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北京海创玻璃厚度仪

玻璃厚度仪

玻璃厚度仪专用于测量单层玻璃，夹层玻璃（中空玻璃）和柱型玻璃管等的厚度。尤其适用于普通刻度尺或卡尺不能或不易操作的测量场合，如玻璃瓶壁厚和建筑夹层玻璃窗厚度的测量。对于中空玻璃厚度的测量，同时测得各层玻璃及中间空气层的厚度。

1．激光反射原理，单侧测量；2．中空玻璃，同时测空气夹层厚度和玻璃厚度；3．量程大:玻璃厚度70mm，空气夹层34mm；4．操作简单方便，测量快速，轻巧便携，节能环保等特点；5．适用于质量检测、监理、教学、生产、销售、工程施工等场合。

1.1: 外形尺寸长160mm × 宽 55mm × 高25mm1.2: 仪器重量 250克1.3: 电池为标准2032纽扣电池1.4：测量精度 ± 0.5mm1.5：量程: 玻璃厚度70mm，空气夹层34mm。

产品简介: ETSys-Map-PV是针对高端薄膜太阳电池研发和质量控制领域中大面积样品检测专门设计的在线薄膜测量系统。 ETSys-Map-PV用于对1.4m * 1.1m及以上的大面积薄膜太阳电池样品进行在线检测。可测量光滑平面或粗糙表面基底上的纳米薄膜，包括单层或多层纳米薄膜样品的膜层厚度、折射率n和消光系数k；并可同时测量块状材料的折射率n和消光系数k。可测量样品上指定区域的样品参数以及样品表面的均一性分布。 ETSys-Map-PV融合量拓科技在高精度激光椭偏仪及光伏在太阳能电池领域的先进技术和产品设计方面的经验，性能卓越。特点:大面积绒面样品上全表面测量可对大面积绒面薄膜太阳电池样品上各点的性质进行分析和比较。先进的光能量增强技术、低噪声的探测器件以及高信噪比的微弱信号处理方法，实现了对粗糙表面散射为主和极低反射率为特征的绒面太阳电池表面镀层的高灵敏检测。微米量级的全面积扫描精度先进的系统设计，能够使探头到达样品上每个点，扫描精度达到微米量级。原子层量级的膜厚分析精度采用非接触、无破坏性的椭偏测量技术，对纳米薄膜达到极高的测量准确度和灵敏度，膜厚测量灵敏度可达到0.05nm。简单方便安全的仪器操作用户只需一个按钮即可完成复杂的材料测量和分析过程，数据一键导出。丰富的模型库、材料库方便用户进行高级测量设置。应用: ETSys-Map-PV适合于高精度要求的薄膜太阳电池研发和质量控制。 ETSys-Map-PV可用于测量大面积的薄膜太阳电池样品上单层或多层纳米薄膜层构样品的薄膜厚度、折射率n及消光系数k； ETSys-Map-PV可用于测量块状材料的折射率n及消光系数k； ETSys-Map-PV可应用于：大面积薄膜太阳电池基底的材料测量薄膜太阳电池玻璃基底上透明导电氧化物（TCO）镀膜测量技术指标: 项目技术指标【福州测量薄膜厚度仪器林州光谱型椭偏仪林州深受广大客户青睐一共有★★30★★多种型号以上只显示1-3种型号，如没有合适您的产品请咨询河北德科机械设备有限公司】福州测量薄膜厚度仪器林州光谱型椭偏仪林州深受广大客户青睐多种型号内容型号:JX200089EX3 自动椭圆偏振测厚仪

