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探针台产品及厂家
三维磁场探针台多维磁场实验装置半导体材料测试
三维探针台和锦正茂自主研发的高精度双性电源相匹配,通过真正的双性电源输出,实现了空间任意方向上的矢量场合成。
更新时间:
2024-12-25
真空探针台高低温测试实验台材料测试霍尔测试
应用于高低温真空环境下的芯片测试,材料测试,霍尔测试,电磁输运特性等。
更新时间:
2024-12-25
JZM-D30室温探针台材料实验室半导体测量设备仪器
jzm-d30室温探针台材料实验室半导体测量设备仪器锦正茂jzm-d30室温探针台的诸多设计都是﹡用的,探针台的配置主要是根据用户的需求进行选配及设计。
更新时间:
2024-12-25
高低温真空探针台材料测试电磁测试仪器
锦正茂高低温真空探针台应用于高低温真空环境下的芯片测试,材料测试,霍尔测试,电磁输运特性等。
更新时间:
2024-12-25
室温探针台实验室半导体测试仪器光学平台
该类型的探针台主要依据客户的使用情况进行设计优化。
更新时间:
2024-12-25
JZM-63H JZM-100H气氛型高温探针台测试系统光学电学仪器
气氛型高温探针台测试系统光学电学仪器此款探针台可在真空环境下对样品进行光学,电学测试。
更新时间:
2024-12-25
高低温真空探针台测试系统镀金无氧铜样品台
高低温真空探针台测试系统镀金无氧铜样品台可升加载磁场,低温防辐射屏设计。
更新时间:
2024-12-25
T8-LY100锦正茂科技 定制高低温探针台
高低温探针台t8-ly100能够为半导体芯片的电学参数测试提供一个80k-420k高低温测试环境,
更新时间:
2024-12-25
JZM-D30实验室半导体材料测量仪器定制高精度实验台
实验室半导体材料测量仪器定制高精度实验台该探针台和我司自主研发的高精度双性恒流电源搭配使用,可以提高磁场的高稳定性。
更新时间:
2024-12-25
GC350-200高温磁场加热系统
主要技术指标:※ 温度范围:室温—350℃(硅片上边温度)※ 控温精度:±1℃※ 温度分辨率:0.1℃※ 样品尺寸:8英寸(需要有固定夹具,还有10mmx10mm,20mmx20mm样品也需要考虑单独固定)
更新时间:
2024-12-25
锦正茂科技低温三维磁场探针台
可以进行真空环境中的高低温测试(10k~325k)。磁场强度在x轴上为0.75t,在y轴上为0.75 t,在z轴上为0.4t。
更新时间:
2024-12-25
T8-LY100高低温探针台 用于传感器 半导体 光电测试
1、真空腔体约直径260mm,2、带有4英寸高透射观察窗,材质熔融石英3、样品载台直径:50mm 样品载台平整度<5微米
更新时间:
2024-12-25
T8-LY100高校科研实验室高低温探针台
可完成集成电路的电压、电流、电阻以及iv曲线等参数检测,用于低温环境下的芯片、晶圆和器件的非破坏性电学测试。
更新时间:
2024-12-25
定制气氛型高温探针台光学电学测试仪器
根据样品材料,形状不同可选择探针,插拔等多种安装测试方式。
更新时间:
2024-12-25
材料实验室半导体测量高低温真空磁场环境探针台
材料实验室半导体测量高低温真空磁场环境探针台锦正茂高低温真空探针台高低温真空环境下的芯片测试,材料测试,霍尔测试,电磁输运特性等。
更新时间:
2024-12-25
JZM-63H JZM-100H气氛型高温探针台真空环境材料光学电学测试
气氛型高温探针台真空环境材料光学电学测试控温精度:±0.1k;真空度:10e-3pa;
更新时间:
2024-12-25
实验测量设备磁场探针台芯片测试半导体仪器
实验测量设备磁场探针台芯片测试半导体仪器用于高低温真空环境下的芯片测试,材料测试,霍尔测试,电磁输运特性等。
更新时间:
2024-12-25
半导体材料测量设备高低温真空环境探针台
半导体材料测量设备高低温真空环境探针台高低温真空环境下的芯片测试,材料测试,霍尔测试,电磁输运特性等。
更新时间:
2024-12-25
东莞模拟运输振动台
东莞模拟运输振动台东莞模拟运输振动台仪器特点:1. 模拟运输振动:该振动台能够精准地模拟汽车在道路上运输时的振动情况,确保产品在运输过程中的质量和稳定性。2. 高精度控制系统:配备高精度控制系统,可精
更新时间:
2024-12-18
XF807-KBA123型防爆云台 隔爆云台 矿用云台
xf807-kba123型防爆云台是隔爆型电器设备,适用于石油、化工等企业含有易燃、易爆气体及可燃性混合物的场所。
更新时间:
2024-12-13
XF807-CZH-9型扩音呼叫电话机 终端机 矿用扩音电话机
xf807-czh-9型扩音电话终端机分为xf807-czh-9a型(适用于普通安全场所,在交流220v断电后相当于普通电话机照使用)和xf807-czh-9b型。
