激光干涉仪产品及厂家
gemini是一款新颖的紧凑型干涉仪，入射光所产生的两束复制光之间具有极高的稳定性。其卓越的性能可以被应用于许多科研领域，比如时间/频率分辨荧光探测，相干拉曼光谱，泵浦探针，二维光谱以及单分子的研究。
更新时间:2025-01-03
产品简介：pg150-pc激光平面干涉仪是一种使用方便的光学精密计量仪器，主要用于平面类光学元件检定和校准光学平晶（包括玻璃、金属、陶瓷等），配备高精度的成像系统和图像采集系统，精密平面 标准镜等一系列高精技
更新时间:2025-01-02
本装置可以用散乱光光弹性的原理、测定以往无法测定的锂钠离子交换的化学强化玻璃。若表面附近有钾离子层的话、兼容与slp散乱光应力计的数据相合成以分析断面的应力分布
更新时间:2024-12-30
存货名称品牌规格型号电路板bautzzmp 92/70 h/v 2005728剩余电流监测装置benderrcma420-d-1位移检测器twkkds581-75-0,5-a01 s/n：166805编码器kubler8.5860.1212.1002模块euchnerces-a-lna-sc-077715
更新时间:2024-12-30
dsj6000激光干涉仪具有测量精度高、测量范围大、测量速度快、高测速下分辨率高等优点，结合不同的光学镜组，可实现线性测长、角度、直线度、垂直度、平行度、平面度等几何参量的高精度测量。在sj6000激光干涉仪动态测量软件配合下，可实现线性位移、角度和直线度的动态测量与性能检测，以及进行位移、速度、加速度、振幅与频率的动态分析，如振动分析、丝杆导轨的动态特性分析、驱动系统的响应特性分析等。
更新时间:2024-12-17
双缝干涉实验仪是高中物理学生实验仪器。它与j2507型光具座和j1202型或j1202-1型学生电源配套使用，可以观察白光和单色光通过双缝所产生的干涉图样，并可测量单色光的波长。
更新时间:2024-12-13
bw17-j4型激光平面干涉仪是一种使用方便的光学精密计量仪器，主要用于精密测量光学平面度。仪器配有激光光源（波长为6328a）。
更新时间:2024-12-13
该仪器主要用于高等院校物理实验中观察光的干涉现象（等厚条纹、等倾条纹、白光彩色条纹），测定单色光波长，测定光源和滤光片相干长度、配法布里─珀罗系统观察多光束干涉现象。
更新时间:2024-12-13
jc503-mg1迈克尔逊干涉仪主要用于观察光的各种干涉现象并验证相关基础理论，配套法布里-保罗干涉装置还可观察多光束干涉锐环，测量相邻光谱线间的波长差等，是迈克尔逊干涉实验必备设备。
更新时间:2024-12-13
jc503-d60该迈克尔逊干涉仪主要用于高等院校物理实验中观察光的干涉现象（等厚条纹、等倾条纹、白光彩色条纹），测定单色光波长，测定光源和滤光片相干长度、配法布里─珀罗系统观察多光束干涉现象。
更新时间:2024-12-13
renishaw雷尼绍xl-80激光干涉仪xl-80激光头可以产生非常稳定的激光光束，采用的波长可溯源至家和际标准。特性与优点· 激光稳频精度通过热控制技术将激光管长度变化控制在几纳米范围内，达到3年内精度保持在±0.05 ppm（百万分之）。· 线性测量精度在整个环境范围内，即从0 oc - 40 oc（32 of - 104
更新时间:2024-12-10
zygo新型verifire hdx激光干涉仪是为超高精度的光学元件和系统设计和制造的，可以获得元件表面的中频特征信息。系统包含现有verifire hd的所有功能-比如qpsi和长寿命稳频的激光器，并增加了重要的增强功能，如刷新行业水平的分辨率和成像能力，仪
更新时间:2024-10-29
美国zygo激光干涉仪dynafizdynafiz 激光干涉仪:在空气湍流和端振动的环境下进行动态测量 ;dynafiz 激光干涉仪优化的光学系统提供了清晰可见的中间空间频率特征 ;livephase™ 软件可以进行实时zernike分析 ;movie模式获取随时间变化的波 ;dynafiz 激光干涉仪 高功率，长寿命稳频氦氖激光器。
更新时间:2024-10-29
昊量光电新推出的激光振动传感器光学元件集成化可以实现更加复杂的设计和更多的功能。集成光学芯片可以在一个单一的光学基底上包含数十到数百个光学元件，包括激光器、调制器、光电探测器和滤波器等。具有不同延迟线的光学干涉仪蕞先在集成光学芯片上实现，并通过一个一体化封装将集成光学芯片、激光二极管、探测器阵列和光学透镜组成一个小型化激光传感模组。自主研发的激光传感平台通过专有的数字信号处
更新时间:2024-10-28