EX3自动椭圆偏振测厚仪是基于消光法（或称“零椭偏”）测量原理，针对纳米薄膜厚度测量领域推出的一款自动测量型教学仪器。与EM22仪器相比，该仪器采用半导体激光器作为光源，稳定性好，体积更小。EX3仪器适用于纳米薄膜的厚度测量，以及纳米薄膜的厚度和折射率同时测量。EX3仪器还可用于同时测量块状材料（如，金属、半导体、介质）的折射率n和消光系数k。特点:经典消光法椭偏测量原理仪器采用消光法椭偏测量原理，易于理解和掌握椭偏测量基本原理和过程。方便安全的样品水平放置方式采用水平放置样品的方式，方便样品的取放。紧凑的一体化结构集成一体化设计，简洁的仪器外形通过USB接口与计算机相连，方便仪器使用。高稳定性光源采用半导体激光器作为探测光的光源，稳定性高，噪声低。丰富实用的样品测量功能可测量纳米薄膜的膜厚和折射率、块状材料的复折射率等。便捷的自动化操作仪器软件可自动完成样品测量，并可进行方便的测量数据分析、仪器校准等操作。安全的用户使用权限管理软件中设置了用户使用权限（包括：管理员、等模式），便于仪器管理和使用。可扩展的仪器功能利用本仪器，可通过适当扩展，完成多项偏振测量实验，如马吕斯定律实验、旋光测量实、旋光等。应用领域:EX3适合于教学中单层纳米薄膜的薄膜厚度测量，也可用于测量块状材料的折射率n和消光系数k。EX3可测量的样品涉及微电子、半导体、集成电路、显示技术、太阳电池、光学薄膜、生命科学、化学、电化学、磁质存储、平板显示、聚合物及金属表面处理等领域。技术指标:

项目	技术指标
仪器型号	EX3
测量方式	自动测量
样品放置方式	水平放置
光源	半导体激光器，波长635nm
膜厚测量重复性*	0.5nm (对于Si基底上100nm的SiO2膜层)
膜厚范围	透明薄膜：1-4000nm 吸收薄膜则与材料性质相关
折射率范围	1.3 – 10
探测光束直径	Φ2-3mm
入射角度	30°-90°，精度0.05°
偏振器方位角读数范围	0-360°
偏振器步进角	0.014°
样品方位调整	Z轴高度调节：16mm 二维俯仰调节：±4°
允许样品尺寸	圆形样品直径Φ120mm，矩形样品可达120mm x 160mm
配套软件	* 用户权限设置 * 多种测量模式选择 * 多个测量项目选择 * 方便的数据分析、计算、输入输出
外形尺寸	（入射角度70°时）450375260mm
仪器重量（净重）	15Kg

注：(1)测量重复性：是指对标准样品上同一点、同一条件下连续测量30次的标准差。性能保证:ISO9001国际质量体系下的仪器质量保证专业的仪器使用培训专业的椭偏测量原理课程

栏目页面:http://www.runlian365.com/product/4516.html光谱椭偏仪来源网址:http://www.runlian365.com/chanpin/xx-200089.htmlEX3 自动椭圆偏振测厚仪型号:JX200098EM12 精致型多入射角激光椭偏仪

EM12是采用量拓科技先进的测量技术，针对中端精度需求的研发和质量控制领域推出的精致型多入射角激光椭偏仪。 EM12可在单入射角度或多入射角度下对样品进行准确测量。可用于测量单层或多层纳米薄膜样品的膜层厚度、折射率n和消光系数k；也可用于同时测量块状材料的折射率n和消光系数k；亦可用于实时测量纳米薄膜动态生长中膜层的厚度、折射率n和消光系数k。多入射角度设计实现了纳米薄膜的厚度测量。 EM12采用了量拓科技多项专利技术。特点：次纳米量级的高灵敏度国际先进的采样方法、高稳定的核心器件、高质量的制造工艺实现并保证了能够测量极薄纳米薄膜，膜厚精度可达到0.2nm。1.6秒的快速测量国际水准的仪器设计，在保证精度和准确度的同时，可在1.6秒内快速完成一次测量，可对纳米膜层生长过程进行测量。简单方便的仪器操作用户只需一个按钮即可完成复杂的材料测量和分析过程，数据一键导出。丰富的模型库、材料库方便用户进行高级测量设置。应用：EM12适合于中端精度要求的科研和工业环境中的新品研发或质量控制。EM12可用于测量单层或多层纳米薄膜层构样品的薄膜厚度、折射率n及消光系数k；可用于同时测量块状材料的折射率n和消光系数k；可用于实时测量快速变化的纳米薄膜的厚度、折射率n和消光系数k。EM12可应用的纳米薄膜领域包括：微电子、半导体、集成电路、显示技术、太阳电池、光学薄膜、生命科学、化学、电化学、磁质存储、平板显示、聚合物及金属表面处理等。可应用的块状材料领域包括：固体（金属、半导体、介质等），或液体（纯净物或混合物）。技术指标:

