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表面阻抗分析仪产品及厂家
端子压降测试系统价格
端子压降测试系统,电线束压降测试系统 本系统采用集成电路及高精度芯片控制,通过测量接触电阻、电压降及温升等数据来检测电线束插接器的电性能,恒流源供给更加稳定的输出,大液晶显示屏幕更加直观,各类参数和功能设定通过薄膜面板实现,人性化设计符合人体工学原理,提供usb、232、485通讯接口;可以连接打印机、电脑和其他外接控制单元,配置pc软件可以获得更多过程数据,测试报表处理、存储和数据分析有助于产
更新时间:
2025-01-07
FT-310A安徽瑞柯高导电粉末电阻率测试仪
采用高精度恒流恒压源,自动量程,无需手动调节和设定。大液晶屏幕显示,所有测试数据和设定数据均可显示,当选择经济型手动测量装置匹配时能直观的查看数据;如果在条件许可下可以选择自动测量装置将获得更高精确的重复性数据和消除操作误差带来的不确定性。
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2025-01-07
FT-371隔热导电膜四探针电阻率测试仪
隔热导电膜四探针电阻率测试仪,本品为解决四探针法测试超高阻值材料方阻及电阻率,最大可以测试到1010ω方阻值,是目前同行业中能测量到的最大方阻值,此仪器是瑞柯新品,主要用于测超高阻。
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2025-01-07
FT-371重庆导电窗膜表面阻抗分析仪厂家
本仪器配置各类测量装置可以测试不同材料。液晶显示,无需人工计算,并带有温度补偿功能,电阻率单位自动选择,仪器自动测量并根据测试结果自动转换量程,无需人工多次和重复设置。
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2025-01-07
FT-371河南瑞柯金属化标签四探针测试仪
本品为解决四探针法测试超高阻值材料方阻及电阻率,最大可以测试到1010ω方阻值,是目前同行业中能测量到的最大方阻值,选购:本机还可以配合各类环境温度试验箱体使用,通过不同的测量治具满足不同环境温度下测量方阻和电阻率的需求.采用高精度ad芯片控制,恒流输出,结构合理、质量轻便,运输安全、使用方便;适用于生产企业、高等院校、科研部门,是检验和分析导体材料和半导体材料质量的一种重要的工具。
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2025-01-07
FT-371瑞柯电热膜导电性测试仪哪里有卖
液晶显示,无需人工计算,并带有温度补偿功能,电阻率单位自动选择,仪器自动测量并根据测试结果自动转换量程,无需人工多次和重复设置。
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2025-01-07
FT-701东北瑞柯电炭制品电阻率测试仪
直流恒流源输出系统结合集成电路及高精度芯片控制,大液晶显示屏幕更加直观,直读电阻,电压降,电阻率,高精度的测试量程;各类参数和功能设定通过薄膜面板实现,人性化设计符合人体工学原理,提供usb、232、485通讯接口;可以连接打印机、电脑和其他外接控制单元。
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2025-01-07
FT-332金属薄膜四探针电阻率测试仪验证流程
金属薄膜四探针电阻率测试仪验证流程,适用于覆盖膜;导电高分子膜,高、低温电热膜;隔热、防辐射导电窗膜 导电(屏蔽)布、装饰膜、装饰纸;金属化标签、合金类箔膜;熔炼、烧结、溅射、涂覆、涂布层,电阻式、电容式触屏薄膜;电极涂料,其他半导体材料、薄膜材料方阻测试,电性橡胶,导电性薄膜,金属薄膜,抗静电材料.
