* 检测塑胶类样品和轻质金属材料中的Pb、Cd、Hg、总Br和总Cr检出限达到5ppm。 * 检测Fe、Ni、Cu、Zn及其合金以及焊锡中的Pb、Cr等成份检出限可以达到100ppm, Cd的检出限可以达到20ppm。
仪器配置
* 仪器核心部件采用美国Amptek公司生产的X-123系统,集成了Si-PIN高分辨率半导体X射线探测器、高性能放大和整形电路、数字脉冲处理器以及脉冲高度分析器即MCA,最大限度地发挥探测器的性能。 * X射线管高压发生器采用美国Spellman公司生产的50W高压电源,性能指标,为仪器的运行提供了保障。 * 采用专业厂家生产的薄铍窗X射线管,功率达50W,专业化封装,辐射安全和各项性能指标满足应用要求。 * 配置多种经过精心设计的滤光片,使得XR-306型X射线荧光能谱仪不仅分析塑胶材料中的有害物质时 可以达到非常高的精度,同时,分析金属材料中的Pb和Cd等有害物质也可以达到很好的精度。 * 滤光片自动转换让操作人员无需掌握深入的理论即可进行的测量。 * 推拉式开盖方式结合开放式样品腔设计地解决了超大样品的检测问题,做到小样品测试安全方便,大样品测试只要按系统提示操作同样能操作人员安全。 * 精心设计的应用程序不仅可以使用户方便的检测,还提供非常漂亮的检测报告,对用户开放报告格式定制功能,无论何种格式的报告都可以定制。此外还提供了数据输出到Excel表格的功能,方便用户进行统计分析。 * 高清晰度摄像头的设置不仅使检测报告图文并茂,结合所配备的多孔经准直器还可以对不均匀样品进行定点检测。 * 开放式的软件设计,出厂前已配置了常用材料的分析方法,用户经过培训以后也可以建立自己的分析方法,拓展仪器的使用范围,如其它微量元素的分析和镀层测厚。
X荧光技术具有快速、精确、无损的特点。可以应用到很多的领域比如: 电子电器行业、机械制造、医疗卫生、生态研究、 有色冶金、食品工业、珠宝首饰、地质勘探、煤炭、造纸、建材行业、考古、商检、电镀行业、钢铁行业、石化、稀土、石英砂、金钢砂、陶瓷等许多领域得到了越来越广泛的应用. 产品有台式、便携式、手持式等专业型能量色散X荧光光谱仪。该类仪器具有快速、、无损和操作方便等鲜明特点,是质量控制、监测、计量的有力武器,备受用户青睐,现已在全球拥有上万家用户。 我们严把质量关,技术精益求精,服务及时周到,是用户信得过的朋友。产品不仅在中国市场上畅销并已远销韩国、泰国、新加坡、 印度尼西亚、阿曼、越南、澳大利亚、土耳其、马来西亚、印度、德国、阿联酋、美国、南非、意大利、埃圾、 越南 、 士耳其、 叙利亚等多个国家。目前已拥有两个世界的成就。销售量在同行业中全球,品种在同行业中全球。
EDX3000B型X荧光光谱仪的优点:
1.内置高清晰摄相头,方便用户随时检测样品。
2.独特的光路增强系统,方便用户更好地观察样品。
3.特别开发的ROHS测量软件,操作界面十分友好。
4.可选的准直器系列,分别针对不同大小的样品。
5.超大样品腔,对样品尺寸无限制。
6.精确的移动平台,更精确方便地调节样品位置。
7.半导体硅片电制冷系统,弃掉液氮制冷。
8.测量ROHS,电镀镀层,全元素分析,一机多用。
EDX3000B型X荧光光谱仪性能指标:
功能一、ROHS测量性能指标
1.无损、精确、快速分析固体、液体、粉末物质的精确含量;
2.元素分析范围:欧盟ROHS规定的六种物质铅(Pb)、汞(Hg)、镉(Cd)、六价铬(CrVI)、多溴联苯(PBB)、多溴联苯醚(PBDE);
3.元素含量分析范围为1PPM到99.99%;
4.测量时间:60-200秒;
5.多次测量重复性可达0.1%;
6.工作稳定性为0.1%;
7.检出限2PPM;
8.精确度5%;
9.能量分辨率为165EV;
10.温度适应范围为15℃至25℃;
11.电源:交流220V;
12.简洁、明了的中文ROHS分析软件界面;
功能二、镀层厚度分析其指标
1. 损、精确、快速测量各种电镀层的厚度;
2. 膜厚分析精度:0.01um-0.05um;
3. 最小测定面积,可达0.1mm*0.1mm;
4. 可测量二元合金、三元合金等的镀层厚度及成分;
5. 可分析10层以上的镀层;
6. 简单、明了的中文测厚分析软件界面;
