原子力显微镜（AFM）产品及厂家
全新发布的 afm-in-phenom xl 结合了扫描电子显微镜 (sem) 和原子力显微镜 (afm) 的优势，实现了在同一系统中对样品进行多模态（sem 及 afm 形貌、元素、机械、电学、磁学）关联分析。
更新时间:2024-12-19
spm-9700ht作为一种全新的换代产品，通过新开发的可快速响应的ht扫描器以及软件与控制系统设计的优化，成功实现以传统设备5倍以上的速度获取图像数据。spm-9700ht在基本观察功能的基础上融入了更强的测量功能，具备了卓越的信号处理能力，加上先进的vbdf功能，数字处理能力比同类产品提高40%，可得到更高分辨率、更高质量的观察图像。
更新时间:2024-12-10
dimension fastscan bio 原子力显微镜 （afm） 可实现生物动力学的高分辨率研究，实时样品观测的时间分辨率高达每 3 帧。更重要的是，它同时使afm比以往更容易使用。dimension fastscan bio afm 以先进的大
更新时间:2024-12-10
s-snom技术使用金属镀层的原子力（afm）探针针尖代替传统光纤探针来增强样品的纳米尺度区域的散射，散射信号可以在远场被检测到。而这些散射信号携带了样品在金属探针针尖下纳米区域的复杂光学性质。具体而言，这些散射光的信息包括光的振幅和相位，通过适当的模型，这些测量可以估算出针尖下样品纳米尺度区域材料的光学常数（n，k）。在某些情况下，光学相位与波长还提供了个与同种材料常规吸收光谱近似的光谱信息
更新时间:2024-12-02
多功能扫描探针显微镜afm100 plus/afm100系统afm100 plus/afm100系统是以在研发、生产、教育等各种场合普及afm应用为目的，并追求操作性、性及率观察的通用型高分辨扫描探针
更新时间:2024-12-02
afm5500m是操作性和测量精度大幅提高，配备4英寸自动马达台的全自动型原子力显微镜。设备在悬臂更换，激光对中，测试参数设置等环节上提供全自动操作平台。新开发的高精度扫描器和低噪音3轴感应器使测量精度大幅提高。并且，通过sem-afm共享坐标样品台可轻松实现同一视野的相互观察分析。
更新时间:2024-12-02
日立环境多功能原子力显微镜通过采用『综合型holder flange开合功能』，样品和扫描器更換更为方便的同时，免去了以往环境型spm的样品更換后的所需的光轴调整。 也省去测试模式切换时的支架更換环节。3. 卓越的高性能采用了『swing cancel功能』，减轻了样品的浮动，降低了漂移。提高了纳米分析性能，提升了可信度。 漂移量：0.015nm/
更新时间:2024-12-02
日立5500m全自动型原子力显微镜afm5500m是操作性和测量精度大幅提高，配备4英寸自动马达台的全自动型原子力显微镜。设备在悬臂更换，激光对中，测试参数设置等环节上提供全自动操作平台。新开发的高精
更新时间:2024-12-02
环境多功能原子力显微镜afm5300e是一款环境型原子力显微镜，它的环境控制单元可以使样品在大气中、真空中、溶液中等环境中进行测量。afm5300e还具有高低温控制功能，可以检测温度对样品
更新时间:2024-12-02
1000型原子力显微镜应用：其应用范围十分广泛，利用原子力显微镜可以轻松得到样品的表面观察、尺寸测定、表面粗糙度、表面颗粒度分析、表面电势梯度和电荷分布、表面磁畴、生物细胞的表面结构等。可测样品有：薄膜、纳米陶瓷、石墨烯、复合材料、纳米复合材料、玻璃、硅片、共聚物、电池材料、半导体材料、纳米纤维、蛋白质、纳米粉体等。应用行业：高校（理工类）实验室、科研机构、公安刑侦和工业检测部门。
更新时间:2024-12-02
afm5300e是一款环境型原子力显微镜，它的环境控制单元可以使样品在大气中、真空中、溶液中等环境中进行测量。afm5300e还具有高低温控制功能，可以检测温度对样品表面形貌和物理特性的影响。
更新时间:2024-10-25
afm5100n除了激光检测方式之外，全新的「自检测悬臂」，在保证高分辨表面形貌观察的同时，大大简化了afm悬臂操作。
更新时间:2024-10-25
通常的悬臂是非常渺小而且很难操作，内部装有传感器的「自检测悬臂」比普通的afm探针要大得多，容易拿取，安装非常简单方便。
