晶体管特性图示仪产品及厂家
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更新时间:2025-03-05
1.该仪器在标准的半导体特性图示仪基础上进行了优化设计，具有体积小，可靠性高，使用简便的特点。 2.具有交替测量显示功能，可同时显示二极管的正、反相特性。 3.最高集电极扫描电压可达5kv，最大电流可达2a，基本满足了家用电器中各类半导体器件的测试需要。 4.适用三极管、二极管、场效应管、可控硅、稳压管和三端稳压器等参数设定。
更新时间:2025-03-05
本仪器是晶闸管断态电压及断态电流、反向电压及反向电流(irsm、irrm)的测试设备。适用于各种晶闸管、整流管及晶闸管、整流管模块的参数测试。本仪器设计先进，操作简便，采用数字表显示测试结果，具有精度高，重复性好，对被测器件自动保护等特点。其测试原理符合gb4024-83标准的规定，是电力半导体器件生产厂和使用单位理想的检测设备。
更新时间:2025-03-05
sti5000c/sti5300c晶体管图示仪；进口大功率高精度晶体管图示仪，广泛应用于半导体分立器件封装测试，制造企业的半导体器件分立来料检验，半导体失效分析实验，高等院校和研究所教学科研等。
更新时间:2025-03-05
itc75100 晶体管图示仪；itc75100 是一种增强的未夹式电感负载 （uil） 测试系统，它基于 itc 行业先的 itc55 系列测试仪的成功，增加了额外的测试和测量能力。
更新时间:2025-03-05
泰克370b晶体管图示仪；大电流-控制设置为200 ma时，step amplitude设置为20x，step amplitude设置为10x。
更新时间:2025-03-05
sti5000c/sti5300c晶体管图示仪；进口大功率高精度晶体管图示仪，广泛应用于半导体分立器件封装测试，制造企业的半导体器件分立来料检验，半导体失效分析实验，高等院校和研究所教学科研等。
更新时间:2025-03-05
itc55100 半导体测试仪；itc55100c 型号是新一代的行业标准系列 itc55100 测试仪。该系统是围绕一个非常强大的微控制器设计的，它的时序分辨率为40ns，比代型号快20倍。
更新时间:2025-03-05
itc75100 晶体管图示仪；itc75100 是一种增强的未夹式电感负载 （uil） 测试系统，它基于 itc 行业先的 itc55 系列测试仪的成功，增加了额外的测试和测量能力。
更新时间:2025-03-05
泰克370b晶体管图示仪；大电流-控制设置为200 ma时，step amplitude设置为20x，step amplitude设置为10x。
更新时间:2025-03-05
spa-6100半导体参数测试系统cv+iv曲线扫描仪可以帮助用户根据测试需要，灵活选配测量单元进行升。产品支持z高1200v电压、100a大电流、1pa小电流分辨率的测量，同时检测10khz至1mhz范围内的多频ac电容测量
更新时间:2025-03-03
阻值测试本质上是fimv（加电流测电压）或fvmi（加电压测电流），获取iv曲线后计算阻值。数字源表应用之气敏电阻iv测试的更多信息找普赛斯仪表员为您解答
更新时间:2025-03-03
武汉普赛斯半导体分立器件测试仪之数字源表，特别适用于精密电压源和电流源驱动，且同时进行电流与电压测量的测试应用。所有源表皆提供精密的电压和电流源测量能力。每个源表均由一个高稳定的直流源和一个真仪器的5位半多功能表组成。该电源特性包括：低噪声，高精度和回读功能。万用表功能包括高重复性和低噪音。其结果
更新时间:2025-03-03
半导体i-v特性曲线分析仪认准普赛斯仪表，厂家直销、服务完善！普赛斯s型源表国产自主研发，单通道，不支持脉冲输出，触摸屏操作，支持多种通讯方式，rs-232、gpib及以太网；z大输出电压达300v，小电流分辨率10pa，支持usb存储
更新时间:2025-03-03
半导体电性能测试仪认准普赛斯仪表，国产自主研发，厂家直销！性价比高，测试范围更广，输出电压高达300v，支持usb存储，一键导出报告，符合大环境下国内技术自给的需求，可及时与客户沟通，为客户提供高性价比系统解决方案，及时指导客户编程，加速测试系统开发
更新时间:2025-03-03
p系列分辨率1pa国产数字源表是普赛斯在直流源表的基础上新打造的一款高精度、大动态、数字触摸源表，汇集电压、电流输入输出及测量等多种功能，z大脉冲输出电流达10a，z大输出电压达300v，支持四象限工作，因此能广泛的应用于各种电气特性测试中。p系列源表适用于各行各业使用者，特别适合现代半导体、纳米器件和材料、有机半导体、印刷电子技术以及其他小尺寸、低功率器件特性分析。