7. 可分析电镀溶液中的金属离子浓度;
功能三、全元素分析及指标
1. 元素分析范围从钾(K)到铀(U);
2. 元素含量分析范围为1PPM到99.99%;
3. 其它同功能一;
XRF样品杯、X-ray样品杯、X荧光光谱仪样品杯、美国Chemplex样品杯、X-ray Cups
品名:XRF样品杯Sample Cups
型号:所有型号CAT. NO(欢迎来电索取产品目录)
品牌:美国Chemplex(原装进口)
货期:现货
起订量:1包以上(100个/包)。
一、美国Chemplex XRF样品杯:
美国Chemplex Industries有限公司专业从事样品前处理设备、耗材研发和生产的公司,是X射线光谱仪(XRF)配件耗材领域的全球知名厂商。
Chemplex XRF样品杯用于RoHS、WEEE专业测试仪器盛放小颗粒固体,粉末,液体,适用于各种品牌的X射线荧光光谱仪。Chemplex的许多XRF样本杯被列为新颖独特的设计和应用,并被美国专利商标局授予知识产权地位。
二、Chemplex 样品杯特点:
Chemplex样本杯由专为该应用配制的专用高密度聚乙烯注模制成。该材料的特点有:
1、符合RoHS指令;
2、不含有可能影响X射线数据的“白化”因子;
3、光滑,能够促进薄膜样本支撑窗口的光滑和稳固附着;
4、耐热和抗辐射的物理性能特点;
5、能抵抗与无法确定的样本材料物质接触时产生的化学污染;
6、低微量元素杂质。
三、适用于各种品牌X荧光光谱仪XRF:
日本岛津shimadzu、牛津仪器Oxford、斯派克Spectro、布鲁克Bruker、日本精工SII、日本电子JEOL、日本理学Rigaku、日本堀场Horiba、热电Thermo、帕纳科Panalytical、尼通Niton、伊诺斯Innox-X、天瑞Skyray、Jordan Valley、ARL、Asoma、Kevex、Metorex、Siemens、Spectrace、Philips、Fisons。
四、XRF样品杯目录:
1、产品系列:
1000系列:带有紧固套的单和双开口32和40mm薄膜支撑样品杯,和带有紧固盖和排气室的45mm样品杯;
1300系列:带有旋转咬合盖和咬合圈的双开口32和40mm样品杯;
1400系列:带有排气和小样品管的单开口32和40mm样品杯;
1500系列:带有多孔薄膜和咬合附件的双开口32和40mm样品杯;
1545系列:适用于样品表面水平和样品表面倾斜的XRF系统的样品杯;
1700系列:带有咬合排气和排气室的单开口32和40mm样品杯;
1800系列:带有排气装置和排气室的单开口32和40mm样品杯;
1080,1085,1850系列:带有排气装置和排气室的单和双开口47mm样品杯。
2、目录编号CAT.NO:
目录编号CAT.NO:外部直径最大外部直径高度孔径容量个/包
1060: 1.23”(31.2mm) /0.93”(23.6mm)0.96”(24.4mm)9mL100
1065: 1.23”(31.2mm)/0.93”(23.6mm)0.96”(24.4mm)8mL100
1070: 1.52”(38.6mm)/0.90”(22.9mm)1.19”(30.2mm)13mL100
1075: 1.51”(38.4mm)/0.90”(22.9mm)1.21”(30.7mm)13mL100
1080: 1.69”(42.9mm)1.84”(46.7mm)0.80”(20.3mm)1.43”(36.3mm)15mL100
1083: 1.69”(42.9mm)1.84”(46.7mm)0.73”(18.5mm)1.43”(36.3mm)12mL100
1085: 1.69”(42.9mm)1.84”46.7mm)0.80”(20.3mm)1.43”(36.3mm)12mL100
1095: 1.71”(43.4mm)1.77”(45.0mm)1.57”(39.9mm)1.50”(38.1mm)30mL100
1330: 1.21”(30.7mm)/0.90”(22.9mm)0.97”(24.6mm)7mL100
1330-SE: 1.21”(30.7mm)/0.90”(22.9mm)0.97”(24.6mm)7mL100