项目	技术指标
仪器型号	EM12
激光波长	632.8nm (He-Ne Laser)
膜厚测量重复性（1）	0.2nm (对于平面Si基底上100nm的SiO2膜层)
折射率测量重复性（1）	2x10-3 (对于平面Si基底上100nm的SiO2膜层)
单次测量时间	与测量设置相关，典型1.6s
的膜层范围	透明薄膜可达4000nm 吸收薄膜则与材料性质相关
光学结构	PSCA（Δ在0°或180°附近时也具有极高的准确度）
激光光束直径	1-2mm
入射角度	40°-90°可手动调节，步进5°
样品方位调整	Z轴高度调节：±6.5mm 二维俯仰调节：±4° 样品对准：光学自准直和显微对准系统
样品台尺寸	平面样品直径可达Φ170mm
外形尺寸	887 x 332 x 552mm (入射角为90º时)
仪器重量（净重）	25Kg
选配件	水平XY轴调节平移台真空吸附泵
软件	ETEM软件： l 中英文界面可选； l 多个预设项目供快捷操作使用； l 单角度测量/多角度测量操作和数据拟合； l 方便的数据显示、编辑和输出 l 丰富的模型和材料数据库支持

注：(1)测量重复性：是指对标准样品上同一点、同一条件下连续测量25次所计算的标准差。

性能保证:

稳定性的He-Ne激光光源、先进的采样方法，保证了高稳定性和高准确度
高精度的光学自准直系统，保证了快速、高精度的样品方位对准
稳定的结构设计、可靠的样品方位对准，结合先进的采样技术，保证了快速、稳定测量
分立式的多入射角选择，可应用于复杂样品的折射率和厚度的测量
一体化集成式的仪器结构设计，使得系统操作简单、整体稳定性提高，并节省空间
一键式软件设计以及丰富的物理模型库和材料数据库，方便用户使用
可选配件： NFS-SiO2/Si二氧化硅纳米薄膜标片 NFS-Si3N4/Si氮化硅纳米薄膜标片 VP01真空吸附泵 VP02真空吸附泵样品池

栏目页面:http://www.runlian365.com/product/4516.html光谱椭偏仪来源网址:http://www.runlian365.com/chanpin/xx-200098.htmlEM12 精致型多入射角激光椭偏仪型号:JX200092ETSys-Map-PV在线薄膜测量系统

ETSys-Map-PV是针对高端薄膜太阳电池研发和质量控制领域中大面积样品检测专门设计的在线薄膜测量系统。 ETSys-Map-PV用于对1.4m * 1.1m及以上的大面积薄膜太阳电池样品进行在线检测。可测量光滑平面或粗糙表面基底上的纳米薄膜，包括单层或多层纳米薄膜样品的膜层厚度、折射率n和消光系数k；并可同时测量块状材料的折射率n和消光系数k。可测量样品上指定区域的样品参数以及样品表面的均一性分布。 ETSys-Map-PV融合量拓科技在高精度激光椭偏仪及光伏在太阳能电池领域的先进技术和产品设计方面的经验，性能卓越。特点:大面积绒面样品上全表面测量可对大面积绒面薄膜太阳电池样品上各点的性质进行分析和比较。先进的光能量增强技术、低噪声的探测器件以及高信噪比的微弱信号处理方法，实现了对粗糙表面散射为主和极低反射率为特征的绒面太阳电池表面镀层的高灵敏检测。微米量级的全面积扫描精度先进的系统设计，能够使探头到达样品上每个点，扫描精度达到微米量级。原子层量级的膜厚分析精度采用非接触、无破坏性的椭偏测量技术，对纳米薄膜达到极高的测量准确度和灵敏度，膜厚测量灵敏度可达到0.05nm。简单方便安全的仪器操作用户只需一个按钮即可完成复杂的材料测量和分析过程，数据一键导出。丰富的模型库、材料库方便用户进行高级测量设置。应用: ETSys-Map-PV适合于高精度要求的薄膜太阳电池研发和质量控制。 ETSys-Map-PV可用于测量大面积的薄膜太阳电池样品上单层或多层纳米薄膜层构样品的薄膜厚度、折射率n及消光系数k； ETSys-Map-PV可用于测量块状材料的折射率n及消光系数k； ETSys-Map-PV可应用于：大面积薄膜太阳电池基底的材料测量薄膜太阳电池玻璃基底上透明导电氧化物（TCO）镀膜测量技术指标:

