型号:JX089661KDC-5元素分析仪 | 型号:JX089698高频多元素全能分析仪N-HW3000A | 型号:JX125150CX-9800(L)CCD光谱直读光谱金属分析仪器 |
任意参数 | 频率:50Hz |
电压 | 220V |
型号 | KDC-5 |
任意参数 | 测量范围:Ni:0.010~48.000% |
型号 | N-HW3000A |
任意参数 | 测量范围:Ni:0.010~48.000% |
型号 | N-HW3000A |
环境标准HJ 780 -2015用土壤重金属分析仪是款快速无损XRF荧光分析仪,产品操作简单,测试速度快。
随着工业化和城市化的飞速发展,土壤环境问题越来越受到重视,土壤重金属污染,特别是工业区土壤金属污染,已逐渐成为环境学界研究的热点。土壤污染中重金属主要指汞、镉、铅、铬以及各类金属砷等有生物毒性显著的重金属,也指具有定毒性的般重金属如锌、铜、钴、镍、锡等,目前引起人们关注的重金属是汞、镉、铅等。重金属对土壤的污染是短期不可逆过程,在土壤-植物系统中,重金属污染通过食物链进入农产品,影响农产品质量安,危害人类健康,因此对土壤重金属污染监测是非常必要的。
根据土资源部新的调查数据,耕种土地面积的10%以上已受重金属污染,约有1.5亿亩,污水灌溉污染耕地3250万亩,固体废弃物堆存占地和毁田200万亩,其中多数集中在经济较发达地区。中环境与发展际合作委员会公布,环保部在对我30万公顷基本农田保护区土壤有害重金属抽样监测发现,有3.6万公顷土壤重金属超标,超标率达12.1%。
近年来,重金属污染事故频发,如陕西凤翔儿童血铅超标、山东临沂砷污染事件、湖南浏阳镉污染事件、紫金矿业污染事件、广西龙江镉污染事件等。这些重金属污染事件不但给社会带来了重大的经济损失也威胁着人们的健康生活,也引起家相关环保部门的高度重视,同时把重金属污染防治,深化重金属监测工作摆在了更加紧迫、更加重要的位置上。目前,由环保部牵头制定的《土壤环境保护“十二五”规划》已进入务院审批程序,该规划预计将带动产业总投资达数千亿元。
与此同时,2015年12月14日环境保护部发布了土壤和沉积物环境标准HJ 780 -2015——《土壤和沉积物 无机元素的测量波长色散X射线荧光光谱法》。此标准2016年2月1日执行。此标准对25种无机元素和7中氧化物的质量分数范围提出了要求。针对这标准,本公司推出款EDX 3200S PLUS荧光光谱仪,能够快速、地分析土壤中金属元素,K、Ca、Ti、V、Cr、Mn、Fe、Co、Ni、Cu、Zn、Ga、Rb、Y、Ba、Sr、Br、Th、Pb、As和Zr元素的检出限和定量限完满足HJ 780-2015环境保护标准要求。
X射线荧光光谱法测试原理: X射线荧光光谱法是种现代仪器分析方法,通过X射线管产生入射X射线(次X射线),激发被测样品;受激发的样品中的每种元素会发出特征X射线(二次X射线)——这种特征X射线具有特定的能量和波长特性(莫塞莱定律),这些放射出来的二次X射线的能量及数量被探测系统测量,通过配套软件将这些射线信号转化为样品中各种组分元素的具体含量。
1 仪器测试方法
图1 X射线荧光分析流程图
1.1 设备及试剂 设备:X射线荧光光谱仪台 EDX3200S PLUS;电子天平台(精度0.01g);自动压片机台(压力不小于40T);鼓风干燥箱台;振动磨台;非金属样品筛(200目) 试剂: 硼酸粉末(分析纯);土壤家标准物质;土壤样品 1.2 样品的采集、保存和前处理 土壤样品的采集和保持按照HJ/T166执行,样品的风干或烘干按照HJ/T166相关规定进行操作,样品研磨后过200目筛,于105℃烘干备用。 用电子天平称量5.00g过筛(200目)的土壤标准物质或样品和12.00g硼酸粉末(镶边材质),称量误差±0.05g。然后放入压片机中压片成型,压力30T(压力范围20~30T),保压时间30s。 1.3 工作曲线的建立和样品分析 设定适当的测量条件,使用EDX3200S PLUS扫描家标准物质(简称标样)GSS-1~GSS-15,建立土壤标样中关注元素含量与强度的线性工作曲线。然后,对未知样品进行测量。
2. 测量及数据分析 2.1 土壤中关注的金属元素及氧化物检出限测量 EDX 3200S PLUS 配有三组滤光片,根据土壤中关注元素的特性,设置佳测试条件。用家土壤标样GSS-1-GSS-15标定仪器,建立环境土壤工作曲线。在环境土壤工作曲线下,使用高纯SiO2 做空白基体,连续测试11次,根据检出限公式: 3倍的空白基体的标准偏差除以仪器的灵敏度 终获得EDX 3200S PLUS测量土壤样品的方法检出限,如下表所示
表1 土壤样品中金属元素及氧化物的检出限
序号 | 元素/化合物 | 标要求 检出限 | 仪器检出限 | 判定 |
1 | K2O | 1500.0 | 72.2 | 满足 |
2 | CaO | 2700.0 | 39.3 | 满足 |
3 | Ti | 150.0 | 6.7 | 满足 |
4 | V | 12.0 | 1.1 | 满足 |
5 | Cr | 9.0 | 3.6 | 满足 |
6 | Mn | 30.0 | 2.2 | 满足 |
7 | Fe2O3 | 1500 | 6.6 | 满足 |
