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探针台产品及厂家
实验室高低温真空环境高精度探针台防辐射实验台
应用于高低温真空环境下的芯片测试,材料测试,霍尔测试,电磁输运特性等。
更新时间:
2024-10-30
JZM-D30室温探针台磁场高精度实验台材料测试
探针台主要依据客户的使用情况进行设计优化。
更新时间:
2024-10-30
JZM-D30室温探针台磁场、电源、样品台均可定制
该探针台和我司自主研发的高精度双性恒流电源搭配使用,可以提高磁场的高稳定性。
更新时间:
2024-10-30
多维磁场探针台半导体材料光学测量实验室仪器
锦正茂三维磁场探针台 广泛应用于半导体工业、mems 、超导、电子学、铁电子学、物理学、材料学和生物医学等域。
更新时间:
2024-10-30
JZM-D30实验室半导体材料测量仪器定制高精度实验台
实验室半导体材料测量仪器定制高精度实验台该探针台和我司自主研发的高精度双性恒流电源搭配使用,可以提高磁场的高稳定性。
更新时间:
2024-10-30
高低温真空探针台测试系统镀金无氧铜样品台
高低温真空探针台测试系统镀金无氧铜样品台可升加载磁场,低温防辐射屏设计。
更新时间:
2024-10-30
定制气氛型高温探针台光学电学测试仪器
根据样品材料,形状不同可选择探针,插拔等多种安装测试方式。
更新时间:
2024-10-30
材料实验室半导体测量高低温真空磁场环境探针台
材料实验室半导体测量高低温真空磁场环境探针台锦正茂高低温真空探针台高低温真空环境下的芯片测试,材料测试,霍尔测试,电磁输运特性等。
更新时间:
2024-10-30
气氛型高温探针台 样品材料电学 光学测试实验台
快速实现室温-200℃环境的控温,可在真空环境下对样品进行光学,电学测试。
更新时间:
2024-10-30
高低温真空探针台材料测试电磁测试仪器
锦正茂高低温真空探针台应用于高低温真空环境下的芯片测试,材料测试,霍尔测试,电磁输运特性等。
更新时间:
2024-10-30
定制探针台高低温真空磁场高精度实验台
定制探针台高低温真空磁场高精度实验台用于高低温真空环境下的芯片测试,材料测试,霍尔测试,电磁输运特性等。
更新时间:
2024-10-30
三维磁场探针台多维磁场实验装置半导体材料测试
三维探针台和锦正茂自主研发的高精度双性电源相匹配,通过真正的双性电源输出,实现了空间任意方向上的矢量场合成。
更新时间:
2024-10-30
T8-LY100锦正茂科技 定制高低温探针台
高低温探针台t8-ly100能够为半导体芯片的电学参数测试提供一个80k-420k高低温测试环境,
更新时间:
2024-10-30
GC350-200高温磁场加热系统
主要技术指标:※ 温度范围:室温—350℃(硅片上边温度)※ 控温精度:±1℃※ 温度分辨率:0.1℃※ 样品尺寸:8英寸(需要有固定夹具,还有10mmx10mm,20mmx20mm样品也需要考虑单独固定)
更新时间:
2024-10-30
锦正茂科技低温三维磁场探针台
可以进行真空环境中的高低温测试(10k~325k)。磁场强度在x轴上为0.75t,在y轴上为0.75 t,在z轴上为0.4t。
更新时间:
2024-10-30
T8-LY100高低温探针台 用于传感器 半导体 光电测试
1、真空腔体约直径260mm,2、带有4英寸高透射观察窗,材质熔融石英3、样品载台直径:50mm 样品载台平整度<5微米
更新时间:
2024-10-30
T8-LY100高校科研实验室高低温探针台
可完成集成电路的电压、电流、电阻以及iv曲线等参数检测,用于低温环境下的芯片、晶圆和器件的非破坏性电学测试。
更新时间:
2024-10-30
磁场探针台产生多维磁场半导体测试设备
磁场探针台产生多维磁场半导体测试设备三维探针台和锦正茂自主研发的高精度双性电源相匹配,通过真正的双性电源输出,实现了空间任意方向上的矢量场合成。
更新时间:
2024-10-30
JS10A手动台阶仪