更新时间:2024-10-25
afm5300e是一款环境型原子力显微镜，它的环境控制单元可以使样品在大气中、真空中、溶液中等环境中进行测量。afm5300e还具有高低温控制功能，可以检测温度对样品表面形貌和物理特性的影响
更新时间:2024-10-25
afm5500m是操作性和测量精度大幅提高，配备4英寸自动马达台的全自动型原子力显微镜。设备在悬臂更换，激光对中，测试参数设置等环节上提供全自动操作平台。新开发的高精度扫描器和低噪音3轴感应器使测量精度大幅提高。并且，通过sem-afm共享坐标样品台可轻松实现同一视野的相互观察分析。
更新时间:2024-10-25
原子力显微镜（atomic force microscopy）是种以物理学原理为基础，通过扫描探针与样品表面原子相互作用而成像的新型表面分析仪器。般原子力显微镜利用探针对样品扫描，探针固定在对探针与样品表面作用力极敏感的微悬臂上。悬臂受力偏折会引起由激光源发出的激光束经悬臂反射后发生位移。检测器接受反射光，后接受信号经过计算机系统采集、处理、形成样品表面形貌图像。
更新时间:2024-10-18
lumina at1可以在4分钟内完成150毫米晶圆的扫描，对于基底上下表面的颗粒、凸起、凹陷、划痕、内含物等缺陷均可一次性成像。在透明基底，如玻璃，化合物半导体如氮化镓、砷化镓、碳化硅等样品上有独特的优势。也可用于薄膜涂层的成像厚度变化的全表面扫描。大样品300 x 300 mm。
更新时间:2024-09-23
lumina at2-efem可以在2分钟内完成300毫米晶圆的扫描，对于基底上下表面的颗粒、凸起、凹陷、划痕、内含物等缺陷均可一次性成像。在透明基底，如玻璃，化合物半导体如氮化镓、砷化镓、碳化硅等样品上有独特的优势。也可用于薄膜涂层的成像厚度变化的全表面扫描。大样品300 x 300 mm。
更新时间:2024-09-23
lumina at2可以在3分钟内完成300毫米晶圆的扫描，对于基底上下表面的颗粒、凸起、凹陷、划痕、内含物等缺陷均可一次性成像。在透明基底，如玻璃，化合物半导体如氮化镓、砷化镓、碳化硅等样品上有独特的优势。也可用于薄膜涂层的成像厚度变化的全表面扫描。大样品300 x 300 mm。
更新时间:2024-09-23
kla是全球半导体在线检测设备市场大的供应商，在半导体、数据存储、mems、 太阳能、光电子以及其他域中有着高的市占率。alpha-step" 探针式轮廓仪支持合阶高度和粗度的2d及3d(d-600)轮廓扫描，以及翘曲度和应力的2d测量。创新的光学杠杆传感器技术提供高分辨率测量，大垂直范围和低触力测量功能。
更新时间:2024-09-23
film sense 多波长椭偏仪通过简单的 1 测量，可以以高的精度和精度测定大多数透明薄膜的薄膜厚度和折射率并对许多样品进行光学常数 n&k 等薄膜性质的测量。多波长椭偏仪提供了强大的薄膜测量功能售价只是单一波长椭偏仪和光谱椭偏仪的中等水平。film sense 偏仪非常适合在研究实验室教室，现场处理室，工业质量控制等等。
更新时间:2024-09-23
kla是全球半导体在线检测设备市场的供应商，在半导体、数据存储、mems、太阳能、光电子以及其他域中有着高的市占率。p-7是kla公司的第八代探针式台阶仪系统，历经技术积累和不断迭代更新，集合众多技术优势。p-7建立在市场先的p-17台式探针轮廓分析系统的成功基础之上。它保持了p-17技术的卓越测量性能，并作为台式探针轮廓仪平台提供了高的性价比。p-7可以对台阶高度、粗糙度、翘曲度和应力进
更新时间:2024-09-23
zygo zegage pro光学轮廓仪是用于3d形貌定量测试，和精密机械表面粗糙度检测的理想非接触式检测工具。它工业化的设计提供快速，精确的测量方案，并且外形紧凑、性价比高，能够放在生产车间工作，而不需要振动隔离和特殊的隔离装置。同时交互式的控制软件mx 提供了简单而精细的图形图像来帮助你的加工处理。
更新时间:2024-09-23
zygo newview 9000 3d 光学轮廓仪提供了强大的非接触式光学表面分析的多功能性。它可以容易和快速地测量各种表面类型，包括光滑、粗糙、平坦、倾斜和阶梯式的表面。所有的测量都是无损、快速、无需样品制备的。系统的核心是 zygo 相干扫描干涉技术(csi)，提供了所有放大倍数下亚纳米的精度，并且能够快速测试各种样品表面。