光纤法布里-珀罗干涉仪系列产品基于具有平滑、均匀间隔传输峰的固定干涉仪设计。ffp 的设计简洁优雅的关键在于其无透镜全光纤结构。没有准直光学器件或透镜，消除了其他法布里-珀罗元件技术的缺陷，包括未对准、环境敏感性和外来模式。ffp 波器遵循 airy 函数。工程师可以将其设计到 oem 系统中，因为他们知道它将提供非常接近理论数学模型的结果。
更新时间:2024-10-28
phasics sid4-nir近红外波前传感器/波前分析仪是测量光学元件和光束波前质量的一种很好的替代传统干涉仪的方法。sid4-nir是一款高性价比的高分辨率波前传感器，专门用于测量和对准1550 nm光通信波段中使用的激光光源和透镜。
更新时间:2024-10-28
phasics sid4-eswir短波红外波前传感器/波前分析仪是一种创新的解决方案，可用于检测空间光通信、测试仪表、军用夜视系统或监控设备中使用的短波红外光学系统。
更新时间:2024-10-28
昊量光电推出的皮米级绝对距离测量干涉仪qudis是目前市面上同类别唯一可以测量皮米级绝对距离的干涉仪。基于其独特的测量原理，相对距离的重复精度达到了前所未有的50皮米。绝对距离也可以达到20m。
更新时间:2024-10-28
phasics短波近红外波前传感器sid4-swir将phasics的四波剪切技术与ingaas探测器结合在一起。 凭借其高取样分辨率（80 x 64相位取样点）和高灵敏度，它提供了从900 nm到1.7μm波段的精准波前测量。
更新时间:2024-10-28
phasics大口径超高分辨率波前传感器/波前分析仪sid4-uhr可用于光学计量需求，它结合了sid4的易于光路搭建的特点，并拥有超高分辨率及相位精度。大口径超高分辨率波前传感器/波前分析仪sid4-uhr的大口径传感器靶面可以实现对整个被测样品的实时波前测量。
更新时间:2024-10-28
phasics sid4 dwir中远红外波前传感器/波前分析仪随着光波波前探测技术的发展，各种波前传感器应运而生。从测量原理上可以分成两类：一类是根据几何光学原理，测定波前几何像差或面型误差，主要有shack－hartmann 波前传感器，曲率传感器和pyramid 波前传感器等；另一类是基于干涉测量原理，探测波前不同部分的干涉性，来获取波前信息，主要有剪切干涉仪波前传感器和相位获取传感器等。
更新时间:2024-10-28
phasics sid4 uv紫外波前传感器/波前分析仪作为低可至波长250 nm的高分辨率波前传感器，phasics sid4 uv紫外波前传感器/波前分析仪非常适合于紫外光学测量，包括用于光刻或半导体应用紫外激光表征，以及透镜和晶圆的表面面型检测。
更新时间:2024-10-28
phasics sid4-swir-hr高分辨率短波红外波前传感器将phasics的四波剪切技术与ingaas探测器结合在一起。 凭借其超高取样分辨率（160 x 128相位取样点）和高灵敏度，它提供了从900 nm到1.7μm波段的高精度波前测量。
更新时间:2024-10-28
phasics sid4-uv-hr高分辨率紫外波前传感器/波前分析仪是测量光学元件和光束波前质量的一种很好的替代传统干涉仪的方法。作为低可至波长250 nm的高分辨率波前传感器，phasics sid4-uv-hr高分辨率紫外波前传感器/波前分析仪非常适合于紫外光学测量，包括用于光刻或半导体应用紫外激光表征，以及透镜和晶圆的表面面型检测。
更新时间:2024-10-28
测量精度可达0.6nm(λ/1000). 其标杆产品d7激光干涉仪采用点衍射技术，主要用于高精度的表面（平面,球面,非球面,自由曲面）检测及透射波前检测。
更新时间:2024-10-28
昊量光电推出的皮米精度位移干涉测量仪qudis是对纳米别的位移波动进行量测的理想仪器，基于其独特的测量原理，相对距离的重复精度达到了所未有的50皮米。
更新时间:2024-10-28
日立高新技术科学公司于2019年3月起，在中国开始销售利用光干涉原理进行非接触式无损伤三维表面形态测量的纳米尺度3d光学干涉测量系统“vs1800”，该产品搭配有支持多目的表面测量国际标准“iso 25178*1参数对比工具”，通过简单而准确的样品测量支持客户的分析业务，与此同时，凭借不断创新积累的三维测量性能，实现高精度、高分辨率的表面性状的测量。
更新时间:2024-10-25
迈克尔逊干涉仪主要用于高等院校物理实验中观察光的干涉现象（等厚条纹、等倾条纹、白光彩色条纹）、测定单色光波长、测定光源或滤光片相干长度、配法布里—珀罗系统观察多光束干涉现象。附加适当装置，还可以扩大实验范围（如测薄片厚度和折射率，空气折射率等）。因此，它是种用途很广的验证有关基础理论的教学实验仪器。