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2025-01-07
Loesta AX 低电阻率计
loesta ax 低电阻率计是一种手持仪器,测量具有一致精度样品的低电阻率。该电阻率计使用各种探头测量电阻率。loesta ax使用一个标准的rcf,如果已知的话,用户也可以输入其他rcf。它通常用于产品工程和质量控制。应用域包括导电涂料、导电塑料、导电橡胶、导电薄膜、抗静电材料、emi屏蔽材料、导电纤维、导电陶瓷等。
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2025-01-07
FT-351高温四探针电阻率测试仪
高温四探针电阻率测试仪功能介绍:液晶显示,无需人工计算,并带有温度补偿功能,电阻率单位自动选择,仪器自动测量并根据测试结果自动转换量程,无需人工多次和重复设置。采用高精度ad芯片控制,恒流输出,结构合理、质量轻便,运输安全、使用方便;配备软件可以由电脑操控,并保存和打印数据,自动生成报表;本仪器采用4.3吋大液晶屏幕显示,同时显示液晶显示:
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2025-01-07
四探针方阻电阻率测试仪
四探针方阻电阻率测试仪,使用方便;配备软件电脑操控,并保存和打印数据,自动生成报表;本仪器采用4.3吋大液晶屏幕显示,同时显示液晶显示:电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率
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2025-01-07
FT-353绝缘材料高温表面电阻测试仪
ft-353绝缘材料高温表面电阻测试仪适用范围:适用于测量粉末、粉体、颗粒物、电子元器件、介质材料、电线电缆、防静电产品、如防静电鞋、防静电塑料橡胶制品、计算机房防静电活动地板等电阻值等绝缘性能的检验和电子电器产品的绝缘电阻测量。本仪器测量高电阻测微电流。
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2025-01-07
FT-351硅片高温方阻测试仪
硅片高温方阻测试仪 广泛用于:生产企业、高等院校、科研部门对导电陶瓷、硅、锗单晶(棒料、晶片)电阻率、测定硅外延层、扩散层和离子注入层的方块电阻以及测量导电玻璃(ito)和其它导电薄膜的方块电阻、电阻率和电导率数据 硅片高温方阻测试仪
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2025-01-07
高温四探针电阻率测试仪
浙江高温四探针电阻率测试系统厂家直销 液晶显示,无需人工计算,并带有温度补偿功能,电阻率单位自动选择,仪器自动测量并根据测试结果自动转换量程,无需人工多次和重复设置。采用高精度ad芯片控制,恒流输出,结构合理、质量轻便,运输安全、使用方便;配备软件可以由电脑操控,并保存和打印数据,自动生成报表; 浙江高温四探针电阻率测试系统厂家直销
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2025-01-07
智能型直流低电阻测试仪
直流低电阻测试仪性能特点:5位led显示,稳定性好。最小的分辨率:1μω直读值与百分比误差显示、上超、下超、合格分选及讯响功能提供rs-232c接口及handler接口(选配)
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2025-01-07
智能粉末电阻率测试仪
智能粉末电阻率测试仪本仪器采用四端测量法适用于碳素粉末厂、焦化厂、石化厂、粉末冶金厂、高等院校、科研部门,是检验和分析粉末样品质量的一种重要的工具。本仪器采用4.3吋大液晶屏幕显示,同时显示电阻值、电阻率、电导率值、温度、压强值、单位自动换算,配置不同的测试治具可以满足不同材料的测试要求。测试治具可以根据产品及测试项目要求选购.使用薄膜按键开关面板,操作简单,耐用,符合人体工学操作规范
更新时间:
2025-01-07
FT-334四探针电阻测试仪
四探针电阻测试仪按照硅片电阻率测量的国际标准(astm f84)及国家标准设计制造该仪器设计符合gb/t 1551-2009 《硅单晶电阻率测定方法》、gb/t 1551-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流两探针法》、gb/t 1552-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流四探针法》并参考美国 a.s.t.m 标准
更新时间:
2025-01-07
FT-334宁波半导体电阻率测试仪
宁波半导体电阻率测试仪 按照硅片电阻率测量的国际标准(astm f84)及国家标准设计制造该仪器设计符合gb/t 1551-2009 《硅单晶电阻率测定方法》、gb/t 1551-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流两探针法》、gb/t 1552-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流四探针法》并参考美国 a.s.t.m 标准。
