“UH"点接地，而将E点浮空。图中除测试品 Cx 外，其余为本仪器。细线框内部分对仪器外壳能承受１5ＫＶ工频高压５分钟，额定耐压１0ＫＶ。仪器内附标准电容ＣＮ，名义值为５0ＰＦ，tgδ≤０.0001，耐压１0ＫＶ。高压变压器，额定输出功率为1ＫＶＡ。★“Ｅ"点为仪器的内屏蔽与测量电缆的屏蔽层相连，不是大地，与仪器的外壳也不连通！！！五、使用方法★★★ 安全操作注意事项１．使用时必须将仪器的接地端子的接地。２．只有关闭仪器电源，试验电压选择开关置于“关"位置时，接触仪器的后部及其测 量线缆与被试品才被认为是安全的。３．仪器在测量时，严禁操作“试验电压"选择开关。４．★正接线法ＵＨ端为高电压，反接线法ＩＸ端为高电压，使用时必须根据实际情 况，将带高压的线缆与地保持足够的距离。5．不得更换不符合面板指示值的保险丝管，内部一只保险丝为：0.５Ａ６．使用时尽可能用厂家随仪器提供的线缆以确保测量度。７．操作键盘备用—————不用。快测—————快速测量，无抗干扰功能。抗扰—————抗干扰测量。正接—————正接法测量。打印—————在测试结果出来后，打印测试数据。反接—————反接法测量。起动—————起动高压，开始测量。外接—————外接法测量。也用来选择外接标准电容的容量。停止—————可以在测试过程中，中断测量。测试前先用"试验电压"开关选好输出电压，然后用“操作键盘"选择好测试方式。仪器首先自检（显示屏、光电通讯、内存、操作键、数模转换、电网频率．．．），自检通过后，进入主目录。这时按屏幕提示即可完成测试。进入测量状态后，用户随时可用“停止"键退出测量状态。做正、反接测量时无须人工干预。★做外接方式测量时，中途会显示“请关闭外接高压！"并停一下，等候人工将外加高压关闭，关闭外高压后，（必须关闭外加高压），再按一次“起动"，键才能完成测试。★如果外高压未关闭，则测试结果不真实！★★★ 外接标准电容的容量选择：“外接方式"时，每按一次“外接"键，则显示的外接标准电容容量“ＸＸＸＸpＦ"将改变，共八种容量供选择（★一种为厂家调试用，用户使用则无效。）：５0p F，１00pＦ，１50p F，200p F，５00p F，１000p F，ＸＸＸpＦ，ＸＸＸpＦ。应选择与外接标准电容相等的容量。如果使用的外接电容容量特殊，可请生产厂家将该电容容量输入仪器中。如果选择的外接标准电容与实际不相等，则测量结果会受影响。正接线法：（接线如图四所示）通电前，先将“试验电压"开关置于“关"位置。将ＵＨ端子用专用线缆的大铁夹（有ＵＨ标记），接至被试品的高压端，将ＩＸ端子用另一根专用线缆的芯线线头（红色，有CX 标记）接被试品CX低压端，它的屏蔽线头（黑色，有E标记）接地，如果试品低压端有屏蔽端子，可用导线将该端子与“Ｅ"连接后接地。通电后，按“正接"键。选好正接线方式：用“试验电压"开关选好电压：然后按“起动"键开始测试。
反接线法：（接线如图五所示）通电前，先将“试验电压"开关置于“关"位置，将ＵＨ端子接地，将ＩＸ的芯线（有CX标记）接至被试品CX的。通电后，按“反接"键，选好反接线方式；用“试验电压"开关选好电压；然后按“起动"键开始测试。★★★特别注意：屏蔽“E"与ＩＸ电位接近，可接至被试品高压端的屏蔽或者悬空，绝对不能接地！！！。
外接高压法：（接线如图六所示）
CB为外接标准电容，CX为被试品。当被试品要求试验电压大于１0ＫＶ时，可以外接高压进行测量，即不使用仪器内部高压变压器，而外接一台高压装置进行测量。★★★注意：外接高压法进行测量时，“试验电压"开关必须置于“关"位置！！！★★★外接高压法时，应外接标准电容器ＣB,不许使用仪器内标准电容器！！！通电后，多次按“外接"键，选好外接线方式以及外接的标准电容容量，必须再将“试验电压"开关置于“关"位置！调整好外接电压，然后按“起动"键开始测试。SXJS-IV型为中文液晶显示，有中文汉字提示各类测试信息。当测试完成后，可按“打印"键，打印测试结果。