更新时间:
2024-12-13
JC503-OL-U手动检针器 检针器
手动检针器 检针器可手动检测鞋底、鞋头、鞋面、鞋帮、袜子、小型玩具等物品中的铁类金属可手动检测鞋底、鞋头、鞋面、鞋帮、袜子、小型玩具等物品中的铁类金属。。
更新时间:
2024-12-13
JC503-D3全自动四探针测试系统
可对样品进行单点、五点、九点、多点、直径扫描、面扫描等模式的全自动测试; 屏蔽测试,完全消除光线对样品测试的影响,保证测量的准确性; 吸附测试,完全消除全自动测试过程中样品移动对测试的影响;
更新时间:
2024-12-13
JC503-H48成套两探针测试仪
按照我国标准gb/t1551-1995及美国材料与试验协会(astm)推荐的材料验收检测方法“两探针法”设计。配套测试架适合于测量硅芯电阻率。两探针法的测量精度一般优于四探针法。
更新时间:
2024-12-13
JS705-S2二探针测试仪
二探针测试仪是运用二探针测量原理的多用途综合测量设备。该仪器按照单晶硅物理测试方法标准并参考美国 a.s.t.m 标准而设计的,于测试半导体材料纵向电阻率的仪器。
更新时间:
2024-12-13
DT309-T22多功能数字式四探针测试仪
仪器成套组成:由主机、选配的四探针探头、测试台等部分组成。 主机主要由精密恒流源、高分辨率adc、嵌入式单片机系统组成。仪器所有参数设定、功能转换全部采用数字化键盘输入;具有零位、满度自校功能;电压电流全自动转换量程;测试结果由数字表头直接显示。本测试仪特赠设测试结果分类功能,大分类10类。
更新时间:
2024-12-13
JC503-WSP-15二探针排重掺测试笔 探针排重掺测试笔 排重掺测试笔
1、仪器供电:本仪器适用于220v电源,也可直接使用两节12v电池供电。(好使用12v碱性电池),方便安全。判别准确! 2、电阻率测量范围:0.1欧姆/厘米以下会自动报警。 3、测试方法:打开笔套,将测试笔针接触被测原料,电阻率小于0.1欧姆/厘米时会自动报警,电阻率大于0.1欧姆/厘米不报警。
更新时间:
2024-12-13
JS110-HD25C手持式检针机 检针机
可检测小件服装、手套、皮革、拉链等,也可以协助输送带机找出断针小件服装、丝袜、手套、皮革、拉链等物体
更新时间:
2024-12-13
JC503-D3全自动四探针测试系统
可对样品进行单点、五点、九点、多点、直径扫描、面扫描等模式的全自动测试;
更新时间:
2024-12-13
SJX电动卧式测试台
sjx电动卧式测试台一、sjx电动卧式测试台的功能: sjx电动卧式机台是专为hf系列和nk系列推拉力计配套用的推拉负荷试验台。本产品采用双导杆结构,具有稳定性好,适用范围广
更新时间:
2024-12-13
180 545 000 307 000祥树优势产品ODU 插针#祥树赵工推荐
上海祥树欧茂机电设备有限公司是中国工业控制自动化领域著/名的服务贸易商,专/业从事各种国外中高端的工控自动化产品的进口贸易与工程服务。公司主要经营来自欧洲、美国、日本等guo知名品牌的高精密编码器、传感器、仪器仪表及各类自动化产品,并被广泛用于钢铁、冶金、能源、石化、矿山、港口、轨道交通等众多行业的guo家重点企业。
更新时间:
2024-12-12
8102/2.-3祥树优势产品STAHL 备件 #祥树赵工推荐
上海祥树欧茂机电设备有限公司是中国工业控制自动化领域著/名的服务贸易商,专/业从事各种国外中高端的工控自动化产品的进口贸易与工程服务。公司主要经营来自欧洲、美国、日本等guo知名品牌的高精密编码器、传感器、仪器仪表及各类自动化产品,并被广泛用于钢铁、冶金、能源、石化、矿山、港口、轨道交通等众多行业的guo家重点企业。
更新时间:
2024-12-12
ST 5025-6/1.5 1/1 SN:1125323598祥树优势产品STAHL 电机 #祥树赵工推荐
上海祥树欧茂机电设备有限公司是中国工业控制自动化领域著/名的服务贸易商,专/业从事各种国外中高端的工控自动化产品的进口贸易与工程服务。公司主要经营来自欧洲、美国、日本等guo知名品牌的高精密编码器、传感器、仪器仪表及各类自动化产品,并被广泛用于钢铁、冶金、能源、石化、矿山、港口、轨道交通等众多行业的guo家重点企业。
更新时间:
2024-12-12
TS2000-HP Probe System 半自动化探针台测试系统
更新时间:
2024-12-10
TS2000-DP Probe System 经济高效的8寸半自动高功率测试探针台
ts2000-dp是mpi提供一套多功能且经济高效的8寸半自动高功率测试探针台,可在20°c至300°c的温度范围内进行晶圆载片上高功率应用的测量,且测量能力高达3kv(三轴)/10kv(同轴)和600a(脉冲)。
更新时间:
2024-12-10
