ST2000薄膜厚度测量仪-阿仪网

ST2000薄膜厚度测量仪把UV-Vis光照在测量对象上，利用从测量对象中反射出来的光线测量膜的厚度的产品。这种产品主要用于研究开发或生产导电体薄膜现场，特别在半导体及有关Display工作中作为 In-Line monitoring 仪器使用。

ST2000薄膜厚度测量仪特点

1）因为是利用光的方式，所以是非接触式，非破坏式，不会影响实验样品。

2）可获得厚度和 n,k 数据。

3）测量迅速正确，且不必为测量而破坏或加工实验样品。

4）可测量3层以内的多层膜。

5）根据用途可自由选择手动型或自动型。

6）产品款式多样，而且也可以根据顾客的要求设计产品

7）可测量 PDP 上的膜厚度（Stage size 6“ 8”, 12“ ...）

8）超大型Stage （PDP专用）

ST2000薄膜厚度测量仪产品规格/型号

Stage Size	~1700mm x 1200mm Automation Thickness Measurement
Measurement Range	100?~ 50μ m（Depends on Film Type）
Spot size	40μ m/20μ m/10μ m,μ光m
Measurement Speed	1~2sec/site Typically
Application Areas	Polymers : PVA, PET, PP, PR ... Dielectrics : SiO2, TiO2, ITO, ZrO2, Si3N4 semiconductors: Poly-Si, GaAs, GaN, inP,ZnS... PR,ITO,SIO2 on the Glass Intended for Large Size PDP Dlelectric Material, MgO, ITO on the Glass Intended for Large size PDP
Option	Programmable Auto X-Y Stage Auto Focusing CCD Camera
Function	Pattern Identification by Pattern Maching Entry-level CD Measurement

关键词：光学薄膜测厚

SpectraThick3000薄膜厚度测量仪
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