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2025-01-07
FT-300II负极材料粉末电阻率测试仪
负极材料粉末电阻率测试仪 满足:yst 587.6-2006 炭阳极用煅后石油焦检测方法 第6部分 粉末电阻率的测定;本仪器采用四端测量法适用于碳素粉末厂、焦化厂、石化厂、粉末冶金厂、高等院校、科研部门,是检验和分析粉末样品质量的一种重要的工具。本仪器采用4.3吋大液晶屏幕显示,同时显示电阻值、电阻率、电导率值、温度、压强值、单位自动换算,配置不同的测试治具可以满足不同材料的测试要求。
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2025-01-07
FT-300A1导电材料电阻率测试仪
导电材料电阻率测试仪采用四端测量法适用于生产企业、高等院校、科研部门,实验室是检验和分析导体材料和半导体材料质量的一种重要的工具。本仪器配置各类测量装置可以测试不同材料之电阻率。液晶显示,无需人工计算,并带有温度补偿功能,电阻率单位自动选择,仪器自动测量并根据测试结果自动转换量程,无需人工多次和重复设置。
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2025-01-07
FT-300A4多功能材料电阻率测试仪
多功能材料电阻率测试仪适用于生产企业、高等院校、科研部门,实验室是检验和分析导体材料和半导体材料质量的一种重要的工具。本仪器配置各类测量装置可以测试不同材料之电阻率。液晶显示,无需人工计算,并带有温度补偿功能,电阻率单位自动选择,仪器自动测量并根据测试结果自动转换量程,无需人工多次和重复设置
更新时间:
2025-01-07
FT-300III通用型粉末电阻率测试仪
通用型粉末电阻率测试仪本仪器采用四端测量法适用于碳素粉末厂、焦化厂、石化厂、粉末冶金厂、高等院校、科研部门,是检验和分析粉末样品质量的一种重要的工具。本仪器采用4.3吋大液晶屏幕显示,同时显示电阻值、电阻率、电导率值、温度、压强值、单位自动换算,配置不同的测试治具可以满足不同材料的测试要求。测试治具可以根据产品及测试项目要求选购.使用薄膜按键开关面板,操作简单,耐用,符合人体工学操作规范.
更新时间:
2025-01-07
绝缘材料高温表面和体积电阻率测试仪
绝缘材料高温表面和体积电阻率测试仪适用标准:gb/t 22042-2008《服装 防静电性能 表面电阻率试验方法》;en 1149-1-1995 《防护服 静电性能 第1部分表面电阻检验方法和要求》;gb/t 1410-2006《固体绝缘材料体积电阻率和表面电阻率试验方法》(与国际标准iec93-1980等效);fz/t 64013-2008 《静电植绒毛绒》.
更新时间:
2025-01-07
FT-352导体材料高温电阻率测试仪
导体材料高温电阻率测试仪广泛用于:生产企业、高等院校、科研部门对导体材料在高温下电阻率数据的测量.同时显示液晶显示:电阻、电阻率、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、电导率,配置不同的测试治具可以满足不同材料的测试要求。测试治具可以根据产品及测试项目要求选购.
更新时间:
2025-01-07
材料低电阻率测试仪
材料低电阻率测试仪满足标准: gb/t6717、gb/t 24525-2009、ys/t63.2、 iso 11713-2000、ys/t63.2-2005、ys/t 64-1993。gb3048.2-2007、gb/t3048.4-2007、gb/t3952-2008、gb/t3953-2009、gb/t3954-2008、gb/t3955-2009、gb/t3956-2008.
更新时间:
2025-01-07
双电测电四探针测试仪
双电测电四探针测试仪采用四探针双电测量方法,适用于生产企业、高等院校、科研部门,是检验和分析导体材料和半导体材料质量的一种重要的工具。本仪器配置各类测量装置可以测试不同材料。液晶显示,无需人工计算,并带有温度补偿功能,电阻率单位自动选择,仪器自动测量并根据测试结果自动转换量程,无需人工多次和重复设置。
更新时间:
2025-01-07
FT-333四探针方阻仪
四探针方阻仪按照硅片电阻率测量的国际标准(astm f84)及国家标准设计制造该仪器设计符合gb/t 1551-2009 《硅单晶电阻率测定方法》、gb/t 1551-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流两探针法》、gb/t 1552-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流四探针法》并参考美国 a.s.t.m 标准,本机配置232电脑接口及usb两种接口.
更新时间:
2025-01-07
方块电阻测试仪
方块电阻测试仪按照硅片电阻率测量的国际标准(astm f84)及国家标准设计制造该仪器设计符合gb/t 1551-2009 《硅单晶电阻率测定方法》、gb/t 1551-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流两探针法》、gb/t 1552-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流四探针法》并参考美国 a.s.t.m 标准.