六、HN6000型系列智能化介质损耗测试仪保管免费及免费修理期限仪器应在原厂包装条件下，于室内贮存，其环境温度为０－４0℃相对湿度为３0％－７0％，且在空气中不应含有足以引起腐蚀的有害物质。仪器从冷环境突然到热环境中时，可能有结露，应等结露消失后再使用。每年应打开仪器，清除由于野外作业产生的灰尘，特别是内部标准电容处的灰尘。仪器和附件自制造厂发货日期起１2个月内，当用户在遵守制造厂使用说明书所规定的保管的使用条件下，发现产品制造质量不良或不能正常工作时，制造厂负责给予修理或更换。七、仪器成套性（１）介质损耗测试仪 １台（２）专用测试线缆 ２根（３）保险丝（５Ａ） ４只（０.５Ａ） ２只（４）电源线 １根（５）使用说明书 １份（６）产品合格证 １份
附录：抗干扰探讨
（一）、干扰以电容试品为例，当工频电压加在电容上时，其上流过两个电流（图Ａ）：容性电流Ｉｃ和阻性电流Ｉｒ，合成为试品电流Ｉｘ。Ｉｃ和Ｉｒ形成的夹角δ即为介质损耗角。当干扰电流Ｉｇ流入试品时，与Ｉｘ合成为Ｉｇｘ，Ｉｘ与Ｉｇｘ之间的夹角β是由干扰电流Ｉｇ形成的。测量到的电流Ｉｇｘ与Ｕｃ的夹角是β＋δ与阶损角δ相差很大。
（二）、方法目前，智能介质损耗仪通常采用的抗干扰方法主要有种：（１）、移相法方法是将加到试品上的测试电压Ｕｒ移相，使Ｕｃ与Ｉｇ同相位（Ｕｒ与Ｕｃ恒定相差９0度）,从图Ｂ中可见，测量到的电流Ｉｇｘ与的Ｉｘ相差不大（当干扰电流较小时），如果能再反Ｉｇ方向将Ｕｃ移相一次，两次数据合成即能地找到阶损角δ（即使干扰电流较大）。（２）、变频法现场测量时通常使用工频电源，而现场干扰主要也是工频，同频率的电源相互叠加形成干扰，去除无用的干扰而保留有用测试电流是非常困难的。用非工频电源进行测量，则工频电源的干扰电流与测试电流由于频率不同，是很容易区分开的。比如，将所含有干扰混合信号的前１0ｍＳ信号，与后１0ｍＳ信号相加，就去除了工频干扰，而测量信号不是５0Ｈｚ所以得以保留。（３）、波形分析法计算机的运用，使大量的工程分析计算变得方便，通过对现场干扰的大量采集分析，结合测量到的波形，运用高等数学理论，巧妙地去除干扰，也同样达到目的。甚至去除一、三、五次谐波也很方便。
（三）、要求工程测量介质损耗，通常要求能分辨出０.1％介损值是不过分的。介质损耗：ｔｇ（δ）＝０.1％＝０.00１损耗角度：δ＝０.057°对应时间：Ｔ＝δ／360°×２0ｍＳ＝３.183μＳ（四）、比较
干扰信号是由干扰源通过媒介施加到试品上，即使干扰源是恒定的，但传输媒介是空气及其它绝缘体不是恒定介质（图Ｃ、图Ｄ），所以干扰电流Ｉｇ方向随机变化的程度≥０.057°不足为奇。要使测试电源随时跟踪Ｉｇ，而跟踪角度误差≤０．057°绝非易事。所以最终抗干扰虽然，但是测量精度不容易提高。运行的设备（试品）在工频下运行，要求知道在工频条件下的介质损耗。理论上：介质损耗＝２πｆＲＣ，（ｆ＝５0Ｈｚ）所以用非工频的ｆ＇电源加在试品上所测得的介质损耗＝２πｆ＇ＲＣ，再由这一结果推算出２πｆＲＣ易如反掌。然而运行设备的等效Ｒ，不是理想的电阻，其中更多的是有极分子，其等效Ｒ随频率ｆ的变化而变化，所以尽管理论上介质损耗与频率成正比，而实际介质损耗（２πｆＲＣ）不与频率成正比。这给根据变频２πｆ＇ＲＣ推算工频２πｆＲＣ造成了麻烦。为了减小这个非线性误差，ｆ＇采用接近工频的频率，但过分接近等于没有变频，这就是主要矛盾。好在大多数试品对频率的敏感没有那么强烈。所以变频法抗干扰是比较成功的。产生一个有一定的功率，且又是正弦波的异频电源有较大的难度。因为异频电源波形的失真度对相角的影响很大，或者与实际工频正弦波电源情况下所造成的介质损耗有误差。为了去除接近ｆ＇工频干扰，变频法不得不处理大量的数据，所以相对测量时间较长。（五）、SXJS-IV处理干扰的方法测试电源采用工频，使测量与实际一