国产手动台阶仪 js10a,稳定可靠的重复性测量,采用金刚石探针,无畸变的观察样品区,实时观察扫描区域,突破三个核心技术,国内研发生产,便于售后服务。【支持定制台阶仪】
更新时间:
2024-10-29
JS100A半自动台阶仪
国产半自动台阶仪js100a,拥有高精度、高分解能,搭配一体花岗岩结构,提供稳定可靠的重复性测量。js100a提供两个彩色摄像头对样品和针尖同时成像,可无畸变的观察样品区,方便定位特征区域,同时探针扫描时可实时观察扫描区域。
更新时间:
2024-10-29
JS1000A全自动台阶仪
国产全自动台阶仪js1000a,拥有高精度、高分解能,搭配一体花岗岩结构,提供稳定可靠的重复性测量。js1000a提供两个彩色摄像头对样品和针尖同时成像,可无畸变的观察样品区,方便定位特征区域,同时探针扫描时可实时观察扫描区域。
更新时间:
2024-10-29
KT-Z1604TZ高温真空探针台
高温真空探针台kt-z1604tz,可单选高温或低温等相应组件,温度可达到400℃。以便测量分析温度变化时芯片性能参数的变化。腔体内被测芯片在真空环境中有效避免易受氧化半导体器件接触空气所带来的测试结果误差。
更新时间:
2024-10-28
KT-Z160TZ真空探针台
真空探针台kt-z160tz,高温真空腔探针系统主要用于为被测芯片提供一个低温或者高温的变温测量环境,以便测量分析温度变化时芯片性能参数的变化。腔体内被测芯片在真空环境中有效避免易受氧化半导体器件接触空气所带来的测试结果误差。
更新时间:
2024-10-28
KT-Z4019MRL4T微型高低温探针台
微型高低温探针台kt-z4019mrl4t结构紧凑,适用于各种变温测试。-196℃~400℃(配液氮致冷模块)气密腔室设计,可通保护气氛
更新时间:
2024-10-28
KT-Z400MR4T微型高温探针台
微型高温探针台kt-z400mr4t,0-400℃温控,主要用于介电、压电、铁电、热释电、光电等材料的电学性能表征和测量。
更新时间:
2024-10-28
180 545 000 307 000祥树优势产品ODU 插针#祥树赵工推荐
上海祥树欧茂机电设备有限公司是中国工业控制自动化领域著/名的服务贸易商,专/业从事各种国外中高端的工控自动化产品的进口贸易与工程服务。公司主要经营来自欧洲、美国、日本等guo知名品牌的高精密编码器、传感器、仪器仪表及各类自动化产品,并被广泛用于钢铁、冶金、能源、石化、矿山、港口、轨道交通等众多行业的guo家重点企业。
更新时间:
2024-10-23
8102/2.-3祥树优势产品STAHL 备件 #祥树赵工推荐
上海祥树欧茂机电设备有限公司是中国工业控制自动化领域著/名的服务贸易商,专/业从事各种国外中高端的工控自动化产品的进口贸易与工程服务。公司主要经营来自欧洲、美国、日本等guo知名品牌的高精密编码器、传感器、仪器仪表及各类自动化产品,并被广泛用于钢铁、冶金、能源、石化、矿山、港口、轨道交通等众多行业的guo家重点企业。
更新时间:
2024-10-23
ST 5025-6/1.5 1/1 SN:1125323598祥树优势产品STAHL 电机 #祥树赵工推荐
上海祥树欧茂机电设备有限公司是中国工业控制自动化领域著/名的服务贸易商,专/业从事各种国外中高端的工控自动化产品的进口贸易与工程服务。公司主要经营来自欧洲、美国、日本等guo知名品牌的高精密编码器、传感器、仪器仪表及各类自动化产品,并被广泛用于钢铁、冶金、能源、石化、矿山、港口、轨道交通等众多行业的guo家重点企业。
更新时间:
2024-10-23
Janis ST-500系列开循环探针台
janis st-500系列探针台是高性能的研究仪器,旨在为晶片和设备提供经济实惠的真空和低温探测环境。久经考验的st-500低温恒温器是这些探针台的基础部分,包括低振动技术(初设计用于高空间分辨率光学显微镜),以提供出色的样品位置稳定性。 各地的研究人员正在使用这些系统来进行广泛域的研究,包括mems、纳米电子学、超导性、铁电学、材料科学和光学。
更新时间:
2024-10-21