项目	技术指标
系统型号	ETSys-Map-PV
结构类型	在线式
激光波长	632.8nm (He-Ne laser)
膜厚测量重复性（1）	0.05nm (对于Si基底上100nm的SiO2膜层)
折射率n精度（1）	5x10-4 (对于Si基底上100nm的SiO2膜层)
结构	PSCA
激光光束直径	~1 mm
入射角度	60°-75°可选
样品放置	放置方式：水平运动：X轴单方向运动运动范围：>1.4m 三维平移调节二维俯仰调节可对样品进行扫描测量
样品台尺寸	1.4m*1.1m，并可定制。
测量速度	典型0.6s-4s /点（取决于样品种类及测量设置）
的膜层厚度测量范围	光滑平面样品：透明薄膜可达4000nm，吸收薄膜与材料性质相关
选配件	样品监视系统自动样品上片系统

注：（1）测量重复性：是指对标准样品上同一点、同一条件下连续测量25次所计算的标准差。性能保证高稳定性的He-Ne激光光源、高精度的采样方法以及低噪声探测技术，保证了系统的高稳定性和高准确度稳定的结构设计、可靠的样品方位对准，结合先进的采样技术，保证了快速、稳定测量一体化集成式的结构设计，使得系统操作简单、整体稳定性提高一键式软件设计以及丰富的物理模型库和材料数据库，方便用户使用可选配件： NFS-SiO2/Si二氧化硅纳米薄膜标片 NFS-Si3N4/Si氮化硅纳米薄膜标片

栏目页面:http://www.runlian365.com/product/4516.html光谱椭偏仪来源网址:http://www.runlian365.com/chanpin/xx-200092.htmlETSys-Map-PV在线薄膜测量系统福州测量薄膜厚度仪器林州光谱型椭偏仪林州深受广大客户青睐多种型号图片


型号:JX200089EX3 自动椭圆偏振测厚仪	型号:JX200098EM12 精致型多入射角激光椭偏仪	型号:JX200092ETSys-Map-PV在线薄膜测量系统

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该公司产品分类：阀门泵劳保五金仪器机械

YG141P型全自动土工布厚度仪

【适用范围】：用于土工合成材料和相关产品在不同压力及规定时间下的厚度的测定。【符合标准】：JTG E50、ISO 9863、GB/T 13761【产品特点】：1.微机控制，超大触摸屏幕控制界面，测试过程动态显示。 2.采用进口传感器测量，精度高达万分之二，无人工误差。3.测试压力参数2KPa，20KPa，200KPa等任意设置。4.测试过程中测量头自动升降，有效避免了人为因素造成的系统误差.5.实时显示测量结果的最大值、最小值、平均值等分析数据，方便用户进行判断6.具有电脑接口以及打印机接口，具有单点测量以及多点测量方式可选。7.际高专利产品，国内唯一一款全自动，智能型厚度测试仪。【技术参数】：1、压脚面积：25cm (圆形直径：Ф56.42mm)或选配其他面积2、稳压时间：10S 20S，30S，40S，50S或其他时间任意设置3、测试压力：2±0.01KPa；20±0.1KPa；200±0.1KPa以及其他压力4、测试厚度：0-50mm5、传感器量程： 500N6、精度：≤±0.02%F.S 7、数据输出：联机控制，打印输出，编辑保存 8、分辨率：0.001mm9、测量方式：单点测量和多点测量任意选择10、电源电压： AC220V±10% 功率：100W11、外形尺寸：360mm*500mm*700mm12 、重量：约45KG

该公司产品分类：羽绒羽毛类检测仪器染整服装类检测仪器磨损厚度类水力性能类仪器力学性能类仪器土工检测类检测仪器疲劳强力试验机弹子顶破强力机万能材料试验机撕破强度试验机涨破强度试验机纤维纱线强力机电子织物强力机织物面料类检测仪器力学性能类测试仪器

FG03-YG141D数字式织物厚度仪

数字式织物厚度仪

用于各种机织物、针织物和土工布的厚度测定。

适用标准：ISO5048 9073 9863

测定厚度范围:	0.01~10mm
最小分度值:	0.01mm
压脚直径:	Φ7.98、Φ11.28、Φ25.22、Φ35.68、Φ50.48mm五档
压重砝码:	25CN、50CN、100cN、200cN
压重时间:	10S、30S
外形尺寸:	410×160×300mm(L×W×H)
重量:	25kg
电源:	AC220V 50Hz

该公司产品分类：药物检测仪器计量仪器身高体重秤乳化机，分散机，均质机造纸检测仪器流量仪表煤矿仪器电阻率测试仪测汞仪转速表氢气发生器推拉力计人体静电释放报警仪农业和食品分析仪器消解器采泥器酸度计光学仪器粘度计水分测定仪