1340: 1.54”(39.1mm)/0.91”(23.1mm)1.26”(32.0mm)12mL100
1430: 1.22”(31.0m)/0.88”(22.4mm)0.97”(24.6mm)9mL100
1430-SE: 1.22”(31.0m)/0.88”(22.4mm)0.97”(24.6mm)9mL100
1440: 1.55”(39.4mm)/0.88”(22.3mm)1.27”(32.3mm)15mL100
1440L: 1.55”(39.4mm)/1.38”(35.1mm)1.28”(32.5mm)25mL100
1530: 1.22”(31.0mm)/0.91”(23.1mm)0.94”(23.9mm)9mL100
1530-SE: 1.22”(31.0mm)/0.91”(23.1mm)0.94”(23.9mm)9mL100
1540: 1.55”(39.4mm)/0.91”(23.1mm)1.22”(31.0mm)16mL100
1630杯盖: 32mm配1530样品杯///100
1640杯盖: 40mm配1540样品杯///100
1730: 1.21”(30.7mm)/0.91”(23.1mm)0.97”(24.6mm)7mL100
1730-SE: 1.21”(30.7mm)/0.91”(23.1mm)0.97”(24.6mm)7mL100
1740: 1.54”(39.1mm/0.93”(23.6mm)1.26”(32.0mm)11mL100
1830: 1.22”(31.0mm)/0.87”(22.1mm)0.96”(24.4mm)7mL100
1830-SE: 1.22”(31.0mm)/0.87”(22.1mm)0.96”(24.4mm)7mL100
1840: 1.54”(39.1mm)/0.93”(23.6mm)1.25”(31.8mm)12mL100
1850: 1.69”(42.9mm)1.87”(47.5mm)0.77”(19.6mm)1.41”(35.8mm)13mL100
1930: 1.23”(31.2mm)/0.84”(21.3mm)0.96”(24.4mm)8mL100
1930-SE: 1.23”(31.2mm)/0.84”(21.3mm)0.96”(24.4mm)8mL100
1940: 1.55”(39.4mm)/0.84”(21.3mm)1.27”(32.3mm)15mL100
1940L: 1.55”(39.4mm)/1.39”(35.3mm)1.27”(32.3mm)25mL100
1935-OX: 1.23”(31.2mm)/1.51”(38.4mm)1.16”(29.5mm)17mL100
2132: 1.24” (31.5mm)1.36” (34.5mm)1.15” (29.2mm)1.04” (26.4mm)9mL100
2135: 1.35” (34.3mm)1.46” (37.1mm)1.17” (29.7mm)1.10” (27.9mm)11mL100
2140: 1.58” (40.1mm)1.75” (44.5mm)1.17” (29.7mm)1.38” (35.0mm)19mL100
2143: 1.58” (40.1mm)1.62” (41.1mm)1.17” (29.7mm)1.38” (35.0mm)19mL100
2144: 1.58” (40.1mm)1.62” (41.1mm)1.33” (33.8mm)1.38” (35.0mm)19mL100
2145: 1.76” (44.7mm)1.86” (47.2mm)1.16” (29.5mm)1.57” (39.9mm)22mL100
2146: 1.76” (44.7mm)1.86” (47.2mm)1.32” (33.5mm)1.57” (39.9mm)22mL100
2195: 1.71” (43.4mm)1.77” (45.0mm)1.56” (39.6mm)1.50” (38.1mm)22mL100
3106: 1.20”(30.5mm)/0.99”(25.1mm )/0.2mL100
3110: 1.20”(30.5mm)/0.99”(25.1mm)/0.5mL100