TS300-SE Probe System MPI 手动晶圆探针台系统(微屏蔽)
mpi ts300-shieldenvironment™(ts300-se)12英寸探针台旨在对300mm晶圆及以下微小器件提供高emi / rfi /不透光屏蔽,超低噪声,低泄漏测量功能环境。 它以佳高度与防震台结合在一起,使日常操作非常方便
更新时间:
2024-12-10
TS200-SE Probe System MPI手动晶圆探针台系统(微屏蔽)
mpi ts200-shieldenvironment™(ts200-se)8英寸探针台可提供高emi / rfi /不透光屏蔽,超低噪声,低泄漏测量功能。
更新时间:
2024-12-10
TS3500 Probe System 全自动晶圆探针台系统
ts3500和ts3500-se 在功能上与mpi的已建立的 ts3000 和 ts3000-se 300毫米探针台具有相同的功能,并通过配置或升mpi独特的waferwallet™而具有完全自动化的功能。mpi的解决方案通过提供比其他供应商的半自动化产品更少的完全自动化功能,降低了客户的总体测试成本。
更新时间:
2024-12-10
SiPH Probe System 半自动晶圆探针台系统
mpi为其的ts2000-se,ts3000,ts3000-se,ts3500和ts3500-se探针系统设计了用的siph升,
更新时间:
2024-12-10
TS3000 Probe System 半自动300mm探针台测试系统
mpi的ts3000是半自动300mm探针台测试系统,搭配独特的可开放式下做高低温测试,门为产品工程,故障分析,设计验证,晶圆可靠性以及rf和mmw应用而设计。
更新时间:
2024-12-10
超低温磁场探针台
半自动真空低温探针台使晶圆和器件在低温下9k(singleccr系统)、4.5k(dualccr系统)甚至低于4k(triple ccr系统)的情况下能够快速、经济地进行测试。低温探针台,设计用于支持在真空或气体环境中对高达100mm、150mm或高达300mm的晶圆进行自动动或半自动测试。 系统精度高、成本低、噪音低、使用方便。系统建立在一个振动补偿的多功能平台上,能够配置来各种测试应用程序。
更新时间:
2024-12-10
纳米探针台
纳米探测面临的挑战· 定位精度· 安全(软)着陆接触· 具有适当尖端半径的可靠探针头· 清洁环境:试验箱、样品、探针头· 振动敏感性低· 噪声抑制· 漂移补偿· 电路编辑/延迟:在fib角度操作
更新时间:
2024-12-10
三维磁场探针台
更新时间:
2024-12-10
Janis ST-500系列开循环探针台
janis st-500系列探针台是高性能的研究仪器,旨在为晶片和设备提供经济实惠的真空和低温探测环境。久经考验的st-500低温恒温器是这些探针台的基础部分,包括低振动技术(初设计用于高空间分辨率光学显微镜),以提供出色的样品位置稳定性。 各地的研究人员正在使用这些系统来进行广泛域的研究,包括mems、纳米电子学、超导性、铁电学、材料科学和光学。
更新时间:
2024-12-10
Janis CCR闭循环系列探针台
janis ccr闭循环系列探针台为研究人员提供了真空和低温测试功能,而无需使用液氦,液氮制冷。4 k、10 k和80 k低温恒温器使用成熟的gm制冷机冷却样品,性能可靠且价格合理。典型应用包括mems、纳米电子、超导、铁电、材料科学和光学。
更新时间:
2024-12-10
PA1AXCODA SYSTEMS探针PA1AX
coda system有弹簧加载的组件,用于板对板互连以及各种数据,电源和电池充电应用。
更新时间:
2024-12-09
PA2AXCODA SYSTEMS探针PA2AX
coda system有弹簧加载的组件,用于板对板互连以及各种数据,电源和电池充电应用。
更新时间:
2024-12-09
0151081-20-1GHYPERTAC插针0151081-20-1G
hypertac插针0151081-20-1g技术参数
更新时间:
2024-12-09
KT-Z1604TZ高温真空探针台
高温真空探针台kt-z1604tz,可单选高温或低温等相应组件,温度可达到400℃。以便测量分析温度变化时芯片性能参数的变化。腔体内被测芯片在真空环境中有效避免易受氧化半导体器件接触空气所带来的测试结果误差。
更新时间:
2024-11-14
KT-Z160TZ真空探针台
真空探针台kt-z160tz,高温真空腔探针系统主要用于为被测芯片提供一个低温或者高温的变温测量环境,以便测量分析温度变化时芯片性能参数的变化。腔体内被测芯片在真空环境中有效避免易受氧化半导体器件接触空气所带来的测试结果误差。
更新时间:
2024-11-14
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