更新时间:
2025-01-07
FT-336薄膜方阻测试仪
薄膜方阻测试仪按照硅片电阻率测量的国际标准(astm f84)及国家标准设计制造该仪器设计符合gb/t 1551-2009 《硅单晶电阻率测定方法》、gb/t 1551-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流两探针法》、gb/t 1552-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流四探针法》并参考美国 a.s.t.m 标准
更新时间:
2025-01-07
数字式四探针测试仪
数字式四探针测试仪本仪器本仪器采用四探针双电测量方法,适用于生产企业、高等院校、科研部门,是检验和分析导体材料和半导体材料质量的一种重要的工具。本仪器配置各类测量装置可以测试不同材料。液晶显示,无需人工计算,并带有温度补偿功能,电阻率单位自动选择,仪器自动测量并根据测试结果自动转换量程,无需人工多次和重复设置。
更新时间:
2025-01-07
自动导体粉末电阻率测试仪
自动导体粉末电阻率测试仪采用一体化结构设计,将粉末比电阻的测量与粉体电阻率/电导率分析为一体,测量与数据分析通过pc软件完成,粉体压强与电阻值、电阻率、电导率值的变化关系
更新时间:
2025-01-07
FT-342双电测电四探针电阻率测试仪
双电测电四探针电阻率测试仪本仪器配置各类测量装置可以测试不同材料。液晶显示,无需人工计算,并带有温度补偿功能,电阻率单位自动选择,仪器自动测量并根据测试结果自动转换量程,无需人工多次和重复设置。
更新时间:
2025-01-07
FT-336薄膜电阻率测试仪
薄膜电阻率测试仪该仪器设计符合gb/t 1551-2009 《硅单晶电阻率测定方法》、gb/t 1551-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流两探针法》、gb/t 1552-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流四探针法》并参考美国 a.s.t.m 标准
更新时间:
2025-01-07
FT-335薄膜或涂层方块电阻测试仪
薄膜或涂层方块电阻测试仪该仪器设计符合gb/t 1551-2009 《硅单晶电阻率测定方法》、gb/t 1551-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流两探针法》、gb/t 1552-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流四探针法》并参考美国 a.s.t.m 标准
更新时间:
2025-01-07
导电薄膜方块电阻测试仪
导电薄膜方块电阻测试仪采用4.3吋大液晶屏幕显示,同时显示液晶显示:电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率,配置不同的测试治具可以满足不同材料的测试要求。测试治具可以根据产品及测试项目要求选购.
更新时间:
2025-01-07
端子电压降测试仪
端子电压降测试仪满足标准:qc/t 730-2005 ;iso 6722:2002 gb/t 2951—1997; gb/t 3048—1994 qc/t29106-2004; qc/t413-2002 ;qc/t413-2002;同时满足德国、法国、韩国、日本、等国家标准要求和测试规范,电压降实验按qc/t29106-2004标准5.7进行实验 qc/t29106-2004标准.
更新时间:
2025-01-07
经济型表面电阻和体积电阻测试仪
经济型表面电阻和体积电阻测试仪 适用于测量粉末、粉体、颗粒物、电子元器件、介质材料、电线电缆、防静电产品、如防静电鞋、防静电塑料橡胶制品、计算机房防静电活动地板等电阻值等绝缘性能的检验和电子电器产品的绝缘电阻测量。本仪器测量高电阻测微电流。
更新时间:
2025-01-07
FT-310炭素材料电阻率测试仪
ft-310炭素材料电阻率测试仪四端测试法测量碳素材料,石墨等块状棒状及粉末材料常温下高导电性能。该仪器采用高精度恒流恒压源,自动显示电流和电压并根据测试产品特性自动转换测试量程,无需手动调节和设定。4.3吋液晶屏幕显示,自动显示测试测试电流、电压、温度、电阻率等数据,选配:如配备软件可,通过软件操控仪器工作,并获得测试数据之图表和测试结果。根据产品形状不同可以选配测试治具.
更新时间:
2025-01-07
LX-9830G恒流恒压电压降检测仪
lx-9830g恒流恒压电压降检测仪该仪器适用于测量不可重接插头插销与连接插头引出线等类似接线口的电压降,从而判断接线口优劣,也可检查插头线在完成标准规定的弯曲试验次数后的断线情况。该仪器同时适用于测量开关触点、继电器、开关、线材线束、压接线端子、连接器等相关产品之电压降测试本仪器有可调的大电流输出,微电压测试,数码管显示。满足标准:sae/uscar38 2009
更新时间:
2025-01-07
FT-300I锂电池粉末电阻率测试仪
锂电池粉末电阻率测试仪 采用四端测量法适用于碳素粉末厂、焦化厂、石化厂、粉末冶金厂、高等院校、科研部门,是检验和分析粉末样品质量的一种重要的工具。满足:yst 587.6-2006 炭阳极用煅后石油焦检测方法 第6部分 粉末电阻率的测定.
