植物冠层产品及厂家
通过测量作物冠层par值提供了关于影响田间作物生长的限制因素的有价值的信息，如叶面积指数（lai）；sunscan探测器也可被用来描绘作物冠层par的分布图。根据冠层吸收的beer法则，wood的sunscan冠层分析方程以及campbell的椭圆叶面角度分布方程，使用光量子传感器来测量、计算和分析植物冠层截获和穿透的光合有效辐射及叶面积指数。
更新时间:2025-01-10
hemiview 通过处理影像数据文件来获取与冠层结构有关的，例如叶面积指数、光照间隙及间隙分布状况。通过分析辐射数据的相关信息，hemiview 能够测算出冠层截获的par以及冠层下方的辐射水平。其软件可以计算辐射指标、冠层指标、测量地点的光线覆盖状况及直射与漫射光的分布。 使用180度鱼眼镜头和高清晰度数码相机从植物冠层下方或森林地面向上取像， 再将数码相机的高清晰度影像载入hemiview软件，进行分析处理。
更新时间:2025-01-10
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