更新时间:2025-03-03
激光二管liv特性测试数字源表认准武汉生产厂家普赛斯仪表，普赛斯开发的liv 测试系统采用 国产 s 型数字源表 为核心，结合测试软件以及第三方设备积分球探测器完成 ld 的 liv 测试。系统结构简单、精度高、k靠性好、速度快，提高生产效率的同时也增加了测试精度和k靠性，并且降低了测试成本。
更新时间:2025-03-03
普赛斯仪表太阳能电池放电扫描曲线仪可对每个电池单元独立或顺序iv特性测试，显示iv特性曲线和isc, voc, pmax, ff, η和电池表面温度等参数，每个电池单元测试结果可以保存在一个excel文件中，可进行对电池表面均匀性分布进行统计分析。
更新时间:2025-03-03
数字源表iv扫描光伏电池板认准普赛斯仪表，普赛斯的测试方案通过自主研发的软件可对每个电池单元独立或顺序iv特性测试，显示iv特性曲线和isc, voc, pmax, ff, η和电池表面温度等参数，每个电池单元测试结果可以保存在一个excel文件中，可进行对电池表面均匀性分布进行统计分析。
更新时间:2025-03-03
数字源表搭建集成电路实验平台的目的：通过实验动手操作，加深对半导体物理理论知识的理解，掌握半导体材料和不同器件性能的表征方法及基本实验技能，培养分析问题和解决问题的能力。
更新时间:2025-03-03
武汉普赛斯对标2400国产数字源表s300型，特别适用于精密电压源和电流源驱动，且同时进行电流与电压测量的测试应用。所有源表皆提供精密的电压和电流源测量能力。每个源表均由一个高稳定的直流源和一个真仪器的5位半多功能表组成。
更新时间:2025-03-03
普赛斯双性源测数字源表自主研发生产，对标美国2400，b2901；可实现“源”的输出和“表”的测量同步进行，提高测试效率；支持四象限工作，测量范围广，电压高300v，电流低至100pa；支持usb存储
更新时间:2025-03-03
源表搭建四探针法测量半导体电阻率实验找普赛斯仪表，武汉普赛斯仪表自主研发的高精度源表（smu），可以在输出电流时测试电压，也可以在输出电压时测试电流。输出电流范围从皮安到安培可控，测量电压分辨率 高达微伏。支持四线开尔文模式，适用于四探针测试，可以简化测试连接，得到z确的测试结果。
更新时间:2025-03-03
数字源表搭建半导体场效应晶体管iv特性测试实验的主要目的是通过实验帮助工程师提取半导体器件的基本 i-v 特性参数，并在整个工艺流程结束后评估器件的优劣。在半导体制程的多个阶段都有应用，如金属互连，镀层阶段，芯片封装后的测试等。
更新时间:2025-03-03
p系列0-10a脉冲式数字源表是普赛斯在直流源表的基础上新打造的一款高精度、大动态、数字触摸源表，汇集电压、电流输入输出及测量等多种功能，z大脉冲输出电流达10a，z大输出电压达300v，支持四象限工作
更新时间:2025-03-03
脉冲iv测试仪是普赛斯在直流源表的基础上新打造的一款高精度、大动态、数字触摸源表，汇集电压、电流输入输出及测量等多种功能，z大脉冲输出电流达10a，z大输出电压达300v，支持四象限工作
更新时间:2025-03-03
南京颂儒仪器设备有限公司大量供应 日本flow-cell流量计nflt-rflt-h型 fly-h型 flw-m型 flg型flt-hab型 nflt-r型 nfly-rc型 nfly-r型fdt-n型 fdy-n型 fdg-nc型dnt-s型 dny-s型 dng-s型 dig-s型
更新时间:2025-03-01
长期高价上门回收：倒闭工厂、工厂闲置、个人闲置二手仪器仪表 agilent, r&s、hp、anritsu、advantest、marconi、阳光、爱德万，美国泰克等世界知名品牌的网络分析仪、频谱分析仪、综合测试仪、数字通讯测试仪、高频信号源、高频示波器、调制度仪，音频分析仪，为您解决仪器闲置等问题，使您的资金快速回笼。专业仪器回收，长期回收电子仪器，让你的闲置仪器变废为宝，欢迎来电咨询。
更新时间:2025-02-15
长期高价上门回收：倒闭工厂、工厂闲置、个人闲置二手仪器仪表 agilent, r&s、hp、anritsu、advantest、marconi、阳光、爱德万，美国泰克等世界知名品牌的网络分析仪、频谱分析仪、综合测试仪、数字通讯测试仪、高频信号源、高频示波器、调制度仪，音频分析仪，为您解决仪器闲置等问题，使您的资金快速回笼。专业仪器回收，长期回收电子仪器，让你的闲置仪器变废为宝，欢迎来电咨询。
更新时间:2025-02-15
dt307-qt2/centerqt2半导体管特性图示仪可测量二极管、三极管的低频直流参数，大集电极电流超过50a，能满足500va以下器件的测试。
更新时间:2025-02-14