Janis CCR闭循环系列探针台
janis ccr闭循环系列探针台为研究人员提供了真空和低温测试功能,而无需使用液氦,液氮制冷。4 k、10 k和80 k低温恒温器使用成熟的gm制冷机冷却样品,性能可靠且价格合理。典型应用包括mems、纳米电子、超导、铁电、材料科学和光学。
更新时间:
2024-10-21
TS2000-HP Probe System 半自动化探针台测试系统
更新时间:
2024-10-21
TS2000-DP Probe System 经济高效的8寸半自动高功率测试探针台
ts2000-dp是mpi提供一套多功能且经济高效的8寸半自动高功率测试探针台,可在20°c至300°c的温度范围内进行晶圆载片上高功率应用的测量,且测量能力高达3kv(三轴)/10kv(同轴)和600a(脉冲)。
更新时间:
2024-10-21
TS300-SE Probe System MPI 手动晶圆探针台系统(微屏蔽)
mpi ts300-shieldenvironment™(ts300-se)12英寸探针台旨在对300mm晶圆及以下微小器件提供高emi / rfi /不透光屏蔽,超低噪声,低泄漏测量功能环境。 它以佳高度与防震台结合在一起,使日常操作非常方便
更新时间:
2024-10-21
TS200-SE Probe System MPI手动晶圆探针台系统(微屏蔽)
mpi ts200-shieldenvironment™(ts200-se)8英寸探针台可提供高emi / rfi /不透光屏蔽,超低噪声,低泄漏测量功能。
更新时间:
2024-10-21
TS3500 Probe System 全自动晶圆探针台系统
ts3500和ts3500-se 在功能上与mpi的已建立的 ts3000 和 ts3000-se 300毫米探针台具有相同的功能,并通过配置或升mpi独特的waferwallet™而具有完全自动化的功能。mpi的解决方案通过提供比其他供应商的半自动化产品更少的完全自动化功能,降低了客户的总体测试成本。
更新时间:
2024-10-21
SiPH Probe System 半自动晶圆探针台系统
mpi为其的ts2000-se,ts3000,ts3000-se,ts3500和ts3500-se探针系统设计了用的siph升,
更新时间:
2024-10-21
TS3000 Probe System 半自动300mm探针台测试系统
mpi的ts3000是半自动300mm探针台测试系统,搭配独特的可开放式下做高低温测试,门为产品工程,故障分析,设计验证,晶圆可靠性以及rf和mmw应用而设计。
更新时间:
2024-10-21
超低温磁场探针台
半自动真空低温探针台使晶圆和器件在低温下9k(singleccr系统)、4.5k(dualccr系统)甚至低于4k(triple ccr系统)的情况下能够快速、经济地进行测试。低温探针台,设计用于支持在真空或气体环境中对高达100mm、150mm或高达300mm的晶圆进行自动动或半自动测试。 系统精度高、成本低、噪音低、使用方便。系统建立在一个振动补偿的多功能平台上,能够配置来各种测试应用程序。
更新时间:
2024-10-21
纳米探针台
纳米探测面临的挑战· 定位精度· 安全(软)着陆接触· 具有适当尖端半径的可靠探针头· 清洁环境:试验箱、样品、探针头· 振动敏感性低· 噪声抑制· 漂移补偿· 电路编辑/延迟:在fib角度操作
更新时间:
2024-10-21
三维磁场探针台
更新时间:
2024-10-21
DL10-4数字式四探针测试仪出租
数字式四探针测试仪是运用四探针测量原理的多用途综合测量设备。该仪器按照单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国a.s.t.m标准而设计的,用于测试半导体材料电阻率及方块电阻(薄层电阻)的用仪器。
更新时间:
2024-10-18
共598条
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