更新时间:2024-10-18
迈克尔逊干涉仪主要用于高等院校物理实验中观察光的干涉现象（等厚条纹、等倾条纹、白光彩色条纹）、测定单色光波长、测定光源或滤光片相干长度、配法布里—珀罗系统观察多光束干涉现象。附加适当装置，还可以扩大实验范围（如测薄片厚度和折射率，空气折射率等）。因此，它是种用途很广的验证有关基础理论的教学实验仪器。
更新时间:2024-10-18
使用ac220v，50hz供电，内部装有红色镭射光源，波长为650nm，通过外部移动尺上的演示片演示光的干涉衍射现象，让学生清晰的看到衍射和衍射图形加深对理论的消化吸收。
更新时间:2024-10-18
本仪器是是种采用量块或标准零件借以高精度的比较方式的立式精密长度计量仪器。主要用于150mm以下块规，亦可用作高精密度的长度和外径的精密测量，是各级计量室的基本长度计量仪器之。
更新时间:2024-10-18
dynafiz是一种新型菲索型瞬态测量激光干涉仪，特殊优化的光学设计，可以在剧烈振动和空气扰动的环境下检测。可以在同一光路墡加移相模式进行高精度计量检测。
更新时间:2024-09-23
verifire hd——带有qpsi抗震技术的高分辨率激光干涉仪zygo的 verifire hd干涉仪系统能够对平面和球面面形进行快速的高分辨率的测量，能够测量单个光学元件和光学组件的透射波阵面。测量时，干涉腔的长度被精确的调节的同时通过高帧速的相机采集干涉图像，最后通过软件对获取到的条纹进行计算分析给出样件表面精细的面形信息。
更新时间:2024-09-23
zygo verifire hdx 是为计量高精度光学元件和光学系统而专门设计的激光干涉仪．主要特点：低噪声、高速、1.16千万像素的传感器，96赫兹运行；突破像素相助的优化的光学设计，行业领先的空间分辨率和itf；高功率、长寿命hene激光源，3年质保；抗震采集技术满足各种计量测试环境和各种复杂测试设置。
更新时间:2024-09-23
产地;新加坡 三维激光测振仪 3d激光测振仪激光测振仪（进口）位移分辨率高达0.008纳米。测量物体振动的速度,加速度,位移,运动轨迹,频率.三维激光测振可以实现三轴振动测量。多点激光测振可以同时实现16个振动点振动并可以测量物体瞬间振动和实时的振动模拟.
更新时间:2024-09-04
德国进口双频激光干涉仪zlm700，用于机床的定位精度、重复定位精度、位移距离测量、速度加速度测量、线性度、直线度、垂直度、平面度、偏摆角、俯仰角、滚动角、角速度、圆形轨迹、微振动测量，还能够测量数控机床回转台的定位精度和重复定位精度等，从而实现定位、校准、控制和补偿。
更新时间:2024-08-31
zlm900微测量检测激光干涉仪由德国jenaer耶拿尔公司生产，为三轴外差式双频激光干涉仪，用于位移、俯仰角和偏摆角的三角关系测量，主要用于运动平台等微位移的测量和检测，角度变化量的监测等。
更新时间:2024-08-31
气源处理器sfc300结构： 调压过滤给油器 过滤精度： 40 调压范围： 0.05-0.85（mpa） 建议用油： iso vg32同用油 材质： 压铸铝 高使用压力： 0.95（mp
更新时间:2024-08-26
kla-d-s双向拉绳开关 广泛应用于钢铁、水泥、电厂、矿山等具有带式输送机的厂矿，该产品安装在胶带输送机两侧，是用于胶带输送机紧急事故停机的一种保护开关，在开关操作距离内任何一点拉动钢丝绳，切断运行电路使全线停机，实现对胶带机及人生安全的保护。
更新时间:2024-08-26
用于sentech instruments等离子系统的sentech sli激光干涉仪端点监测器与聚焦的相干激光束一起工作。激光束穿过等离子系统的顶部视口，并被样品反射。反射光照射到检测器上并测量强度。
更新时间:2024-08-14
电工用硅钢薄板俗称矽钢片或硅钢片。是一种含碳极低的硅铁软磁合金,一般含硅量为0.5～4.5%，经热、冷轧制成。一般厚度在1mm以下，故称薄板。加入硅可提高铁的电阻率和大磁导率，降低矫顽力、铁芯损耗（铁损）和磁时效。主要用来制作各种变压器、电动机和发电机的铁芯。
更新时间:2024-08-14
德国 米铱 micro-epsilon 干涉仪 型号 ims5400-th70/mp micro-epsilon产品范围包括用于测量距离和位移的传感器、用于红外温度测量和颜色检测的传感器，以
更新时间:2024-08-11
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