8 | Co | 4.8 | 0.13 | 满足 |
9 | Ni | 4.5 | 1.2 | 满足 |
10 | Cu | 3.6 | 2.4 | 满足 |
11 | Zn | 6.0 | 3.26 | 满足 |
12 | Ga | 6.0 | 1.76 | 满足 |
13 | As | 6.0 | 6.0 | 满足 |
14 | Br | 3.0 | 1.3 | 满足 |
15 | Rb | 6.0 | 1.0 | 满足 |
16 | Sr | 6.0 | 1.3 | 满足 |
17 | Y | 3.0 | 1.2 | 满足 |
18 | Zr | 6.0 | 1.8 | 满足 |
19 | Pb | 6.0 | 6.0 | 满足 |
20 | Th | 6.3 | 2.4 | 满足 |
21 | Ba | 35.1 | 13.5 | 满足 |
注:
1、Co受Fe元素Kb严重干扰,通过公式得出极低检出限是有定的偏差。2、由于这个型号仪器没有抽真空(或充氦气),所以没有做轻元素如Na2O、MgO、Al2O3和SiO2等。而La、Ce、Hf受散射本底影响无法得到谱,P、S、Cl在家土壤标样中都是高含量,没有合适的低含量标样,主要的原因是受本底影响很大,谱图不规则,均没有考虑。 3. 满足标的元素有K、Ca、Ti、V、Cr、Mn、Fe、Co、Ni、Cu、Zn、Ga、Rb、Y、Ba、Sr、Br、As、Pb、Th和Zr。
性能参数
产品型号:EDX 3200S PLUS产品名称:X荧光光谱仪 测量元素范围:从钠(S)到铀(U)元素含量分析范围: ppm—99.99%(不同元素,分析范围不同) 同时分析元素:次性可测几十种元素 测量时间:60秒-300秒 探测器能量分辨率为:低可达125eV管压:5KV-70KV 管流:50μA-1000μA测量对象状态:粉末、固体、液体输入电压:AC 110V/220V环境温度:15℃-30℃ 环境湿度:35%-70%
X射线荧光的产生原理 X射线管发出X射线照射样品,样品中所含的原子则向外发射原子特有的X射线。这种X射线被称为荧光X射线,各元素具有特定的波长(能量)。因此,通过检测X射线的波长就能够进行定性分析。另外,荧光X射线的强度与浓度具有函数关系,检测每个元素X射线特征波长的X射线量就能进行定量分析。 | 图为用波尔模型说明电子轨道和荧光X射线产生的原理 |
满足所有领域不同的应用
■ 电子·电气 ·RoHS指令、无卤素等筛选分析 ·半导体、存储装置、液晶、太阳能电池等各种薄膜分析 ■ 汽车·机械 · 应对ELV指令的筛选分析 · 各种机械零部件结构分析及镀层厚度、化学合成外膜附着量的检测 ■ 钢铁·非金属 · 原材料、合金、焊锡、贵金属的主要成分、残余成分的分析 · 炉渣的组成分析 ■ 矿业 · 选矿工艺的成色鉴别分析 ■ 窑业 · 陶瓷、水泥、玻璃、砖、粘土的分析 ■ 石油·石油化学 · 油中硫元素的分析 · 润滑油中各种添加元素及混入元素的分析 采用高性能的SDD检测器,确保硬件最佳化,具有前所未有的高灵敏度·高速分析和高分辨率。可以检测出6C~的机型正式上线(EDX-8000)。 高灵敏度 –提高检测下限1.5~5倍- 高性能的SDD检测器与最佳化的光学系统和一次滤光片的组合,实现前所未有的高灵敏度。 从轻元素到重元素,全范围轻松应对。与采用传统Si(Li)半导体检测器的分析装置相比,灵敏度也更胜一筹。 高速 –分析速度最大可提高10倍- SDD检测器在单位时间内X射线荧光的计数率高,因此能够在更短的检测时间内进行高精度分析。特别是对金属材料的分析,这个特点可以得到最大限度的发挥。
高分辨率
无需液氮 SDD检测器为电子制冷方式,无需液氮冷却。不仅可以从繁琐的液氮补充作业中解放出来,更可以降低仪器的维护成本。 检测元素范围 卓越的通用性从微小样品到大型样品,从粉末样品到液体样品,灵活应对各类样品。 配备进行轻元素的高灵敏度分析时所需的真空检测单元、氦气置换检测单元,以及可实现自动连续测定的12位样品转台(选购件)。 4种准直器以及CCD样品观察装置
使用一次滤光片降低X射线管产生的特性X射线和连续X射线,从而提升检测灵敏度。尤其分析微量元素时有效。 EDX-7000/8000搭载5种(含OPEN共6种)一次滤光片,可以实现软件操控自动切换。
*使用滤光片后,()中能量范围的背景降低。 准直器和一次滤光片自由组合 准直器和一次滤光片独立驱动,无限制自由组合。可以选择6种×4种=24种组合。 同时,所有组合均可对应FP法进行定量分析。 样品无损且无需前处理,通过X射线荧光,即可简单轻松实现对医药品中杂质的管理
遵照制药界的FDA 21CFR Part11标准 遵照FDA 21CFR Part11具有如下功能。 • 安全功能 • 用户管理功能 • 操作日志,逐位跟踪日志的生成功能 • PDF生成功能 • 验证功能
以提升效率为目标,使用LabSolutions CS进行数据管理 包括其它分析装置的的全部分析数据都可以通过服务器电脑的数据库进行管理,因此联网后任何电脑都可读取数据。不论何处都可实现数据管理统合化。 使用EDX-7000/8000,轻松实现对医药品中的金属进行分析
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