更新时间:
2025-01-07
四探针粉末电阻率测试仪
四探针粉末电阻率测试,粉末电阻仪本仪器采用四端测量法适用于碳素粉末厂、焦化厂、石化厂、粉末冶金厂、高等院校、科研部门,是检验和分析粉末样品质量的一种重要的工具。本仪器采用4.3吋大液晶屏幕显示,同时显示电阻值、电阻率、方阻、电导率值、温度、压强值、单位自动换算,配置不同的测试治具可以满足不同材料的测试要求
更新时间:
2025-01-07
FT-300I 高精度粉末电阻率测试仪
ft-300i 高精度粉末电阻率测试仪ft-300i 高精度粉末电阻率测试仪 粉末电阻率测试仪 一、功能介绍:本仪器采用四端测量法适用于碳素粉末厂、焦化厂、石化厂、粉末冶金厂、高等院校、科研部门,是检验和分析粉末样品质量的一种重要的工具。本仪器采用4.3吋大液晶屏幕显示,同时显示电阻值、电阻率、电导率值、温度、压强值、单位自动换算,配置不同的测试治具可以满足不同材料的测试要求
更新时间:
2025-01-07
FT-300Ⅳ半导体粉末电阻率测试仪
ft-300ⅳ半导体粉末电阻率测试仪ft-300ⅳ半导体粉末电阻率测试仪满足:yst 587.6-2006 炭阳极用煅后石油焦检测方法 第6部分 粉末电阻率的测定;
更新时间:
2025-01-07
电线电阻率测试仪 电缆电阻率测量仪
电线电阻率测试仪 测量金属材料体积电阻率和质量电阻率时,可以测量全规格铜杆、铜线、铜线坯、铝杆、铝线、硬铝钱、硅合金线的电阻率。选配:配备软件可以由电脑操控,并保存和打印数据,自动生成报表.电缆电阻率测量仪 电线电阻率测试仪 电缆电阻率测量仪
更新时间:
2025-01-07
材料电导性能测试仪,自动电阻率测试仪
材料电导性能测试仪,自动电阻率测试仪ft-320 材料超低电阻及电阻率测试仪一.本仪器采用四端测量方式,测试材料超低电阻、电阻率和高导电性能数据。该仪器采用高精度直流恒流恒压源,高效率,稳定度和准确性高;有手动和自动设定模式;并根据测试产品特性自动转换测试量程,无需手动调节和设定。4.3吋液晶屏幕显示,自动显示测试测试电流、电压、温度、电阻率、电导率、电
更新时间:
2025-01-07
FT-300A1导体材料电阻率测试仪
ft-300a1导体材料电阻率测试仪 配置不同的测试治具可以满足不同材料的测试要求。测试治具可以根据产品及测试项目要求选购.使用薄膜按键开关面板,操作简单,耐用,符合人体工学操作规范.
更新时间:
2025-01-07
FT-300A2通用型材料电阻率测试仪
ft-300a2通用型材料电阻率测试仪 本仪器采用4.3吋大液晶屏幕显示,同时显示电阻值、电阻率、电导率值、温度、压强值、单位自动换算,配置不同的测试治具可以满足不同材料的测试要求。
更新时间:
2025-01-07
FT-331四探针测试仪
功能描述:采用液晶显示,自动测量,自动量程,自动系数补偿.高集成电路系统、恒流输出;选配:pc软件进行数据管理和处理参考国标单晶硅物理测试方法及 a.s.t.m 标准
更新时间:
2025-01-07
FT-305表面和体积电阻率测试仪(高阻)
适用于测量粉末、粉体、颗粒物、气体、电子元器件、介质材料、电线电缆、防静电产品、如防静电鞋、防静电塑料橡胶制品、计算机房防静电活动地板等电阻值等绝缘性能的检验和电子电器产品的绝缘电阻测量。
更新时间:
2025-01-07
FT-300TZ两探针材料电阻率测试仪详情介绍
适用于半导体材料企业、科研、高等院校及实验室分析半导体材料纵向电阻率;可测量横截面积均匀的圆形、方形或矩形硅单晶的电阻率,试样长度与截面尺寸之比应不小于3:1
更新时间:
2025-01-07
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