英国ELCOMETER易高 141型涂层厚度仪破坏性

该公司产品分类：水质分析仪/多参数水质分析仪

H51非金属板厚度测试仪，楼板测厚度仪

H51非金属板厚度测试仪，楼板测厚度仪产品特性：非金版属测试仪产品简介：H51 非金属板厚度测试仪（又称楼板仪）用来自动测量非金属板（如混凝土，岩土，玻璃板等）的厚度，具有厚度测量、数据分析、数据存储与输出等功能，是一种便携式、使用方便、测量精确的智能化厚度测量仪

H51 非金属板厚度测试仪（又称楼板仪）用来自动测量非金属板（如混凝土，岩土，玻璃板等）的厚度，具有厚度测量、数据分析、数据存储与输出等功能，是一种便携式、使用方便、测量精确的智能化厚度测量仪。

技术指标厚度测量范围：40mm～800mm 示值最大误差：40 ～ 600mm ±1mm 601～800mm ±2mm数据存储容量：3.2万组测点工作环境要求环境温度：-10℃～＋40℃ 相对湿度：<90%RH电磁干扰：无强交变电磁场不得长时间阳光直射6节5号碱性电池，供电时间大于30小时。依据规范中华人民共和国国家标准《混凝土结构工程施工质量验收规范》GB50204-2002

性能特点测试距离大。测试距离高达800mm，测试精度优于其他同类产品。实时显示测量信息。自动的判读并锁定楼板的厚度值，无需人工参与，大大提高了测试精度。仪器测试速度快。我公司采用高速处理平台，对楼板厚度的判定速度快。探头的使用寿命长。我公司楼板仪探头底面采用高质量耐磨层，大大的提高了探头和仪器的使用寿命。保存测试日期。方便用户的数据管理。便携的万向延长杆。采用可伸缩式延长杆、万向节设计，现场使用非常的方便。功能强大的专业的windows数据分析处理软件。可以图形的方式表示测试结果，可以直接生成Word检测报告，方便快捷。

该公司产品分类：执法记录仪视得乐蔡司望远镜激光测距仪硬度计普利赛斯APRESYS 图雅得Trueyard 徕卡 LEICA测距望远镜里奥波特Leupold 纽康NEWCON 镭仕奇Rasger 奥卡OPTi－LOGIC 尼康测距望远镜博士能Bushnell测距望远镜测距望远镜长距离激光测距传感器中长距离激光测距传感器近距离激光测距传感器线缆测高仪高压无线核相仪

土工布厚度仪，供应土工布厚度仪

详细说明:

土工布厚度仪适用范围：用于土工布合成材料在不同的压力和规定的受压时间，测试其厚度。

土工布厚度仪符合标准：JTJ/T060-98《公路土工合成材料试验规程》

技术参数：

压脚面积：25cm2（压脚直径：Ф56.42mm）

压脚重量5N（自重：510.2g四只）

二次压重20kPa±0.1kPa（压脚加压杆：509.8g）

三次压重200kPa±1kPa（压脚加法码：5098.5g）

（电子式）百分表：0～24mm

最小分度值：0.01mm

（机械式）千分表：0～1mm

最小分度值：0.001mm

（电子式）秒表

最小分度值：0.1S

该公司产品分类：岩石检测仪器系列隔墙板测试仪器沥青混凝土系列试验机系列粗粒土水利水电测试仪器系列塑料波纹管测试仪器系列开关插座测试仪器系列防水材料测试仪器系列安全网安全帽检测仪器系列陶瓷砖测试仪器系列桥梁密封胶测试仪器塑料检查井测试仪器土工合成材料水平渗透仪土工布排水板通水仪土工合成材料蠕变系统电动数显土工布厚度仪土工布厚度仪土工合成材料直剪拉拔摩擦系统土工合成材料直剪仪土工合成材料拉拔仪

LS-3叶片厚度仪 LS-3植物叶片厚度测量仪

名称:叶片厚度仪

型号：LS-3

品牌：绿博

产地：浙江

优惠价格：1200元

LS-3叶片厚度仪产品特点：

叶片是植物最重要的器官，其形态变化可以反映出植物生长状态的变化，如光合作用、水分情况、养分情况等。研究表明，叶片厚度变化具有周期规律性，可分为长周期和短周期（24小时）。掌握这些规律对研究植物水分状态具有重要意义。