更新时间:2024-09-23
不论您是想要知道薄膜厚度、光学常数，还是想要知道材料的反射率和透过率，f20都能满足您的需要。仅需花费几分钟完成安装，通过usb连接电脑，设备就可以在数内得到测量结果。基于某模块化设计的特点，f20适用于各种应用。
更新时间:2024-09-23
依靠f50先进的光谱测量系统，可以很简单快速地获得大直径450毫米的样品薄膜的厚度分布图。采用r-θ坐标移动平台，可以非常快速的定位所需测试的点并测试厚度，测试非常快速，大约每能测试两点。用户可以自己绘制需要的点位地图。f50系统配置高精度使用寿命长的移动平台，确保能够做成千上万次测量。
更新时间:2024-09-23
bruker dimension® icon™ 原子力显微镜为工业界和科研界纳米域的研究者带来了全新的afm应用体验，其测试功能强大，操作简便易行。仍然以上应用广泛的af
更新时间:2024-09-23
zygo致力于保护您在verifire干涉仪的长寿命期间的投资。 在全球安装了数千套系统，没有其他计量公司接近zygo的产品质量和客户满意度记录。质量多功能性和生产力大化您的投资zygo公司：光学计量的导者•我们保证verifire系统和组件作为完整解决方案的一部分，符合我们的iso 9001注册设施
更新时间:2024-09-23
原子力显微镜应用：其应用范围十分广泛，利用原子力显微镜可以轻松得到样品的表面观察、尺寸测定、表面粗糙度、表面颗粒度分析、表面电势梯度和电荷分布、表面磁畴、生物细胞的表面结构等。可测样品有：薄膜、纳米陶瓷、石墨烯、复合材料、纳米复合材料、玻璃、硅片、共聚物、电池材料、半导体材料、纳米纤维、蛋白质、纳米粉体等。应用行业：高校（理工类）实验室、科研机构、工业检测部门。
更新时间:2024-09-19
dimension edge原子力显微镜采用了布鲁克的一些创新技术，达到了同类产品的zui高水平，为纳米尺度的科学研究提供了高效率、高性价比的强大工具。
更新时间:2024-08-26
dimension fastscantm 原子力显微镜（atomic force microscope，afm），在不损失dimension® icon®超高的分辨率和卓越的仪器性能前提下，zui大限度的提高了成像速度。这项突破性的技术创新，从根本上解决了afm成像速度慢的难题，大大缩短了各技术水平的afm用户获得高质量数据的时间,是世界上扫描速度zui快的原子力显微镜。
更新时间:2024-08-26
dimension icon 系列作为布鲁克公司(bruker axs)原子力显微镜的旗舰产品，凝聚了多项行业ling先的zhuan li技术，是二十多年技术创新、客户反馈和行业应用的结晶。
更新时间:2024-08-26
一包10根高质量硅蚀刻探针，用于tappingmode™和其他非接触模式。bruker afm probes推出了其流行的tesp / tespa afm探针的改进版本。 布鲁克的新系列tesp高品质优质蚀刻硅探针为tappingmode™和空气中的非接触模式设定了行业标准。
更新时间:2024-07-17
更易定位，更适合如按样品。此型号为布鲁克贴标产品，同型号奥林巴斯omcl-ac240ts-r3 探针。悬臂共振频率：70(50~90) khz（空气中），弹性系数：2 n/m。针尖曲率半径：7nm（典型值）al涂层。
更新时间:2024-07-17
dimension icon是dimension系列产品中的新款设备,它基于上应用广泛的afm平台，集合了数十年的技术创新、行业内先的应用定制及客户反馈等于一身。这个系统经过从上到下的设计，在易用性、高分辨率及快速成像等方面有突出表现。
更新时间:2024-07-17
dimension fastscantm原子力显微镜（atomic force microscope，afm），在不损失dimension icon 超高的分辨率和卓越的仪器性能前提下，最大限度的提高了成像速度。这项突破性的技术创新，从根本上解决了afm成像速度慢的难题，大大缩短了各技术水平的afm用户获得数据的时间。
更新时间:2024-07-17
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