样。交错分时测量干扰信号和综合信号，将所有测到的信号都精确地锁定在与测试电源同步的０相位上，再将干扰信号倒相与综合信号叠加得到信号。在数字处理上，广泛地采用数字与电子技术，剔除了相角相差１％的信号，剔除了数值较大的几组信号，也剔除了数值较小的几组信号，再将许多组中值信号求平均值得出结果，而每组信号都是由许多测量信号与处理后的干扰信号构成的。在调试中所有数据都以６位数字计算。为了提高测量速度，采用双计算机和高速并行Ａ／Ｄ转换器处理信息，软件全部用汇编完成。对于强干扰信号较精确地测出其大小不难，仪器特别设计的高精度相位锁定器能将其地定相，为消除干扰提供了便利；对于弱干扰信号粗略地测出其大小也是可以的，而相位锁定器并不受测量信号的大小影响，仍然定相，弱干扰本来对测量信号的影响就小，再粗略地去除其大部分，也可以认为去除了干扰。对于突发性干扰信号，仪器尽可能地将采样的干扰数据废除，或宣布测试失败，以数据结果的性。实验数据：用工频５00Ｖ电压加载５0ｐＦ电容，测量信号电流约８μＡ，无干扰时，快速测量测得介损为０.08％，抗干扰测量测得介损为０.08％；用２0000Ｖ工频做干扰，距离被试品１0厘米，快速测量测得介损为１2.2３％，抗干扰测量测得介损为０.09％。
MCBPJ变频介质损耗测试仪
| tgδ范 围 | 精度（正、反接法） |
| tgδ＜10% | △ tgδ:±（读数*1.0%+0.040%） △ C x :±（读数*1.0%+1.0PF） |
| 10%＜tgδ＜50% | △ tgδ:±（读数*1.0%+0.040%） △ C x :±（读数*1.0%+1.5PF） |
XG8000异频全自动介质损耗仪
XG8000 异频全自动介质损耗仪
| 1 | 使用条件 | -5℃∽40℃ | RH＜80% | ||
| 2 | 抗干扰原理 | 变频法 | |||
| 3 | 电 源 | AC 220V±10% | 频率无限制 | ||
| 4 | 高压输出 | 0.5KV∽10KV | 每隔0.1kV | ||
| 精 度 | 2% | ||||
| 最大电流 | 200mA | ||||
| 容 量 | 2000VA | ||||
| 5 | 自激电源 | AC 0V∽50V/15A | 45HZ/55HZ | ||
| 6 | 分 辨 率 | tgδ: 0.001% | Cx: 0.1pF | ||
| 7 | 精 度 | △tgδ:±（读数*1.0%+0.040%） | |||
| △C x :±（读数*1.0%+1.0PF） | |||||
| 8 | 测量范围 | tgδ | 无限制 | ||
| C x | 15pF ＜ Cx ＜ 200nF | ||||
|
| 10KV | Cx ＜ 60 nF | |||
|
| 5KV | Cx ＜ 100 nF | |||
|
| 1KV | Cx ＜ 200 nF | |||
| CVT测试 | Cx ＜ 200 nF | ||||
| 9 | CVT变比范围 | 10∽10000 | |||
| CVT变比精度 | 0.1% | ||||
| CVT变比分辨率 | 0.1 | ||||
| 10 | 外型尺寸 | 430（L）×330（W）×330（H） | |||
| 11 | 存储器大小 | 80 组 支持U盘数据存储 | |||
| 12 | 重 量 | 28 Kg | |||
http://www.whxghd.com/html/products/bianyaqiceshishebei/show_165.html
变压器测试设备
http://www.whxghd.com/html/products/bianyaqiceshishebei/show_193.html
http://www.whxghd.com/html/products/bianyaqiceshishebei/show_56.html
http://www.whxghd.com/html/products/bianyaqiceshishebei/show_192.html