dt307-bw4810/4810a型半导体管特性图示仪采用示波管显示半导体器件的各种特性曲线，并测量其静态参数。本仪器具有二簇曲线显示，双向集电扫描电路，可以对被测半导体器件的特司长进行对比分析，便于对管或配件配对。
更新时间:2025-02-14
半导体管晶体管特性测试仪采用示波管显示半导体器件的各种特性曲线。本仪器具有二簇曲线显示，双向集电极扫描功能，可以对被测半导体器件的特性进行对比分析，便于晶体管的配对。
更新时间:2025-02-14
dt307-xj4822 crt读出图示仪，外观新颖，技术先进，操作方便，能对各类二极管、三极管、场效应管等静态参数测试。
更新时间:2025-02-14
全不锈钢制内管波纹管外径Ø20mm*1.5或6分两种，长度1米。一般用于活动点，当使用综合电缆时，每活动点至少用2-3根（可定做1.5米和2米）
更新时间:2025-02-14
雪崩能量测试仪厂家itc55100雪崩能量测试仪是原成功产品itc5510的升级版本，它能执行itc5510系列的所有测试，同时增加了许多功能，如提高测试精度，测试结果的收集，查看测试结果，连接多个被测品。itc55100可以用来对功率mosfet和igbt的耐用性测试。 它还能测试单，双二极管，使用itc55 rsf输出选择器盒还可以测量igbt的正向和反向偏置。
更新时间:2025-01-03
功率循环测试仪系统该系统是一套动态综合测试系统、测试参数多、精度高、 具有过流、过热、水压不足等保护功能。具有连续工作的特点，测试程序由计算机控制，程序设定完成后可自动测试， 系统采用内控和外控两种方式。便于工作人员操作。
更新时间:2025-01-03
台式桌面型smt首件检测仪系统将bom，坐标及图纸进行完美核对，实时显示检测情况，避免漏检，可方便根据误差范围 对元件值合格值自动判定，对多贴，错料，极性和封装进行方便检查；传统方式完全依靠人员把关，容 易出错。
更新时间:2025-01-03
igbt功率器件动态参数测试仪主机可执行非破坏性的瞬态测量测试，包括对半导体器件绝缘栅双极晶体管（igbt），功率mosfet，二极管，双极型器件的测试头。主机包括所有测试设备和必要的软件分析，可执行电阻和电感的开关时间，开关损耗，栅极电荷，trr /的qrr和其他瞬态测试。
更新时间:2025-01-03
功率半导体参数测试系统适合各大研究所做元器件检验以及在线开发器件做生产测试。系统可扩展性强，通过选件可以提高电压、电流的测试能力和增加测试品种范围。自动快速测试可以满足用户大生产需要，故障率低也保证了用户的生产效率。
更新时间:2025-01-03
半导体分立器件测试仪升级扩展性强，通过选件可提高电压电流，和增加测试品种范围。支持电压电流阶梯升级至2000v,1250a;采用脉冲测试法，脉冲宽度为美军标规定的300us.
更新时间:2025-01-03
华科智源-二管浪涌电流测试仪，可测试二管，mos，igbt，以及sic器件浪涌电流能力，可输出底宽10ms，8.3ms，1ms，10us等正弦半波或方波，浪涌电流根据具体需求可选择800a,1200a,3000a以及定制8000a以上，大电流可达50ka;品牌： 华科智源名称： 浪涌电流测试仪型号： hustec-ifsm-1200a
更新时间:2025-01-03
华科智源-iol间歇寿命测试系统，测试各种封装的mosfet、igbt、三管、diode（小电流器件）进行连续工作寿命和间歇工作寿命试验。间歇工作寿命试验利用芯片的反复开启和关闭引起的反复高温和低温，加速芯片内各种组件材料和结合面的热机械应力，验证封装、内部
更新时间:2025-01-03
半导体分立器件静态参数测试系统能测试很多电子元器件的静态直流参数（如击穿电压v(br)ces/v(br)dss、漏电流ices/lges/igss/ldss、阈值电压/vge(th)、开启电压/vce(on)、跨导/gfe/gfs、压降/vf、导通内阻rds(on)）。测试种类覆盖 7 大类别26分类，包括“二管类”“三管类（如bjt、mosfet、igbt）”“保护类器件”“稳压集成类”
更新时间:2024-11-05
陕西天士立科技有限公司/std2000/晶体管图示仪&曲线追踪扫描仪可以测试si,sic,gan & igbt、mosfet、diode、bjt、scr等电子元器件的静态直流参数和iv曲线（如击穿电压v(br)ces/v(br)dss、漏电流ices/lges/igss/ldss、阈值电压/vge(th)、开启电压/vce(on)、跨导/gfe/gfs、压降/vf、导通内阻rds(on)）
更新时间:2024-11-05
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