3115: 1.20”(30.5mm)/0.99”(25.1mm)/1.0mL100
3120: 1.20”(30.5mm)/0.91”(23.1mm )/5.5mL100
联系方式:
广州市德骏仪器有限公司
手机:13430208978 黎小姐
电话:
传真:
地址:广州市越秀区解放南路123号金汇大厦801室
技术参数:
在实验室X荧光光谱仪方面,在此基础上又开发出了坚固轻便的手持式SPECTRO xSORT荧光光谱仪,用于现场金属材料的分析和分选。 仪器采用的激发源和检测器,实现了高精度,快速,安全的现场金属分析。把实验室级别的分析结果和轻松方便的操作方式地结合在一起。
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我司X荧光光谱仪技术参数 |
1、测量范围:1-40Kev; |
2、 可分析元素范围 : Na-U; |
3、分析含量范围:1ppm-99.99%; |
4、 分辨率:优于125eV; |
5、重复性:LED="f" stroked="f"> |
6、 工作环境温度:温度0—40℃; |
7、 工作环境相对湿度:≤75%(不结露); |
8、 测量时间 :10-2550s ( 可调整 ); |
9、 输入电源:AC 220V ± 10%,50Hz ; |
10、 额定功率 :50W ; |
11、 仪器尺寸:720(W)x460(D)x435 (H)mm ; |
12、 样品腔尺寸:ø240x80mm; |
13、 重量:约55Kg; |
东莞高鑫试验设备有限公司www.gaoxin17.com供应恒温恒湿试验箱|高低温试验箱|模拟运输振动台|干燥箱|电子式破裂强度试验机|拉力度试验机|纸箱抗压试验机|UX-300X荧光光谱仪|ROHS检测仪器|环压强度试验机|胡杰铭0769-22826897 13602308597 UX-300 | ||||
分析原理 | 能量色散X射线荧光分析法 | |||
分析元素 | Na ~U任意元素 | |||
检出下限(Cd/Pd) | Cd/Pb/Hg/Br≦2 ppm, Pb≦5 ppm | |||
样品形状 | 任意大小,任意不规则形状 | |||
样品类型 | 塑胶/金属/薄膜/粉末/液体 | |||
X射线管 | 靶材 | Mo | ||
管电压 | 5~50 kV | |||
管电流 | 最大1~1000 μA | |||
照射直径 | 2、5、8mm自动转换 | |||
探测器 | Si(PIN)半导体高分辨率探测器 | |||
滤光片 | 八种新型滤光片自动选择 | |||
样品定位 | 微动载物平台(选配) | |||
样品观察 | 30倍彩色CCD摄像机 | |||
微区分析 | X光聚焦微区分析系统(选配) | |||
软件 | 定量分析:α系数法 WINDOWS XP | |||
数据处理 | 主机 | PC机 | ||
内存 | 256 MB 以上 | |||
硬盘 | 40 GB 以上 | |||
OS | Windows XP | |||
工作环境 | 温度 | 10~35 ℃ | ||
湿度 | 30~70%R H | |||
電源 | AC 220 V±10 %、50/60 Hz | |||
功率 | 1.1kW | |||
重量 | 40Kg | |||
外形尺寸 |
| 550(W)×450(D)×450(H)mm |
X荧光光谱仪Thick800A
产品说明、技术参数及配置
仪器技术指标:
元素分析范围从钠(Na)到铀(U)。 一次可同时分析最多24个元素。分析检出限可达1ppm。分析含量一般为1ppm到99.9%。任意多个可选择的分析和识别模型。相互独立的基体效应校正模型。多变量非线性回收程序。多次测量重复性可达0.1%。工作稳定性为0.1%。温度适应范围为15℃至30℃。电源: 交流220V±5V, 建议配置交流净化稳压电源。
配置:
开放式样品腔。精密二维移动样品平台,探测器和X光管上下可动,实现三维移动。双激光定位装置。铅玻璃屏蔽罩。 Si-Pin探测器。信号检测电子电路。高低压电源。X光管。高度传感器保护传感器计算机及喷墨打印机