http://www.whxghd.com/html/products/bianyaqiceshishebei/show_57.html
http://www.whxghd.com/html/products/bianyaqiceshishebei/show_59.html
http://www.whxghd.com/html/products/bianyaqiceshishebei/show_58.html
http://www.whxghd.com/html/products/bianyaqiceshishebei/show_179.html
http://www.whxghd.com/html/products/bianyaqiceshishebei/show_165.html
http://www.whxghd.com/html/products/bianyaqiceshishebei/show_60.html
http://www.whxghd.com/html/products/bianyaqiceshishebei/show_61.html
http://www.whxghd.com/html/products/bianyaqiceshishebei/show_62.html
http://www.whxghd.com/html/products/bianyaqiceshishebei/show_63.html
http://www.whxghd.com/html/products/bianyaqiceshishebei/show_182.html
http://www.whxghd.com/html/products/bianyaqiceshishebei/show_181.html
http://www.whxghd.com/html/products/bianyaqiceshishebei/show_180.html
Z6000异频介质损耗测试仪
一、概述：
| | 使用条件 | -15℃∽40℃ | RH＜80% | ||
| | 抗干扰原理 | 变频法 | |||
| | 电 源 | AC 220V±10% | 允许发电机 | ||
| | 高压输出 | 0.5KV∽10KV | 每隔0.1kV | ||
| 精 度 | 2% | ||||
| 最大电流 | 200mA | ||||
| 容 量 | 1500VA | ||||
| | 自激电源 | AC 0V∽50V/15A | 45HZ/55HZ | ||
| | 分辨率 | tgδ: 0.001% | Cx: 0.01pF | ||
| | 精 度 | △tgδ:±（读数*1.0%+0.040%） | |||
| △C x :±（读数*1.0%+1.00PF） | |||||
| | 测量范围 | tgδ | 无限制 | ||
| Cx | 15pF ＜ Cx ＜ 300nF | ||||
| | 10KV | Cx ＜ 60 nF | |||
| | 5KV | Cx ＜ 150 nF | |||
| | 1KV | Cx ＜ 300 nF | |||
| | Cx ＜ 300 nF | ||||
| | CVT变比范围 | 10∽10000 | |||
| CVT变比精度 | 0.1% | ||||
| CVT变比分辨率 | 0.01 | ||||
| | 外型尺寸 | 430（L）×330（W）×330（H） | |||
| | 存储器大小 | 80 组支持U盘数据存储 | |||
| | 重 量 | 28 Kg | |||
| 1-Z2550系列 指针式电动兆欧表 | 2-Z2010系列智能双显绝缘电阻测试仪 |
| 3-Z2020系列智能绝缘电阻测试仪 | 4-Z3125 智能绝缘电阻测试仪 |
| 5-Z6000 异频介质损耗测试仪 | |
| 1-XCJH系列手动耐压箱（台） | 2-ZYD系列智能耐压箱（台） |
| 3-YD系列油浸式试验变压器 | 4-GTB系列干式试验变压器 |