通常的灌溉系统是以空气的温度、湿度以及土壤的湿度作为控制参数，属于开环控制。针对这一问题，提出了以植物的器官(叶片、茎杆、果实)的几何参数为控制参数的智能节水灌溉控制系统，属于闭环控制。

LS-3叶片厚度仪技术参数：

测量范围：0－－10mm

分辨率：0.01mm

精度：0.015mm

接触面积：Φ10mm

读取装置：指针

如需了解更多详情请联系广州航信科学仪器有限公司，来电价格有优惠

该产品本公司免费承担至全国各地（仅限物流公司可到达网络点）的运输费用，不含送货上门；如需送货上门，根据贵单位所在具体地址另行收费，偏远地区请先至电。本公司销售产品保修一年，终身维护。

该公司产品分类：氧气检测仪磷化氢气体检测报警仪磷化氢气体检测仪振荡器全自动间断化学分析仪泵头恒流泵/蠕动泵/注射泵/微型齿轮泵氮吹仪空气发生器其他设备药品冷藏箱血液冷藏箱医用低温冰箱远红外快速干燥箱恒温（高温）干燥箱采样器粒子计数器浊度计色度计（仪）白度计（仪）

YG141织物厚度仪

产品信息型号： YG141N用途：用于各种机织物、针织物和非织布的厚度测定。适用标准：GB/T3820-1997, FZ/T60004, ISO5084, 9073等。主要技术指标:

型号	YG141N
测定厚度范围	0.01-10mm, LCD
最小分度值	0.01mm
压脚面积	100,2000,2500,10000(mm2)
压重砝码	50CN(二只),100CN(二只),200CN(一只)
压重时间	10S,30S
重量	30kg
外形尺寸	210x450x310mm
电源	AC220V±10% 50Hz

26系列腐蚀厚度仪

26系列超声波测厚仪包括26MG,26MG-XT和26XTDL,操作简单,是测量腐蚀金属理想的便携式测厚仪。测厚仪使用双晶探头,从被测物体的一面就可以测量被腐蚀,有凹痕,被氧化或呈粒状等其它较难测量物体的厚度。有多种探头可选。可对厚度在0.5mm--500mm之间,温度在-20C°--+500C°之间的物体进行测量。

26MG基本型测厚仪的将操作简单,价格低廉和功能齐全三大优点融为一体. 并具有快速最小捕捉模式和冻结模式.两节AA5# 电池可工作250小时.

26MG-XT 包括26MG所有功能, 附加增益闸门,自动灵敏度优化和高低报警功能.

26XTDL 将26MG-XT的特征和数据采集功能相结合,配有RS-232数据输出接口,可与计算机或打印机连接。内置数据存储器用来记录厚度读数,能保存约8000个测量厚度值。

技术规格	26MG	26MG－XT	26XTDL
显示屏	液晶显示 45X20mm	液晶显示 45X20mm	液晶显示 45X20mm
测量范围	0.5---500mm	0.5---500mm	0.5---500mm
频率范围	1MHZ - 15MHZ (-3dB)	1MHZ - 15MHZ (-3dB)	1MHZ - 15MHZ (-3dB)
声速范围	0.762-13,999mm/μsec	0.762-13,999mm/μsec	0.762-13,999mm/μsec
显示精度	0.1/0.01mm	0.1/0.01mm	0.1/0.01mm
存储装置	无	无	8000组厚度值
波形显示	无	无	无
RF显示	无	无	无
增益闸门	无	高/低任选	高/低任选
回波回波测量	无	无	无
差分测量	无	有	有
高低报警	无	有	有
自动关机	有	有	有
背光	自动/手动(任选)	自动/手动(任选)	自动/手动(任选)
扫描速度	2点/标准 20点/快速	2点/标准20点/快速	2点/标准20点/快速
工作温度	-10-50℃	-10-50℃	-10-50℃
测量温度	-20-500℃	-20-500℃	-20-500℃
探头种类	双晶/自动识别	双晶/自动识别	双晶/自动识别
RS232接口	选件	选件	有
电池	AA 5＃电池×2 工作250小时	AA 5＃电池×2 工作250小时	AA 5＃电池×2 工作250小时
充电器	无	无	无
外型尺寸	64.8 X 128.5 X 29mm	64.8 X 128.5 X 29mm	64.8 X 128.5 X 29mm
重量	0.24Kg	0.24Kg	0.24Kg