| 5-YDQ系列充气式试验变压器 | 6-YDL系列超轻型试验变压器 |
| 7-ZTF系列串联谐振耐压装置 | 8-ZVLF系列0.1Hz程控超低频高压发生器 |
| 9-ZGF系列直流高压发生器 | 10-ZNGF系列直流高压发生器 |
| 11-FRC系列高压分压器 | |
| 1-ZRB系列直流电阻快速测试仪 | 2-ZRC系列直流电阻快速测试仪 |
| 3-ZRS系列三相直流电阻测试仪 | 4-ZBZJ-Ⅱ全自动变比组别测试仪 |
| 5-ZBZJ-Ⅲ特种变比组别测试仪 | 6-ZBR-II 变压器容量及空负载测试仪 |
| 7-ZBZ-Ⅲ系列变压器综合特性测试台 | 8-ZYKC2000B 变压器有载开关测试仪 |
| 9-Z6100 精密油介损自动测试仪 | 10-ZIIJ-Ⅱ绝缘油介电强度测试仪 |
| 11-ZIIJ-Ⅲ绝缘油介电强度测试仪 | 12-ZSF81系列三倍频发生器 |
| 1-ZGKC-6A 高压开关动特性测试仪 | 2-ZGKC-6B 高压开关动特性测试仪 |
| 3-ZHL系列回路电阻测试仪 | 4-ZNHL系列智能回路电阻测试仪 |
| 5-ZKD-Ⅱ真空开关真空度测试仪 | 6-ZGK-I 高低压开关柜电源试验箱 |
| 7-ZGK-Ⅱ高低压开关柜通电试验台 | 8-ZSL82系列大电流发生器 |
| 9-ZSL83系列智能大电流发生器 | |
| 1-ZMOA-Ⅱ氧化锌避雷器直流参数测试仪 | 2-ZMOA-Ⅲ氧化锌避雷器直流参数测试仪 |
| 3-ZLCD201 氧化锌避雷器带电测试仪 | 4-ZLCD202 氧化锌避雷器带电测试仪 |
| 5-ZLCD301 氧化锌避雷器带电测试仪 | 6-FCZ-IV 避雷器放电计数器校验仪 |
| 7-ZJC 绝缘子串电压分布测量表 | 8-ZJS-Ⅱ绝缘手套（靴）耐压试验装置 |
| 9-ZJS-Ⅲ智能绝缘手套（靴）耐压试验装置 | 10-ZJCI-Ⅱ绝缘子芯棒泄露电流试验装置 |
| 11-ZJCI-Ⅲ绝缘子芯棒泄露电流智能试验装置 | |
| 1-ZL2131 直流高压发生器 | 2-ZL2132 电缆寻迹及故障定位仪 |
| 3-ZL2133 电缆故障智能测试仪 | 4-ZL2134 电缆识别仪 |
| 5-ZL2135 遥控型电缆安全刺扎器 | 6-ZLPT 输电线路工频参数测试系统 |
| 7-Z2571 便携式接地电阻测试仪 | 8-ETCR2000系列钳形接地电阻测试仪 |
| 9-ZDWR系列大型地网接地电阻测试仪 | 10-ZHX系列 数字无线核相器 |
| 11-ZHXH系列语言无线高压核相器 | |
| 1-ZHG105系列互感器综合特性测试仪 | 2-ZHG106系列互感器综合特性测试仪 |
| 3-ZYJF 二次压降及负荷测试仪 | 4-ZYJW 无线二次压降及负荷测试仪 |
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| 1-ZJBS 继电保护测试仪 | 2-ZJB802 微机继电保护测试仪 |
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| 5-ZKC-1000 直流开关安秒特性测试仪 | 6-ZBT3932 智能蓄电池活化仪 |
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| 1-ZDN2901 单相电能表现场校验仪 | 2-ZDN2902 多功能电能表现场校验仪 |
| 3-ZDN2903 掌上型电能表现场校验仪 | 4-ZDN3901 便携式电能质量分析仪 |
| 5-ZDN3902 掌上式电能质量分析仪 | 6-ZDN6901 三相多功能用电检查仪 |
| 7-ZND8901 多功能矢量分析仪 | 8-ZND8905 三相多功能钳形相位伏安表 |
| 9-ETCR4000系列手持式双钳伏安相位表 | |
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HQ37-a北京华测供应高频介电常数及介质损耗测试仪
2、桥体本身带有5kV/100pF标准电容，测量材料介损更为方便。3、桥体内附电位跟踪器及指另仪，外侧接线及少。4、桥体采用了多样化的介损测量
技术参数1、测量范围及误差 在Cn＝100pF R4＝3183.2(Ω)(即10K/π)时测量项目 测量范围 测量误差电容量Cx 40pF－－20000pF ±0.5% Cx±2pF介质损耗tgδ 0～1 ±1.5％tgδx±1×10-4在Cn＝100pF R4＝318.3(Ω)(即1K/π)时测量项目 测量范围 测量误差电容量Cx 4pF－－2000pF ±0.5% Cx±2pF介质损耗tgδ 0～0.1 ±1.5％tgδx±1×10-4Cx＝R4×Cn/R3tgδ＝ω?Ｒ４?Ｃ４高压电源技术特性电压输出：0～2500V/50Hz高压电流输出：0～20mA内置标准电容器电容量的名义值为100pFtgδ小于5×10-5固体绝缘材料测试电本电适用于固体电工绝缘材料如绝缘漆、树脂和胶、浸渍纤制品、层压制品、云母及其制品、塑料、电缆料、薄膜复合制品、陶瓷和 玻璃等的相对介电系数（ε）与介质损耗角正切值（tgδ）的测试。本电主要用于频率在工频50Hz下测量试品的相对介电系数（ε）和介质损耗角正切值（tgδ）。本电的设计主要是参照标GB1409-2006。本电采用的是三电式结构，能xiao除表面漏电流的影响，使测量电下的电场趋于均匀电场。主要技术指标仪器规格：47.5cm*35.5cm*41cm高低压电之间距离：0～14mm可调测量直径：￠38±0.1mm高压电直径：￠56±0.1mm测量与保护环间隙为1±0.05空tgδ：≤5×10-5测试电压：2kV实验频率：50/60Hz常温或耐受温度200℃(数字百分表不能加温）带数字百分表测量范围为0~12mm制作技术指标依据GB/T1303.2－－-2009注：原材料为不锈钢与聚四氟乙烯，接口为与电桥配套用用插座（带用插头）。性能特点1、主要用于测量高压工业绝缘材料的介质损失角的正切值及电容量。主要可以测量电容器、互感器、变压器、绝缘纸、电容器薄膜等各种电工油及各种固体绝缘材料在工频高压下的介质损耗(tgδ)和电容量( Cx)，其测量线路采用“正接法”即测量对地绝缘的试品。由于电桥内附有个2500KV的高压电源及台高压标准电容器，并将副桥和检流计与高压电桥有机的结合在起，特别适应测量各类绝缘油和绝缘材料的介损(tgδ)及介电常数(ε)。2、桥体本身带有5kV/100pF标准电容，测量材料介损更为方便。3、桥体内附电位跟踪器及指另仪，外侧接线及少。4、桥体采用了多样化的介损测量影响介电性能的因素下面分别讨论频率、温度、湿度和电气强度对介电性能的影响。 1）频率因为只有少数材料如石英玻璃、聚苯乙烯或聚乙烯在很宽的频率范围内它们的ε和taδ几乎是恒定的，且被用作工程电介质材料，然而般的电介质材料必须在所使用的频率下测量其介质损耗因数和电容率。电容率和介质损耗因数的变化是由于介质化和电导而产生，重要的变化是性分子引起的偶子化和材料的不均匀性导致的界面化所引起的。2）温度损耗指数在个频率下可以出现个至大值，这个频率值与电介质材料的温度有关。介质损耗因数和电容率的温度系数可以是正的或负的，这取决于在测量温度下的介质损耗指数至大值位置。3）湿度化的程度随水分的吸收量或电介质材料表面水膜的形成而增加，其结果使电容率、介质损耗因数和直流电导率增大。因此试验和试验时对环境湿度进行控制是必不可少的。 注：湿度的显著影响常常发生在1MHZ以下及微波频率范围内。4）电场强度存在界面化时，自由离子的数目随电场强度增大而增加，其损耗指数至大值的大小和位置也随此而变。在较高的频率下，只要电介质中不出现局部放电，电容率和介质损耗因数与电场强度无关。部分典型用户玉环县中德塑胶有限公司